An exemplary automatic test device (ATE) is disclosed, which includes a test instrument used to output a test signal to test a test device (DUT) and to receive an output signal from the DUT, in which the test instrument includes a front end module, and the front end module is used to execute the D. The internal circuit of the UT related functions; and an external circuit for executing the function of the DUT via the test instrument, wherein the external circuit is located outside the front end module and shares the external circuit between the multiple front-end modules or channels of the test instrument. The test instrument can be configured to use any of the following to perform functions: (I) internal circuit; (II) external circuit; or (III) internal circuit and the combination of circuits in the external circuit.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于自动测试设备的前端模块
本说明书整体涉及在自动测试设备中使用的前端模块。
技术介绍
自动测试设备(ATE)包括用于将信号发送至受测试装置(DUT)并且从受测试装置接收信号的电子设备,以测试DUT的操作。该ATE包括被配置成测试RF装置的测试仪器,诸如射频(RF)仪器。测试仪器包括前端模块(FEM),前端模块(FEM)通过装置接口板(DIB)连接至受测试装置(DUT)。用于自动测试的RF仪器使组件或资源可用于DUT接针以进行测试。例如,接收器和信号源经由FEM和DIB连接至DUT以刺激DUT和测量DUT的响应。这些资源由于其高性能和高频率操作而可能庞大且昂贵。例如,会需要有垫片的金属外壳形式的屏蔽体以使电路元件分开。因为这些资源的大小和成本,一般来说,跨多个位点或多个DUT接针共享这些资源以降低成本。然而,共享资源造成测试效率的权衡。例如,共享可需要使用相同资源用于第一测试和接着之后用于第二测试来连续进行测试。
技术实现思路
示例性ATE包括:测试仪器,其用于输出测试信号以测试DUT,并且用于接收来自DUT的输出信号,其中测试仪器包括前端模块,该前端模块包括:内部源电路,其用于产生待由测试仪器提供的测试信号;以及内部接收器电路,其用于接收输出信号。ATE还包括:源电路,该源电路的全部或部分位于前端模块的外部以产生待由测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,该接收器电路的全部或部分位于前端模块的外部以接收输出信号。该测试仪器能够被配置以使用:(i)内部源电路和内部接收器电路;(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括内部源电路、内部接收器电路、外部源 ...
【技术保护点】
1.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于产生待由所述测试仪器提供的所述测试信号;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于接收所述输出信号;源电路,所述源电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以产生待由所述测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,所述接收器电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以接收所述输出信号;其中所述测试仪器能够被配置以使用:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;(ii)所述外部源电路和所述外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、所述外部源电路、或所述外部接收器电路的组合。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.07 US 14/946,3111.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于产生待由所述测试仪器提供的所述测试信号;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于接收所述输出信号;源电路,所述源电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以产生待由所述测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,所述接收器电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以接收所述输出信号;其中所述测试仪器能够被配置以使用:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;(ii)所述外部源电路和所述外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、所述外部源电路、或所述外部接收器电路的组合。2.根据权利要求1所述的ATE,其中能够跨多个前端模块共享所述外部源电路或所述外部接收器电路中的至少一者。3.根据权利要求1所述的ATE,其中能够跨多个前端模块共享所述外部源电路和所述外部接收器电路两者。4.根据权利要求1所述的ATE,其中所述内部源电路和所述内部接收器电路是内部收发器的部件,与所述内部源电路相比,所述外部源电路具有更佳的相位噪声性能。5.根据权利要求1所述的ATE,其中所述内部源电路和所述内部接收器电路是内部收发器的部件,与所述内部接收器电路相比,所述外部接收器电路具有更佳的相位噪声性能。6.根据权利要求1所述的ATE,其中相对于下列参数中的一者或多者,与所述内部源电路相比,所述源电路提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。7.根据权利要求1所述的ATE,其中相对于下列参数中的一者或多者,与所述内部接收器电路相比,所述接收器电路提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。8.根据权利要求1所述的ATE,还包括:一个或多个处理装置,所述一个或多个处理装置用于配置所述测试仪器以使用下列任一者:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;或(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、外部源电路、或外部接收器电路的组合。9.根据权利要求1所述的ATE,其中所述源电路包括第一合成器,并且所述内部源电路包括第二合成器,至少相对于一个操作参数,与所述第二合成器相比,所述第一合成器具有更佳的性能。10.根据权利要求1所述的ATE,其中所述接收器电路包括第一接收器,并且所述内部接收器电路包括第二接收器,至少相对于一个操作参数,与所述第二接收器相比,所述第一接收器具有更佳的性能。11.根据权利要求1所述的ATE,其中所述测试仪器包括能够连接至装置接口板的后端电路和能够执行以测试所述DUT的测试程序,所述后端电路和所述测试程序能够与下列两者一起使用,而不修改所述装置接口板:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;以及(ii)外部源电路和外部接收器电路。12.根据权利要求1所述的ATE,其中当DUT性能或测试程序极限不需要高于阈值的性能等级时,使用所述内部源电路和所述内部接收器电路,并且当所述DUT性能或测试程序极限需要高于所述阈值的性能等级时,使用外部源电路和外部接收器电路。13.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于执行产生待由所述测试仪器输出的所述测试信号的部件;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于执行接收来自所述DUT的所述输出信号并且向所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员:布赖恩·C·瓦德尔,丹尼尔·罗森塔尔,
申请(专利权)人:泰拉丁公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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