检查系统及检查方法技术方案

技术编号:18530886 阅读:28 留言:0更新日期:2018-07-25 15:32
公开一种检查系统及检查方法,根据检查对象体的良好及不良与否而针对检查对象体的轮廓执行图像处理,将经图像处理的轮廓与用于判断检查对象体良好及不良与否的基准信息重叠显示。本发明专利技术的检查系统包括:数据获得部,其向检查对象体照射光,获得检查对象体的图像;处理部,其基于检查对象体的图像数据,检测检查对象体的轮廓;输出部,其将轮廓与基准信息重叠显示,处理部以基准信息为基础,对轮廓判断良好及不良与否,根据良好及不良与否,执行对轮廓的图像处理。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查系统及检查方法
本专利技术涉及检查领域,特别是涉及检查检查对象体的良好或不良的检查系统及方法。
技术介绍
最近,消费者对制品品质的标准日益提高,在生产制品方面,制造商在制品的生产过程、组装过程、中间过程及最终组装完成过程中倾注努力去除不良品。为了去除制品的不良,利用多样的检查系统,检查制品的良好(GOODorPASS)及不良(NG)。一般而言,检查系统将投影部形成的图案光照射于制品,即,照射于检查对象体,拍摄部接受从检查对象体反射的光而获得检查对象体的图像。另外,检查系统根据事先设置的基准信息,对检查对象体的图像执行检查,判断检查对象体是否良好,即,判断检查对象体良好或不良。
技术实现思路
解决的技术问题以往,对检查对象体的检查结果通过检查系统输出部,只单纯显示为良好或不良。因此存在的问题是,使用者难以只通过输出部显示的检查结果(即,良好或不良)容易地判别检查对象体符合哪种基准信息而判断为良好,或检查对象体不符合哪种基准信息而判断为不良。本专利技术提供一种检查系统及检查方法,根据检查对象体是否良好而针对检查对象体的轮廓执行图像处理,将经图像处理的轮廓与用于判断检查对象体良好及不良与否的基准信息重叠显示。技术方案一个实施例的检查系统包括:测量部,其向检查对象体照射光,获得所述检查对象体的图像;处理部,其针对所述检查对象体的图像,检测所述检查对象体的轮廓;输出部,其将所述轮廓与基准信息重叠显示;所述处理部以所述基准信息为基础,对所述轮廓判断良好及不良与否,根据所述良好及不良与否,执行对所述轮廓的图像处理。在一个实施例中,所述基准信息包括用于判断所述检查对象体的高度、宽度及倾斜中至少一者良好或不良的基准值。在一个实施例中,所述输出部包括:第一显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示;第二显示部,将用于将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度及宽度而与所述基准值一同显示。在一个实施例中,所述基准信息还包括用于判断所述检查对象体的倾斜良好及不良的基准值,所述处理部在所述轮廓中设置2个基准点,求出经过所述2个基准点的直线的倾斜,比较所述直线的倾斜与所述基准信息,判断所述检查对象体的良好及不良与否。在一个实施例中,所述输出部包括:第一显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示;第二显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度、宽度及倾斜而与所述基准值一同显示。在一个实施例中,所述第一显示部将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠,以三维方式显示,所述第二显示部将所述经图像处理的轮廓分别针对所述基准信息的高度、宽度及倾斜而与所述基准值一同以二维方式显示。另一实施例的检查对象体的检查方法包括:向检查对象体照射光,获得所述检查对象体的图像的步骤;针对所述检查对象体的图像,检测所述检查对象体的轮廓的步骤;以基准信息为基础,判断所述轮廓良好及不良与否,根据所述良好及不良与否,执行对所述轮廓的图像处理的步骤;将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示的步骤。在另一实施例中,所述基准信息包括用于判断所述检查对象体的高度、宽度及倾斜中至少一者良好及不良的基准值。在另一实施例中,所述将经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示的步骤还包括:将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度及宽度而与所述基准值一同显示的步骤。在另一实施例中,所述执行对轮廓的图像处理的步骤包括:在所述检查对象体的轮廓上设置2个基准点的步骤;求出经过所述2个基准点的直线的倾斜的步骤;比较所述直线的倾斜与所述基准信息,判断所述检查对象体的良好及不良与否的步骤。在另一实施例中,将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示的步骤还包括:将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度、宽度及倾斜而与所述基准值一同显示的步骤。专利技术效果本专利技术可以根据检查对象体是否不良,针对检查对象体的轮廓执行图像处理并显示,使用者可以容易地判断检查对象体是否不良。另外,本专利技术可以将经图像处理的轮廓,与用于判断检查对象体是否不良的基准信息重叠显示,使用者可以容易地判断检查对象体符合哪种基准信息、不符合哪种基准信息。附图说明图1是概略地显示本专利技术第一实施例的检查系统的图。图2是概略地显示本专利技术第一实施例的数据获得部的构成的构成图。图3是显示根据本专利技术的第一实施例,以基准信息为基础来判断检查对象体是否不良并执行图像处理的步骤的流程图。图4是显示本专利技术第一实施例的判断轮廓高度是否不良的示例的示例图。图5是显示本专利技术第一实施例的判断轮廓宽度是否不良的示例的示例图。图6是显示本专利技术第一实施例的判断轮廓倾斜是否不良的示例的示例图。图7是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的一个示例的示例图。图8是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的另一示例的示例图。图9是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的又一示例的示例图。图10是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的又一示例的示例图。图11是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的又一示例的示例图。图12是显示本专利技术第一实施例的显示经图像处理的轮廓和基准信息的又一示例的示例图。图13是概略本专利技术第二实施例的检查系统的图。具体实施方式下面参照附图,说明本专利技术的实施例。不过,在以下说明中,当存在不必要地混淆本专利技术要旨的情形时,将省略关于众所周知的功能或构成的具体说明。(第一实施例)图1是概略地显示本专利技术第一实施例的检查系统的图。如果参照图1,本实施例的检查系统100包括数据获得部110。数据获得部110向检查对象体IO照射光,接受被检查对象体反射的光,获得检查对象体的图像数据。在本实施例中,检查对象体包括作为印刷电路板的部件与焊料的接合部的焊料接口,但并非必须限定于此。图2是概略地显示本专利技术第一实施例的数据获得部110的说明图。如果参照图2,数据获得部110包括投影部210-1、210-2。投影部210-1、210-2向检查对象体IO照射用于获得检查对象体IO的第一图像数据的图案照明。第一图像数据包括格子图案图像数据,但并非必须限定于此,可以使用能够测量正弦波(sinewave)的多样的图案。在一个实施例中,投影部210-1、210-2包括用于发生光的光源(图中未示出)、用于将来自光源的光转换成图案照明的格子元件(图中未示出)、用于使格子元件按间距移送的格子移送器具(图中未示出)及用于将被格子元件转换的图案照明投影于检查对象体IO的投影透镜(图中未示出)。其中,格子元件为了图案照明的相移,可以通过PZT压电致动器(piezoactuator,压电致动器)等格子移送器具,每次按预定距离(例如,2π/N(N为2以上的自然数))移送。不同于此,也可以利用液晶显示装置的影像来照射经相移的图案光,取代利用格子元件及格子移送器具。但是,并非必须限定于此,只要能够照射经相移的图案光,也可以以其他装置体现。投影部210-1、210-2可以沿着圆周方向隔开既定角度地安装多个。投影部210-1、210-2可以相对于检查对象体IO倾斜既定角度地安装,从多个方向,按预定倾斜角θ,向检查对象体IO照射图案照明。数据获得部110还包括照明本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检查系统,其中,包括:测量部,其向检查对象体照射光,获得所述检查对象体的图像;处理部,其针对所述检查对象体的图像,检测所述检查对象体的轮廓;输出部,其将所述轮廓与基准信息重叠显示;所述处理部以所述基准信息为基础,对所述轮廓判断良好及不良与否,根据所述良好及不良与否,执行对所述轮廓的图像处理。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.07.17 KR 10-2015-01017351.一种检查系统,其中,包括:测量部,其向检查对象体照射光,获得所述检查对象体的图像;处理部,其针对所述检查对象体的图像,检测所述检查对象体的轮廓;输出部,其将所述轮廓与基准信息重叠显示;所述处理部以所述基准信息为基础,对所述轮廓判断良好及不良与否,根据所述良好及不良与否,执行对所述轮廓的图像处理。2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述基准信息包括用于判断所述检查对象体的高度、宽度及倾斜中至少一者良好或不良的基准值。3.根据权利要求2所述的检查系统,其中,所述输出部包括:第一显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示;第二显示部,将用于将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度及宽度而与所述基准值一同显示。4.根据权利要求2所述的检查系统,其中,所述基准信息还包括用于判断所述检查对象体的倾斜良好及不良的基准值;所述处理部在所述轮廓中设置2个基准点,求出经过所述2个基准点的直线的倾斜,比较所述直线的倾斜与所述基准信息,判断所述检查对象体的良好及不良与否。5.根据权利要求4所述的检查系统,其中,所述输出部包括:第一显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓与所述基准信息重叠显示;第二显示部,其用于将所述经图像处理的轮廓,分别针对所述基准信息的高度、宽度及倾斜而与所述基准值一同显示。6.根据权利要求5所述的检...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐承爱安元美李惠仁李宗辉
申请(专利权)人:株式会社高永科技
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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