The invention discloses a afterglow detection device and a persistence detection method. The afterglow detection device comprises: an X-ray tube; a first readout circuit for connecting with the detected detector, when detected, the detector receives X-ray beam radiation and outputs a first detection signal to the first readout circuit, which forms and outputs a first measurement signal according to the first detection signal; and a residual ray detector. The second readout circuit is connected with the residual ray detector, and the residual ray detector receives the radiation of the X-ray beam and outputs the second detection signal to the second readout circuit. The second readout circuit forms and outputs the second measurement signal according to the second detection signal; the calculating device signals separately from the first readout circuit and the second readout circuit. Connect and output the afterglow detection signal according to the first measurement signal and the second measurement signal after switching off the power supply of the X-ray tube. The invention has the advantages of simple and reliable.
【技术实现步骤摘要】
余辉检测装置和余辉检测方法
本专利技术涉及辐射检查
,特别涉及一种余辉检测装置和余辉检测方法。
技术介绍
余辉是指闪烁探测器的外在激发信号(如射线束或可见光等)消失后,闪烁探测器依然会维持一段时间的可见光的发射。余辉的强度大致随时间呈指数衰减。余辉一般用外在激励信号消失后一段时间的相对强度值来衡量。例如,一个典型的碘化铯(铊)(CsI(Tl))闪烁探测器,外在激发信号(如X射线束)存在时该闪烁探测器的输出信号为单位1,在激发信号消失后10ms时闪烁探测器的输出信号约为5000ppm左右,即该闪烁探测器在激发信号消失10ms时的余辉值为0.5%左右。即使闪烁探测器类型相同,不同厂家生产的闪烁探测器的余辉值差别很大,不同的探测单元也会有各自的余辉值。在采用连续出束的X射线源或同位素放射源的检查系统中,闪烁探测器的闪烁体的余辉是影响最终性能指标的重要因素。当被检物质较厚时,来自射线源的射线强度衰减到千分之一以下,而余辉值却可能数倍于该射线强度值,且不同探测单元的余辉值不同,导致图像明暗不匀,造成伪信号。图1为根据CsI(Tl)探测器的探测信号形成的扫描图像。从图1中可以看到,在相同的钢板厚度下,右边比左边明亮,且不同的探测器的余辉值不同,导致图像有明暗不同的横条。图2为根据钨酸镉探测器的探测信号形成的扫描图像。该扫描图像相比于图1所述的扫描图像更整洁清晰。其中,钨酸镉是一种闪烁性能优良的闪烁探测器材料,其余辉时间短,余辉值低。图3为激发信号消失前后CsI(Tl)探测器的输出相对强度曲线(细实线)和钨酸镉探测器的输出相对强度曲线(粗实线)的对比示意图。图3代 ...
【技术保护点】
1.一种余辉检测装置,其特征在于,包括:X射线管(1),用于发射X射线束;第一读出电路(3),用于与被检测探测器(10)连接,检测时所述被检测探测器(10)设置于所述X射线管(1)的出束侧以接受所述X射线束辐射,并向所述第一读出电路(3)输出第一探测信号,所述第一读出电路(3)根据所述第一探测信号形成并输出第一测量信号;残余射线探测器(2),设置于所述X射线管(1)的出束侧;第二读出电路(4),与所述残余射线探测器(2)连接,所述残余射线探测器(2)接受所述X射线束辐射并向所述第二读出电路(4)输出第二探测信号,所述第二读出电路(4)根据所述第二探测信号形成并输出第二测量信号;计算装置(5),与所述第一读出电路(3)和所述第二读出电路(4)分别信号连接以接收所述第一测量信号和所述第二测量信号,所述计算装置(5)根据关断所述X射线管(1)的电源后的所述第一测量信号和所述第二测量信号计算并输出余辉检测信号。
【技术特征摘要】
1.一种余辉检测装置,其特征在于,包括:X射线管(1),用于发射X射线束;第一读出电路(3),用于与被检测探测器(10)连接,检测时所述被检测探测器(10)设置于所述X射线管(1)的出束侧以接受所述X射线束辐射,并向所述第一读出电路(3)输出第一探测信号,所述第一读出电路(3)根据所述第一探测信号形成并输出第一测量信号;残余射线探测器(2),设置于所述X射线管(1)的出束侧;第二读出电路(4),与所述残余射线探测器(2)连接,所述残余射线探测器(2)接受所述X射线束辐射并向所述第二读出电路(4)输出第二探测信号,所述第二读出电路(4)根据所述第二探测信号形成并输出第二测量信号;计算装置(5),与所述第一读出电路(3)和所述第二读出电路(4)分别信号连接以接收所述第一测量信号和所述第二测量信号,所述计算装置(5)根据关断所述X射线管(1)的电源后的所述第一测量信号和所述第二测量信号计算并输出余辉检测信号。2.根据权利要求1所述的余辉检测装置,其特征在于,所述计算装置(5)根据关断所述X射线管(1)的电源后某一时刻所述第一测量信号的值减去该时刻所述第二测量信号的值作为该时刻的所述余辉检测信号的值;或者,所述计算装置(5)根据关断所述X射线管(1)的电源后某一时刻所述第一测量信号的值减去该时刻所述第二测量信号的修正值作为该时刻的所述余辉检测信号的值。3.根据权利要求1所述的余辉检测装置,其特征在于,所述残余射线探测器(2)在激发信号消失后10ms时的输出相对强度值低于激发信号存在时的0.05%。4.根据权利要求1所述的余辉检测装置,其特征在于,所述残余射线探测器(2)包括钨酸镉探测器...
【专利技术属性】
技术研发人员:李树伟,张文剑,邹湘,赵博震,张清军,何会绍,王永强,王燕春,
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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