一种温度控制器检验方法及检验系统技术方案

本发明专利技术提供了一种温度控制器检验方法及检验系统，包括恒温恒湿箱、温度控制器、继电器、数据处理器、PC机和温度传感器，所述温度控制器与所述继电器串联组成温度测试电路，所述继电器和所述温度传感器均信号连接至所述数据处理器，所述数据处理器信号连接至所述PC机，所述温度控制器和所述温度传感器均安装在所述恒温恒湿箱内。本发明专利技术所述的温度控制器检验方法及检验系统，能够同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率；将温度控制器放在恒温恒湿箱内，能够有效避免在检验测试过程中对产品造成损坏。

A temperature controller test method and test system

The invention provides a test method and a test system for a temperature controller, including a constant temperature and humidity box, a temperature controller, a relay, a data processor, a PC and a temperature sensor. The temperature controller is in series with the relay to form a temperature test circuit, and the relay and the temperature sensor are all connected to the temperature sensor by signals. The data processor signals are connected to the PC, and the temperature controller and the temperature sensor are installed in the constant temperature and humidity box. The testing method and the testing system of the temperature controller can simultaneously test a plurality of groups of products to improve the testing efficiency, and the temperature controller can be placed in a constant temperature and humidity box to effectively avoid damage to the products during the testing process.

【技术实现步骤摘要】
一种温度控制器检验方法及检验系统
本专利技术属于电力产品测试领域，尤其是涉及一种温度控制器检验方法及系统。
技术介绍
温度控制器主要由感温元件双金属片组成，在普通的检验测试方法中，存在无法准确检验温度控制器性能且易损坏器件的风险。普通的检验测试方法有几点不足：1、易损坏器件，降低其控制精度手动调节测试易使内部双金属片发生形变，改变其精确度，影响温度控制器动作性能。2、测试数据准确度不高实际应用中温度控制器的通断状态是根据温度变化而变化。而旋转表盘，使用万用表检测其接通/断开状态，仅能粗略测出其动作值，测试数据准确度较低。3、检验测试效率较低普通的方法每次仅能对一个温度控制器进行检验测试，测试效率较低。4、不便于观察与记录普通方法需手动检测与记录实验数据，不便于数据的统计与分析。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术旨在提出一种温度控制器检验方法，以提供一种能够准确检测温度控制器性能、检测效率高、方便观察和记录，并能避免温度控制器元器件损坏的温度控制器检验方法。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种温度控制器检验方法，包括恒温恒湿箱、温度控制器、继电器、数据处理器、PC机和温度传感器，所述温度控制器与所述继电器串联组成温度测试电路，所述继电器和所述温度传感器信号连接至所述数据处理器，所述数据处理器信号连接至所述PC机，其具体步骤如下：步骤一：将所述温度控制器和所述温度传感器均安装在所述恒温恒湿箱内，并改变所述恒温恒湿箱内的温度来模拟现场温度变化；步骤二：所述数据处理器采集所述温度传感器的数据，同时根据所述继电器反馈点的动作状态判断所述温度控制器的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机显示；步骤三：所述数据处理器可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。相对于现有技术，本专利技术所述的温度控制器检验方法具有以下优势：(1)本专利技术所述的温度控制器检验方法，能够同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率。(2)本专利技术所述的温度控制器检验方法，将温度控制器放在恒温恒湿箱内，能够有效避免在检验测试过程中对产品造成损坏。(3)本专利技术所述的温度控制器检验方法，数据处理器将数据处理后通过PC机显示，PC机可直接对实验数据进行记录与分析，工作人员可直观查看工作状态与数据，目视化强，智能化程度高，更加人性化。(4)本专利技术所述的温度控制器检验方法，数据处理器根据继电器反馈点的动作状态判断温度控制器的动作情况，能够准确检测温度控制器的动作情况，提高测试数据的准确度。本专利技术的另一目的在于提出一种温度控制器检验系统，以一种能够有准确检测温度控制器性能、检测效率高、方便观察和记录，并能避免温度控制器元器件损坏的温度控制器检验系统。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种温度控制器检验系统，包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路，温度控制器S1的一端连接至端子排X1，另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2，温度控制器S2与继电器K2的线圈串联后组成第二温度测试电路，所述第二温度测试电路与所述第一温度测试电路并联，所述端子排X2、所述端子排X1分别经断路器Q1连接至电源的L极、N极，所述继电器K1的常开触点、所述继电器K2的常开触点分别连接至所述数据处理器U1的引脚1、引脚2、引脚3和引脚4，温度传感器B1、温度传感器B2分别连接至所述数据处理器U1的引脚A、引脚B、引脚C和引脚D，所述数据处理器U1将采集到的数据处理后通过所述PC机显示，所述温度控制器S1、所述温度控制器S2、所述温度传感器B1和所述温度传感器B2均安装在所述恒温恒湿箱内。进一步的，所述温度控制器S1包括热电偶和双金属片，所述热电偶安装在所述双金属片附近。进一步的，所述数据处理器U1的CPU型号为XS128系列。进一步的，所述温度测试电路至少为2组。进一步的，所述PC机为电脑。进一步的，所述温度传感器S1为非接触式温度传感器。所述温度控制器检验方法与上述温度控制器检验系统相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。附图说明构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术实施例所述的温度控制器检验方法的原理框图；图2为本专利技术实施例所述的温度控制器检验数据；图3为本专利技术实施例所述的温度控制器检验系统的电路图一；图4为本专利技术实施例所述的温度控制器检验系统的电路图二。附图标记说明：1-恒温恒湿箱；2-温度控制器；3-继电器；4-数据处理器；5-PC机；6-温度传感器。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。一种温度控制器检验方法，如图1所示，包括恒温恒湿箱1、温度控制器2、继电器3、数据处理器4、PC机5和温度传感器6，所述温度控制器2与所述继电器3串联组成温度测试电路，所述继电器3和所述温度传感器6信号连接至所述数据处理器4，所述数据处理器4信号连接至所述PC机5，其具体步骤如下：步骤一：将所述温度控制器2和所述温度传感器6均安装在所述恒温恒湿箱1内，并改变所述恒温恒湿箱2内的温度来模拟现场温度变化；步骤二：所述数据处理器4采集所述温度传感器6的数据，同时根据所述继电器3反馈点的动作状态判断所述温度控制器2的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机5显示；步骤三：所述数据处理器4可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。一种温度控制器检验系统，如图2至图4所示，包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路，同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率，温度控制器S1的一端连接至端子排X1，另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2，温度控制器S2与继电器K2的线圈串联后组成第二温度测试电路，温度控制器S3与继电器K3的线圈串联后组成第三温度测试电路，温度控制器S4与继电器K4的线圈串联后组成第四温度测试电路，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度控制器检验方法，其特征在于：包括恒温恒湿箱(1)、温度控制器(2)、继电器(3)、数据处理器(4)、PC机(5)和温度传感器(6)，所述温度控制器(2)与所述继电器(3)串联组成温度测试电路，所述继电器(3)和所述温度传感器(6)均信号连接至所述数据处理器(4)，所述数据处理器(4)信号连接至所述PC机(5)，其具体步骤如下：步骤一：将所述温度控制器(2)和所述温度传感器(6)均安装在所述恒温恒湿箱(1)内，并改变所述恒温恒湿箱(2)内的温度来模拟现场温度变化；步骤二：所述数据处理器(4)采集所述温度传感器(6)的数据，同时根据所述继电器(3)反馈点的动作状态判断所述温度控制器(2)的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机(5)显示；步骤三：所述数据处理器(4)可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。

【技术特征摘要】
1.一种温度控制器检验方法，其特征在于：包括恒温恒湿箱(1)、温度控制器(2)、继电器(3)、数据处理器(4)、PC机(5)和温度传感器(6)，所述温度控制器(2)与所述继电器(3)串联组成温度测试电路，所述继电器(3)和所述温度传感器(6)均信号连接至所述数据处理器(4)，所述数据处理器(4)信号连接至所述PC机(5)，其具体步骤如下：步骤一：将所述温度控制器(2)和所述温度传感器(6)均安装在所述恒温恒湿箱(1)内，并改变所述恒温恒湿箱(2)内的温度来模拟现场温度变化；步骤二：所述数据处理器(4)采集所述温度传感器(6)的数据，同时根据所述继电器(3)反馈点的动作状态判断所述温度控制器(2)的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机(5)显示；步骤三：所述数据处理器(4)可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。2.一种温度控制器检验系统，其特征在于：包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路，温度控制器S1的一端连接至端子排X1，另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2，温度控制器S2与继电器K2的线圈...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏越超，杨康，陈旭，
申请(专利权)人：天津瑞能电气有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12