测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。上述技术方案，通过计算天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度，使得将天线口径和扫描架间的平行度的计算转换为天线口径面和扫描架测量面的平行度的计算，从而确定天线口径和扫描架的平行状态。

Method, device and system for calculating parallelism between antenna caliber and scanning rack

The invention relates to a method, a device, a system, a computer device and a storage medium for measuring the parallelism of an antenna aperture and a scanning frame, including obtaining at least three antenna measurements on the antenna aperture, constructing the first plane according to at least three antenna measurements, and obtaining at least three scanning rack measurements on the scanning frame, The second plane is constructed according to the at least three scanning frame measurement points, and the parallelism of the first plane and the second plane is calculated, and the parallelism between the antenna diameter and the scanning frame is determined according to the parallelism. By calculating the parallelism of the antenna aperture and the scanning frame, the parallel degree of the antenna diameter and the scanning frame is determined by the calculation of the parallelism between the antenna aperture and the scanning frame as the calculation of the parallelism of the antenna aperture surface and the scanning frame, thus determining the plane of the antenna and the plane of the scanning frame. Line state.

【技术实现步骤摘要】
测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统
本专利技术涉及天线近场测量
，特别是涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。
技术介绍
平面近场测试仪是通过测试天线近场幅相数据推算远场电磁特性的一类重大专业科学仪器设备，是雷达、通信、导航等诸多领域的微波天线研究与测试的必要手段。常规的平面近场测试系统分为四个部分，发射模块，采样模块，接收模块和数据分析及处理模块。其中采样模块负责在一个平面的若干点上接收来自发射模块的信号，并将之传递给接收模块，由接收模块提取幅度和相位信息后传递给数据分析及处理模块，推算出天线的远场特性。实际应用中，为了让采样模块中的扫描架能准确获取发射模块中的待测天线发射的信号，一般要求待测天线口径与扫描架维持在一定平行度内。传统应用是借助经纬仪或全站仪等测量仪器保证扫描架水平方向和垂直方向上的精确，进而确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。但是，要确定天线口径与扫描架间的平行度存在一定的难度。首先，得保证扫描架位置的精准安装，因此，在安装扫描架时需要借助经纬仪，而且对施工人员的技术水平也要求很高；其次，即使在施工中保证了扫描架位置的精度，由于待测天线需要经常进行更换，也难以根据所述天线口径与所述扫描架间的平行度，确保扫描架时刻与待测天线口径维持在一定的平行度内。最后，并不是所有的扫描架都采用固定机座的安装方式，在一些特殊发的应用场景下，扫描架是采用移动式的安装方式，而在这种情况下，更加难以确保天线口径与扫描架保持平行状态。
技术实现思路
基于此，有必要针对难以确保扫描架与天线口径维持平行状态的问题，提供一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。在其中一个实施例中，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面和所述第二平面的平行度的步骤，包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和所述第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上。所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度。在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面与所述第二平面在垂直方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第二天线测量点与所述第三扫描架测量点的第六测量距离，获取所述第二扫描架测量点与第三扫描架测量点间的第七测量距离；根据所述第五测量距离、第六测量距离和第七测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第三直线距离；获取所述第三天线测量点与所述第二扫描架测量点的第八测量距离，获取所述第三天线测量点与所述第三扫描架测量点的第九测量距离；根据所述第七测量距离、第八测量距离和第九测量距离，计算所述第三天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第四直线距离；根据所述第三直线距离和所述第四直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面垂直方向上的平行度。一种测算天线口径与扫描架平行度的装置，包括：平面构建模块，用于获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；平行度计算模块，用于计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；平行度确定模块，用于根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。一种测算天线口径与扫描架平行度的系统，包括：测距设备、处理器和驱动装置；所述测距设备设置在天线口径，和/或扫描架上，用于获取天线口径上的测量点与扫描架上的测量点间的距离并发送给处理器；所述处理器用于根据所述距离，计算所述天线测量点构成的第一平面和所述扫描架测量点构成的第二平面间的平行度，并将所述平行度发送至驱动装置；所述驱动装置用于根据所述平行度，调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述天线口径和所述扫描架平行。上述测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置和系统，先通过在天线口径和扫描架上选取测量点，构建天线口径面和扫描架测量面；然后计算天线口径面和扫描架测量面的平行度；最后根据该平行度来确保天线口径和扫描架间的平行度，使得可以确定天线口径和扫描架的平行状态。一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述测算天线口径与扫描架平行度的方法。上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，实现了确定天线口径与扫描架的平行状态。一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述测算天线口径与扫描架平行度的方法。上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，实现了维确定天线口径与扫描架的平行状态。附图说明图1是一实施例测算天线口径与扫描架平行度的方法应用环境图；图2是一实施例校准天线口径与扫描架平行度的方法流程图；图3是一实施例测算天线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

【技术特征摘要】
1.一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。2.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。3.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。4.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述计算所述第一平面和所述第二平面的平行度的步骤，包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。5.根据权利要求4所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和所述第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上。所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏道一，牛晨曦，
申请(专利权)人：广东曼克维通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44