联机x射线测量设备和方法技术

技术编号:18676512 阅读:52 留言:0更新日期:2018-08-14 21:49
一种x射线检查设备可以包括x射线源、x射线检测器和驱动组件。所述驱动组件可配置为提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件脱开并且安装在所述部件载体上的物体定位在所述x射线源与所述x射线检测器之间。所述进给组件可以被配置为供送部件载体进出x射线检查设备。驱动组件可以进一步配置为随后降低部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。

Online X ray measurement equipment and methods

A X ray inspection device can include a X ray source, a X ray detector and a driving component. The drive assembly may be configured to lift the component carrier such that the component carrier is detached from the feed assembly and an object mounted on the component carrier is positioned between the X-ray source and the X-ray detector. The feed assembly can be configured as an incoming part carrier to enter and exit X ray inspection equipment. The drive component may be further configured to subsequently reduce the component carrier so that the component carrier is reconnected with the feed component.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】联机x射线测量设备和方法本申请要求于2015年6月30日提交的美国临时专利申请62/186,792的权益,其全部内容通过引用的方式并入本文。
本公开涉及物体的x射线检查。
技术介绍
x射线计算机断层摄影(CT)是一种使用计算机处理的x射线来产生物体的断层图像的程序。物体的断层图像是物体的概念上的二维“切片”的图像。计算装置可以使用物体的断层图像来生成物体的三维图像。x射线CT可用于工业目的进行物体的无损评估。x射线测量是一种相关的技术,在该技术中使用x射线来测量被测物体的内部和外部尺寸。
技术实现思路
通常,本公开描述了用于在生产环境或其他类型的环境中对部件或其他物体进行x射线检查的x射线检查设备、系统和方法。在一个实例中,本公开描述了包括x射线源、x射线检测器和驱动组件(即,驱动机构)的x射线检查设备。所述驱动组件配置为提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件脱开并且安装在所述部件载体上的物体定位在所述x射线源与所述x射线检测器之间。所述进给组件被配置为供送所述部件载体进出所述x射线检查设备。所述驱动组件进一步配置为随后降低所述部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。在另一个实例中,本公开描述了一种方法,其包括:提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件上脱开并且安装在所述部件载体上的物体定位在x射线源与x射线检测器之间,其中所述进给组件被配置为供送所述部件载进出包括所述x射线源和所述x射线检测器的x射线检查设备,以及随后降低所述部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。在另一实例中,本公开描述了一种x射线检查设备,其包括:x射线源、x射线检测器、机器人进给组件、封闭所述x射线源、所述x射线检测器和所述机器人进给组件的放射防护罩。在该实例中,所述放射防护罩限定开口。该设备还包括配置为选择性地覆盖和露出所述开口的门。在该实例中,所述机器人进给组件被配置为:将部件载体从进给组件移动通过开口,并且移动到所述x射线源与所述x射线检测器之间的位置,其中待检查的物体被安装在所述部件载体上。所述机器人进给组件配置为随后将部件载体移动返回通过开口到进给组件。在另一个实例中,本公开描述了一种方法,该方法包括:由封闭在限定开口的放射防护罩内的机器人进给组件将部件载体从进给组件移动通过开口并移动到封闭在所述放射防护罩内的x射线源与封闭在所述放射防护罩内的x射线检测器之间的位置,其中待检查的物体安装在所述部件载体上,随后由机器人进给组件将部件载体移动返回通过开口到进给组件。在附图和下面的描述中阐述了一个或多个实例的细节。从说明书、附图和权利要求书中,其他特征、目的和优点将是显而易见的。附图说明图1是示出可以执行本公开的一个或多个技术的实例性x射线检查设备的框图。图2是示出根据本公开的技术的x射线检查设备的实例性外部视图的示意图。图3示出了根据本公开的技术的图2中的x射线检查设备的实例性剖面图的示意图。图4是示出根据本公开的技术的图2中的x射线检查设备的外部部件的实例性俯视图的示意图。图5示出了根据本公开的技术的图2中的x射线检查设备的内部部件的实例性俯视图的示意图。图6是示出根据本公开的技术的图2中的x射线检查设备的实例性剖面正视图的示意图。图7是根据本公开的技术的x射线检查设备的实例性x射线组件的透视图。图8示出了根据本公开的技术的x射线检查设备的实例性外部视图的示意图。图9示出了根据本公开的技术的图8中的x射线检查设备的实例性剖面图的示意图。图10示出了根据本公开的技术的图8中的x射线检查设备的外部部件的实例性俯视图的示意图。图11示出了根据本公开的技术的图8中的x射线检查设备的内部组件的实例性俯视图的示意图。图12示出了根据本公开的技术的图8中的x射线检查设备的实例性剖面正视图的示意图。图13示出了根据本公开的技术的x射线检查设备的实例性外部视图的示意图。图14示出了根据本公开的技术的x射线检查设备的x射线部件的实例性正视图的示意图。图15A示出了根据本公开的技术的处于缩回位置的实例性计算机断层摄影(CT)旋转驱动器的示意图。图15B示出了根据本公开的技术的图15A中的处于展开位置的实例性CT旋转驱动器的示意图。图16示出了根据本公开的技术的与机器人进给单元配对的实例性x射线检查设备的示意图。图17示出了根据本公开的技术的实例性x射线检查设备的框图。图18示出了根据本公开的技术的当部件载体提升到x射线检查设备的检查区域时的图17中的实例性x射线检查设备的框图。图19示出了根据本公开的技术的实例x射线检查设备的框图。图20是示出根据本公开的技术的x射线检查设备的实例操作流程图。图21示出了根据本公开的技术的x射线检查设备的实例操作流程图。具体实施方式图1是示出可以执行本公开的一个或多个技术的实例性x射线检查设备100的框图。x射线检查设备也可被称为x射线成像设备。在图1的实例中,设备100包括x射线源102和x射线检测器104。设备100可被称为“联机(inline)”x射线检查设备,因为设备100可以检查生产环境中的产品流,其与一些系统中的完成的“每个部件”基础相反。也就是说,设备100可以实施用于生产环境中的多个部件的连续x射线检查的联机系统。这种x射线检查可以是计算机断层摄影(CT)、数字射线照相(DR)、自动缺陷识别(ADR)或其他类型的检查。在操作中,x射线源102发射x射线束106。因此,在一些情况下,本公开可以将x射线源102或类似装置称为“x射线发生器”。在一些实例中,x射线束106是锥形的。在其他实例中,x射线束106是扇形的。此外,在一些实例中,x射线源102产生能量范围为20keV至600keV的x射线。在其他实例中,x射线源102产生其他能量范围内的x射线。设备100可以包括各种类型的x射线检测器。例如,x射线检测器104可以包括平板x射线检测器(FPD)。在其他实例中,x射线检测器104可以包括透镜耦合闪烁检测器、线性二极管阵列(LDA)或另一种类型的x射线检测器。FPD可以包括一层闪烁材料,诸如在玻璃检测器阵列上的非晶硅上制造的碘化铯。闪烁体层吸收x射线并发射可见光子,可见光子依次由固态检测器进行检测。检测器像素尺寸的范围可以从几十微米到几百微米。在x射线检测器104包括平板x射线检测器的一些实例中,x射线检测器104的像素尺寸可以在25微米至250微米的范围内。在一些实例中,x射线检测器104的像素尺寸可以在大约25微米到大约250微米的范围内。此外,普通商用FPD的视野范围可以从大约100毫米到500毫米。商用FPD可以用在需要大视野的应用中。高分辨率应用可以使用透镜耦合的检测器,该透镜耦合的检测器使用光学透镜将发射的可见光中继到诸如电荷耦合器件(CCD)或互补金属氧化物半导体(CMOS)检测器的检测器上。在一些实例中,透镜可以提供在1x至100x范围内的放大率,从而使有效像素尺寸在0.1至20微米之间。在x射线检测器104包括透镜耦合检测器的一些实例中,x射线检测器104的像素尺寸在0.1微米至10微米的范围内。此外,在x射线检测器104包括透镜耦合检测器的一些实例中,视野范围可以从0.2毫米到25毫米。除了x射线源102和x射线检测器104之外,设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种x射线检查设备,包括:x射线源;x射线检测器;以及驱动组件,所述驱动组件被配置为:提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件上脱开并且安装在所述部件载体上的物体定位在所述x射线源和所述x射线检测器之间,其中进给组件被配置为供送部件载体进出x射线检查设备;以及随后降低所述部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.06.30 US 62/186,7921.一种x射线检查设备,包括:x射线源;x射线检测器;以及驱动组件,所述驱动组件被配置为:提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件上脱开并且安装在所述部件载体上的物体定位在所述x射线源和所述x射线检测器之间,其中进给组件被配置为供送部件载体进出x射线检查设备;以及随后降低所述部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。2.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中,所述驱动组件被配置为在所述部件载体从所述进给组件脱开的同时使所述部件载体旋转。3.根据权利要求1所述的x射线检查设备,还包括放射防护罩,所述放射防护罩被成形为基本上防止x射线发射到所述x射线检查设备外部的环境中,而不需要打开和关闭门来允许待检查的物体进入所述x射线检查设备。4.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中所述x射线检查设备包括所述进给组件,并且所述进给组件包括蛇形轨道。5.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中所述x射线检查设备包括支撑多个部件载体的环形驱动器。6.根据权利要求5所述的x射线检查设备,其中所述环形驱动器旋转以供送部件载体进出所述x射线检查设备。7.根据权利要求5所述的x射线检查设备,其中所述环形驱动器的外边缘被成形为限定凹口,所述凹口被成形用来接收部件载体。8.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中,所述部件载体限定用于接收部件支撑构件的接合构件的一个或多个孔,所述部件支撑构件配置为支撑物体以备检查。9.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中,所述部件载体包括磁体,所述磁体被布置为将部件支撑构件安装到所述部件载体,所述部件支撑构件配置为支撑所述物体以备检查。10.根据权利要求1所述的x射线检查设备,还包括图像处理系统,所述图像处理系统被配置为:基于由x射线检测器产生的物体的射线照片来确定所述物体是否符合标准;以及输出所述物体是否符合标准的指示。11.根据权利要求10所述的x射线检查设备,还包括:标签读取器,所述标签读取器被配置为从所述部件载体的识别标签读取信息;以及一个或多个处理器,所述一个或多个处理器被配置为基于从所述部件载体的所述识别标签读取的所述信息来确定以下中的至少一项:要产生多少个射线照片来检查所述物体、所述射线照片的定位特性、所述射线照片的曝光特性以及所述标准。12.根据权利要求10所述的x射线检查设备,其还包括机器人组件,所述机器人组件被配置为根据所述指示将所述物体放置在不同的位置。13.根据权利要求1所述的x射线检查设备,其中:在所述进给组件正在移动所述部件载体时,所述x射线源继续发射x射线;以及所述x射线检查设备包括与所述x射线源连接的光闸,所述光闸被配置为在所述进给组件正在移动所述部件载体时阻挡由所述x射线源发射的x射线。14.根据权利要求1所述的x射线检查设备,还包括封闭所述x射线源和所述x射线检测器的放射防护罩,所述放射防护罩限定开口,其中当所述驱动组件提升所述部件载体时,所述物体通过所述开口并且所述部件载体堵住所述开口以大体上防止x射线发射到所述x射线检查设备外部的环境中。15.一种方法,包括:提升部件载体,以使得所述部件载体从进给组件脱开并且安装在所述部件载体上的物体被定位在x射线源与x射线检测器之间,其中所述进给组件被配置为供送部件载体进出x射线检查设备,所述x射线检查设备包括所述x射线源和所述x射线检测器;以及随后降低所述部件载体,以使得所述部件载体与所述进给组件重新接合。16.根据权利要求15所述的方法,还包括在所述部件载体从所述进给组件上脱开时使所述部件载体旋转。17.根据权利要求15所述的方法,其中,所述x射线检查设备还包括放射防护罩,所述放射防护罩被成形为基本上防止x射线发射到...

【专利技术属性】
技术研发人员:马克·B·基尔舍曼
申请(专利权)人:伊利诺斯工具制品有限公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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