一种测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种测试方法及装置，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。本发明专利技术实施例可以应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法及装置
本专利技术涉及测试
，特别是涉及一种测试方法及装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，集成电路产品被大量使用，各设备对集成电路产品的性能和功能要求也越来越高，因此，对集成电路产品进行测试成为较为关键的技术手段之一。现有技术中，当需要对EMMC(EmbeddedMultiMediaCard，内嵌式多媒体卡)的读写性能、存储功能等进行测试时，通常采用模拟软件进行测试，具体来说，主机端的处理器生成测试指令后，将测试指令发送至EMMC，根据EMMC的测试反馈，得到EMMC的性能、功能参数。然而，本领域技术人员在研究上述技术方案的过程中发现，上述技术方案存在如下缺陷：模拟软件进行测试时，处理器生成测试指令需要一定的时间，EMMC在收到一条测试指令后，若处理器侧新的测试指令还没有生成，EMMC只能等待，直到处理器生成新的测试指令后，才能再次接收该新的测试指令，因此，对于EMMC来说，处理器所在的主机端存在软件延迟；但是读写、擦除速度等参数是EMMC的重要性能指标，因为主机端的软件延迟，会导致无法准确测得EMMC的读写、擦除速度等参数，降低对EMMC测试的精确性。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试方法及装置。根据本专利技术的第一方面，提供了一种测试方法，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。根据本专利技术的第二方面，提供了另一种测试方法，所述方法包括：根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；发送所述测试指令至待测设备；接收所述待测设备反馈的反馈参数；返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。根据本专利技术的第三方面，提供了一种测试装置，所述装置包括：测试指令设置模块，用于将生成的测试指令设置在存储区；通知指令发送模块，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；测试结果确定模块，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。根据本专利技术的第四方面，提供了另一种测试装置，所述装置包括：通知指令接收模块，用于根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；发送模块，用于发送所述测试指令至待测设备；反馈参数接收模块，用于接收所述待测设备反馈的反馈参数；返回模块，用于返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。本专利技术实施例应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。具体来说，首先将处理器生成的测试指令设置在存储区，当存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令，通知可编程器件在存储区获取测试指令后，将测试指令发送至待测设备，使得待测设备可以执行该测试指令生成反馈参数并反馈给可编程器件，再根据从可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果，因为存储区中存储着已经生成的测试指令，所以当可编程器件在接收到通知指令后，可以持续在存储器获取指令并执行该获取的指令，与此同时，处理器可以保持生成测试指令，从而消除了处理器生成指令的等待时间，提升测试的精确性。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1是本专利技术实施例提供的一种测试方法的流程图；图2是本专利技术实施例提供的一种测试方法的具体流程图；图3是本专利技术实施例提供的另一种测试方法的流程图；图4是本专利技术实施例提供的一种测试装置的框图；图5是本专利技术实施例提供的一种测试装置的具体框图；图6是本专利技术实施例提供的另一种测试装置的框图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，并不用于限定本专利技术。实施例一参照图1，示出了一种测试方法的流程图，该方法应用于处理器，具体可以包括如下步骤：步骤101：将生成的测试指令设置在存储区。本专利技术实施例所应用的处理器可以是ARM(英文：AcornRISCMachine)处理器、Intel处理器等，处理器可以通过软件编程的方法生成测试指令，本专利技术实施例处理器的类型不做具体限制。具体应用中，当对待测设备进行测试时，需要由处理器生成针对该待测设备的测试指令，测试设备会依据不同的测试指令反馈不同的反馈参数，通过反馈参数可以确定待测设备的功能、性能。例如，当待测设备为EMMC时，EMMC做为存储设备的一种，读写速度、读写错误率、可擦除次数等，是EMMC重要的性能指标；此时，测试指令可以是：测试读写速度的指令、测试读写错误率的指令、测试擦除次数的指令等，本专利技术实施例对测试指令的具体内容不做限制。可以理解，待测设备也可以是其他的存储设备、读写设备等，测试指令也相应的要适应待测设备的性能指标，本领域技术人员可以根据具体的场景确定待测设备以及测试指令的具体内容。本专利技术实施例的存储区，可以是由处理器确定的某块存储区域，通过存储区标识可以找到该存储区，当处理器生成测试指令后，在该存储区中可以存储测试指令，本专利技术实施例对存储区的具体位置和形式不做限制。步骤102：当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备。本专利技术实施例中，可编程器件可以是FPGA(Field-ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)，它是在CPLD(ComplexProgrammableLogicDevice，复杂可编程逻辑器件)等可编程器件的基础上进一步发展的产物。可以根据需要通过可编辑的连接把FPGA内部的逻辑块连接起来，就好像一个电路试验板被放在了一个芯片里。一个出厂后的成品FPGA的逻辑块和连接可以按照设计者而改变，所以FPGA可以完成所需要的逻辑功能。可编程器件也可以是其他具有可编程功能的硬件设备，本专利技术实施例对可编程器件不做具体限定。具体应用中，存储区存储的测试指令满足预设条件可以具体指的是，存储区存储的测试指令个数达到预设的个数，或测试所需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令之后，还包括：在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设方式为循环覆盖方式；所述循环覆盖方式包括：从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令；当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数；和/或，全部测试指令生成完毕。6.一种测试方法，其特征在于，应用于可编程器件，所述方法包括：根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；发送所述测试指令至待测设备；接收所述待测设备反馈的反馈参数；返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。8.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：测试指令设置模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：檀华丽，
申请(专利权)人：北京京存技术有限公司，北京京存技术有限公司合肥分公司，
类型：发明
国别省市：北京,11