探针测试装置、四线探针测试机构及分光机制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种探针测试装置、四线探针测试机构及分光机。该探针测试装置，包括：固定座，所述固定座设置有滑动槽；测试组件，包括探针、限位件及压缩弹簧，所述探针包括固定部及与所述固定部连接的针尖部，所述固定部设置于所述滑动槽，所述固定部开设有容置腔及与所述容置腔连通的长孔，所述限位件穿过所述长孔设置于所述滑动槽，所述压缩弹簧位于所述容置腔内，且一端与所述限位件连接。本实用新型专利技术还提供一种四线探针测试机构及分光机。上述探针测试装置、四线探针测试机构及分光机能够避免测试过程对电子元件产生损坏，造成测试数据不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
探针测试装置、四线探针测试机构及分光机
本技术涉及电子元件的测试领域，特别是涉及一种探针测试装置、四线探针测试机构及分光机。
技术介绍
电子元件主要使用探针测试机构进行检测，检测时，需要用探针测试机构中的探针与电子元件的引脚接触。按照测试方法的不同可以分为二线和四线两种探针测试机构。其中，四线探针测试机构主要用于测试精度要求高的场合，例如，通常四线探针机构对LED灯珠进行测试。传统的四线探针测试机构在测试过程中，当夹持被测试的LED灯珠时，探针测试机构会对LED灯珠会产生一定的破坏，造成测试数据不准确。
技术实现思路
基于此，有必要针对测试过程中对电子元件产生损坏，造成测试数据不准确的问题，提供一种探针测试装置、四线探针测试机构及分光机。一种探针测试装置，包括：固定座，所述固定座设置有滑动槽；测试组件，包括探针、限位件及压缩弹簧，所述探针包括固定部及与所述固定部连接的针尖部，所述固定部设置于所述滑动槽，所述固定部开设有容置腔及与所述容置腔连通的长孔，所述限位件穿过所述长孔设置于所述滑动槽，所述压缩弹簧位于所述容置腔内，且一端与所述限位件连接。上述探针测试装置用于对电子元件进行定位，测试过程中，在探针测试装置夹持电子元件时，受压缩的压缩弹簧对电子元件进一步夹紧。同时在对电子元件进行测试时，压缩弹簧还起到缓冲的作用，避免对电子元件损坏。测试完成后，探针会在压缩弹簧恢复到原始状态。整体结构简单、成本低并且定位过程中能够防止损伤电子元件，保证测试结构的准确。在其中一个实施例中，所述压缩弹簧远离所述限位件的一端与所述容置腔的内壁连接。在其中一个实施例中，所述长孔的数目为两个，两个所述长孔正对设置，所述限位件依次穿过两个所述长孔。在其中一个实施例中，所述探针测试装置还包括探针盖，所述探针盖设置于所述固定座的表面，并覆盖所述滑动槽。在其中一个实施例中，所述探针盖与所述固定座可拆卸连接。在其中一个实施例中，所述针尖部为刀片状结构或针形结构。在其中一个实施例中，所述固定座开设有两个平行设置的所述滑动槽，所述测试组件的数目为两个，两个所述测试组件的固定部分别设于两个所述滑动槽内，所述探针测试装置还包括与所述固定部连接的动力组件。一种四线探针测试机构，用于对电子元件进行测试，包括两个所述的探针测试装置。上述四线探针测试机构用于测试对精度要求高的电子元件，测试过程中，两台探针测试装置分别在动力组件的作用下向被测电子元件相向移动，进而夹持待测电子元件，此时处于压缩状态的压缩弹簧对电子元件进一步夹紧，使得四线探针测试机构进一步夹紧电子元件。由于压缩弹簧具有弹性，因此在探针夹持电子元件过程中起到缓冲作用，防止电子元件损伤，同时还能够进一步夹紧电子元件。测试完成后，压缩弹簧恢复至原始状态。整体结构简单、成本低并且定位过程中能够防止损伤电子元件，保证测试结构的准确。在其中一个实施例中，两个所述探针测试装置采用针尖部对针尖部的方式设置。一种分光机，包括所述的四线探针测试机构。附图说明图1为四线探针测试机构的立体示意图；图2为四线探针测试机构的俯视图。具体实施方式具体实施方式详细描述为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对探针测试装置、四线探针测试机构及分光机进行更全面的描述。附图中给出了探针测试装置、四线探针测试机构及分光机首选实施例。但是，探针测试装置、四线探针测试机构及分光机可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使探针测试装置、四线探针测试机构及分光机的公开内容更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在探针测试装置、四线探针测试机构及分光机的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参见图1及图2，分光机包括四线探针测试机构10，四线探针测试机构10用于对电子元件进行光学、电学测试。具体地，本实施例中，电子元件为LED灯珠20，采用四线探针测试机构10对LED灯珠20进行测试，可以确保出厂的LED灯珠20具有良好的光学及电学性能。在本实施例中，四线探针机构10包括两个探针测试装置12及动力装置(图中未示)，动力装置为探针测试装置提供动力源，驱动两个探针测试装置12向被测LED灯珠20移动。进一步地，为了使LED灯珠20两端受力均匀，两个探针测试装置12关于LED灯珠20的轴线对称，如图2中虚线所示。探针测试装置12包括固定座100及测试组件200，测试组件包括探针210、限位件220及压缩弹簧230。固定座100设置有滑动槽(图中未示)。探针210设置于滑动槽，并能够在滑动槽内往返移动。具体地。探针210包括固定部212及与固定部212连接的针尖部214。固定部212设置于滑动槽内，固定部212开设有容置腔212a及与容置腔212a连通的长孔(图中未示)。限位件220穿过长孔设置于滑动槽，限位件220能够对探针210的移动起到限制的作用。压缩弹簧230位于容置腔212a内，且一端与限位件220连接。传统的探针测试装置12中由于没有设置压缩弹簧230，探针测试装置12夹持被测LED灯珠20时，LED灯珠20直接受到较大的冲击力，从而造成LED灯珠20的损坏。本实施例中，由于压缩弹簧230一端与限位件220连接，在探针测试装置12夹持被测LED灯珠20时，压缩弹簧230被压缩，对LED灯珠20起到缓冲的作用。需要说明的是，探针210的针尖部214为刀片状结构或针形结构。进一步地，为了使压缩弹簧230能够更加稳定地设置于容置腔212a，避免压缩弹簧230在压缩过程中偏离容置腔212a，本实施例中，压缩弹簧230远离限位件220的一端与容置腔212a的内壁连接。更进一步的，本实施例中，长孔的数目为两个，且两个长孔相对设置，限位件220穿过两个长孔。进一步地，探针测试装置12还包括探针盖300，探针盖300设置于固定座100的表面，用于覆盖滑动槽。探针盖300将探针210封于滑动槽内，同时，本实施例本中，由于长孔的数目为两个，探针盖300还能防止压缩弹簧230因过度压缩而弹出容置槽210a。具体地，探针盖300与固定座100可拆卸连接，本实施例中，探针盖300与固定座100通过螺母400连接。采用螺母400连接能够便于拆装，方便对活动槽内的探针210的固定部212、限位件220及压缩弹簧230进行定时检查及更换。四线探针测试机构10包括两个探针测试装置12，每个探针测试装置12包括两个探针210。两个探针测试装置12采用针尖部214对针尖部214的方式设置，方便测试。因此，固定座100开设有两个平行设置的滑动槽，测试组件200的数目为两个，两个测试组件200的固定部212分别设于两个滑动槽内。可以理解，探针测试装置12还包括与固定部212连接的动力组件(图中未示)，动力组件用于为测试组件200提供动力源。LED灯珠20具有与四线探针测试机构10连接的引脚，使用四线探针测试机构10进行测试非常方便。测试完成后，分光机可以根据测试结果对LED灯珠20进行分类，因此，测试结果的准确性直接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针测试装置，其特征在于，包括：固定座，所述固定座设置有滑动槽；测试组件，包括探针、限位件及压缩弹簧，所述探针包括固定部及与所述固定部连接的针尖部，所述固定部设置于所述滑动槽，所述固定部开设有容置腔及与所述容置腔连通的长孔，所述限位件穿过所述长孔设置于所述滑动槽，所述压缩弹簧位于所述容置腔内，且一端与所述限位件连接。

【技术特征摘要】
1.一种探针测试装置，其特征在于，包括：固定座，所述固定座设置有滑动槽；测试组件，包括探针、限位件及压缩弹簧，所述探针包括固定部及与所述固定部连接的针尖部，所述固定部设置于所述滑动槽，所述固定部开设有容置腔及与所述容置腔连通的长孔，所述限位件穿过所述长孔设置于所述滑动槽，所述压缩弹簧位于所述容置腔内，且一端与所述限位件连接。2.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述压缩弹簧远离所述限位件的一端与所述容置腔的内壁连接。3.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述长孔的数目为两个，两个所述长孔正对设置，所述限位件依次穿过两个所述长孔。4.根据权利要求1所述的探针测试装置，其特征在于，所述探针测试装置还包括探针盖，所述探针盖设置于所述固定座的表面...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶大虎，袁小军，赵玉涛，
申请(专利权)人：深圳市炫硕智造技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44