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用于自动测试设备的前端模块制造技术

技术编号:18465455 阅读:30 留言:0更新日期:2018-07-18 15:44
本发明专利技术公开了一种示例性自动测试设备(ATE),其包括:测试仪器,该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自该DUT的输出信号,其中该测试仪器包括前端模块,并且其中该前端模块包括用于执行与该DUT相关的功能的内部电路;以及外部电路,该外部电路用于经由该测试仪器执行相关于该DUT的功能,其中该外部电路位于该前端模块的外部,并且在该测试仪器的多个前端模块或通道之间共享该外部电路。该测试仪器能够被配置以使用下列任一者来执行功能:(i)内部电路;(ii)外部电路;或(iii)内部电路和外部电路中的电路的组合。

Front end module for automatic test equipment

An exemplary automatic test device (ATE) is disclosed, which includes a test instrument used to output a test signal to test a test device (DUT) and to receive an output signal from the DUT, in which the test instrument includes a front end module, and the front end module is used to execute the D. The internal circuit of the UT related functions; and an external circuit for executing the function of the DUT via the test instrument, wherein the external circuit is located outside the front end module and shares the external circuit between the multiple front-end modules or channels of the test instrument. The test instrument can be configured to use any of the following to perform functions: (I) internal circuit; (II) external circuit; or (III) internal circuit and the combination of circuits in the external circuit.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于自动测试设备的前端模块
本说明书整体涉及在自动测试设备中使用的前端模块。
技术介绍
自动测试设备(ATE)包括用于将信号发送至受测试装置(DUT)并且从受测试装置接收信号的电子设备,以测试DUT的操作。该ATE包括被配置成测试RF装置的测试仪器,诸如射频(RF)仪器。测试仪器包括前端模块(FEM),前端模块(FEM)通过装置接口板(DIB)连接至受测试装置(DUT)。用于自动测试的RF仪器使组件或资源可用于DUT接针以进行测试。例如,接收器和信号源经由FEM和DIB连接至DUT以刺激DUT和测量DUT的响应。这些资源由于其高性能和高频率操作而可能庞大且昂贵。例如,会需要有垫片的金属外壳形式的屏蔽体以使电路元件分开。因为这些资源的大小和成本,一般来说,跨多个位点或多个DUT接针共享这些资源以降低成本。然而,共享资源造成测试效率的权衡。例如,共享可需要使用相同资源用于第一测试和接着之后用于第二测试来连续进行测试。
技术实现思路
示例性ATE包括:测试仪器,其用于输出测试信号以测试DUT,并且用于接收来自DUT的输出信号,其中测试仪器包括前端模块,该前端模块包括:内部源电路,其用于产生待由测试仪器提供的测试信号;以及内部接收器电路,其用于接收输出信号。ATE还包括:源电路,该源电路的全部或部分位于前端模块的外部以产生待由测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,该接收器电路的全部或部分位于前端模块的外部以接收输出信号。该测试仪器能够被配置以使用:(i)内部源电路和内部接收器电路;(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括内部源电路、内部接收器电路、外部源电路、或外部接收器电路的组合。该示例性ATE可单独或组合地包括下列特征中的任何一者或多者。能够跨多个前端模块共享外部源电路或外部接收器电路中的至少一者。能够跨多个前端模块共享外部源电路和外部接收器电路两者。内部源电路和内部接收器电路可为内部收发器的部件,并且与内部源电路相比,外部源电路可具有更佳的相位噪声性能。内部源电路和内部接收器电路可以为内部收发器的部件,并且与内部接收器电路相比,外部接收器电路可具有更佳的相位噪声性能。相对于下列参数中的一者或多者,与内部源电路相比,外部源电路可提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。相对于下列参数中的一者或多者,与内部接收器电路相比,外部接收器电路可提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。ATE可还包括:一个或多个处理装置,该一个或多个处理装置用于配置测试仪器以使用下列任一者:(i)内部源电路和内部接收器电路;或(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括内部源电路、内部接收器电路、外部源电路、或外部接收器电路的组合。外部源电路可包括第一合成器,并且内部源电路可包括第二合成器,其中至少相对于操作参数,与第二合成器相比,第一合成器具有更佳的性能。外部接收器电路可包括第一接收器,并且内部接收器电路可包括第二接收器,其中至少相对于操作参数,与第二接收器相比,第一接收器具有更佳的性能。测试仪器可包括可连接至装置接口板(DIB)的后端电路和可执行以测试DUT的测试程序,其中后端电路和测试程序可与下列两者一起使用,而不修改装置接口板:(i)内部源电路和内部接收器电路;以及(ii)外部源电路和外部接收器电路。当DUT性能或测试程序极限不需要高于阈值的性能等级时,可使用内部源电路和内部接收器电路,并且当DUT性能或测试程序极限需要高于阈值的性能等级时,可使用外部源电路和外部接收器电路。示例性ATE可包括测试仪器,该测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),以及用于接收来自DUT的输出信号,其中测试仪器包括前端模块,该前端模块包括:内部源电路,该内部源电路用于执行产生待由测试仪器输出的测试信号的部件;以及内部接收器电路,该内部接收器电路用于执行接收来自DUT的输出信号并向测试电路传送输出信号的部件。ATE可包括外部源电路,该外部源电路用于执行产生待由测试仪器输出的测试信号的部件,其中外部源电路部分地或完全地位于前端模块的外部;以及外部接收器电路,该外部接收器电路用于执行接收响应信号并向测试电路传送输出信号的部件,其中外部接收器电路部分地或完全地位于前端模块的外部。示例性ATE可单独或组合地包括下列特征中的任何一者或多者。外部源电路可包括合成器或第一调变合成器,并且内部源电路可包括第二合成器或第二调变合成器。外部接收器电路可包括第一合成接收器,并且内部接收器电路可包括第二合成器和接收器。ATE可包括多任务器或信号分离器,以将外部源电路或外部接收器电路中的至少一者连接至包括另一个前端模块的另一个测试仪器。ATE可包括一个或多个处理装置,该一个或多个处理装置用于配置测试仪器以使用下列任一者:(i)内部源电路和内部接收器电路;或(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括内部源电路、内部接收器电路、外部源电路、或外部接收器电路的组合。测试仪器可被配置成对DUT执行射频测试。示例性自动测试设备(ATE)包括:测试仪器,其用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自DUT的输出信号,其中测试仪器包括前端模块,并且其中前端模块包括用于执行与DUT相关的功能的内部电路;以及外部电路,其用于经由测试仪器执行相对于DUT的此类功能,其中外部电路位于前端模块的外部,并且在测试仪器的多个前端模块或通道之间共享外部电路。测试仪器能够被配置以使用下列任一者来执行此类功能:(i)内部电路;(ii)外部电路;或(iii)内部电路和外部电路中的电路的组合。示例性ATE可单独或组合地包括下列特征中的任何一者或多者。此类功能可包括供给对应于测试信号的信号。此类功能可包括接收对应于响应信号的信号。在前端模块的内部的电路可包括第一合成器或第一调变合成器,并且在前端模块的外部的电路可包括第二合成器或第二调变合成器,其中相对于一个或多个操作参数,与第一合成器相比,第二合成器具有更佳的性能。一个或多个操作参数可包括下列中的一者或多者:相位噪声、频率分辨率、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变、振幅和频率切换速度、振幅和频率稳定时间、频率和振幅范围、信号隔离、载波数目、取样时钟速率、信息带宽、拦截点、调变类型、调变深度和偏差、谐波和次谐波、相邻通道抑制、比特率、动态误差向量幅度、符号、眼图、频率误差、振幅平整度、相位线性度、增益和相位不平衡、图像抑制、噪声度、饱和功率、提取或推入、回波损耗或反射系数、坚固性、无杂散动态范围、频谱屏蔽、信噪比、稳定性、上升和下降时间、4FMOD、捕获或源存储器深度、FFT速度、AC/DC耦合、老化、或温度稳定性。内部电路可包括可连接至第一合成器或第二合成器或者为第一合成器的部件或第二合成器的部件的I/Q或其它调变器。ATE可包括选择器电路,以将外部电路连接至包括另一个前端模块的另一仪器前端模块或通道。当DUT性能或测试程序极限不需要超过阈值时,可使用内部电路,并且当D本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于产生待由所述测试仪器提供的所述测试信号;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于接收所述输出信号;源电路,所述源电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以产生待由所述测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,所述接收器电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以接收所述输出信号;其中所述测试仪器能够被配置以使用:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;(ii)所述外部源电路和所述外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、所述外部源电路、或所述外部接收器电路的组合。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.07 US 14/946,3111.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于产生待由所述测试仪器提供的所述测试信号;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于接收所述输出信号;源电路,所述源电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以产生待由所述测试仪器输出的测试信号;以及接收器电路,所述接收器电路的全部或部分位于所述前端模块的外部以接收所述输出信号;其中所述测试仪器能够被配置以使用:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;(ii)所述外部源电路和所述外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、所述外部源电路、或所述外部接收器电路的组合。2.根据权利要求1所述的ATE,其中能够跨多个前端模块共享所述外部源电路或所述外部接收器电路中的至少一者。3.根据权利要求1所述的ATE,其中能够跨多个前端模块共享所述外部源电路和所述外部接收器电路两者。4.根据权利要求1所述的ATE,其中所述内部源电路和所述内部接收器电路是内部收发器的部件,与所述内部源电路相比,所述外部源电路具有更佳的相位噪声性能。5.根据权利要求1所述的ATE,其中所述内部源电路和所述内部接收器电路是内部收发器的部件,与所述内部接收器电路相比,所述外部接收器电路具有更佳的相位噪声性能。6.根据权利要求1所述的ATE,其中相对于下列参数中的一者或多者,与所述内部源电路相比,所述源电路提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。7.根据权利要求1所述的ATE,其中相对于下列参数中的一者或多者,与所述内部接收器电路相比,所述接收器电路提供更佳的性能:频率分辨率、相位噪声、谐波分布、杂散发射、误差向量幅度、相邻通道功率比、调变带宽、双音频互调变、或频带内互调变。8.根据权利要求1所述的ATE,还包括:一个或多个处理装置,所述一个或多个处理装置用于配置所述测试仪器以使用下列任一者:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;或(ii)外部源电路和外部接收器电路;或(iii)包括所述内部源电路、所述内部接收器电路、外部源电路、或外部接收器电路的组合。9.根据权利要求1所述的ATE,其中所述源电路包括第一合成器,并且所述内部源电路包括第二合成器,至少相对于一个操作参数,与所述第二合成器相比,所述第一合成器具有更佳的性能。10.根据权利要求1所述的ATE,其中所述接收器电路包括第一接收器,并且所述内部接收器电路包括第二接收器,至少相对于一个操作参数,与所述第二接收器相比,所述第一接收器具有更佳的性能。11.根据权利要求1所述的ATE,其中所述测试仪器包括能够连接至装置接口板的后端电路和能够执行以测试所述DUT的测试程序,所述后端电路和所述测试程序能够与下列两者一起使用,而不修改所述装置接口板:(i)所述内部源电路和所述内部接收器电路;以及(ii)外部源电路和外部接收器电路。12.根据权利要求1所述的ATE,其中当DUT性能或测试程序极限不需要高于阈值的性能等级时,使用所述内部源电路和所述内部接收器电路,并且当所述DUT性能或测试程序极限需要高于所述阈值的性能等级时,使用外部源电路和外部接收器电路。13.自动测试设备(ATE),包括:测试仪器,所述测试仪器用于输出测试信号以测试受测试装置(DUT),并且用于接收来自所述DUT的输出信号,所述测试仪器包括前端模块,所述前端模块包括:内部源电路,所述内部源电路用于执行产生待由所述测试仪器输出的所述测试信号的部件;以及内部接收器电路,所述内部接收器电路用于执行接收来自所述DUT的所述输出信号并且向所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员:布赖恩·C·瓦德尔丹尼尔·罗森塔尔
申请(专利权)人:泰拉丁公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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