一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置制造方法及图纸

技术编号:18596776 阅读:54 留言:0更新日期:2018-08-04 20:37
本实用新型专利技术公开了一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,涉及开放光路FTIR测量技术。主镜为抛物面、次镜为双曲面、次镜一为球面,而这3个反射镜之间的位置关系分别是:主镜焦点与双曲面次镜的一个焦点重合,称为F2点;次镜的另外一个焦点与次镜一的球心重合,称为F1点;光源组件的放置位置为F1点位置。次镜一、调整钢珠二、调整螺钉二、次镜一固定块和次镜一支架组成后反射部分,次镜一球心位于光源组件的光源处,使得照射到次镜一上的反射光再聚焦到光源组件处提高光源的光强;次镜一随次镜一支架向光源组件方向上前后移动;通过调节调整螺钉二来改变次镜一的接收方向。本实用新型专利技术提高了出射光的强度、提高信噪比、提高测量精度和准确度。

A device for improving the light intensity of FTIR transmitting unit

The utility model discloses a device for improving the outgoing light intensity of the FTIR transmitting unit, and relates to the open optical path FTIR measuring technology. The main mirror is the paraboloid, the secondary mirror is the hyperbolic surface and the secondary mirror one is spherical, and the position relation between the 3 mirrors is that the focus of the main mirror is coincided with one focus of the hyperbolic sub mirror, which is called the F2 point; the other focus of the secondary mirror is called the F1 point, and the location of the light source component is F1 point. The second mirror one, adjust the steel ball two, adjust the screw two, the secondary mirror one fixed block and the secondary mirror, and make up the reflection part. The second mirror one center of the ball is located at the light source of the light source component, so that the reflection light on the first mirror of the secondary mirror is refocused to the light source component to improve the light intensity of the light source; the secondary mirror is followed by the secondary mirror one support to the light source component direction. The direction of the secondary mirror is changed by adjusting the adjusting screw. The utility model improves the intensity of the outgoing light, improves the signal-to-noise ratio, and improves the measuring accuracy and accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置
本技术涉及开放光路FTIR测量技术,具体涉及一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置。
技术介绍
开放式傅里叶变换红外(OP-FTIR)光谱仪是一种新型的环境在线检测仪器,对于大气成分探测,汽车尾气监测,燃烧气体成分分析等方面都具有广泛应用。由于开放光路FTIR测量系统有四个组成部分:第一部分为红外发射光源及发射望远镜系统,其功能主要为产生稳定的高强度红外信号并通过望远镜准直输出;第二部分为接收望远镜单元,用于接收传输路径中目标气体吸收后的红外辐射;第三部分为FTIR光谱仪,接收并检测包含气体吸收信息的干涉图;第四部分为软件处理系统,用于光谱处理、多组分定量分析、设备的自动连续控制。系统工作时,首先红外光源发射的红外光束经过发射望远镜准直,并穿过外界开放式环境中的待测污染气体后,由接收望远镜接收,并聚焦汇聚于干涉仪腔内,通过动镜移动和探测器接收检测干涉信息,最后将采集到的干涉图发送至控制和分析计算机。计算机通过FFT将干涉图转换为光谱,由此得到整个测量区域的吸收光谱,吸收光谱包含了待测气体的浓度信息。红外发射光源及发射望远镜系统是重要的组成部分,如果发射光源强,开放光路的发射单元和接收单元之间的距离将会设置得更远,探测的数据更准确。为此,如何增加发射光的强度是重要的环节,是亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,它能提高出射光的强度、提高信噪比、提高测量精度和准确度。为了解决
技术介绍
所存在的问题,本技术是采用以下技术方案:一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,FTIR发射单元包含次镜支架一、调整螺钉一、次镜支架二、次镜固定块、调整钢珠一、次镜、主镜、压板、保护罩、光源组件、固定支架、次镜一、调整钢珠二、调整螺钉二、次镜一固定块、次镜一支架、窗片和外壳,外壳的内部前端同轴卡接有主镜,且主镜与外壳前端内壁之间设置有胶垫二,主镜前端同轴设置有压板,压板通过螺钉四与外壳的前端固定,且压板与主镜之间安装有胶垫三;外壳内部后端同轴设置有次镜,次镜固定在次镜固定块的前壁,次镜固定块的中心通过调整钢珠一与次镜支架二连接,且次镜固定块通过调整螺钉一与次镜支架二固定;次镜支架二通过螺钉三同轴安装在次镜支架一的中部,次镜支架一的后侧依次同轴紧密设置有胶垫一、窗片和压圈,且压圈通过螺钉一固定在外壳的后端;次镜支架一的前侧与外壳内部的凸台之间同轴设置有胶执,压板的前端外部通过螺钉五固定安装有固定支架,固定支架的上端设置有保护罩,且保护罩的下端通过螺钉六与固定支架的前端固定连接,次镜一支架和光源组件设置在保护罩的内部,次镜一支架的下端通过螺钉七与固定支架的前部固定,次镜一支架的上端通过调整钢珠二与次镜一固定块的中部连接,次镜一固定块上安装有次镜一,且次镜一固定块通过调整螺钉二与次镜一支架固定;光源组件的下端通过螺钉八与固定支架的后侧固定,且次镜一、光源组件、次镜和窗片的中心线位于同一直线上。作为本技术的进一步改进;所述的主镜、次镜、次镜一的面型分别为:主镜为抛物面、次镜为双曲面、次镜一为球面,而这3个反射镜之间的位置关系分别是:主镜焦点与双曲面次镜的一个焦点重合,称为F2点;次镜的另外一个焦点与次镜一的球心重合,称为F1点。作为本技术的进一步改进;所述的光源组件采用红外光源,且光源组件的放置位置既是次镜的一个焦点位置,也是次镜一的球心位置,即F1点位置。作为本技术的进一步改进;所述的次镜的方向可以微调;次镜一的方向可以微调整且可沿光源组件方向前后调整;光源组件可沿主轴方向前后微调整。采用上述技术方案后,本技术具有以下有益效果:1、一方面,光源组件发出的红外光经次镜一球面反射镜反射到达镜次,再由次镜反射到主镜上;2、另一方面,光源组件发出的红外光直接由次镜反射到达主镜;3、这两方面的光最终通过主镜输出为准直平行光,从而提高了出射光的强度、提高信噪比、提高测量精度和准确度。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术所提供的实施例的FTIR发射单元结构示意图;图2为本技术所提供的实施例的平行入射光反射示意图;附图标记:1-发射单元出射光,2-螺钉一,3-压圈,4-胶垫一,5-螺钉二,6-次镜支架一,7-螺钉三,8-调整螺钉一,9-次镜支架二,10-次镜固定块,11-调整钢珠一,12-次镜,13-胶垫二,14-主镜,15-胶垫三,16-螺钉四,17-压板,18-保护罩,19-光源组件,20-螺钉五,21-固定支架,22-次镜一,23-调整钢珠二,24-调整螺钉二,25-次镜一固定块,26-螺钉六,27-次镜一支架,28-螺钉七,29-螺钉八,30-窗片,31-胶执,32-外壳。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请参阅图1-图2,本具体实施方式采用以下技术方案:一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,FTIR发射单元包含螺钉一2、压圈3、胶垫一4、螺钉二5、次镜支架一6、螺钉三7、调整螺钉一8、次镜支架二9、次镜固定块10、调整钢珠一11、次镜12、胶垫二13、主镜14、胶垫三15、螺钉四16、压板17、保护罩18、光源组件19、螺钉五20、固定支架21、次镜一22、调整钢珠二23、调整螺钉二24、次镜一固定块25、螺钉六26、次镜一支架27、螺钉七28、螺钉八29、窗片30、胶执31和外壳32,外壳32的内部前端同轴卡接有主镜14,且主镜14与外壳32前端内壁之间设置有胶垫二13,主镜14前端同轴设置有压板17,压板17通过螺钉四16与外壳32的前端固定,且压板17与主镜14之间安装有胶垫三15;外壳32内部后端同轴设置有次镜12,次镜12固定在次镜固定块10的前壁,次镜固定块10的中心通过调整钢珠一11与次镜支架二9连接,且次镜固定块10通过调整螺钉一8与次镜支架二9固定;次镜支架二9通过螺钉三7同轴安装在次镜支架一6的中部,次镜支架一6的后侧依次同轴紧密设置有胶垫一4、窗片30和压圈3,且压圈3通过螺钉一2固定在外壳32的后端;次镜支架一6的前侧与外壳32内部的凸台之间同轴设置有胶执31,压板17的前端外部通过螺钉五20固定安装有固定支架21,固定支架21的上端设置有保护罩18,且保护罩18的下端通过螺钉六26与固定支架21的前端固定连接,次镜一支架27和光源组件19设置在保护罩18的内部,次镜一支架27的下端通过螺钉七28与固定支架21的前部固定,次镜一支架27的上端通过调整钢珠二23与次镜一固定块25的中部连接,次镜一固定块25上安装有次镜一22,且次镜一固定块25通过调整螺钉二24与次镜一支架27固定;光源组件19的下端通过螺钉八29与固定支架21的后侧固定,且次镜一22、光本文档来自技高网...
一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置

【技术保护点】
1.一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,其特征在于,FTIR发射单元包含次镜支架一、调整螺钉一、次镜支架二、次镜固定块、调整钢珠一、次镜、主镜、压板、保护罩、光源组件、固定支架、次镜一、调整钢珠二、调整螺钉二、次镜一固定块、次镜一支架、窗片和外壳,外壳的内部前端同轴卡接有主镜,且主镜与外壳前端内壁之间设置有胶垫二,主镜前端同轴设置有压板,压板通过螺钉四与外壳的前端固定,且压板与主镜之间安装有胶垫三;外壳内部后端同轴设置有次镜,次镜固定在次镜固定块的前壁,次镜固定块的中心通过调整钢珠一与次镜支架二连接,且次镜固定块通过调整螺钉一与次镜支架二固定;次镜支架二通过螺钉三同轴安装在次镜支架一的中部,次镜支架一的后侧依次同轴紧密设置有胶垫一、窗片和压圈,且压圈通过螺钉一固定在外壳的后端;次镜支架一的前侧与外壳内部的凸台之间同轴设置有胶执,压板的前端外部通过螺钉五固定安装有固定支架,固定支架的上端设置有保护罩,且保护罩的下端通过螺钉六与固定支架的前端固定连接,次镜一支架和光源组件设置在保护罩的内部,次镜一支架的下端通过螺钉七与固定支架的前部固定,次镜一支架的上端通过调整钢珠二与次镜一固定块的中部连接,次镜一固定块上安装有次镜一,且次镜一固定块通过调整螺钉二与次镜一支架固定;光源组件的下端通过螺钉八与固定支架的后侧固定,且次镜一、光源组件、次镜和窗片的中心线位于同一直线上。...

【技术特征摘要】
1.一种提高FTIR发射单元出射光光强的装置,其特征在于,FTIR发射单元包含次镜支架一、调整螺钉一、次镜支架二、次镜固定块、调整钢珠一、次镜、主镜、压板、保护罩、光源组件、固定支架、次镜一、调整钢珠二、调整螺钉二、次镜一固定块、次镜一支架、窗片和外壳,外壳的内部前端同轴卡接有主镜,且主镜与外壳前端内壁之间设置有胶垫二,主镜前端同轴设置有压板,压板通过螺钉四与外壳的前端固定,且压板与主镜之间安装有胶垫三;外壳内部后端同轴设置有次镜,次镜固定在次镜固定块的前壁,次镜固定块的中心通过调整钢珠一与次镜支架二连接,且次镜固定块通过调整螺钉一与次镜支架二固定;次镜支架二通过螺钉三同轴安装在次镜支架一的中部,次镜支架一的后侧依次同轴紧密设置有胶垫一、窗片和压圈,且压圈通过螺钉一固定在外壳的后端;次镜支架一的前侧与外壳内部的凸台之间同轴设置有胶执,压板的前端外部通过螺钉五固定安装有固定支架,固定支架的上端设置有保护罩,且保护罩的下端通过螺钉六与固定支架的前端固定连接,次镜一支架和光源组件设置在保护罩的内...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘宏潘焕双徐传超曹永徐亮
申请(专利权)人:安徽蓝盾光电子股份有限公司安徽省安光环境光学工程技术研究中心有限公司
类型:新型
国别省市:安徽,34

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