半导体装置制造方法及图纸

技术编号:18620857 阅读:5 留言:0更新日期:2018-08-07 23:57
本发明专利技术提供一种半导体装置,可在确保半导体装置正常工作的同时降低半导体装置的功耗以及热量产生。一种半导体装置包括:受测试设计;处理核心,被配置成执行测试软件以确定所述受测试设计的最佳工作电压;以及保护电路,被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时由所述受测试设计产生的未定义信号的传输。

Semiconductor device

The invention provides a semiconductor device, which can ensure the normal operation of the semiconductor device while reducing the power consumption and heat generation of the semiconductor device. A semiconductor device consists of a test design, a processing core, configured to perform test software to determine the optimal working voltage for the tested design, and a protection circuit configured to prevent the transmission of undefined signals produced by the designed test design at the same time the described test software is executed at the processing core.

【技术实现步骤摘要】
半导体装置本申请主张在2017年2月1日在韩国知识产权局提出申请的韩国专利申请第10-2017-0014217号的优先权、以及基于35U.S.C.§119而自所述韩国专利申请衍生出的所有权利,所述韩国专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。
本专利技术涉及一种半导体装置。
技术介绍
例如系统芯片(System-on-Chip,SoC)装置等半导体装置包括各种元件(例如,处理核心、存储器控制器等),且通过从外部源接收电源电压来被驱动。向半导体装置提供的电源电压一般来说被确定成具有预定裕量,这是由于考虑到各种环境条件,除非向半导体装置供应足以使半导体装置正常工作的电源电压,否则可能会出现系统故障。然而,随着电源电压的裕量增大,由半导体装置所不必要地消耗的电力量可增加,且由半导体装置产生的热量也可增加。为解决这一问题,需要准确地确定半导体装置的最佳工作电压,从而使得半导体装置可稳定地工作且可使电源电压的裕量最小化。
技术实现思路
本专利技术的一些示例性实施例提供一种半导体装置,所述半导体装置能够执行测试以确定最佳工作电压,且也能够阻止可在测试期间产生的未定义信号的影响,所述最佳工作电压可在确保半导体装置正常工作的同时降低半导体装置的功耗以及热量产生。然而,本专利技术的示例性实施例并非仅限于本文中所述的实施例。通过参照以下给出的本专利技术的详细说明,对本专利技术所属领域中的普通技术人员来说,本专利技术的以上及其他示例性实施例将变得更显而易见。根据本专利技术的一些示例性实施例,提供一种半导体装置,所述半导体装置包括:受测试设计(designundertest,DUT);处理核心,执行测试软件,所述测试软件用于确定所述受测试设计的最佳工作电压;以及保护电路,阻止在所述测试软件执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号的传输。根据本专利技术的其他示例性实施例,提供一种半导体装置,所述半导体装置包括:受测试设计;第一保护电路,被配置成阻止在用于确定所述受测试设计的最佳工作电压的测试期间由所述受测试设计产生的第一未定义信号;以及第二保护电路,被配置成阻止在所述测试期间由所述受测试设计产生的第二未定义信号。根据本专利技术的另一些示例性实施例,提供一种测试半导体装置的方法,所述方法包括:执行测试软件,以确定受测试设计的最佳工作电压;驱动保护电路,以阻止在所述测试软件的所述执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号的传输;通过向所述受测试设计施加第一电压来执行第一测试;以及在所述受测试设计未能通过所述第一测试时通过向所述受测试设计施加第二电压来执行第二测试,所述第二电压高于所述第一电压。根据本专利技术的其他示例性实施例,提供一种半导体装置,所述半导体装置包括:处理核心,被配置成执行测试软件以确定受测试设计(DUT)的最佳工作电压;以及至少一个保护电路,被配置成阻止在所述测试软件的执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号。通过阅读以下详细说明、图式及权利要求书,其他特征及示例性实施例可显而易见。附图说明通过参照附图详细阐述本专利技术的一些示例性实施例,本专利技术的以上及其它示例性实施例及特征将变得更显而易见,在附图中:图1是根据本专利技术一些示例性实施例的半导体系统的方块图。图2是根据本专利技术其他示例性实施例的半导体系统的方块图。图3是根据本专利技术其他示例性实施例的半导体系统的方块图。图4是根据本专利技术其他示例性实施例的半导体系统的方块图。图5是根据本专利技术其他示例性实施例的半导体系统的方块图。图6是说明根据本专利技术一些示例性实施例的测试半导体装置的方法的流程图。[符号的说明]1、2、3、4、5:半导体系统10:系统芯片20:动态随机存取存储器30:电压供应电路100:处理核心110:受测试设计112:保护电路114:保护电路120:动态随机存取存储器控制器130:电压控制器140:共用逻辑150:总线160:第一区170:第二区200:测试软件RST:复位信号S601、S603、S605、S607、S609、S611、S613:步骤具体实施方式图1是根据本专利技术示例性实施例的半导体系统的方块图。参照图1,半导体系统1包括系统芯片(SoC)10、动态随机存取存储器(DynamicRandomAccessMemory,DRAM)20及电压供应电路30。系统芯片10是将具有多个功能的系统实现为单个芯片的半导体装置。在一些示例性实施例中,系统芯片10可为用于移动装置的应用处理器,但本专利技术并非仅限于此。动态随机存取存储器20存储将由系统芯片10执行或处理的软件及数据。在图1中示出动态随机存取存储器20,但本专利技术并非仅限于此。根据半导体系统1的实现方式的用途,可由另一个易失性存储器装置来取代动态随机存取存储器20。在一些示例性实施例中,动态随机存取存储器20存储测试软件200(此后将结合本专利技术的专利技术概念对其加以阐述),且系统芯片10可执行测试软件200。电压供应电路30向系统芯片10供应电压。系统芯片10将由电压供应电路30供应的电压用于各种用途。举例来说,系统芯片10可使用由电压供应电路30供应的电压作为用于使在系统芯片10中实现的各种电路工作的电压或者作为用于提供在执行测试来得出受测试设计(DUT)的最佳工作电压时所需要的测试电压的电压,此后将对其加以阐述。图2是根据本专利技术其他示例性实施例的半导体系统的方块图。参照图2,半导体系统2包括系统芯片10,且系统芯片10包括处理核心100、受测试设计110、保护电路112、动态随机存取存储器控制器120、电压控制器130及共用逻辑140。处理核心100、受测试设计110、保护电路112及动态随机存取存储器控制器120可通过总线150电连接到彼此,且可因此向彼此传输数据或从彼此接收数据。处理核心100可控制在系统芯片10中实现的各种元件且可执行存储在动态随机存取存储器20中的软件。具体来说,处理核心100可执行测试软件200以确定受测试设计110的最佳工作电压,此后将对其加以阐述。在一些示例性实施例中,处理核心100可被实现为单核心或多核心。受测试设计110是将接受测试的电路元件。本文所用用语“测试”可表示例如用于确定受测试设计110的最佳工作电压的测试,但本专利技术并非仅限于此。也就是说,本文所用用语“测试”可包括具有各种其他用途的测试。在一些示例性实施例中,可通过接收复位信号RST来对受测试设计110进行复位。受测试设计110可从系统芯片10的另一个元件接收复位信号RST,或者经由系统芯片10的输入/输出(input/output,I/O)引脚从外部源接收复位信号RST。动态随机存取存储器控制器120可控制动态随机存取存储器20且可作为系统芯片10与动态随机存取存储器20之间的输入/输出接口工作。举例来说,动态随机存取存储器控制器120可从处理核心100接收存储器存取命令且可根据存储器存取命令来对动态随机存取存储器20进行存取。动态随机存取存储器控制器120也可向处理核心100提供从动态随机存取存储器20接收的数据。电压控制器130使用由电压供应电路30供应的电压产生用于驱动受测试设计110的测试电压。可使用所述测试电压来确定可在确保受测试设计110正常工作的同时使受测试设计110的功耗以及热量产生最小化的受测试设计110的最佳工作电压,且此后将对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体装置,其特征在于,包括:受测试设计;处理核心,被配置成执行测试软件以确定所述受测试设计的最佳工作电压;以及保护电路,被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时由所述受测试设计产生的未定义信号。

【技术特征摘要】
2017.02.01 KR 10-2017-00142171.一种半导体装置,其特征在于,包括:受测试设计;处理核心,被配置成执行测试软件以确定所述受测试设计的最佳工作电压;以及保护电路,被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时由所述受测试设计产生的未定义信号。2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,所述受测试设计及所述处理核心通过总线进行电连接,所述未定义信号包括未定义总线信号,且所述保护电路被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时所述未定义总线信号传输到所述总线。3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,所述保护电路电连接在所述受测试设计与所述总线之间。4.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,所述受测试设计电连接到共用逻辑,所述未定义信号包括未定义边带信号,且所述保护电路被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时所述未定义边带信号传输到所述共用逻辑。5.根据权利要求4所述的半导体装置,其特征在于,所述保护电路电连接在所述受测试设计与所述共用逻辑之间。6.根据权利要求4所述的半导体装置,其特征在于,所述保护电路被配置成通过将所述受测试设计的一部分端口固定成设定值来阻止所述未定义边带信号传输到所述共用逻辑。7.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,所述保护电路被配置成在所述处理核心执行所述测试软件以测试所述受测试设计之前进入工作状态。8.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,所述保护电路被配置成将所述未定义信号的产生通知所述处理核心。9.根据权利要求8所述的半导体装置,其特征在于,所述测试软件包括用于响应于将所述未定义信号的产生通知所述处理核心来停止测试所述受测试设计的指令。10.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,还包括:电压控制器,被配置成向所述受测试设计提供测试电压。11.一种半导体装置,其特征在于,包括:受测试设计;第一保护电路,被配置成阻止在用于确定所述受测试设计的最佳工作...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵俊佑权润周金相佑
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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