数据检验校正方法技术

一种数据检验校正方法，由一电连接一第一存储单元的处理单元实施，该第一存储单元存储第一数据及其对应的第一检验码，与第二数据及其对应的第二检验码，该方法包含以下步骤：当根据该第一检验码判定出该第一数据无效且根据该第二检验码判定出该第二数据无效时，判定该第一检验码是否相同于该第二检验码；当判定结果为是时，根据一预设且包含一修正位元的修复向量与该第一数据产生第一修复数据；根据该第一检验码判定该第一修复数据是否有效；及当判定出该第一修复数据有效时，根据该第二数据及该第一修复数据判定该第一修复数据是否正确。

【技术实现步骤摘要】
数据检验校正方法
本专利技术涉及一种检验校正方法，特别是涉及一种数据检验校正方法。
技术介绍
固态快闪存储器(FlashMemory)用于一般性数据存储，以及在电脑与其他数字产品间交换传输数据，如记忆卡与随身盘等存储装置。相较于先前的电子抹除式存储器(EEPROM)，快闪存储器读写速率更快、功耗更低且成本更低。然而，现有的固态快闪存储器的可擦写次数为一万次，大幅低于先前的电子抹除式存储器的十万次。目前用来解决固态快闪存储器使用寿命过短的问题的方法包含以下两种：第一种方式为使用寿命较长的外部存储器来延长使用寿命，第二种方式为以损耗均衡演算法来延长使用寿命。然而，这两种方法不能从根本上解决问题，因为若存储器中的某个反及闸(NANDgate)发生永久故障，且在未检测出上述故障的情况下，有误用错误数据的危险，即使在有检测出上述故障的情况下检测得知存储器故障，还是无法复原损坏的数据，因而对数据的使用极其不便且有安全性的疑虑。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能检测数据并恢复损毁的数据的数据检验校正方法。本专利技术的数据检验校正方法，借由一处理单元来实施，该处理单元电连接一第一存储单元，该第一存储单元包括一存储第一数据与一对应该第一数据的第一检验码的第一存储区、一存储相关于该第一数据的备份的第二数据与一对应该第二数据的第二检验码的第二存储区，及多个其他未使用的存储区，该第一存储单元还存储一相关于该第一存储区的位址与该第二存储区的位址的位址簿，该数据检验校正方法包含以下步骤：(A)根据该位址簿获得存储于该第一存储单元的该第一存储区的该第一数据与该第一检验码，及存储于该第一存储单元的该第二存储区的该第二数据与该第二检验码；(B)根据该第一检验码判定该第一数据是否有效；(C)当判定出该第一数据无效时，根据该第二检验码判定该第二数据是否有效；(D)当判定出该第二数据无效时，判定该第一检验码是否相同于该第二检验码；(E)当判定出该第一检验码相同于该第二检验码时，根据一预设且包含一修正位元的修复向量与该第一数据，产生第一修复数据；(F)根据该第一检验码判定该第一修复数据是否有效；及(G)当判定出该第一修复数据有效时，根据该第二数据及该第一修复数据判定该第一修复数据是否正确。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，步骤(G)包含以下子步骤：(G-1)根据该第一修复数据与该第二数据产生第三数据；及(G-2)根据该第三数据判定该第一修复数据是否正确。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，在步骤(G-2)中，借由判定该第三数据是否为2的幂以判定该第一修复数据是否正确，当该第三数据为2的幂时，该第一修复数据正确。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，在步骤(E)中，将该修复向量与该第一数据进行逻辑异或，以产生该第一修复数据，且在子步骤(G-1)中，将该第一修复数据与该第二数据进行逻辑异或，以产生该第三数据。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，在步骤(G)后还包含以下步骤：(H)当判定出该第一修复数据不正确时，产生一指示出数据无法恢复的错误讯息。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，在步骤(F)后还包含以下步骤：(I)当判定出该第一修复数据无效时，判定该修复向量的该修正位元是否位于该修复向量的一最左位元；(J)当判定出该修正位元位于该最左位元时，产生一指示出数据无法恢复的错误讯息；及(K)当判定出该修正位元非位于该最左位元时，将该修复向量中的该修正位元左移一位元，并重复步骤(E)～步骤(F)。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，该处理单元还电连接一第二存储单元，在步骤(B)后还包含以下步骤：(L)当判定出该第一数据有效时，将该第一数据存储至该第二存储单元；及在步骤(C)后还包含以下步骤：(M)当判定出该第二数据有效时，将该第二数据存储至该第二存储单元。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，该处理单元还电连接一第二存储单元，在步骤(D)后还包含以下步骤：(N)当判定出该第一检验码不同于该第二检验码时，根据该第二检验码判定该第一数据是否有效；(O)当判定出该第一数据有效时，将该第一数据存储至该第二存储单元；(P)当判定出该第一数据无效时，根据该第一检验码判定该第二数据是否有效；(Q)当判定出该第二数据有效时，将该第二数据存储至该第二存储单元；及(R)当判定出该第二数据无效时，产生一指示出数据无法恢复的错误讯息。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，该处理单元还电连接一第二存储单元，步骤(G)后还包含以下步骤：(S)当判定出该第一修复数据正确时，将该第一修复数据存储至该第二存储单元。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，该第一存储单元还存储一对应该第一存储区的第一状态旗标，及一对应该第二存储区的第二状态旗标，该第一状态旗标的一第一旗标值是一指示出该第一存储区没有异常的第一预定值，及一异于该第一预定值并指示出该第一存储区有异常的第二预定值的其中一者，该第二状态旗标的一第二旗标值是一指示出该第二存储区没有异常的第三预定值，及一异于该第三预定值并指示出该第二存储区有异常的第四预定值的其中一者，该第一旗标值初始值为该第一预定值，该第二旗标值初始值为该第三预定值，在步骤(C)中还将该第一旗标值更新为该第二预定值，在步骤(D)中还将该第二旗标值更新为该第四预定值。较佳地，本专利技术的数据检验校正方法，在步骤(S)后还包含以下步骤：(T)判定该第一旗标值是否为该第二预定值；(U)当判定出该第一旗标值为该第二预定值时，将该位址簿的该第一存储区的位址变更为其他未使用的所述存储区的一者的位址；(V)判定该第二旗标值是否为该第四预定值；(W)当判定出该第二旗标值为该第四预定值时，将该位址簿的该第二存储区的位址变更为其他未使用的所述存储区的一者的位址；(X)根据该第二存储单元存储的数据产生一对应该第二存储单元存储的数据的第三检验码；及(Y)根据该位址簿将该第二存储单元存储的数据与该第三检验码存储至该第一存储区与该第二存储区。本专利技术的有益效果在于：借由该处理单元判定该第一数据及该第二数据是否有效，以检测数据是否损毁。此外，当判定出该第一数据及该第二数据无效时，借由该处理单元根据该修复向量与该第一数据产生第一修复数据，并判定该第一修复数据是否有效且正确，借此来复原损毁的数据。附图说明本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：图1是一方块图，示例地绘示一用来实施本专利技术数据检验校正方法的一实施例的系统；图2是一流程图，说明该实施例的检验程序；图3是一流程图，说明该实施例的第一校正程序；图4是一流程图，说明该实施例的第二校正程序；及图5是一流程图，说明该实施例的存储程序。具体实施方式参阅图1，说明用来实施本专利技术数据检验校正方法的一实施例的一系统100，该系统100包含一第一存储单元11、一第二存储单元12，及一电连接该第一存储单元11及该第二存储单元12的处理单元13。在本实施例中，该第一存储单元11例如为固态快闪存储器(FlashMemory)，该第二存储单元12例如为随机存取存储器(RandomAccessMemory,RAM)。该第一存储单元11包括一存储第一数据与一对应该第一数据的第一检验码的第一存储区111、一存储相关于该第一数据的备份的第二数据与一对应该第二数据的第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据检验校正方法，借由一个处理单元来实施，该处理单元电连接一个第一存储单元，该第一存储单元包括一个存储第一数据与一个对应该第一数据的第一检验码的第一存储区、一个存储相关于该第一数据的备份的第二数据与一个对应该第二数据的第二检验码的第二存储区，及多个其他未使用的存储区，该第一存储单元还存储一个相关于该第一存储区的位址与该第二存储区的位址的位址簿，其特征在于：该数据检验校正方法包含以下步骤(A)根据该位址簿获得存储于该第一存储单元的该第一存储区的该第一数据与该第一检验码，及存储于该第一存储单元的该第二存储区的该第二数据与该第二检验码；(B)根据该第一检验码判定该第一数据是否有效；(C)当判定出该第一数据无效时，根据该第二检验码判定该第二数据是否有效；(D)当判定出该第二数据无效时，判定该第一检验码是否相同于该第二检验码；(E)当判定出该第一检验码相同于该第二检验码时，根据一个预设且包含一个修正位元的修复向量与该第一数据，产生一个第一修复数据；(F)根据该第一检验码判定该第一修复数据是否有效；及(G)当判定出该第一修复数据有效时，根据该第二数据及该第一修复数据判定该第一修复数据是否正确。...

【技术特征摘要】
1.一种数据检验校正方法，借由一个处理单元来实施，该处理单元电连接一个第一存储单元，该第一存储单元包括一个存储第一数据与一个对应该第一数据的第一检验码的第一存储区、一个存储相关于该第一数据的备份的第二数据与一个对应该第二数据的第二检验码的第二存储区，及多个其他未使用的存储区，该第一存储单元还存储一个相关于该第一存储区的位址与该第二存储区的位址的位址簿，其特征在于：该数据检验校正方法包含以下步骤(A)根据该位址簿获得存储于该第一存储单元的该第一存储区的该第一数据与该第一检验码，及存储于该第一存储单元的该第二存储区的该第二数据与该第二检验码；(B)根据该第一检验码判定该第一数据是否有效；(C)当判定出该第一数据无效时，根据该第二检验码判定该第二数据是否有效；(D)当判定出该第二数据无效时，判定该第一检验码是否相同于该第二检验码；(E)当判定出该第一检验码相同于该第二检验码时，根据一个预设且包含一个修正位元的修复向量与该第一数据，产生一个第一修复数据；(F)根据该第一检验码判定该第一修复数据是否有效；及(G)当判定出该第一修复数据有效时，根据该第二数据及该第一修复数据判定该第一修复数据是否正确。2.根据权利要求1所述的数据检验校正方法，其特征在于：步骤(G)包含以下子步骤(G-1)根据该第一修复数据与该第二数据产生一个第三数据；及(G-2)根据该第三数据判定该第一修复数据是否正确。3.根据权利要求2所述的数据检验校正方法，其特征在于：在步骤(G-2)中，借由判定该第三数据是否为2的幂以判定该第一修复数据是否正确，当该第三数据为2的幂时，该第一修复数据正确。4.根据权利要求2所述的数据检验校正方法，其特征在于：在步骤(E)中，将该修复向量与该第一数据进行逻辑异或，以产生该第一修复数据，且在子步骤(G-1)中，将该第一修复数据与该第二数据进行逻辑异或，以产生该第三数据。5.根据权利要求1所述的数据检验校正方法，其特征在于：在步骤(G)后还包含以下步骤(H)当判定出该第一修复数据不正确时，产生一个指示出数据无法恢复的错误讯息。6.根据权利要求1所述的数据检验校正方法，其特征在于：在步骤(F)后还包含以下步骤(I)当判定出该第一修复数据无效时，判定该修复向量的该修正位元是否位于该修复向量的一个最左位元；(J)当判定出该修正位元位于该最左位元时，产生一个指示出数据无法恢复的错误讯息；及(K)当判定出该修正位元非位于该最左位元时，将该修复向量中的该修正位元左移一个位元，并重复步骤(E)～步骤(F)。7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖贯渊，苟崴第，王皓冀，
申请(专利权)人：上海骐宏电驱动科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31