一种基于电磁波的刀具的监测系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种基于电磁波的刀具的监测系统。该监测系统包括太赫兹监测装置、传送带和控制器。太赫兹监测装置包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；电磁发生仪用于向刀片发射探测波；电磁接收仪用于接收透过刀片的衰减波；辅助处理设备用于比较衰减波和探测波，得到刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算刀片的厚度；传送带用于将刀片在刀片加工装置和样品台之间传送；控制器用于控制传送带的运作。上述基于电磁波的刀具的监测系统，根据刀片对于太赫兹频段的电磁波的吸收时间和刀片本身的折射率即可计算出刀片的厚度。实现了刀片厚度无接触式的测量，测量简单，测量精度较高，因此测量效果较好。

A monitoring system for cutting tools based on electromagnetic waves

The utility model relates to a monitoring system for cutting tools based on electromagnetic waves. The monitoring system includes terahertz monitoring device, conveyor belt and controller. Terahertz monitoring device includes sample table, electromagnetic generator, electromagnetic receiver and auxiliary processing equipment; electromagnetic generator is used to transmit detection wave to blade; electromagnetic receiver is used to receive attenuation wave of penetrating blade; auxiliary processing equipment is used to compare attenuation wave and detection wave to obtain absorption spectrum of blade, and according to absorption. Spectrum calculates the thickness of the blade; conveyor belt is used to transfer the blade between the blade processing device and the sample table; controller is used to control the operation of the conveyor belt. Based on the electromagnetic wave monitoring system, the thickness of the blade can be calculated according to the electromagnetic wave absorption time of the blade for terahertz frequency band and the refractive index of the blade itself. It realizes the non-contact measurement of blade thickness. The measurement is simple and the measurement precision is high, so the measurement effect is better.

【技术实现步骤摘要】
一种基于电磁波的刀具的监测系统
本技术涉及刀具质量检测领域，特别涉及一种基于电磁波的刀具的监测系统。
技术介绍
现代的刀具生产工艺中，大多使用磨床进行加工，其精度和效率都远远大于传统的手工打造技术。此处以陶瓷刀具为例，陶瓷刀片的厚度是决定刀具质量的最重要因素。为了保持刀片的厚度符合设计的要求，经常需要熟练的工人将刀片从磨床上取下，使用卡尺等测量工具逐一进行校对，并由此来判定磨床的设置是否精确，机器的运作是否正常。但是，传统的测量刀片厚度的方法大多数是接触式的，操作复杂，且测得的刀片的厚度精度较差，测量效果不好。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的测量刀片厚度的方法操作复杂且测量效果不好的问题，提供一种基于电磁波的刀具的监测系统。一种基于电磁波的刀具的监测系统，所述刀具的刀片的分子是非极性分子，所述监测系统用于监测刀片加工装置加工的刀片的厚度，所述监测系统包括：太赫兹监测装置，包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；所述样品台用于支撑所述刀片；所述电磁发生仪用于向所述刀片发射探测波；所述电磁接收仪用于接收透过所述刀片的电磁波，该电磁波为衰减波；所述辅助处理设备用于比较所述衰减波和所述探测波，得到所述刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算所述刀片的厚度；其中，所述探测波为太赫兹频段的电磁波；传送带，所述传送带设置于所述刀片加工装置和所述太赫兹监测装置之间，所述传送带用于将所述刀片在所述刀片加工装置和所述样品台之间传送；控制器，与所述传送带连接，所述控制器用于控制所述传送带的运作。上述基于电磁波的刀具的监测系统，刀片加工装置将刀片放在传送带上。控制器控制传送带的传送工作。传送带将刀片传送至太赫兹检测装置的样品台上。然后，太赫兹监测装置利用太赫兹频段的电磁波测量刀片的厚度。根据吸收光谱获取太赫兹频段的电磁波穿过刀片的时间，即衰减时间。再根据刀片对于太赫兹频段的电磁波的衰减时间和刀片本身的折射率即可计算出刀片的厚度。实现了刀片厚度无接触式的测量，测量简单，并且利用吸收光谱科学计算刀片的厚度，测量精度较高，因此测量效果较好。为刀片厚度测量提供了一种新的手段，更好的优化了工业制造。在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括支架和位置调节组件，所述样品台位于所述支架内部；所述位置调节组件与所述样品台连接，所述位置调节组件用于调节所述样品台相对于所述支架的位置，以监测所述刀片不同位置处的厚度。在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括存储器，所述存储器与所述辅助处理设备连接，所述存储器用于存储所述辅助处理设备计算得出的所述刀片的厚度值。在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括分束器，所述分束器接收所述电磁发生仪产生的太赫兹频段的初始波，并将所述初始波分为能量相等的两束波，其中一束作为所述探测波，其中一束作为参照波；所述电磁接收仪接收所述参照波和所述衰减波，并将所述参照波和所述衰减波发送给所述辅助处理设备；所述辅助处理设备比较所述衰减波和所述参照波，获取所述刀片的吸收光谱。在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括锁相放大器，所述锁相放大器设置于所述电磁接收仪和所述辅助处理设备之间，所述衰减波经由所述锁相放大器传输至所述辅助处理设备，所述参照波经由所述锁相放大器传输至所述辅助处理设备。在其中一个实施例中，所述电磁发生仪产生预设的太赫兹频段范围内的电磁波。在其中一个实施例中，所述辅助处理设备比较所述刀片的厚度值与预设阈值，并根据比较结果判断所述刀片是否符合要求。在其中一个实施例中，所述太赫兹监测装置还包括提示单元；所述处理器在判断出所述刀片不符合要求时，所述提示单元发出提示信息。附图说明图1为本技术一实施例的基于电磁波的刀具的监测系统。图2为一实施例的刀片的吸收光谱的示意图；图3为一实施例的太赫兹监测装置210的示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。太赫兹频段的电磁波是指频率在0.1～10THz波段的电磁波。因为太赫兹波的频率非常高，波长非常短(皮秒量级)，所以它的空间分辨率和时间分辨率都很高。另外，太赫兹波的光子能量只有4毫电子伏特，安全性高，可以实现无损、非接触检测。太赫兹频段的电磁波的一个重要特性就是具有透过非极性物质的能力。此处，非极性物质是指该物质的化学分子是非极性分子。非极性分子比如陶瓷材料中的氧化硅分子、氧化铝分子、氧化钾分子、氧化钠分子、氧化钙分子、氧化镁分子、氧化铁分子、氧化钛分子。又如氢气分子(H2)、氧气分子(O2)、氮气分子(N2)、二氧化碳分子(CO2)、甲烷分子(CH4)。日常生活中还有很多非极性分子构成的物质，例如塑料。本实施例中，刀具的刀片的分子是非极性分子。本实施例中，以陶瓷刀片为例说明基于电磁波的刀具的监测方法。因此，太赫兹频段的电磁波可以透射过刀片。并且，太赫兹频段的电磁波在穿过刀片时，刀片的材料会吸收部分太赫兹频段的电磁波。当刀片的材料确定，刀片的材料对太赫兹频段的电磁波的吸收率确定。因此，刀片对太赫兹频段的电磁波的吸收强度与刀片的厚度线性相关，因此根据刀片对太赫兹频段的电磁波的吸收光谱即可计算出刀片的厚度。以下对刀具的刀片的厚度的测量方法做详细介绍。图1为一实施例的基于电磁波的刀具的监测系统。图2为一实施例的刀片的吸收光谱的示意图，图2中横坐标为时间，纵坐标为吸收光谱的光能量的相对值。一种基于电磁波的刀具的监测系统200，刀具的刀片的分子是非极性分子，所述监测系统用于监测刀片加工装置100加工的刀片的厚度。该监测系统200包括太赫兹监测装置220、传送带220和控制器(未示出)。太赫兹监测装置220包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备。样品台用于支撑刀片。电磁发生仪用于向刀片发射探测波。电磁接收仪用于接收透过刀片的电磁波，该电磁波为衰减波。辅助处理设备用于比较衰减波和探测波，得到刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算刀片的厚度；其中，探测波为太赫兹频段的电磁波。具体地，辅助处理设备比较探测波的光谱和衰减波的光谱，得到刀片对于探测波的吸收光谱。本实施例中，辅助处理设备可以将探测波的光谱与衰减波的光谱相减，从而很容易得到刀片的吸收光谱。辅助处理设备从吸收光谱上很容易获取衰减波的衰减时间Δt，根据衰减时间Δt和刀片的材质计算刀片的厚度d。如图2所示，本实施例中，辅助处理设备从吸收光谱上获取刀片对于太赫兹频段的电磁波的衰减时间Δt。根据图2所示的吸收光谱上，衰减时间Δt为吸收光谱能量的持续时间，也即为探测波穿过刀片的时间。根据数据库中刀片的材料的折射率n的值，其中刀片厚度d与Δt之间的关系计算出样品的刀片厚度，即刀片厚度与Δt之间满足如下关系：d＝(Δt×c)/n(1)式(1)中，c为真空中的光速。需要说明的是，工作人员在得到衰减时间Δt后，也可以代替辅助处理设备依据式(1)计算刀片的厚度传送带220设置于刀片加工装置100和太赫兹监测装置220之间，传送带220用于将刀片在刀片加工装置100和样品台之间传送。控制器与传送带220连接，控制器用于控制传送带220的运作。上述基于电磁波的刀具的监测系统200，刀片加工装置100将刀片放在传送带220上。控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于电磁波的刀具的监测系统，其特征在于，所述刀具的刀片的分子是非极性分子，所述监测系统用于监测刀片加工装置加工的刀片的厚度，所述监测系统包括：太赫兹监测装置，包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；所述样品台用于支撑所述刀片；所述电磁发生仪用于向所述刀片发射探测波；所述电磁接收仪用于接收透过所述刀片的电磁波，该电磁波为衰减波；所述辅助处理设备用于比较所述衰减波和所述探测波，得到所述刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算所述刀片的厚度；其中，所述探测波为太赫兹频段的电磁波；传送带，所述传送带设置于所述刀片加工装置和所述太赫兹监测装置之间，所述传送带用于将所述刀片在所述刀片加工装置和所述样品台之间传送；控制器，与所述传送带连接，所述控制器用于控制所述传送带的运作。

【技术特征摘要】
1.一种基于电磁波的刀具的监测系统，其特征在于，所述刀具的刀片的分子是非极性分子，所述监测系统用于监测刀片加工装置加工的刀片的厚度，所述监测系统包括：太赫兹监测装置，包括样品台、电磁发生仪、电磁接收仪和辅助处理设备；所述样品台用于支撑所述刀片；所述电磁发生仪用于向所述刀片发射探测波；所述电磁接收仪用于接收透过所述刀片的电磁波，该电磁波为衰减波；所述辅助处理设备用于比较所述衰减波和所述探测波，得到所述刀片的吸收光谱，并根据吸收光谱计算所述刀片的厚度；其中，所述探测波为太赫兹频段的电磁波；传送带，所述传送带设置于所述刀片加工装置和所述太赫兹监测装置之间，所述传送带用于将所述刀片在所述刀片加工装置和所述样品台之间传送；控制器，与所述传送带连接，所述控制器用于控制所述传送带的运作。2.根据权利要求1所述的监测系统，其特征在于，所述太赫兹监测装置还包括支架和位置调节组件，所述样品台位于所述支架内部；所述位置调节组件与所述样品台连接，所述位置调节组件用于调节所述样品台相对于所述支架的位置，以监测所述刀片不同位置处的厚度。3.根据权利要求1所述的监测系统，其特征在于，所述太赫兹监测装置还包括存储器，所述存储器与所述辅助处理设备连接，所述存储器用...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭易东，潘奕，丁庆，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，深圳市太赫兹科技创新研究院，
类型：新型
国别省市：广东,44