【技术实现步骤摘要】
一种用于间歇寿命试验的控制装置
本技术涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置,属于宇航用元器件可靠性试验
技术介绍
间歇寿命试验是宇航用元器件筛选试验和可靠性试验必不可少的重要试验内容,试验通过使器件重复承受电压或电流的通与断,以加速器件芯片与安装表面之间所有键合和界面的应力,目的是为了确定器件在承受规定的条件下是否能满足高可靠元器件失效率的要求。间歇寿命试验需要间歇电源对试验系统进行间歇供电,许多情况下,试验室无法配备完全满足所有元器件类型的间歇电源,有些试验室无间歇电源。这就需要研制一种间歇寿命试验控制装置,用于元器件的间歇寿命试验。
技术实现思路
本技术的技术解决问题:克服现有技术的不足,提出一种用于间歇寿命试验的控制装置,该装置在电源的输出端加入了IGBT模块来控制电源的间歇性输出。本技术的技术解决方案是:一种用于间歇寿命试验的控制装置,该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器;所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管;所述的IGBT模块与电源的正极连接,IGBT模块与平波电容连接,平波电容的负端接地;平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接,试验器件的正端和负端均与采样分流器连接,采样分流器还与微处理器连接,采样分流器还与电源负极连接;微处理器与IGBT模块连接,微处理器与平波电容连接。所述的IGBT模块中还包括控制芯片。控制芯片用于接收微处理器输入的控制信号,并根据接收到的控制信号来控制IGBT开关的通断。所述的IGBT模块与平波电容连接时是通过IGBT模块中的二极管与平波电容连接。所述的IGBT开关用于接收电源输 ...
【技术保护点】
1.一种用于间歇寿命试验的控制装置,其特征在于:该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器;所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管;所述的IGBT模块与电源的正极连接,IGBT模块与平波电容连接,平波电容的负端接地;平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接,试验器件的正端和负端均与采样分流器连接,采样分流器还与微处理器连接,采样分流器还与电源负极连接;微处理器与IGBT模块连接,微处理器与平波电容连接。
【技术特征摘要】
1.一种用于间歇寿命试验的控制装置,其特征在于:该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器;所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管;所述的IGBT模块与电源的正极连接,IGBT模块与平波电容连接,平波电容的负端接地;平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接,试验器件的正端和负端均与采样分流器连接,采样分流器还与微处理器连接,采样分流器还与电源负极连接;微处理器与IGBT模块连接,微处理器与平波电容连接。2.根据权利要求1所述的一种用于间歇寿命试验的控制装置,其特征在于:所述的IGBT模块中还包括控制芯片。3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:李璇,张红旗,王雪生,唐章东,王征,张希林,董浩威,杨坤,
申请(专利权)人:中国空间技术研究院,
类型:新型
国别省市:北京,11
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