串联四极型质谱仪制造技术

本发明专利技术涉及一种串联四极型质谱仪。在进行多反应监测测量条件优化即MRM测量条件优化之前，分析操作人员针对目标化合物的各前体离子在产物离子选择条件设置画面(200)上准备以下两个列表，即示出要优先选择作为需要进行优化的产物离子的离子的列表(203)和示出要从优化中排除的离子的列表(202)。在进行测量的情况下，进行针对目标化合物的前体离子的产物离子扫描测量，并且获得谱。在从该谱所提取的离子中，将排除离子列表(202)中所登记的离子排除，而优先选择优先离子列表(203)中所登记的离子作为产物离子。对于如此确定的前体离子和产物离子的m/z值的各组合，搜索MRM测量的最佳条件。

Series quadrupole mass spectrometer

The present invention relates to a series quadrupole mass spectrometer. Before optimizing the conditions of the multi reaction monitoring measurement, namely, the optimization of the MRM measurement conditions, the analyst prepares the following two lists for the precursor ions of the target compounds on the product ion selection condition setting screen (200), showing that the list of ions to be preferred as the product ions that need to be preferred is shown (203) and the indication of the target ion of the target compounds. A list of ions to be excluded from the optimization (202). In the case of measurement, the product ion scanning of the precursor ion for the target compound is carried out and the spectrum is obtained. In the ions extracted from the spectrum, the ions registered in the ion list (202) are excluded, and the ions registered in the preferential ion list (203) are selected as the product ions. For the combinations of m/z values of such precursor ions and product ions, the best condition for MRM measurement is searched.

【技术实现步骤摘要】
串联四极型质谱仪本申请是申请日为2014年10月11日、申请号为201410535497.7、专利技术名称为“串联四极型质谱仪”的申请的分案申请。
本专利技术涉及串联四极型质谱仪(还可被称为三重四极型质谱仪)，尤其涉及具有用于自动确定多反应监测(MRM)测量中的最佳电压等的控制参数的功能的串联四极型质谱仪。
技术介绍
作为对分子量较大的化合物进行鉴定、结构分析或定量确定的质谱分析技术其中之一，广泛使用被称为MS/MS分析(或串联分析)的方法。存在针对MS/MS分析所设计的具有不同结构的各种质谱仪，其中在这些质谱仪中，串联四极型质谱仪的特征在于相对简单的结构以及容易操作和应对。如专利文献1或其它文献所述，在通常使用的串联四极型质谱仪中，从离子源中的化合物所产生的离子被导入前级四极滤质器(通常表示为“Q1”)内，其中在该前级四极滤质器中，选择具有特定质量电荷比m/z的离子作为前体离子。该前体离子被导入包含具有四个(或多个)极的离子引导件(该离子引导件通常被表示为“q2”)的碰撞池内。向该碰撞池供给诸如氩等的碰撞诱导解离(CID)气体，并且导入该碰撞池的前体离子与该CID气体碰撞而分裂成各种产物离子(production)。这些产物离子被导入后级四极滤质器(通常表示为“Q3”)内，由此选择性地允许具有特定质量电荷比m/z的产物离子穿过该滤质器，到达检测器并进行检测。MRM测量模式是串联四极型质谱仪中可用的MS/MS测量的一个模式。在MRM测量模式中，在前级四极滤质器和后级四极滤质器各自中，允许穿过的离子的质量电荷比是固定的，从而测量从特定种类的前体离子所产生的特定种类的产物离子的强度(量)。MRM测量中的两级滤质使得能够去除源自于不是测量对象的化合物或杂质的离子和中性粒子，由此可以获得S/N比高的离子强度信号。由于该特征，MRM测量对于微量成分的定量确定而言特别有效。可以独立地使用串联四极型质谱仪。然而，这些串联四极型质谱仪经常与气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)组合使用。例如，频繁使用利用串联四极型质谱仪作为液相色谱仪所用的检测器的液相色谱串联四极型质谱仪(LC/MS/MS)来进行包含大量化合物的试样或包含杂质的试样中所包含的化合物的定量分析。在利用LC/MS/MS(或GC/MS/MS)进行MRM测量的情况下，在进行目标试样的测量之前，必须与目标化合物的保留时间相关联地设置对象前体离子的质量电荷比和产物离子的质量电荷比的组合，作为测量条件的一个项。通过针对各目标化合物设置前体离子和产物离子的质量电荷比的最佳组合，可以以高精度和高灵敏度获得源自于各目标化合物的离子的信号强度，并且还可以以高精度和高灵敏度进行该化合物的定量。可以由分析操作人员手动设置前体离子和产物离子的质量电荷比的组合。然而，手动设置相当麻烦，而且不能始终确保最佳组合的成功设置。为了解决该问题，如专利文献1所公开的，已经开发了能够针对目标化合物自动且高度可靠地设置前体离子和产物离子的质量电荷比的最佳组合的系统。利用MRM测量的目标化合物的高精度和高灵敏度的定量确定不仅需要上述的针对目标化合物的前体离子和产物离子的质量电荷比的组合的最佳设置，而且还需要针对该组合的碰撞能量和其它测量条件的最佳设置。如非专利文献1所述，具有用于自动优化MRM测量中所使用的控制参数的功能(以下将该功能称为“MRM测量条件优化功能”)的质谱仪也已是公知的。在非专利文献1所述的示例中，控制参数包括前级四极滤质器中的“Q1预杆电压(pre-rodvoltage)”、后级四极滤质器中的“Q3预杆电压”、以及“碰撞能量CE”。可以将传统的MRM测量条件优化功能分类成以下两个方法。(1)分析操作人员指定源自于对象化合物的前体离子和产物离子的质量电荷比的组合。然后，进行包含该化合物的已知试样(例如，标准试样)的分析，从而针对所指定的前体离子和产物离子的质量电荷比的组合搜索控制参数的最佳值。将该结果显示在显示单元上。(2)分析操作人员仅指定源自于对象化合物的前体离子的质量电荷比。然后，使用包含该化合物的已知试样来进行所指定的前体离子的产物离子扫描测量以获得产物离子谱，并且按信号强度的降序从该谱中选择预定数量的产物离子峰。随后，对于原来指定的前体离子和所选择的各产物离子的各组合，进行针对控制参数的最佳值的搜索并且将结果显示在显示单元上。在方法(1)的情况下，分析操作人员不仅需要具有关于源自于化合物的前体离子的质量电荷比的先验知识，而且还需要具有关于产物离子的质量电荷比的先验知识。作为对比，方法(2)具有以下优点：即使分析操作人员并不知晓要选择作为对象的产物离子的质量电荷比，也自动搜索适当的产物离子并且可以获得控制参数的适当值。然而，应当注意，在从一个前体离子生成多个产物离子的情况下，示出最高信号强度的产物离子未必始终是最适合定量确定的离子；在一些情况下，信号强度较低的产物离子可能具有较高的峰纯度并且可能更适合定量确定。如果最适合定量确定的产物离子的强度低而没有包括在按强度的降序所选择的预定数量的离子中，则通过方法(2)无法获得针对该离子的最佳参数值。在上述的传统MRM测量条件优化功能中，假定以通过输注或流动注入将标准试样或包含单个化合物的试样导入串联四极型质谱仪的离子源内的方式来进行分析。因此，可以使用针对试样的一次注入所进行的一系列测量的结果，针对仅一种前体离子的质量电荷比来优化MRM测量所用的控制参数的值。如果存在需要对控制参数的值进行优化的多个前体离子，则需要重复与该数量一样多次数的试样注入和一系列测量，使得需要相当大量的时间来优化MRM测量条件。引用文献列表专利文献专利文献1：日本特开2013-15485非专利文献非专利文献1：“LCMS-8040Chou-KousokuToripuruShijuukyoku-gataLC/MS/MSShisutemuMRMSaitekikaKinou(LCMS-8040Ultra-HighSpeedQuadrupoleLC/MS/MSSystem:MRMOptimizingFunction)”,株式会社岛津制作所的网站上的网页
技术实现思路
专利技术要解决的问题本专利技术是为了解决上述问题而开发的，并且本专利技术的主要目的是提供一种具有用于优化MRM测量所用的控制参数的值的功能的串联四极型质谱仪，其中：即使要选择作为对象的产物离子的信号强度低，也可以针对各目标化合物确定地优化针对适合定量确定或其它目的的产物离子的MRM测量条件。本专利技术的另一目的是提供前级连接有液相色谱仪或气相色谱仪的串联四极型质谱仪，其中该串联四极型质谱仪被设计成缩短针对源自于多个化合物的离子的MRM测量条件优化所需的时间段。用于解决问题的方案目的在于解决上述问题的本专利技术的第一方面是一种串联四极型质谱仪，其具有将用于使离子分裂的碰撞池夹在中间的前级四极滤质器和后级四极滤质器，所述串联四极型质谱仪具有用于进行多反应监测测量条件优化即MRM测量条件优化的功能，所述MRM测量条件优化用于在进行试样的MRM测量的同时，搜索针对一个或多个化合物而言最佳的MRM测量条件，所述串联四极型质谱仪还包括：a)优先离子登记单元，用于针对各前体离子，将要优先选择为对象的一个或多个产物离子的质量电荷比登本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种串联四极型质谱仪，其具有将用于使离子分裂的碰撞池夹在中间的前级四极滤质器和后级四极滤质器，所述串联四极型质谱仪具有用于进行多反应监测测量条件优化即MRM测量条件优化的功能，所述MRM测量条件优化用于在进行试样的MRM测量的同时，搜索针对一个或多个化合物而言最佳的MRM测量条件，所述串联四极型质谱仪还包括：a)优先离子登记单元，用于针对各前体离子，将要优先选择为对象的一个或多个产物离子的质量电荷比登记作为用于优化MRM测量条件的测量条件；以及b)MRM测量条件优化单元，用于在进行针对源自于一个化合物的对象前体离子的MRM测量条件优化时，针对该前体离子在预定的质量电荷比范围内进行产物离子扫描测量以获得预定的质量电荷比范围内的产物离子谱上的产物离子，并且将该产物离子谱上满足预定条件的峰所对应的产物离子作为产物离子候选，随后，从所述优先离子登记单元中检索与该前体离子的优先产物离子有关的信息，在检测到针对该前体离子的优先产物离子的情况下，针对该优先产物离子搜索所述产物离子候选，将通过搜索找到的离子作为优化MRM测量条件时的产物离子，并且控制所述串联四极型质谱仪的各部，从而进行针对该前体离子和该产物离子的质量电荷比的组合的MRM测量条件优化、并且获得控制参数的最佳值，在没有检测到针对该前体离子的优先产物离子的情况下，按峰强度的降序从所述产物离子候选中选择特定数量的产物离子，并将所选择的产物离子作为优化MRM测量条件时的产物离子。...

【技术特征摘要】
2013.10.11 JP 2013-2133151.一种串联四极型质谱仪，其具有将用于使离子分裂的碰撞池夹在中间的前级四极滤质器和后级四极滤质器，所述串联四极型质谱仪具有用于进行多反应监测测量条件优化即MRM测量条件优化的功能，所述MRM测量条件优化用于在进行试样的MRM测量的同时，搜索针对一个或多个化合物而言最佳的MRM测量条件，所述串联四极型质谱仪还包括：a)优先离子登记单元，用于针对各前体离子，将要优先选择为对象的一个或多个产物离子的质量电荷比登记作为用于优化MRM测量条件的测量条件；以及b)MRM测量条件优化单元，用于在进行针对源自于一个化合物的对象前体离子的MRM测量条件优化时，针对该前体离子在预定的质量电荷比范围内进行产物离子扫描测量以获得预定的质量电荷比范围内的产物离子谱上的产物离子，并且将该产物离子谱上满足预定条件的峰所对应的产物离子作为产物离子候选，随后，从所述优先离子登记单元中检索与该前体离子的优先产物离子有关的信息，在检测到针对该前体离子的优先产物离子的情况下，针对该优先产物离子搜索所述产物离子候选，将通过搜索找到的离子作为优化MRM测量条件时的产物离子，并且控制所述串联四极型质谱仪的各部，从而进行针对该前体离子和该产物离子的质量电荷比的组合的MRM测量条件优化、并且获得控制参数的最佳值，在没有检...

【专利技术属性】
技术研发人员：山本英树，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP