The embodiment of the invention discloses a narrow-band radiometric calibration system for photoelectric detectors. The narrowband radiation calibration system of the photodetector includes a photodetector used for radiometric calibration, which controls the control and processing units of the photodetector and output image data, and is used to collect and store images and to process the image data, which are used to provide presupposed spectral segments. An integral ball light source used for filtering a beam outside a specified band and forming a uniform beam of a uniform beam of predetermined bandwidth is used for fixing the integral ball light source, the narrowband filter homogenization device and the photodetector, and forming a fixed fixed platform for calibrating the optical path. The calibration system of the narrow band radiation of the photodetector can effectively ensure the consistency between the test conditions and the practical application. It is not only applicable to the calibration of narrow band radiation, but also effectively improves the accuracy and reliability of the calibration results.
【技术实现步骤摘要】
一种光电探测器的窄带辐射标定系统
本专利技术涉及光电探测工程应用的
,具体涉及一种光电探测器的窄带辐射标定系统。
技术介绍
在光电探测工程应用领域,可见近红外波段探测器CCD和基于内光电效应的光子型短波红外探测器(InGaAs型或HgCdTe型)是常用的两种光电传感器。在本专利技术中,将可见近红外波段探测器CCD、CMOS探测器和短波红外探测器(InGaAs型或HgCdTe型)统称为光电探测器。目前,这两种光电探测器已经被广泛用于光电成像、光谱探测等方面。在实际应用中,光电探测器通常需要进行辐射标定,以实现对光电探测器的非均匀性校正、盲点扣除补偿以及响应线性度测量等辐射特性相关测试,从而提高光电探测器的输出信噪比、改善成像质量。目前,光电探测器的辐射标定测试为系统级和全谱段,由于辐射标定测试过程中窄波段带外响应会影响测试的准确性,因此,并不完全适用于窄波段高精度的光电探测器。近年来,随着遥感及光电探测领域的发展,光电探测器大量应用于大气痕量气体探测等窄波段应用探测方面,其辐射标定测试适用性和准确性影响着最终的探测性能指标。光电探测器的窄波段辐射标定测试是相关光电探测系统研制过程中非常重要的一个环节。因此,针对现有的光电探测器的窄带辐射标定所存在的问题,急需一种光电探测器的窄带辐射标定系统,该系统不仅适用于窄波段的辐射标定还具有较高的准确性。
技术实现思路
针对现有的光电探测器的窄带辐射标定所存在的问题,本专利技术实施例提出一种光电探测器的窄带辐射标定系统。本专利技术实施例所提供的光电探测器的窄带辐射标定系统确保测试条件与实际应用的一致性,不仅适用于窄波段 ...
【技术保护点】
1.一种光电探测器的窄带辐射标定系统,其特征在于,所述标定系统包括:光电探测器,用于进行辐射标定的探测器;控制及处理单元,用于控制所述光电探测器和输出图像数据;图像采集处理单元,用于采集和存储图像并对所述图像数据进行处理;积分球光源,用于提供预设谱段的光源;窄带滤波匀光装置,用于过滤指定波段以外的光束并形成预定带宽的均匀光束;安装固定平台,用于依次将所述积分球光源、所述窄带滤波匀光装置和所述光电探测器固定并形成标定光路。
【技术特征摘要】
1.一种光电探测器的窄带辐射标定系统,其特征在于,所述标定系统包括:光电探测器,用于进行辐射标定的探测器;控制及处理单元,用于控制所述光电探测器和输出图像数据;图像采集处理单元,用于采集和存储图像并对所述图像数据进行处理;积分球光源,用于提供预设谱段的光源;窄带滤波匀光装置,用于过滤指定波段以外的光束并形成预定带宽的均匀光束;安装固定平台,用于依次将所述积分球光源、所述窄带滤波匀光装置和所述光电探测器固定并形成标定光路。2.根据权利要求1所述的一种光电探测器的窄带辐射标定系统,其特征在于,所述光电探测器包括可见近红外探测器CCD或者CMOS探测器或者InGaAs型短波红外探测器或者HgCdTe型短波红外探测器。3.根据权利要求1所述的一种光电探测器的窄带辐射标定系统,其特征在于,所述窄带滤波匀光装置包括第一平凸镜、第二平凸镜和位于所述第一平凸镜和所述第二平凸镜之间的窄带滤光片。4.根据权利要求3所述的一种光电探测器的窄带辐射标定系统,其特征在于,所述第一平凸镜和所述第二平凸镜构成同轴共轭光学系统。5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:张达,李巍,李哲,高志良,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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