The utility model discloses an optical element polishing surface quality acoustic emission detection device, which includes a base seat, a component positioning device for installing optical elements on the base, and a speed regulating motor that can drive the rotation of the optical element. The optical element polishing surface quality acoustic emission detection device is also set up in the optical element. The acoustic emission sensor above the workpiece is fixedly connected with the acoustic emission sensor and used for cutting the optical elements. The utility model has constructed an acoustic emission detection device for polishing surface quality of optical elements through reasonable design, which overcomes the disadvantages of fixed position of sensor, large signal interference, fast attenuation and easy to Doppler effect in the existing experimental device.
【技术实现步骤摘要】
光学元件抛光表面质量声发射检测装置
本技术涉及一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置。
技术介绍
随着光学技术的快速发展,光学元件在社会生产、国防建设、空间光学等方面得到了广泛应用。光学元件是光学系统中最为关键的基础零件,是光学系统成像质量的主要保证。光学元件的加工质量对其性能的保证具有决定性作用。为保证元件的加工质量,有必要研制实验设备对其加工过程中的表面粗糙度和表面裂纹进行监测。因此,涌现出了一系列的光学元件声发射实验设备。现有的光学元件表面质量声发射检测实验设备的传感器一般都采用固定放置方式,这类实验装置存在诸多不足,主要表现在以下几个方面:(1)声发射信号的采集结果易受到多普勒效应影响;(2)信号传播过程中容易受到环境噪声等干扰;(3)采集的信号易产生衰减,测量精度低。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本技术的目的是提供一种结构简单、信号采集更直接的光学元件抛光表面质量声发射检测装置。为了达到上述目的,本技术提供了一种技术方案:光学元件抛光表面质量声发射检测装置,它包括基座、设置在基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动光学元件转动的调速电机,光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在光学元件上方的声发射传感器、与声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。进一步地,抛光头粘接在声发射传感器的绝缘层上。进一步地,声发射传感器连接在传感器定位装置上,该传感器定位装置固定连接在基座上。更进一步地,声发射传感器与光学元件之间设置有能够调节声发射传感器对光学元件所施加压力的压力调节机构。更进一步地,压力调节机构包括与声发射传感器可上下移动 ...
【技术保护点】
1.一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置,它包括基座、设置在所述基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动所述光学元件转动的调速电机,其特征在于:所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在所述光学元件上方的声发射传感器、与所述声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。
【技术特征摘要】
1.一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置,它包括基座、设置在所述基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动所述光学元件转动的调速电机,其特征在于:所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在所述光学元件上方的声发射传感器、与所述声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。2.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置,其特征在于:所述的抛光头粘接在所述声发射传感器的绝缘层上。3.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置,其特征在于:所述的声发射传感器连接在传感器定位装置上,该传感器定位装置固定连接在所述基座上。4.根据权利要求3所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置,其特征在于:所述的声发射传感器与光学元件之间设置有能够调节声发射传感器对光学元件所施加压力的压力调节机...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱忠奎,郭文军,江星星,沈长青,
申请(专利权)人:苏州大学,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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