CCD/CMOS参数检测系统技术方案

技术编号:19007401 阅读:26 留言:0更新日期:2018-09-22 07:44
本实用新型专利技术提供一种CCD/CMOS参数检测系统,包括:硬件检测装置、控制装置,硬件检测装置包括工作平台,在工作平台上设置有积分球和光学暗室,在积分球上设置有三个光源、照度计探头和出光口,在出光口处设置有鉴别率板,在光学暗室内设置有变焦调节机构、光学镜头精密调节平台、CCD/CMOS精密调节夹具、变焦透镜组、待测CCD/COMS,待测CCD/COMS、变焦透镜组与第二出光口成一条直线;在工作平台内设置有工控机、照度计、三个光源的驱动电源、CCD/CMOS供电电源;控制装置包括电源控制器和多功能采集卡,电源控制器分别与工控机、三个驱动电源连接,多功能采集卡插在工控机内,通过数据线与待测CCD/COMS连接。利用本实用新型专利技术不受外界光源干扰,还能够模拟自然光下CCD/CMOS的测试。

【技术实现步骤摘要】
CCD/CMOS参数检测系统
本技术涉及CCD/CMOS检测
,更为具体地,涉及一种CCD/CMOS多参数的检测系统。
技术介绍
目前CCD/CMOS广泛应用在数码摄影、航空航天、天文探测、频谱望远镜等领域,在工业上CCD/CMOS用于测量尺寸、采集图像、探测高温。CCD/CMOS可直接将光学信号转换为数字电信号,实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。其显著特点是:1.体积小重量轻;2.功耗小,工作电压低,抗冲击与震动,性能稳定,寿命长;3.灵敏度高,噪声低、动态范围大;4.响应速度快,有自扫描功能,图像畸变小,无残像;5.应用超大规模集成电路工艺技术生产,像素集成度高,尺寸精确,商品化生产成本低。因此,许多采用光学方法测量外径的仪器,把CCD/CMOS作为光电接收器。但是,在现有的技术中,CCD/CMOS的参数检测方式比较复杂,数据参数不可靠,检测数据单一,受外界环境干扰严重,不支持多种CCD/CMOS输出模式,且不利于批量的进行CCD/CMOS参数检测。
技术实现思路
鉴于上述问题,本技术的目的是提供一种CCD/CMOS参数检测系统,以解决现有的CCD/CMOS的参数检测方式,不支持多种CCD/CMOS输出模式、参数检测不可靠的问题。本技术提供的CCD/CMOS参数检测系统,包括:硬件检测装置和控制装置;其中,硬件检测装置包括工作平台,在工作平台上设置有积分球和光学暗室,在积分球上设置有第一进光口、第二进光口、第三进光口、第一出光口、第二出光口和第三出光口,在第一进光口处设置有弱光LED灯,在弱光LED灯上设置有衰减片,在第二进光口处设置有强光LED灯,在第三进光口处设置有强光卤素灯,第三出光口位于光学暗室内,在第三出光口处设置有鉴别率板,在光学暗室的室内底部设置有变焦调节机构,在变焦调节机构上设置有光学镜头精密调节平台和CCD/CMOS精密调节夹具,在光学镜头精密调节平台上设置有变焦透镜组,在CCD/CMOS精密调节夹具上夹有待测CCD/COMS,待测CCD/COMS、变焦透镜组与第三出光口成一条直线;在工作平台内设置有工控机、强光照度计、弱光照度计、弱光LED及卤素灯驱动电源、强光LED灯驱动电源和CCD/CMOS供电电源,强光照度计与强光照度计探头连接,强光照度计探头设置在第一出光口上,弱光照度计与弱光照度计探头连接,弱光照度计探头设置在第二出光口上,强光LED灯驱动电源与强光LED灯电连接,弱光LED及卤素灯驱动电源分别与强光卤素灯、弱光LED灯电连接,CCD/CMOS供电电源与待测CCD/COMS电连接。此外,优选的结构是,数据接口包括Cameralink相机接口、BaslerGenlcamSource相机接口、USB2.0和USB3.0接口。另外,优选的结构是,CCD/CMOS参数检测系统还包括显示器,显示器通过视频线与工控机连接。再者,优选的结构是,变焦调节机构为直线滑台,直线滑台包括导轨和设置在导轨上的滑块,光学镜头精密调节平台和CCD/CMOS精密调节夹具分别固定在滑块上。此外,优选的结构是,光学镜头精密调节平台包括第一水平移动平台,在第一水平移动平台上设置有第一纵向移动平台,在第一纵向移动平台上设置有第一俯仰调节平台,在第一俯仰调节平台上设置有第一旋转位移平台。另外,优选的结构是,第一水平移动平台与第一纵向移动平台均为直线滑台,第一纵向移动平台与第一水平移动平台的L形滑块固定。再者,优选的结构是,第一俯仰调节平台包括弧形槽和弧形块,弧形块在弧形槽内滑动,弧形块的顶面为平面,第一旋转位移平台固定在弧形块的顶面上,变焦透镜组固定在第一旋转位移平台上。此外,优选的结构是,CCD/CMOS精密调节夹具包括第二水平移动平台,在第二水平移动平台上设置有第二纵向移动平台,在第二纵向移动平台上设置有第二俯仰调节平台,在第二俯仰调节平台上设置有第二旋转位移平台。另外,优选的结构是,第二水平移动平台与第二纵向移动平台均为直线平台,第二纵向移动平台与第二水平移动平台的L形滑块固定。再者,优选的结构是,第二俯仰调节平台包括弧形槽和弧形块,弧形块在弧形槽内滑动,弧形块的顶面为平面,第二旋转位移平台固定在弧形块的顶面上。与现有技术相比,本技术能够取得以下技术效果:1、采用弱光LED灯,强光LED灯和强光卤素灯三种光源,通过光谱线校正与组合模拟自然光,调节光强强弱,以实现CCD/CMOS参数检测的可信性。2、数据处理模块支持Cameralink相机接口、BaslerGenlcamSource相机接口、USB2.0和USB3.0接口,可以实现CCD/CMOS的多种输出模式检测。3、光学暗室,可实现在全暗下测试CCD/CMOS的参数,与弱光LED组合状态下,最低照度达到0.0001lx。4、多参数一体测试功能,本装置具备测量CCD/CMOS的清晰度、灵敏度、帧频、漏帧率、疵点、信噪比、非均匀性、动态范围等功能。5、光学镜头精密调节平台与CCD/CMOS精密调节夹具,实现光学镜头和CCD/CMOS的上下、前后、左右、偏航和俯仰调节,在第三出光口、光学镜头和CCD/CMOS成一条直线前提下,满足各种分辨率的CCD/CMOS满幅测量要求。附图说明通过参考以下结合附图的说明,并且随着对本技术的更全面理解,本技术的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中:图1为根据本技术实施例的CCD/CMOS参数检测系统的整体结构示意图;图2为根据本技术实施例的变焦调节机构与光学镜头精密调节平台、CCD/CMOS精密调节夹具之间的装配关系示意图。其中的附图标记包括:1-显示器、2-积分球、3-光学暗室、4-弱光LED灯、5-第一进光口、6-衰减片、7-强光LED灯、8-第二进光口、9-卤素光源、10-第三进光口、11-强光照度计探头、12-第一出光口、13-第二出光口、14-弱光照度计探头、15-鉴别率板、16-第三出光口、17-变焦透镜组、18-光学镜头精密调节平台、181-第一水平移动平台、182-第一纵向移动平台、183-第一俯仰调节平台、1831-弧形槽、1832-弧形块、184-第一旋转位移平台、19-待测CCD/COMS、20-CCD/CMOS精密调节夹具、201-第二水平移动平台、202-第二纵向移动平台、203-第二俯仰调节平台、2031-弧形槽、2032-弧形块、204-第二旋转位移平台、21-变焦调节机构、22-工控机、23-强光照度计、24-弱光照度计、25-工作平台、26-弱光LED及卤素灯驱动电源、27-强光LED灯驱动电源、28-CCD/CMOS供电电源。具体实施方式在下面的描述中,出于说明的目的,为了提供对一个或多个实施例的全面理解,阐述了许多具体细节。然而,很明显,也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。在其它例子中,为了便于描述一个或多个实施例,公知的结构和设备以方框图的形式示出。图1示出了根据本技术实施例的CCD/CMOS参数检测系统的整体结构。如图1所示,本技术实施例提供的CCD/CMOS参数检测系统,包括:硬件检测装置和控制装置;其中,硬件检测装置包括积分球2、光学暗室3和工作平台25,积分球2和光学暗室3均设置在工作平台本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种CCD/CMOS参数检测系统,其特征在于,包括:硬件检测装置和控制装置;其中,所述硬件检测装置包括工作平台(25),在所述工作平台(25)上设置有积分球(2)和光学暗室(3),在所述积分球(2)上设置有第一进光口(5)、第二进光口(8)、第三进光口(10)、第一出光口(12)、第二出光口(13)和第三出光口(16),在所述第一进光口处设置有弱光LED灯(4),在所述弱光LED灯(4)上设置有衰减片(6),在所述第二进光口(8)处设置有强光LED灯(7),在所述第三进光口(10)处设置有强光卤素灯(9),所述第三出光口(16)位于所述光学暗室(3)内,在所述第三出光口(16)处设置有鉴别率板(15),在所述光学暗室(3)的室内底部设置有变焦调节机构(21),在所述变焦调节机构(21)上设置有光学镜头精密调节平台(18)和CCD/CMOS精密调节夹具(20),在所述光学镜头精密调节平台(18)上设置有变焦透镜组(17),在所述CCD/CMOS精密调节夹具(20)上夹有待测CCD/COMS(19),所述待测CCD/COMS(19)、所述变焦透镜组(17)与所述第三出光口(16)成一条直线;在所述工作平台(25)内设置有工控机(22)、强光照度计(23)、弱光照度计(24)、弱光LED及卤素灯驱动电源(26)、强光LED灯驱动电源(27)和CCD/CMOS供电电源(28),所述强光照度计(23)与所述强光照度计探头(11)连接,所述强光照度计探头(11)设置在所述第一出光口(12)上,所述弱光照度计(24)与弱光照度计探头(14)连接,所述弱光照度计探头(14)设置在所述第二出光口(13)上,所述强光LED灯驱动电源(27)与所述强光LED灯(7)电连接,所述弱光LED及卤素灯驱动电源(26)分别与所述强光卤素灯(9)、所述弱光LED灯(4)电连接,所述CCD/CMOS供电电源(28)与所述待测CCD/COMS(19)电连接;所述控制装置包括电源控制器和多功能采集卡,所述电源控制器分别与所述工控机(22)、所述弱光LED及卤素灯驱动电源(26)、所述强光LED灯驱动电源(27)连接,所述多功能采集卡插在所述工控机(22)内;所述工控机(22)包括数据处理模块,所述数据处理模块包括供数据线连接的数据接口,所述多功能采集卡通过所述数据线与所述待测CCD/COMS(19)连接。...

【技术特征摘要】
1.一种CCD/CMOS参数检测系统,其特征在于,包括:硬件检测装置和控制装置;其中,所述硬件检测装置包括工作平台(25),在所述工作平台(25)上设置有积分球(2)和光学暗室(3),在所述积分球(2)上设置有第一进光口(5)、第二进光口(8)、第三进光口(10)、第一出光口(12)、第二出光口(13)和第三出光口(16),在所述第一进光口处设置有弱光LED灯(4),在所述弱光LED灯(4)上设置有衰减片(6),在所述第二进光口(8)处设置有强光LED灯(7),在所述第三进光口(10)处设置有强光卤素灯(9),所述第三出光口(16)位于所述光学暗室(3)内,在所述第三出光口(16)处设置有鉴别率板(15),在所述光学暗室(3)的室内底部设置有变焦调节机构(21),在所述变焦调节机构(21)上设置有光学镜头精密调节平台(18)和CCD/CMOS精密调节夹具(20),在所述光学镜头精密调节平台(18)上设置有变焦透镜组(17),在所述CCD/CMOS精密调节夹具(20)上夹有待测CCD/COMS(19),所述待测CCD/COMS(19)、所述变焦透镜组(17)与所述第三出光口(16)成一条直线;在所述工作平台(25)内设置有工控机(22)、强光照度计(23)、弱光照度计(24)、弱光LED及卤素灯驱动电源(26)、强光LED灯驱动电源(27)和CCD/...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭勇辛敏思贾强赵猛陈新邑蔡红星刘立欣张赤军
申请(专利权)人:长春理工大学
类型:新型
国别省市:吉林,22

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