测试元件组的定位方法和测试元件组技术

一种测试元件组(100)的定位方法。测试元件组(100)用于检测显示面板(200)上待检测位置的电气特性。每个待检测位置设置有一个对位标识，测试元件组(100)包括与对位标识对应的对准标识。测试元件组(100)的定位方法包括：移动测试元件组(100)至待检测位置(S12)；调整测试元件组(100)的位置直至对准标识与待检测位置处的对位标识对准(S14)。还公开了一种测试元件组(100)。

Positioning method of test element group and test element group

A positioning method for test element group (100). The test element group (100) is used to detect the electrical characteristics of the position to be detected on the display panel (200). Each position to be detected is provided with a pair of alignment marks, and the test element group (100) includes an alignment mark corresponding to the pair marks. The positioning method of the test element group (100) includes moving the test element group (100) to the position to be detected (S12), adjusting the position of the test element group (100) until the alignment mark is aligned with the alignment mark at the position to be detected (S14). A test element group (100) is also disclosed.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试元件组的定位方法和测试元件组
本专利技术涉及显示器的测试
，特别涉及一种测试元件组的定位方法和测试元件组。
技术介绍
现有的利用面板典型测试群组辅助测试面板的有效显示区域的方法，在定位目标扎针位置过程中需要用户手动寻线，会导致扎针位置定位不够精准。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种测试元件组的定位方法和测试元件组。本专利技术实施方式的测试元件组的定位方法，测试元件组用于检测显示面板上待检测位置的电气特性，每个所述待检测位置设置有一个对位标识，所述测试元件组包括与所述对位标识对应的对准标识，所述测试元件组的定位方法包括：移动所述测试元件组至所述待检测位置；和调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准。在某些实施方式中，所述测试元件组包括探针及设置在所述探针上的摄像头，所述对准标识位于所述摄像头的取景框中心，所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准来实现的。本专利技术实施方式的测试元件组用于检测显示面板上待检测位置的电气特性，所述待检测位置设置有一个对位标识，所述测试元件组包括：与所述对位标识对应的对准标识、一个或多个处理器、存储器和一个或多个程序。其中所述一个或多个被存储在所述存储器中，并且被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行以下步骤的指令：控制所述测试元件组移动至所述待检测位置；和调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准。在某些实施方式中，所述测试元件组还包括探针及设置在所述探针上的摄像头，所述对准标识位于所述摄像头的取景框中心，所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准来实现的。在某些实施方式中，所述显示面板包括多条栅极线及多条数据线，多条所述栅极线与多条所述数据线交叉设置并构成多个像素，所述待检测位置包括目标像素点的栅极线的起始端，所述对位标识包括与每条所述栅极线的起始端对应的栅极对位标识；所述移动所述测试元件组至所述待检测位置是通过移动所述测试元件组至所述目标像素点的栅极线的起始端来实现的；所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述栅极对位标识对准来实现的。在某些实施方式中，所述显示面板包括多条栅极线及多条数据线，多条所述栅极线与多条所述数据线交叉设置并构成多个像素，所述待检测位置包括目标像素点的数据线的起始端，所述对位标识包括与每条所述数据线的起始端对应的源极对位标识；所述移动所述测试元件组至所述待检测位置是通过移动所述测试元件组至所述目标像素点的数据线的起始端来实现的；所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述源极对位标识对准来实现的。在某些实施方式中，所述显示面板包括多条栅极线及多条数据线，多条所述栅极线与多条所述数据线交叉设置并构成多个像素，所述待检测位置包括目标像素点所在的目标像素区域，所述对位标识包括与每个所述目标像素区域对应的漏极对位标识；所述移动所述测试元件组至所述待检测位置是通过移动所述测试元件组至所述目标像素区域来实现的；所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述漏极对位标识对准来实现的。在某些实施方式中，所述程序还包括用于执行以下步骤的指令：在移动所述测试元件组至所述目标像素区域之后，且在通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述漏极对位标识对准之前，记录所述对准标识与所述漏极对位标识之间的偏移量。在某些实施方式中，所述移动所述测试元件组直至所述目标像素区域是以所述目标像素点的栅极线的起始端开始执行的；或所述移动所述测试元件组直至所述目标像素区域是以所述目标像素点的数据线的起始端开始执行的。在某些实施方式中，所述程序还包括用于执行以下步骤的指令：控制所述测试元件组停止移动在所述中间像素点处；和调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述中间像素点所在的中间像素区域对应的所述对位标识对准。在某些实施方式中，所述目标像素点与栅极线的起始端或所述数据线的起始端之间相隔达到200像素点时，所述测试元件组到达所述目标像素区域之前至少停止移动一次。在某些实施方式中，所述停止移动的次数为多次时，所述中间像素点的个数为多个，相邻所述中间像素点之间至多相隔200个像素点。在某些实施方式中，所述程序还包括用于执行以下步骤的指令：在所述测试元件组停止移动在所述中间像素点处之后，且在调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述中间像素点所在的中间像素区域对应的所述漏极对位标识对准之前，记录所述对准标识与所述漏极对位标识之间的偏移量。在某些实施方式中，所述测试元件组包括承载台和面板放置元件，所述程序还包括用于执行以下步骤的指令：控制所述面板放置元件放置所述显示面板在所述承载台上；和控制所述面板放置元件调整所述显示面板的位置以使所述显示面板与所述承载台对准。在某些实施方式中，所述承载台上设置有多个定位标识，所述显示面板上还设置有与多个所述定位标识对应的多个对齐标识，所述调整所述显示面板的位置以使所述显示面板与所述承载台对准是通过调整所述显示面板的位置直至多个所述定位标识与对应的多个所述对齐标识之间的偏差在预设偏差范围内来实现的。本专利技术实施方式的测试元件组的定位方法和测试元件组通过将测试元件组上的对准标识与显示面板上的对位标识进行对准来提升待检测位置的定位的准确性。本专利技术的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实施方式的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的流程示意图。图2是本专利技术某些实施方式的测试元件组的模块示意图。图3是本专利技术某些实施方式的显示面板的结构示意图。图4是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的原理示意图。图5是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的原理示意图。图6是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的原理示意图。图7是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的流程示意图。图8是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的流程示意图。图9是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的流程示意图。图10是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的流程示意图。图11是本专利技术某些实施方式的测试元件组的模块示意图。图12是本专利技术某些实施方式的测试元件组的定位方法的原理示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。请一并参阅图1、图2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试元件组的定位方法，所述测试元件组用于检测显示面板上待检测位置的电气特性，其特征在于，每个所述待检测位置设置有一个对位标识，所述测试元件组包括与所述对位标识对应的对准标识，所述测试元件组的定位方法包括：移动所述测试元件组至所述待检测位置；和调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试元件组的定位方法，所述测试元件组用于检测显示面板上待检测位置的电气特性，其特征在于，每个所述待检测位置设置有一个对位标识，所述测试元件组包括与所述对位标识对应的对准标识，所述测试元件组的定位方法包括：移动所述测试元件组至所述待检测位置；和调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准。2.根据权利要求1所述的测试元件组的定位方法，其特征在于，所述测试元件组包括探针及设置在所述探针上的摄像头，所述对准标识位于所述摄像头的取景框中心，所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准来实现的。3.一种测试元件组，所述测试元件组用于检测显示面板上待检测位置的电气特性，其特征在于，所述待检测位置设置有一个对位标识，所述测试元件组包括：与所述对位标识对应的对准标识；一个或多个处理器；存储器；和一个或多个程序，其中所述一个或多个被存储在所述存储器中，并且被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行以下步骤的指令：控制所述测试元件组移动至所述待检测位置；和调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准。4.根据权利要求3所述的测试元件组，其特征在于，所述测试元件组还包括探针及设置在所述探针上的摄像头，所述对准标识位于所述摄像头的取景框中心，所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准来实现的。5.根据权利要求4所述的测试元件组，其特征在于，所述显示面板包括多条栅极线及多条数据线，多条所述栅极线与多条所述数据线交叉设置并构成多个像素，所述待检测位置包括目标像素点的栅极线的起始端，所述对位标识包括与每条所述栅极线的起始端对应的栅极对位标识；所述移动所述测试元件组至所述待检测位置是通过移动所述测试元件组至所述目标像素点的栅极线的起始端来实现的；所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述栅极对位标识对准来实现的。6.根据权利要求4所述的测试元件组，其特征在于，所述显示面板包括多条栅极线及多条数据线，多条所述栅极线与多条所述数据线交叉设置并构成多个像素，所述待检测位置包括目标像素点的数据线的起始端，所述对位标识包括与每条所述数据线的起始端对应的源极对位标识；所述移动所述测试元件组至所述待检测位置是通过移动所述测试元件组至所述目标像素点的数据线的起始端来实现的；所述调整所述测试元件组的位置直至所述对准标识与所述待检测位置处的所述对位标识对准是通过调整所述摄像头的位置直至所述对准标识与所述源极对位标识对准来实现的。...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕耀生，
申请(专利权)人：深圳市柔宇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44