测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试装置，用于测试待测物，测试装置包括测试基板、测试基座以及信号连接器。测试基板具有基板上表面、基板下表面以及至少一连接于基板上表面与基板下表面之间的贯穿孔。测试基座设置在测试基板的基板上表面，以承载待测物。信号连接器设置于测试基板的基板上表面且邻近至少一贯穿孔。信号连接器通过穿过至少一贯穿孔的信号传输线，以电性连接于测试仪器。位于测试基座内的待测物依序通过测试基座、测试基板、信号连接器以及信号传输线，以与测试仪器形成电性连接。借此，本发明专利技术公开的测试装置，以使得信号连接器能通过穿过至少一贯穿孔的信号传输线而电性连接于测试仪器。

testing device

The invention discloses a testing device for testing the object to be tested. The testing device comprises a testing substrate, a testing base and a signal connector. The test substrate has an upper surface of the substrate, a lower surface of the substrate and at least a perforation between the upper surface of the substrate and the lower surface of the substrate. The test base is arranged on the upper surface of the substrate of the test substrate to carry the tested object. The signal connector is arranged on the upper surface of the substrate of the test substrate and is adjacent to at least consistent perforation. The signal connector is electrically connected to the test instrument through a signal transmission line passing through at least a consistent perforation. The object to be tested in the test base is connected with the test instrument by the test base, the test base plate, the signal connector and the signal transmission line in sequence. Thus, the test device disclosed in the present invention enables the signal connector to be electrically connected to the test instrument by passing through at least one through-hole signal transmission line.

【技术实现步骤摘要】
测试装置
本专利技术涉及一种测试装置，特别是涉及一种用于对待测物进行信号测试的测试装置。
技术介绍
现有技术中对于具有发射电磁辐射功能的产品的测试方式是提供一测试载板、一测试仪器及信号连接器，测试载板上安装有根据待测物(deviceundertest，DUT)而设计的测试基座(testsocket)，而信号连接器一般来说贯穿设置于测试载板，分别在测试载板的上表面通过信号走线而电性连接于测试基座，且在测试载板的下表面通过信号电缆而连接于测试仪器，当待测物设置于测试基座内，信号连接器提供信号连接而使测试仪器能对待测物输入或输出信号。然而，现有技术中的信号连接器由于贯穿测试载板而设置，因此容易造成信号传至电路板内层。此外，若测试载板太厚，信号连接器通过焊锡在测试载板上时容易发生吃锡不良的问题。针对上述问题，现有技术中存在有一种技术方案，其中信号连接器并非贯穿测试载板而设置，而是设置于测试载板侧边。然而此技术方案造成的问题是待测物与信号连接器之间距离过远，造成信号走线路径过长，信号容易失真而降低测试准确度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种测试装置，测试装置的信号连接器设置于测试基板上表面，且测试基板具有贯穿孔，使信号传输线可穿过贯穿孔而连接于信号连接器。为了解决上述的技术问题，本专利技术所采用的其中一技术方案是，提供一种测试装置，用于测试待测物，所述测试装置包括测试基板、测试基座以及信号连接器。所述测试基板具有基板上表面、基板下表面以及至少一连接于所述基板上表面与所述基板下表面之间的贯穿孔。所述测试基座设置在所述测试基板的所述基板上表面，以承载所述待测物。所述信号连接器设置于所述测试基板的所述基板上表面且邻近至少一所述贯穿孔。其中，所述信号连接器通过穿过至少一所述贯穿孔的信号传输线，以电性连接于测试仪器。其中，位于所述测试基座内的所述待测物依序通过所述测试基座、所述测试基板、所述信号连接器以及所述信号传输线，以与所述测试仪器形成电性连接。优选地，所述信号连接器与所述信号传输线的连接位置与所述测试基板的所述基板上表面位于所述测试基板的同一侧。优选地，测试装置还进一步包括固定模组，所述固定模组设置于所述贯穿孔之中，以固定所述信号传输线的传输接头。优选地，所述固定模组包括水平固定单元，所述水平固定单元包括第一固定单元以及第二固定单元，其中，所述第一固定单元与所述第二固定单元之中的至少一个在第一方向上抵顶所述信号传输线的所述传输接头，且所述第一固定单元与所述第二固定单元在彼此相对的第三方向以及第二方向上分别抵顶于所述贯穿孔的内缘，以固定所述传输接头与所述信号连接器之间的相对位置。优选地，所述固定模组还进一步包括垂直固定单元，所述垂直固定单元连接于所述水平固定单元，且所述垂直固定单元的单元上表面邻接于所述电性连接线的所述传输接头的下端，以在垂直于所述测试基板的方向上固定所述传输接头位置。优选地，所述固定模组还进一步包括弹性连接件，所述弹性连接件连接于所述第一固定单元以及所述第二固定单元之间，且所述弹性连接件具有自然长度；其中，在所述第二方向上，所述第一固定单元的宽度、所述第二固定单元的宽度以及所述自然长度的总和大于所述贯穿孔的宽度，所述弹性连接件在所述第三方向上将所述第一固定单元朝向所述贯穿孔的内缘推压，所述弹性连接件在所述第二方向上将所述第二固定单元朝向所述贯穿孔的内缘推压，且所述第一固定单元与所述第二固定单元分别在所述第三方向以及所述第二方向上抵顶于所述贯穿孔的内缘。优选地，所述第一固定单元以及所述第二固定单元分别具有第一按压部以及第二按压部，所述第一按压部形成于所述第一固定单元上且相对于所述弹性连接件的一侧，且所述第二按压部形成于所述第二固定单元上且相对于所述弹性连接件的一侧；其中，当所述第一按压部与所述第二按压部被同时按压时，所述弹性连接件被压缩。优选地，所述信号连接器为射频连接器。优选地，所述信号连接器为直角连接器。优选地，所述信号连接器是经由表面粘着方法设置于所述测试基板的所述基板上表面。本专利技术的有益效果在于，本专利技术所提供的测试装置，能通过“所述测试基板具有基板上表面、基板下表面以及至少一连接于所述基板上表面与所述基板下表面之间的贯穿孔”以及“所述信号连接器设置于所述测试基板的所述基板上表面且邻近至少一所述贯穿孔”的技术方案，以使得所述信号连接器能通过穿过至少一所述贯穿孔的信号传输线而电性连接于测试仪器。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本专利技术加以限制。附图说明图1为本专利技术第一实施例的测试装置的立体示意图。图2为本专利技术第一实施例的测试基板的贯穿孔供信号传输线穿过的立体示意图。图3为本专利技术第一实施例的信号连接器与信号传输线的传输接头相接的立体示意图。图4为本专利技术第二实施例的测试装置的立体示意图。图5为图4中局部V的放大俯视示意图。图6为本专利技术第二实施例的固定模组的立体示意图。图7为本专利技术第二实施例的固定模组的弹性连接件被压缩时的立体示意图。图8为本专利技术第二实施例的测试装置的局部侧视示意图。具体实施方式以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“测试装置”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件或者信号，但这些元件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一元件与另一元件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。第一实施例请参阅图1至图3所示，本专利技术第一实施例提供的测试装置Z包括测试基板1、测试基座2以及信号连接器3。测试基板1具有基板上表面110、基板下表面120以及至少一连接于基板上表面110与基板下表面120之间的贯穿孔H。测试基座2设置在测试基板1的基板上表面110，以承载待测物(图中未显示)。信号连接器3设置于测试基板1的基板上表面110且邻近至少一贯穿孔H。图1至图3中以测试基板1上设置四个测试基座2为例，然而在实际应用中，本专利技术对测试基板1上可设置的测试基座2的数量不加以限制，本领域技术人员可根据实际需求而设计。并且，如图1至图3所示，每一个贯穿孔H对应一个信号连接器3，且每一个信号连接器3对应一个测试基座2，因此信号连接器3及贯穿孔H的数量与测试基座2的数量一致。图1至图3中显示的测试基座2仅为示意，一般而言，测试基座2为根据待测物而设计，用以连接待测物与测试仪器(图中未显示)，测试基座2中央通常具有一凹槽21，用以承载待测物。由于测试基座为本领域常用技术手段，于此不再赘述。进一步而言，请参阅图2及图3，每一个信号连接器3通过穿过至少一贯穿孔H的信号传输线4，以电性连接于测试仪器(图中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，用于测试一待测物，所述测试装置包括：一测试基板，所述测试基板具有一基板上表面、一基板下表面以及至少一连接于所述基板上表面与所述基板下表面之间的贯穿孔；一测试基座，所述测试基座设置在所述测试基板的所述基板上表面，以承载所述待测物；以及一信号连接器，所述信号连接器设置于所述测试基板的所述基板上表面且邻近至少一所述贯穿孔；其中，所述信号连接器通过一穿过至少一所述贯穿孔的信号传输线，以电性连接于一测试仪器；其中，位于所述测试基座内的所述待测物依序通过所述测试基座、所述测试基板、所述信号连接器以及所述信号传输线，以与所述测试仪器形成电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，用于测试一待测物，所述测试装置包括：一测试基板，所述测试基板具有一基板上表面、一基板下表面以及至少一连接于所述基板上表面与所述基板下表面之间的贯穿孔；一测试基座，所述测试基座设置在所述测试基板的所述基板上表面，以承载所述待测物；以及一信号连接器，所述信号连接器设置于所述测试基板的所述基板上表面且邻近至少一所述贯穿孔；其中，所述信号连接器通过一穿过至少一所述贯穿孔的信号传输线，以电性连接于一测试仪器；其中，位于所述测试基座内的所述待测物依序通过所述测试基座、所述测试基板、所述信号连接器以及所述信号传输线，以与所述测试仪器形成电性连接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号连接器与所述信号传输线的连接位置与所述测试基板的所述基板上表面位于所述测试基板的同一侧。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还进一步包括：一固定模组，所述固定模组设置于所述贯穿孔之中，以固定所述信号传输线的一传输接头。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述固定模组包括一水平固定单元，所述水平固定单元包括一第一固定单元以及一第二固定单元，其中，所述第一固定单元与所述第二固定单元之中的至少一个在一第一方向上抵顶所述信号传输线的所述传输接头，且所述第一固定单元与所述第二固定单元在彼此相对的一第三方向以及一第二方向上分别抵顶于所述贯穿孔的内缘，以固定所述传输接头与所述信号连接器之间的相对位置。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述固定模组还进一步包括一垂...

【专利技术属性】
技术研发人员：高合助，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31