一种微波元件自动测试装置制造方法及图纸

技术编号:18790184 阅读:24 留言:0更新日期:2018-08-29 09:53
本实用新型专利技术公开了一种微波元件自动测试装置,包括测试夹具、PC机、矢量网络分析仪和控制开关,所述的矢量网络分析仪分别与测试夹具和PC机连接,所述的测试夹具与控制开关连接,所述的控制开关还与PC机连接,通过采用电动推杆和压力传感器对压力进行定量的控制,减少人为的操作,同时PC机内设置有Excel功能模块,实现了测试的数据自动采集、保存,减少人工读取并手动记录数据,容易出现数据读取和记录过程出现错误的问题,采用自动化测试系统可以有效的提高工作效率,实现快速、准确、可靠的测试。

An automatic testing device for microwave components

The utility model discloses an automatic test device for microwave components, which comprises a test fixture, a PC, a vector network analyzer and a control switch. The vector network analyzer is connected with the test fixture and a PC respectively, and the test fixture is connected with the control switch. The control switch is also connected with a PC and is adopted. Electric push rod and pressure transducer control the pressure quantitatively and reduce the manual operation. At the same time, the PC is equipped with Excel function module, which realizes the automatic collection and storage of test data, reduces manual reading and manual recording of data, and is prone to errors in the process of data reading and recording. The test system can effectively improve work efficiency and achieve fast, accurate and reliable testing.

【技术实现步骤摘要】
一种微波元件自动测试装置
本技术涉及电性能的测试装置应用领域,尤其涉及一种微波元件自动测试的装置。
技术介绍
战争对军用微波雷达的要求,催生了微波器件,随着微波技术的不断进步,微波元器件的市场规模急剧上升,微波元器件已广泛应用于微波通讯系统、遥测系统、导航、生物医学、电子对抗、人造卫星等各个领域。目前传统的测试微波元件的方法主要是手动测试方法,通过手动加电、压接器件,并手动记录被测器件的测试数据,这种方法有以下几个缺点:1、压接被测器件时力度无法统一,用不同的力度压接被测器件时测试结果也不同,不同的测试人员可能得到不同的测试数据,误差较大;2.人工读取并手动记录数据,容易出现数据读取和记录过程出现错误;3.采用人工读取和手动记录的方式测试效率低。随着微波元件应用范围的推广,测试项目越来越多,对测试速度、精度、可靠性的要求也越来越高,尤其对于大批量的微波元件,其测试任务的规模庞大,因此需要提出一种微波元件自动测试的装置,实现快速、准确、可靠的测试。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题:提供一种微波元件自动测试的装置,用以解决传统的手动测试法人工测试误差大、读取记录数据易出错以及效率低下的问题。本专利技术的技术方案:一种微波元件自动测试装置,包括测试夹具、PC机、矢量网络分析仪和控制开关,所述的矢量网络分析仪分别与测试夹具和PC机连接,所述的测试夹具与控制开关连接,所述的控制开关还与PC机连接。所述的测试夹具包括底座、背板、滑轨座、支撑板、电动推杆、滑板、压接块、压力传感器、测试座、测试平台、滑轨、支撑杆,所述的底座上一侧设置有背板、和两个对称的滑轨,所述的滑轨顶端分别通过两个滑轨座固定在背板上,所述的两个滑轨座中间还设置有支撑板,所述的支撑板上设置有固定孔,所述的支撑板下方还设置有滑板,滑板和滑板座固定连接,所述的滑板和滑板座设置在滑轨上并可沿滑轨轴向移动,所述的滑板上还设置有与支撑板上的固定孔位置相对的滑孔,所述的电动推杆一端穿过固定孔,所述的电动推杆另一端穿过滑板上的滑孔,所述的滑板底部设置有压接块,压接块底部还设置有压力传感器,所述的压接块下方设置有测试座和测试平台,所述的测试座固定设置在测试平台上,所述的测试平台通过支撑杆固定设置在底座上方。还包括操动机构和操作孔,所述的操动机构设置在背板外侧,所述的操动机构通过设置在背板上部的操作孔与电动推杆连接,所述的操动机构还通过控制线与控制开关连接。所述的PC机内还设置有Excel功能模块。所述的测试座为凹槽型,所述的测试座两侧壁上还分别设置有至少两个线路连接孔,所述的线路连接孔通过高频电缆分别与矢量网络分析仪连接。本技术的有益效果:与现有的技术相比,本技术采用电动推杆和压力传感器对压力进行定量的控制,减少人为的操作,同时PC机内设置有Excel功能模块,实现了测试的数据自动采集、保存,减少人工读取并手动记录数据,容易出现数据读取和记录过程出现错误的问题,采用自动化测试系统可以有效的提高工作效率,实现快速、准确、可靠的测试。附图说明图1为本技术装置外观连接结构示意图;图2为本技术测试夹具外观结构示意图;图中标识:1、矢量网络分析仪,2、测试夹具,3、控制开关,4、PC机,5、底座,6、背板,7、滑轨座,8、支撑板,9、电动推杆,10、滑板,11、压接块,12、压力传感器,13、测试座,14、测试平台,15、滑轨,16、支撑杆,17、操动机构,18、滑板座,19、操作孔,20、线路连接孔,21、固定孔,22、滑孔。具体实施方式一种微波元件自动测试装置,包括测试夹具2、PC机4、矢量网络分析仪1和控制开关3,所述的矢量网络分析仪1分别与测试夹具2和PC机4连接,所述的测试夹具2与控制开关3连接,所述的控制开关3还与PC机4连接。所述的PC机4内设置有矢量网络分析仪1测试软件、控制开关3运行软件,还设置有Excel功能模块,Excel功能模块能将测试数据自动保存指定位置、指定格式,不需要人工读取和记录数据,减少人工读取并手动记录数据,容易出现数据读取和记录过程出现错误的问题。所述的控制开关3为轻触式控制开关,便于人员操作。所述的矢量网络分析仪1器是电磁波能量的测试设备,用于测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值及相位,同时,矢量网络分析仪1采用史密斯圆图显示测试数据。所述的测试夹具2用以固定和测量被测器件的参数,所述的测试夹具2根据压力传感器12传递的压力参数自动调节电动推杆9的升降,测试夹具2包括底座5、背板7、滑轨座7、支撑板8、电动推杆9、滑板10、压接块11、压力传感器12、测试座13、测试平台14、滑轨15和支撑杆16,所述的底座5上一侧设置有背板6和两个对称的滑轨15,所述的滑轨15顶端分别通过两个滑轨座7固定在背板6上,所述的两个滑轨座7中间还设置有支撑板8,所述的支撑板8上设置有固定孔21,所述的支撑板8下方还设置有滑板10,滑板10和滑板座18固定连接,所述的滑板10和滑板座18设置在滑轨15上并可沿滑轨15轴向移动,所述的滑板10上还设置有与支撑板8上的固定孔21位置相对的滑孔22,所述的电动推杆9一端穿过固定孔21,所述的电动推杆9另一端穿过滑板10上的滑孔22,所述的滑板10底部设置有压接块11,压接块11底部还设置有压力传感器12,所述的压力传感器12型号为AP200,所述的压接块11下方设置有测试座13和测试平台14,所述的测试座13固定设置在测试平台14上,所述的测试平台14通过支撑杆16固定设置在底座5上方。测试夹具2还包括操动机构17和操作孔19,所述的操动机构17设置在背板6外侧,所述的操动机构17通过设置在背板6上部的操作孔19与电动推杆9连接,所述的操动机构17还通过控制线与控制开关3连接。所述的测试座13为凹槽型,所述的测试座13两侧壁上还分别设置有至少两个线路连接孔20,所述的线路连接孔20通过高频电缆分别与矢量网络分析仪1连接。本技术在测试过程中,如果被测器件是有源器件则需要加直流电压源,本技术可以用来测试器件的参数包括工作频率、插入损耗、隔离度、驻波、平坦度、增益等,测试数据保存的位置是当自动测试步骤结束后测试结果需要保存的PC机上的某个指定位置。本技术的测试过程如下:将被测器件放入测试夹具2中的测试座13内,按下控制开关3,电动推杆9推动压接块11挤压被测器件,压接块11的底部装有压力传感器12,当压力值达到设定的阈值电动推杆9停止工作,PC机4上的测试软件开始运行测试被测器件的相关参数,测试完成后PC机4上的Excel功能模块自动采集、保存数据,然后按下控制开关3,电动推杆9上升,测试工作结束。本技术采用电动推杆9和压力传感器12对压力进行定量的控制,减少人为的操作,同时PC机4内设置有Excel功能模块,实现了测试的数据自动采集、保存,减少人工读取并手动记录数据,容易出现数据读取和记录过程出现错误的问题,采用自动化测试系统可以有效的提高工作效率,实现快速、准确、可靠的测试,该测试装置特别适合于大批量产品的测试。以上所述,仅为本技术的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种微波元件自动测试装置,其特征在于:包括测试夹具(2)、PC机(4)、矢量网络分析仪(1)和控制开关(3),所述的矢量网络分析仪(1)分别与测试夹具(2)和PC机(4)连接,所述的测试夹具(2)与控制开关(3)连接,所述的控制开关(3)还与PC机(4)连接。

【技术特征摘要】
1.一种微波元件自动测试装置,其特征在于:包括测试夹具(2)、PC机(4)、矢量网络分析仪(1)和控制开关(3),所述的矢量网络分析仪(1)分别与测试夹具(2)和PC机(4)连接,所述的测试夹具(2)与控制开关(3)连接,所述的控制开关(3)还与PC机(4)连接。2.根据权利要求1所述的一种微波元件自动测试装置,其特征在于:所述的测试夹具(2)包括底座(5)、背板(6)、滑轨座(7)、支撑板(8)、电动推杆(9)、滑板(10)、压接块(11)、压力传感器(12)、测试座(13)、测试平台(14)、滑轨(15)、支撑杆(16),所述的底座(5)上一侧设置有背板(6)和两个对称的滑轨(15),所述的滑轨(15)顶端分别通过两个滑轨座(7)固定在背板(6)上,所述的两个滑轨座(7)中间还设置有支撑板(8),所述的支撑板(8)上设置有固定孔(21),所述的支撑板(8)下方还设置有滑板(10),滑板(10)与滑板座(18)固定连接,所述的滑板(10)与滑板座(18)设置在滑轨(15)上并可沿滑轨(15)轴向移动,所述的滑板(10)上还设置有与支撑板(8)上的固定孔(21)位置相对的滑孔(22),所述的电...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁帅
申请(专利权)人:贵州航天计量测试技术研究所
类型:新型
国别省市:贵州,52

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