一种信号质量检测电路及方法技术

本发明专利技术提供一种信号质量检测电路，其包括采样电路和比较电路。该采样电路根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特。该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，并且该多个标称采样点的数量大于4。该比较电路根据该多个已采样比特执行比较，以生成信号质量检测结果。本发明专利技术还提供对应的方法。本发明专利技术能实现测量设备的电信号的信号质量，成本低。

Signal quality detection circuit and method

The invention provides a signal quality detection circuit, which comprises a sampling circuit and a comparison circuit. The sampling circuit samples the input signal related to the target device according to a plurality of nominal sampling points, and generates a plurality of sampled bits corresponding to the plurality of nominal sampling points respectively. The multiple nominal sampling points are set by different combinations of sampling time and sampling reference voltage, and the number of the multiple nominal sampling points is greater than 4. The comparison circuit performs comparison based on the plurality of sampled bits to generate signal quality detection results. The invention also provides a corresponding method. The invention can realize the signal quality of the electrical signals of the measuring equipment and has low cost.

【技术实现步骤摘要】
一种信号质量检测电路及方法
本专利技术的所公开实施例涉及信号质量检测方案，且更具体而言，涉及一种根据二维标称采样点图案生成信号质量检测结果的信号质量检测电路及相关信号质量检测方法。
技术介绍
示波器是一种电子测试仪器，其允许观察不断变化的信号电源，且通常显示作为时间函数的一个或多个信号的二维图。因此，该示波器通常用于观察随着时间变化的电信号(例如，电压信号)的变化。为了确定信号特性，如幅度、频率、失真以及其他，可以分析所观察的波形。但是，使用示波器来测量处于测试中的设备的电信号的信号质量，相关准备工作非常麻烦。此外，需要该示波器使用探针来接收来自于处于测试中的设备的信号。然而，探针可能无法直接与处于测试中的设备接触，并且因此通过中间的介质/结构来与处于测试中的设备间接连接，因此，处于测试中的设备的该电信号的实际信号质量与所测试的信号质量可能不相同。示波器相当昂贵，并不是每个制造商能够支付的。此外，示波器需要校准、维修等。因此，可能需要相当的示波器的维修费用。另外，需要大量的人力来使用示波器执行信号质量测量。因此，使用示波器来测量处于测试中的设备的电信号的信号质量并不是节省成本的方案。因此，需要一种能够检测处于测试中的设备(例如，动态随机存取存储器)的电信号的实际信号质量而无需示波器的新型信号质量测试方案。
技术实现思路
本专利技术的目标之一是提供一种根据二维标称采样点图案生成信号质量检测结果的信号质量检测电路及相关信号质量检测方法。根据本专利技术的第一方面，公开一种实例性的信号质量检测电路。所述实例性的信号质量检测电路包括采样电路和比较电路。该采样电路用于根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特，其中，该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，且该多个标称采样点的数量大于4。该比较电路用于通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。根据本专利技术的第二方面，公开一种实例性的信号质量检测方法。该实例性的信号质量检测方法包括：通过采用时间和采样参考电压的不同结合设置该多个标称采样点，其中该多个标称采样点的数量大于4；根据该多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特；以及通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。本专利技术通过采样时间和采样参考电压的不同结合来设置多个标称采样点，进而根据该多个标称采样点对输入信号进行采样，并生成已采样比特，根据已采样比特生成信号质量检测结果，从而实现测量设备的电信号的信号质量，成本低。在阅读以下对各图及图式中所例示的优选实施例的详细说明之后，本专利技术的这些及其它目标无疑将对所属领域的技术人员显而易见。附图说明图1是例示根据标称采样点对输入信号执行的采样操作的示意图。图2是例示根据本专利技术实施例的二维标称点图案的示意图。图3是例示根据本专利技术实施例的信号质量检测电路的示意图。图4是例示根据本专利技术实施例的具有内部信号质量检测电路的存储器芯片的示意图。图5是例示根据本专利技术实施例的图3中采样电路和比较电路的一种电路设计的示意图。图6是例示所提出的信号检测所生成的信号质量检测结果表明理想输入信号的“好”信号质量且无失真的情况的示意图。图7是例示所提出的信号检测所生成的信号质量检测结果表明失真输入信号的“差”信号质量且有失真的情况的示意图。图8是例示所提出的信号检测所生成的信号质量检测结果表明具有时间偏移的输入信号的“差”信号质量的情况的示意图。图9是例示根据本专利技术实施例的图3中采样电路和比较电路的另一种电路设计的示意图。具体实施方式本说明书及权利要求书通篇中所用的某些用语指代特定部件。如所属领域的技术人员可以理解的是，电子设备制造商可利用不同名称来指代同一个部件。本文并非以名称来区分部件，而是以功能来区分部件。在以下说明书及权利要求书中，用语“包括”是开放式的限定词语，因此其应被解释为意指“包括但不限于…”。另外，用语“耦合”旨在意指间接电连接或直接电连接。因此，当一个装置耦合到另一装置时，则这种连接可以是直接电连接或通过其他装置及连接部而实现的间接电连接。图1是根据标称采样点对输入信号执行的采样操作的示意图。如图1所示，通过采样时间TSP和采样参考电压Vref的结合来设置标称采样点SPN。在本示例中，输入信号SIN用于传输比特序列“101”，其中每个比特在一个比特周期TBIT内传输。在第一比特周期TBIT内，在标称采样点SPN的采样时间TSP时，对电压VSP进行采样，并将该已采样电压VSP与该标称采样点SPN的采样参考电压Vref进行比较。由于已采样电压VSP高于该采样参考电压Vref(即VSP>Vref)，在第一比特周期TBIT内所获得的已采样电压VSP所表示的已采样比特被判断为“1”。在第二比特周期TBIT内，在标称采样点SPN的采样时间TSP时，对电压VSP进行采样，并将该已采样电压VSP与该标称采样点SPN的采样参考电压Vref进行比较。由于已采样电压VSP低于该采样参考电压Vref(即VSP<Vref)，在第二比特周期TBIT内所获得的已采样电压VSP所表示的已采样比特被判断为“0”。在第三比特周期TBIT内，在标称采样点SPN的采样时间TSP时，对电压VSP进行采样，并将该已采样电压VSP与该标称采样点SPN的采样参考电压Vref进行比较。由于已采样电压VSP高于该采样参考电压Vref(即VSP>Vref)，在第一比特周期TBIT内所获得的已采样电压VSP所表示的已采样比特被判断为“1”。图1显示了传输该比特序列“101”的输入信号的理想波形而无信号失真。但是，传输该比特序列“101”的输入信号的实际波形可能由于某些因素而存在失真。因此，使用如图1所示的标称采样点SPN不能从具有失真波形的该输入信号SIN中正确地恢复已采样比特“1”,“0”和“1”。如果该输入信号SIN的信号质量已知，信号质量可以提供配置硬件电路所需的信息，以正确地从输入信号SIN中获得已采样比特。相对于使用示波器的现有信号质量测量设计，本专利技术提出使用标称采样点图案来实现所需的信号质量检测。图2是根据本专利技术实施例的二维标称点图案的示意图。在本示例中，可以通过六边形来简单建模输入信号的眼图案(eyepattern)。因此，通过多个标称采样点(例如，九个标称采样点SPN和SPN_1-SPN_8)所定义的标称采样点图案可以用于信号质量检测。举例说明，当不限于此，根据时钟频率、半导体工艺等，可以选择用于信号质量检测的该标称采样点SPN和SPN_1-SPN_8。如图2所示，除了中心标称采样点SPN(其是通过采样时间TSP和采样参考电压Vref而设置的)，也选择相邻标称采样点SPN_1-SPN_8，其中通过采样时间TSP-ΔT和采样参考电压Vref-ΔV的结合来设置该标称采样点SPN_1，通过采样时间TSP和采样参考电压Vref-ΔV的结合来设置该标称采样点SPN_2，通过采样时间TSP+ΔT和采样参考电压Vref-ΔV的结合来设置该标称采样点SPN_3，通过采样时间TSP-ΔT和采样参考电压Vref的结合来设置该标称采样点SPN_4，通过采样时本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信号质量检测电路，其特征在于，包括：采样电路，用于根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特，其中，该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，且该多个标称采样点的数量大于4；以及比较电路，用于通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。

【技术特征摘要】
2016.12.21 US 15/387,6021.一种信号质量检测电路，其特征在于，包括：采样电路，用于根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特，其中，该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，且该多个标称采样点的数量大于4；以及比较电路，用于通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。2.如权利要求1中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该目标设备为存储器芯片。3.如权利要求2中所述的信号质量检测电路，其特征在于，由该存储器芯片的数据引脚接收该输入信号。4.如权利要求2中所述的信号质量检测电路，其特征在于，由该存储器芯片的命令引脚接收该输入信号。5.如权利要求2中所述的信号质量检测电路，其特征在于，由该存储器芯片的地址引脚接收该输入信号。6.如权利要求2中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该输入信号是被生成至该存储器芯片的输出引脚的输出信号的回送信号。7.如权利要求2中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该信号质量检测电路包含在该存储器芯片中，且该比较电路进一步用于将该信号质量检测结果写入到该存储器芯片的模式寄存器。8.如权利要求1中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该多个标称采样点的数量不小于9。9.如权利要求1中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该多个标称采样点包括由相同采样时间和不同采样参考电压设置的至少三个标称采样点。10.如权利要求9中所述的信号质量检测电路，其特征在于，相邻采样参考电压之间的差相等。11.如权利要求1中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该多个标称采样点包括由相同采样参考电压和不同采样时间设置的至少三个标称采样点。12.如权利要求11中所述的信号质量检测电路，其特征在于，相邻采样时间之间的差相等。13.如权利要求1中所述的信号质量检测电路，其特征在于，该采样电路包括：多个采样保持电路，输入端口被馈入该输入信号，时钟输入端口被馈入不同的时钟以提供不同的采样时间，用于在同一比特周期内的该不同的采样时间内对该输入信号进行采样，并输出多个已采样电压；多路复用器，用于逐个输出多个不同的采样参考电压；以及多个比较器；用于比较该多个已采...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐斌桓，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71