可控硅测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可控硅测试装置，包括操作面板和测试电路，所述操作面板上设有指示模块、按钮模块以及分别与可控硅的阳极引脚、阴极引脚、控制极引脚相对应的阳极插座、阴极插座、控制极插座，所述指示模块包括信号灯、电流表，所述按钮模块包括控制极开关、电位器，所述测试电路分别与所述信号灯、电流表、控制极开关、电位器、阳极插座、阴极插座、控制极插座连接。本发明专利技术操作简单方便，测试效率高，易于推广。

SCR test device

The invention discloses a silicon controlled test device, including an operation panel and a test circuit. The operation panel is provided with an indicator module, a button module, an anode socket corresponding to a silicon controlled anode, a cathode pin, a control pin, a cathode socket, and a controlled pole socket. The indicator module includes a letter. The button module includes the control pole switch and the potentiometer. The test circuit is connected with the signal lamp, the ampere meter, the control pole switch, the potentiometer, the anode socket, the cathode socket and the control pole socket respectively. The invention has the advantages of simple and convenient operation, high testing efficiency and easy popularization.

【技术实现步骤摘要】
可控硅测试装置
本专利技术涉及可控硅测试
，更具体地说，它涉及一种可控硅测试装置。
技术介绍
可控硅(SiliconControlledRectifier)简称SCR,是一种大功率电器元件，也称晶闸管。在自动控制系统中，可作为大功率驱动器件，实现用小功率控件控制大功率设备；可控硅在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用。由于可控硅能在高电压、大电流条件下工作，具有耐压高、容量大、体积小等优点，可控硅被广泛应用于电力、电子线路中。可控硅的特性：当阳极与阴极之间加正向电压，并且控制极与阴极间加所需的正向触发电压时，可控硅会被触发导通。导通后，控制极即使失去触发电压，只要阳极和阴极之间仍保持正向电压，可控硅会继续处于低阻导通状态。只有把阳极电压拆除或阳极、阴极间电压极性发生改变(交流过零)时，可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。一旦截止，即使阳极和阴极间又重新加上正向电压，仍需在控制极和阴极间重新加上正向触发电压才能将可控硅导通。可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态，用它可制成无触点开关。目前，普遍采取万用表测量来测试可控硅的好坏，该方法操作复杂、测试效率低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本专利技术提供一种操作简单、测试效率高且容易推广的可控硅测试装置。本专利技术的技术方案是这样的：一种可控硅测试装置，包括操作面板和测试电路，所述操作面板上设有指示模块、按钮模块以及分别与可控硅的阳极引脚、阴极引脚、控制极引脚相对应的阳极插座、阴极插座、控制极插座，所述指示模块包括信号灯、电流表，所述按钮模块包括控制极开关、电位器，所述测试电路分别与所述信号灯、电流表、控制极开关、电位器、阳极插座、阴极插座、控制极插座连接。作为进一步地改进，作为进一步地改进，所述测试电路包括电源、第一电阻、第二电阻、第三电阻，所述电位器、第一电阻、电流表和控制极开关串联后连接于所述控制极插座与电源阳极之间，所述第二电阻和信号灯串联后连接于所述阳极插座与电源阳极之间，所述的阴极插座与所述电源阴极连接，所述第三电阻一端分别与所述电位器和第一电阻连接，另一端与所述电源阴极连接。进一步地，所述指示模块还包括电源灯，所述按钮模块还包括电源开关，所述测试电路还包括第四电阻，所述电源开关一端分别与所述电位器、第二电阻一端、第四电阻一端连接，另一端与所述电源阳极连接，所述第四电阻另一端与所述电源灯阳极连接，所述电源灯阴极与所述电源阴极连接。进一步地，所述电流表为数字式电流表。进一步地，所述电源为6伏直流电源。有益效果本专利技术与现有技术相比，具有的优点为：1、通过将可控硅安装在操作面板上，根据信号灯的显示状态即可判断可控硅是否合格，还能判断可控硅具体的损坏类型，操作简单方便，测试效率高，易于推广，安全实用和提高维修速度；2、设置阳极插座、阴极插座和控制极插座方便于安装可控硅，提高测试效率；3、电位器和电流表组合使用能调节产生不同的电流，能适用多种可控硅的测试，适用性强，并且容易控制电流的大小，避免电流过大损坏可控硅；4、电源灯能显示电源的好坏，方便于排除电源故障，避免电源故障影响测试工作。附图说明图1为本专利技术中操作面板的结构示意图；图2为本专利技术中的电路图。其中：1-操作面板、2-测试电路、3-电流表、4-可控硅、5-阳极插座、6-阴极插座、7-控制极插座、8-指示模块、9-按钮模块、A-阳极引脚、K-阴极引脚、G-控制极引脚、LED1-信号灯、LED2-电源灯、J1-电源开关、J2-控制极开关、RP-电位器、R1-第一电阻、R2-第二电阻、R3-第三电阻、R4-第四电阻、V-电源。具体实施方式下面结合附图中的具体实施例对本专利技术做进一步的说明。参阅图1-2，一种可控硅测试装置，包括操作面板1和测试电路2，操作面板1上设有指示模块8、按钮模块9以及分别与可控硅4的阳极引脚A、阴极引脚K、控制极引脚G相对应的阳极插座5、阴极插座6、控制极插座7，设置阳极插座5、阴极插座6和控制极插座7方便于安装可控硅，提高测试效率，指示模块8包括信号灯LED1、电流表3，按钮模块9包括控制极开关J2、电位器RP，测试电路2分别与信号灯LED1、电流表3、控制极开关J2、电位器RP、阳极插座5、阴极插座6、控制极插座7连接，具体地，测试电路2包括电源V、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3，电位器RP、第一电阻R1、电流表3和控制极开关J2串联后连接于控制极插座7与电源V阳极之间，第二电阻R2和信号灯LED1串联后连接于阳极插座5与电源V阳极之间，阴极插座6与电源V阴极连接，第三电阻R3一端分别与电位器RP和第一电阻R1连接，另一端与电源V阴极连接，通过将可控硅4安装在操作面板1上，根据信号灯LED1的显示状态即可判断可控硅4是否合格，还能判断可控硅4具体的损坏类型，操作简单方便，测试效率高，易于推广，安全实用和提高维修速度，电位器RP和电流表4组合使用能调节产生不同的电流，能适用多种可控硅4的测试，适用性强，并且容易控制电流的大小，避免电流过大损坏可控硅4。指示模块8还包括电源灯LED2，按钮模块9还包括电源开关J1，测试电路2还包括第四电阻R4，电源开关J1一端分别与电位器RP、第二电阻R2一端、第四电阻R4一端连接，另一端与电源V阳极连接，第四电阻R4另一端与电源灯LED2阳极连接，电源灯LED2阴极与电源V阴极连接，电源灯LED2能显示电源V的好坏，方便于排除电源故障，避免电源故障影响测试工作。在本实施例中，电流表3为数字式电流表，电源V为6伏直流电源，电位器RP的总阻值为250欧姆，第一电阻R1的阻值为500欧姆，第二电阻R2的阻值为300欧姆，第三电阻R3的阻值为200欧姆，第四电阻R4的阻值为300欧姆。可控硅测试包括具体步骤，步骤1：将可控硅4的阳极引脚A、阴极引脚K、控制极引脚G插装于相对应的阳极插座5、阴极插座6、控制极插座7中；步骤2：闭合电源开关J1，若电源灯LED2亮表示电源V正常并进入步骤2，否则电源V或电源灯LED2损坏；步骤3：若信号灯LED1亮表示可控硅4损坏，否则进入步骤3；步骤4：闭合控制极开关J2并调整电位器RP的阻值使电流表3的电流达到可控硅4的控制电流范围，若信号灯LED1亮表示可控硅4能导通工作并进入步骤4，否则可控硅4损坏；步骤5：断开控制极开关J2，若指示灯LED1继续亮，且只有断开电源开关J1后信号灯LED1才灭表示可控硅4合格，否则可控硅4损坏。表1为测试过程的判断结果，打★表示操作该项，打■表示该项灯亮。以上所述的仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本专利技术结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本专利技术实施的效果和专利的实用性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅测试装置，其特征在于：包括操作面板(1)和测试电路(2)，所述操作面板(1)上设有指示模块(8)、按钮模块(9)以及分别与可控硅(4)的阳极引脚(A)、阴极引脚(K)、控制极引脚(G)相对应的阳极插座(5)、阴极插座(6)、控制极插座(7)，所述指示模块(8)包括信号灯(LED1)、电流表(3)，所述按钮模块(9)包括控制极开关(J2)、电位器(RP)，所述测试电路(2)分别与所述信号灯(LED1)、电流表(3)、控制极开关(J2)、电位器(RP)、阳极插座(5)、阴极插座(6)、控制极插座(7)连接。

【技术特征摘要】
1.一种可控硅测试装置，其特征在于：包括操作面板(1)和测试电路(2)，所述操作面板(1)上设有指示模块(8)、按钮模块(9)以及分别与可控硅(4)的阳极引脚(A)、阴极引脚(K)、控制极引脚(G)相对应的阳极插座(5)、阴极插座(6)、控制极插座(7)，所述指示模块(8)包括信号灯(LED1)、电流表(3)，所述按钮模块(9)包括控制极开关(J2)、电位器(RP)，所述测试电路(2)分别与所述信号灯(LED1)、电流表(3)、控制极开关(J2)、电位器(RP)、阳极插座(5)、阴极插座(6)、控制极插座(7)连接。2.根据权利要求1所述的可控硅测试装置，其特征在于：所述测试电路(2)包括电源(V)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)，所述电位器(RP)、第一电阻(R1)、电流表(3)和控制极开关(J2)串联后连接于所述控制极插座(7)与电源(V)阳极之间，所述第二电阻(R2)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢铭，韦并东，卢桥，
申请(专利权)人：广西玉柴机器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广西,45