用于在吸收制品转换加工生产线上检测基底中的孔的方法和设备技术

本文的方法将偏振光用于检测基底中的通孔。光源引导光穿过具有第一偏振轴线的第一偏振滤光器，其中偏振光从第一偏振滤光器行进并且朝基底行进。偏振光的取向在行进穿过基底材料时被改变，并且被散射。然而，行进穿过基底中的孔的偏振光保持未被散射。第二偏振滤光器接收远离基底行进的未散射光和散射光。第二偏振滤光器包括成角度地偏离且不平行于第一偏振轴线的第二偏振轴线。因此，第二偏振滤光器阻挡未散射光的前进，而散射光不被第二偏振滤光器阻挡。基于被从第二偏振滤光器行进的光围绕的未散射光的缺乏来检测孔。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于在吸收制品转换加工生产线上检测基底中的孔的方法和设备
本公开涉及用于制造一次性吸收制品的系统和方法，更具体地，本公开涉及在吸收制品转换加工生产线上用偏振光检测基底中的通孔的系统和方法。
技术介绍
可沿着装配线，通过将部件添加到推进的连续幅材材料上和否则通过对所述幅材材料进行改造来装配尿布和各种类型的其它吸收制品。例如，在一些工艺中，推进的材料纤维网与其它推进的材料纤维网相组合。在其它示例中，由推进的幅材材料产生的各个部件与推进的幅材材料相组合，继而与其它推进的幅材材料相组合。在将所期望的组成部件组装好之后，对推进的幅材和组成部件进行最终刀切以将幅材分离成离散的尿布或其它吸收制品。然后也可对离散的尿布或吸收制品进行折叠和封装。出于幅材控制和/或监测的目的，在构造吸收制品时，吸收制品转换加工生产线可利用各种类型的传感器技术来获得与所述连续幅材相关的各种类型的检测数据和与沿转换加工生产线添加到所述幅材的离散部件相关的各种类型的检测数据。示例性传感器技术可包括视觉系统、光电传感器、接近传感器、激光器或超声距离检测器等。可将传感器数据以各种方式传达给控制器。继而，控制器可被编程以接收传感器数据并记录和/或存储此类数据，并且对制造过程进行调整。在一些制造过程中，邻近转换加工生产线布置照明光学系统和相机以便将与推进的幅材和部件的表面形貌相关的数据传达给控制器。在一些光学系统中，可使用光源来照明推进的基底的表面，其中从基底反射的光由相机检测。从光源发出的光也可被线性偏振化，使得相机可通过检测从基底表面反射的偏振光和去偏振光来探明关于基底的表面特征部的信息。虽然依赖于对反射的偏振光的检测的此类光学系统能够检测具有相对平滑表面的基底上的某些反常之处，但这些系统可能不能够同样用于具有相对粗糙表面的基底，诸如非织造布。此外，依赖于检测从基底表面反射的偏振光的光学系统还可能不能够很好地适用于检测基底中的通孔，因为在成锐角时，由于基底的厚度或由褶皱或幅材震动所引起的高度偏差，光将不能穿过孔；或者在成垂直角度时，出自此类系统的光将只是穿过孔而不是被反射，从而将孔与表面特征部混淆，所述表面科技部散射或吸收光，诸如粘结图案、图形、或不均匀的基重或颗粒。因此，一些用来检测基底中的通孔的系统可被配置成照明基底的表面并且检测穿过基底中的孔的光。因此，所述系统可依赖于对相对明亮的光的检测，将其检测为指示基底中的通孔。然而，此类系统可能难以检测相对薄型和/或半透明材料中的通孔，因为行进穿过孔和基底的光均可显得相对较明亮，从而难以分辩孔的存在、位置、和/或周边。因此，将有益的是，配置并利用如下光学检测系统，它们能够检测并跟踪可以相对高生产速度推进的连续基底或离散基底中的通孔的位置。
技术实现思路
本公开涉及用于用偏振光检测基底中的通孔的方法和设备。如本文所述，光源引导光穿过具有第一偏振轴线的第一偏振滤光器，其中偏振光从第一偏振滤光器行进，并且朝基底的第一表面行进。继而，行进穿过基底材料的偏振光的取向发生改变，并且因此被散射。相比之下，行进穿过基底中的孔的偏振光不接触任何基底材料，并且因此保持未被散射。所述设备也包括第二偏振滤光器，其被定位成接收远离基底行进的未散射光和散射光。第二偏振滤光器包括第二偏振轴线，其成角度地偏离且不平行于第一偏振滤光器的第一偏振轴线。因此，第二偏振滤光器阻挡一些或全部未散射光的前进，而散射光行进穿过第二偏振滤光器。被定位成接收从第二偏振滤光器行进的光的传感器基于未散射光的缺乏来检测基底中的孔，所述未散射光被从第二偏振滤光器行进的光围绕。在一种形式中，用于检测基底的方法包括以下步骤：沿纵向推进基底，基底具有第一表面和相对的第二表面，并且限定沿横向的宽度；通过使出自光源的光穿过第一偏振滤光器将光偏振化，其中第一偏振滤光器包括第一偏振轴线；从第一偏振滤光器朝基底的第一表面引导偏振光，其中从第一表面行进穿过基底材料至第二表面的偏振光被散射，并且其中行进穿过完全延伸穿过基底的孔的偏振光未被散射；提供传感器以检测从基底行进的光；用第二偏振滤光器阻挡未散射光从基底中的孔行进至传感器，其中第二偏振滤光器包括成角度地偏离第一偏振轴线的第二偏振轴线；以及用传感器检测穿过第二偏振滤光器的光。在另一种形式中，用于检测基底的方法包括以下步骤：提供基底，基底具有第一表面和相对的第二表面；引导出自光源的光穿过第一偏振滤光器，其中第一偏振滤光器包括第一偏振轴线；从第一偏振滤光器朝第一表面引导偏振光并且穿过基底，使得散射光和未散射光行进穿过基底并且远离基底的第二表面行进；定位第二偏振滤光器以接收散射光和未散射光，第二偏振滤光器包括不平行于第一偏振轴线的第二偏振轴线，其中散射光行进穿过第二偏振滤光器至传感器，并且其中第二偏振滤光器基本上阻挡偏振光行进至传感器；以及用传感器检测从第二偏振滤光器行进的光。在另一种形式中，公开了用于检测沿纵向推进的基底中的通孔的设备，基底具有第一表面和相对的第二表面，并且限定沿横向的宽度，所述设备包括：第一偏振滤光器，其中第一偏振滤光器包括第一偏振轴线；光源，其被取向成引导光穿过第一偏振滤光器并且朝基底的第一表面行进并穿过基底，使得散射光和未散射光远离基底的第二表面行进；第二偏振滤光器，其被定位成接收远离基底的第二表面行进的未散射光和散射光，第二偏振滤光器包括不平行于第一偏振轴线的第二偏振轴线，其中第二偏振滤光器阻挡未散射光的前进，并且其中散射光行进穿过第二偏振滤光器；和传感器，其被定位成检测从第二偏振滤光器行进的光。附图说明图1A为呈胶粘尿布形式的吸收制品在部分切除之后的平面图，所述吸收制品可包括根据本公开监测和/或控制的一个或多个基底，其中背离穿着者的尿布的部分朝观察者取向。图1B为图1A的吸收制品的平面图，其可包括根据本公开监测和/或控制的一个或多个基底，其中面朝穿着者的尿布的部分朝观察者取向。图2A为呈尿布形式的吸收制品的前透视图，其可包括根据本公开监测和/或控制的一个或多个基底。图2B为图2A的吸收制品的前视图。图2C为图2A的吸收制品的后视图。图3A为用于检测基底中的通孔的检测系统的示意性等轴视图。图3B为沿图3A的截线3B-3B截取的检测系统和推进的基底的侧视图。图4A为图3A的检测系统的示意性等轴视图，其中偏振光行进穿过基底中的孔，并且其中第二偏振滤光器阻挡从基底行进的偏振光。图4B为沿图4A的截线4B-4B截取的检测系统和推进的基底的侧视图。图5为沿图3A和4A的截线5-5截取的检测系统的顶部侧视图，仅示出了第一偏振轴线相对于第二偏振轴线的角取向。具体实施方式以下术语解释可帮助理解本公开：“吸收制品”在本文中是指主要功能为吸收和保留污垢和排泄物的消费产品。本文所用的“尿布”是指一般被婴儿和失禁患者围绕下体穿着的吸收制品。术语“一次性的”在本文中用来描述通常不打算洗涤或者以其它方式复原为或再用作吸收制品的吸收制品(例如，它们旨在在单次使用后丢弃，并且也可被构造成可回收利用、堆肥处理或以与环境相容的其它方式进行弃置)。术语“胶粘尿布”(也称作“打开式尿布”)是指如下一次性吸收制品，所述吸收制品在穿用到穿着者身上之前具有未紧固的、未预紧固的或在包装时未彼此连接的初始前腰区和初始后腰区。胶粘尿布可围绕侧向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测基底的方法，所述方法包括以下步骤：沿纵向推进基底(200)，所述基底(200)具有第一表面(202)和相对的第二表面(204)，并且限定沿横向的宽度；通过使出自光源(302)的光(400)穿过第一偏振滤光器(304)将光偏振化，其中所述第一偏振滤光器(304)包括第一偏振轴线(310)；从所述第一偏振滤光器(304)朝所述基底(200)的第一表面(202)引导偏振光(402)，其中从所述第一表面(202)行进穿过基底材料至所述第二表面(204)的偏振光(404)被散射，并且其中行进穿过完全延伸穿过所述基底(200)的孔(210)的偏振光(402)未被散射；提供传感器(308)以检测从所述基底(200)行进的光；用第二偏振滤光器(306)阻挡未散射光(402)从所述基底(200)中的孔(210)行进至所述传感器(308)，其中所述第二偏振滤光器(306)包括成角度地偏离所述第一偏振轴线(310)的第二偏振轴线(312)；以及用所述传感器(308)检测穿过所述第二偏振滤光器(306)的光(406)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.05 US 62/291,5661.一种用于检测基底的方法，所述方法包括以下步骤：沿纵向推进基底(200)，所述基底(200)具有第一表面(202)和相对的第二表面(204)，并且限定沿横向的宽度；通过使出自光源(302)的光(400)穿过第一偏振滤光器(304)将光偏振化，其中所述第一偏振滤光器(304)包括第一偏振轴线(310)；从所述第一偏振滤光器(304)朝所述基底(200)的第一表面(202)引导偏振光(402)，其中从所述第一表面(202)行进穿过基底材料至所述第二表面(204)的偏振光(404)被散射，并且其中行进穿过完全延伸穿过所述基底(200)的孔(210)的偏振光(402)未被散射；提供传感器(308)以检测从所述基底(200)行进的光；用第二偏振滤光器(306)阻挡未散射光(402)从所述基底(200)中的孔(210)行进至所述传感器(308)，其中所述第二偏振滤光器(306)包括成角度地偏离所述第一偏振轴线(310)的第二偏振轴线(312)；以及用所述传感器(308)检测穿过所述第二偏振滤光器(306)的光(406)。2.根据权利要求1所述的方法，所述方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：SM巴尔加，
申请(专利权)人：宝洁公司，
类型：发明
国别省市：美国,US