一种双反馈的延迟锁相环制造技术

本发明专利技术公开了一种双反馈的延迟锁相环，包括相位检测模块、延迟模块、控制模块和选择模块；所述相位检测模块的三个输入端口分别连接参考时钟、反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ，相位状态输出端口连接所述控制模块的输入端口；所述控制模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅰ；所述延迟模块的输入端口连接所述参考时钟，所述延迟模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅱ；所述选择模块的输出端口输出选择后的时钟。本发明专利技术提供的一种双反馈的延迟锁相环，基于2π相位时钟和2π滞后相位时钟作为双反馈时钟的新型相位检测结构，提高了相位检测模块的抗错误能力，从而提高了延迟锁相环的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种双反馈的延迟锁相环
本专利技术涉及集成电路涉及领域，具体涉及一种双反馈的延迟锁相环。
技术介绍
随着CMOS集成电路工艺的发展，时钟电路在数字和模拟集成电路设计中都具有非常重要的作用。但PLL(PhaselLockedLoop)锁相环基本上都是采用模拟电路设计完成的，电路的噪声问题较大，而且电路设计难度大，可复用性差。DLL(DelayLockedLoop)延迟锁定回路尤其是全数字的DLL电路由于其基于数字逻辑完成，电路噪声性能较好，而且电路可复用性强，应用越来越广泛。而且在一些电路设计中，不仅对时钟频率提出严格要求更对时钟的相位也十分关注。比如，在TDC中等相位差时钟是进行时间测量的一个重要部分；在SDRAM中，要求输入时钟和输出时钟的相位严格相等。在对相位有要求的领域，延迟锁相环的作用就越发突出。但延迟锁相环电路中的延迟模块受外界影响，在传输过程中占空比受到影响，极易导致延迟锁相环失锁，延迟锁相环不能正常工作。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题为提供一种双反馈的延迟锁相环，针对相位检测模块进行了改进，提出基于2π相位时钟和2π滞后相位时钟作为双反馈时钟的新型相位检测结构，基于双反馈结构提高了相位检测模块的抗错误能力，从而提高了延迟锁相环的可靠性。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种双反馈的延迟锁相环，包括相位检测模块、延迟模块、控制模块和选择模块；所述相位检测模块包括三个输入端口和相位状态输出端口，其中，所述相位检测模块的三个输入端口分别连接参考时钟、反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ，其中，反馈时钟Ⅰ为2π相位时钟，反馈时钟Ⅱ为2π相位滞后时钟，相位状态输出端口连接所述控制模块的输入端口；所述控制模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅰ，用于向所述选择模块输出控制字；所述延迟模块的输入端口连接所述参考时钟，所述延迟模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅱ，用于向所述选择模块输出延迟时钟；所述选择模块的输出端口输出选择后的时钟；控制模块根据相位检测模块的输出结果调整各个相位对应的控制字，选择模块根据控制模块输出的控制字将对应的延时时钟选择为对应相位的结果输出。进一步地，所述相位检测模块包括相位检测单元Ⅰ、相位检测单元Ⅱ和相位控制单元，所述相位检测单元Ⅰ的输入口分别连接参考时钟和反馈时钟Ⅰ，所述相位检测单元Ⅰ的输出口连接所述相位控制单元，输出参考时钟和反馈时钟Ⅰ的相位状态；所述相位检测单元Ⅱ的输入口分别连接参考时钟和反馈时钟Ⅱ，所述相位检测单元Ⅱ的输出口连接所述相位控制单元，输出参考时钟和反馈时钟Ⅱ的相位状态；所述相位检测单元输出反馈时钟Ⅰ和参考时钟的准确相位状态。进一步地，所述相位检测单元输出三种相位检测结果，分别对应反馈时钟Ⅰ延后于参考时钟、反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟、反馈时钟Ⅰ与参考时钟同步。进一步地，当所述相位检测单元Ⅰ检测到反馈时钟Ⅰ和参考时钟同相，且相位检测单元Ⅱ检测到反馈时钟Ⅱ滞后于参考时钟或者与参考时钟同相，则所述相位控制单元输出结果为反馈时钟Ⅰ与参考时钟同步。进一步地，当所述相位检测单元Ⅰ检测到反馈时钟Ⅰ和参考时钟同相，且相位检测单元Ⅱ检测到反馈时钟Ⅱ超前于参考时钟，则所述相位控制单元输出结果为反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟，此时，所述控制模块输出的控制字减小。进一步地，当所述相位检测单元Ⅰ检测到反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟则所述相位控制单元输出结果为反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟，此时，所述控制模块输出的控制字减小。进一步地，当所述相位检测单元Ⅰ检测到反馈时钟Ⅰ滞后于参考时钟，则所述相位控制单元输出结果为反馈时钟Ⅰ滞后于参考时钟，此时，所述控制模块输出的控制字增大。进一步地，所述反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ为相邻的相位时钟。进一步地，所述参考时钟为外部输入的标准稳定频率的周期方波信号。进一步地，所述延迟模块中包括N个相同的延迟单元，所述相位检测单元的精度调节可以通过改变延迟单元数量或者调整延迟单元的供电电压进行调节，其中，N为大于等于1的整数。本专利技术的有益效果为：现有技术中由于延迟锁相环中延时模块在不同环境下传输过程中时钟的占空比会发生变化，导致相位检测模块相位检测出错，导致延迟锁相环无法正常工作。本专利针对这种情况，提出一种双反馈高可靠的新型延迟锁相环结构，主要是针对相位检测模块进行了改进，提出基于2π相位时钟和2π滞后相位时钟作为双反馈时钟的新型相位检测结构，基于双反馈结构提高了相位检测模块的抗错误能力，从而提高了延迟锁相环的可靠性。附图说明图1为本专利技术一种双反馈的延迟锁相环的框架示意图。图2为本专利技术相位检测模块的结构示意图。图3为本专利技术实施例1中一种双反馈的延迟锁相环对应的结构图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做进一步的详细说明。如附图1所示，本专利技术提供的一种双反馈的延迟锁相环，包括相位检测模块、延迟模块、控制模块和选择模块；相位检测模块包括三个输入端口和相位状态输出端口，其中，相位检测模块的三个输入端口分别连接参考时钟CLK_REF、反馈时钟ⅠCLK_FB-1和反馈时钟ⅡCLK_FB-2，反馈时钟ⅠCLK_FB-1为2π相位时钟，反馈时钟ⅡCLK_FB-1为2π相位滞后时钟，且反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ为相邻的相位时钟，参考时钟为外部输入的标准稳定频率的周期方波信号；相位状态输出端口连接控制模块的输入端口，相位检测单元输出三种相位检测结果，分别对应反馈时钟Ⅰ延后于参考时钟、反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟、反馈时钟Ⅰ与参考时钟同步。控制模块的输出端口连接选择模块的输入端口Ⅰ，用于向选择模块输出至少一个控制字；延迟模块的输入端口连接参考时钟，延迟模块的输出端口连接选择模块的输入端口Ⅱ，用于向选择模块输出至少一个延迟时钟；选择模块的输出端口输出选择后的时钟，包括反馈时钟ⅠCLK_FB-1、反馈时钟ⅡCLK_FB-2和其余相位时钟；控制模块根据相位检测模块的输出结果调整各个相位对应的控制字，选择模块根据控制模块输出的控制字将对应的延时时钟选择为对应相位的结果输出。其中，本专利技术中延迟模块中包括N个相同的延迟单元，相位检测单元的精度调节可以通过改变延迟单元数量或者调整延迟单元的供电电压进行调节，其中，N为大于等于1的整数。值得说明的是：本专利技术中相位检测模块有三个输入端口和三个输出端口，一个输入端口与参考时钟相连，其中参考时钟为外部输入的标准稳定频率的周期方波信号，另外两个输入端口与反馈时钟ⅠCLK_FB-1和反馈时钟ⅡCLK_FB-2连接，反馈时钟ⅠCLK_FB-1为2π相位时钟，反馈时钟ⅡCLK_FB-1为2π相位滞后时钟，且反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ为相邻的相位时钟。其中相位检测模块主要比较参考时钟和反馈时钟Ⅰ的相位相对状态，而参考时钟和反馈时钟Ⅱ的比较结果作为辅助状态。如附图2所示，本专利技术中相位检测模块包括相位检测单元Ⅰ、相位检测单元Ⅱ和相位控制单元，相位检测单元Ⅰ的输入口分别连接参考时钟和反馈时钟Ⅰ，相位检测单元Ⅰ的输出口连接相位控制单元，输出参考时钟和反馈时钟Ⅰ的相位状态，其中，参考时钟和反馈时钟Ⅰ的相位状态包括三种：反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟，反馈时钟Ⅰ与参考时钟同相，反馈时钟Ⅰ滞后于参考时钟；相位检测单元Ⅱ的输入口分别连接参考时钟和反本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双反馈的延迟锁相环，其特征在于，包括相位检测模块、延迟模块、控制模块和选择模块；所述相位检测模块包括三个输入端口和相位状态输出端口，其中，所述相位检测模块的三个输入端口分别连接参考时钟、反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ，其中，反馈时钟Ⅰ为2π相位时钟，反馈时钟Ⅱ为2π相位滞后时钟，相位状态输出端口连接所述控制模块的输入端口；所述控制模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅰ，用于向所述选择模块输出控制字；所述延迟模块的输入端口连接所述参考时钟，所述延迟模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅱ，用于向所述选择模块输出延迟时钟；所述选择模块的输出端口输出选择后的时钟；控制模块根据相位检测模块的输出结果调整各个相位对应的控制字，选择模块根据控制模块输出的控制字将对应的延时时钟选择为对应相位的结果输出。

【技术特征摘要】
1.一种双反馈的延迟锁相环，其特征在于，包括相位检测模块、延迟模块、控制模块和选择模块；所述相位检测模块包括三个输入端口和相位状态输出端口，其中，所述相位检测模块的三个输入端口分别连接参考时钟、反馈时钟Ⅰ和反馈时钟Ⅱ，其中，反馈时钟Ⅰ为2π相位时钟，反馈时钟Ⅱ为2π相位滞后时钟，相位状态输出端口连接所述控制模块的输入端口；所述控制模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅰ，用于向所述选择模块输出控制字；所述延迟模块的输入端口连接所述参考时钟，所述延迟模块的输出端口连接所述选择模块的输入端口Ⅱ，用于向所述选择模块输出延迟时钟；所述选择模块的输出端口输出选择后的时钟；控制模块根据相位检测模块的输出结果调整各个相位对应的控制字，选择模块根据控制模块输出的控制字将对应的延时时钟选择为对应相位的结果输出。2.根据权利要求1所述的一种双反馈的延迟锁相环，其特征在于，所述相位检测模块包括相位检测单元Ⅰ、相位检测单元Ⅱ和相位控制单元，所述相位检测单元Ⅰ的输入口分别连接参考时钟和反馈时钟Ⅰ，所述相位检测单元Ⅰ的输出口连接所述相位控制单元，输出参考时钟和反馈时钟Ⅰ的相位状态；所述相位检测单元Ⅱ的输入口分别连接参考时钟和反馈时钟Ⅱ，所述相位检测单元Ⅱ的输出口连接所述相位控制单元，输出参考时钟和反馈时钟Ⅱ的相位状态；所述相位检测单元输出反馈时钟Ⅰ和参考时钟的准确相位状态。3.根据权利要求2所述的一种双反馈的延迟锁相环，其特征在于，所述相位检测单元输出三种相位检测结果，分别对应反馈时钟Ⅰ延后于参考时钟、反馈时钟Ⅰ超前于参考时钟、反馈时钟Ⅰ与参考时钟同...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾夕，杨海玲，李志芳，严慧婕，徐晨辉，
申请(专利权)人：上海集成电路研发中心有限公司，成都微光集电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31