缺陷检查方法及缺陷检测系统技术方案

缺陷检查方法及缺陷检测系统。缺陷检查方法包括一影像撷取步骤与一转换步骤。影像撷取步骤包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像。转换步骤包括将二维影像转换成一灰阶值曲线。灰阶值曲线包括对应光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。

Defect inspection method and defect detection system

Defect inspection method and defect detection system. The defect inspection method includes an image capture step and a conversion step. The image capture step includes shooting a surface of an optical film to produce a two-dimensional image. The conversion step includes transforming the two-dimensional image into a gray value curve. The gray scale value curve includes a defect gray scale value curve corresponding to a concave convex defect part of the optical film.

【技术实现步骤摘要】
缺陷检查方法及缺陷检测系统
本专利技术是有关于一种缺陷检查方法及缺陷检测系统，且特别是有关于用于光学薄膜的凹凸缺陷检查方法。
技术介绍
随着科技的进步，对于液晶显示设备所运用的各种光学组件的要求亦高。然而，于光学组件的生产过程中，却容易因各种因素而产生瑕疵，进而降低显示质量。因此，在光学组件的生产系统中系配置有缺陷的检测系统，以及早排除具有缺陷的光学组件。
技术实现思路
本专利技术有关于一种缺陷检查方法及缺陷检测系统。根据本专利技术的一方面，提出一种缺陷检查方法，包括一影像撷取步骤与一转换步骤。影像撷取步骤包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像。转换步骤包括将二维影像转换成一灰阶值曲线。灰阶值曲线包括对应光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。根据本专利技术的另一方面，提出一种缺陷检查方法，包括影像撷取步骤与转换步骤。影像撷取步骤包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像。转换步骤包括将根据二维影像的数据转换成一三维数据。三维数据报括光学薄膜的一凹凸缺陷部分相对于一平坦部分的一高度差值。根据本专利技术的又另一方面，提出一种缺陷检测系统。缺陷检测系统用于检测一光学薄膜。缺陷检测系统包括一光源、一影像捕获设备、及一狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧。影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有一狭缝。狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使一入射光线穿过狭缝。影像捕获设备系偏移自光源与狭缝的延伸联机。当影像捕获设备的影像传感器对准于光源与狭缝的延伸联机时，所感测出的影像亮度为I0。当影像捕获设备于平行光学薄膜的移动方向上偏移自光源与狭缝的延伸联机时，所感测出的影像亮度为I1。I1/I0为0.5～0.9可观测光学薄膜的一缺陷位置点。为了对本专利技术的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举实施例，并配合所附图式详细说明如下：附图说明图1绘示根据本专利技术一实施例概念的缺陷检查方法。图2绘示根据本专利技术一实施例概念的缺陷检测系统。图3为一实施例中对光学薄膜进行影像撷取步骤所得的二维影像。图4为一实施例中经转换步骤后得到的二维影像。图5为一实施例中经转换步骤所得二维影像的缺陷影像沿剖面线所对应的灰阶值关系曲线。图6显示一实施例中凹凸缺陷部分其灰阶值积分与实质高度值的关系。图7为一实施例中凹凸缺陷部分的图像。图8为一实施例中凹凸缺陷部分的剖面位置对应高度值的曲线。其中，附图标记：10：光学薄膜11：辊轮12：图像处理单元13：控制单元14：周期信号产生单元17：显示单元100：缺陷检测系统110：光源110a：发光面120：影像捕获设备130：狭缝板130s：狭缝250：二维影像252：缺陷影像254：平面影像256：第一像素部分258：第二像素部分350：加强二维影像471、473：图像D1：移动方向LA：光轴Li：入射光线Ls：散射光线P：区域S901：影像撷取步骤S902：转换步骤S903：显示步骤S904：判断步骤S9021：信号加强步骤S9022：第一转换步骤S9023：第二转换步骤具体实施方式请参照图1，其绘示根据本专利技术一实施例概念的光学薄膜的缺陷检查方法，方法可包括影像撷取步骤S901、转换步骤S902、显示步骤S903与判断步骤S904。一实施例中，缺陷检查方法可利用图2绘示缺陷检测系统100执行。请参照图2，缺陷检测系统100可用于检测被移送的光学薄膜10，光学薄膜10在生产在线经由辊轮11沿着一移动方向D1而被搬运，借由缺陷检测系统100可实时辨别缺陷，以及早排除具有缺陷的部分。在一实施例中，本专利技术可用于检测光学薄膜卷材或片状光学薄膜。缺陷检测系统100可适用于各种光学薄膜10。举例来说，光学薄膜10可为一单层或多层膜片，例如可为一偏光片、相位差膜、增亮膜或其他对光学的增益、配向、补偿、转向、直交、扩散、保护、防黏、耐刮、抗眩、反射抑制、高折射率等有所帮助的膜片；于前述偏光片的至少一面附着有保护薄膜的偏光板、相位差薄膜等；保护薄膜，材料例如可选自：纤维素系树脂、丙烯酸系树脂、非结晶性聚烯烃系树脂、聚酯系树脂、聚碳酸酯系树脂及其组合，但本揭露不限于这些薄膜。缺陷检测系统100包括一光源110以及一影像捕获设备120。可例如是荧光灯、金属卤素灯或LED灯，光源110具有一发光面110a。在一较佳的实施例中，光源110为LED灯。影像捕获设备120可为线扫描相机，其具有影像传感器，影像传感器例如是感光耦合组件(ChargeCoupledDevice,CCD)或是任何具有光电转换能力的元件。如图2所示，光源110和影像捕获设备120配置于被移送的光学薄膜10的相对二侧。具体而言，光源110是从光学薄膜10的一侧照射光，而影像捕获设备120于光学薄膜10的另一侧接收穿透光学薄膜10的光线的透射光图像。本揭露中，光的照射角度并未特别限定。在一实施例中，光源110是于光学薄膜10的一侧垂直地照射光，亦即，沿着光源110的发光面110a的光轴LA的入射光线Li垂直于光学薄膜10的表面照射。于此，所述的光轴LA为一条假想线，其为发光面110a的法线。在一实施例中，影像捕获设备120是正对着光学薄膜10的表面拍摄影像，也就是说，影像捕获设备120系朝着平行于光源110的发光面110a的光轴LA的方向拍摄光学薄膜10，亦即影像捕获设备120并未呈倾斜的角度拍摄光学薄膜10。在一实施例中，缺陷检测系统100更具有一狭缝板130，狭缝板130可由金属、陶瓷或高分子材料所制成。狭缝板130配置于光源110与光学薄膜10之间，用以局限光线行进的角度。在一实施例中，光源110的发光面110a的光轴LA与狭缝130s的中轴线(未标示)的延伸联机系垂直于光学薄膜10的表面，以限制穿过狭缝130s的入射光线Li垂直于光学薄膜10的表面照射。影像捕获设备120可在平行于光学薄膜10的移动方向D1上移动，例如可由一移动单元来控制影像捕获设备120的移动，以使影像捕获设备120偏移光源110与狭缝130s的延伸联机配置。另一实施例中，亦可使影像捕获设备120固定不动，而光源110与狭缝板130同时一体地于平行光学薄膜10的移动方向D1上移动(或相反方向)，以使影像捕获设备120偏移自光源110与狭缝130s的延伸联机。由于入射光线Li穿过狭缝130s时会产生绕射效应，因此在光学薄膜10上会产生亮暗交错的干涉条纹，以更便于检测出光学薄膜10上的凹凸缺陷所造成的亮度变化。此外，当穿过狭缝130s的入射光线Li穿过光学薄膜10上厚度局部变化的区域P，即凹凸缺陷时，光线会产生散射。由于影像捕获设备120系偏移自光源110与狭缝130s的延伸联机，故影像捕获设备120可接收一部分的散射光线Ls，而影响影像捕获设备120所接收的光量。另一方面，当不具有凹凸缺陷的情况中，由于不会产生散射光线，故影像捕获设备120所接收的光量不会变化。借此，只要入射光线Li穿过光学薄膜10上的凹凸缺陷，光线即会产生散射而影响影像捕获设备120所接收的光量，与未具有凹凸缺陷的区域相比之下，影像捕获设备120所接收的影像亮度会有变化，故可提升凹凸缺陷区域的影像对比，而能更容易地检测出是否有缺陷存在。其中，当影像捕获设备120的影像传感器对准于光源110与狭缝130s的延伸联本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检查方法，其特征在于，包括：一影像撷取步骤，包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像；及一转换步骤，包括将该二维影像转换成一灰阶值曲线，该灰阶值曲线包括对应该光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。

【技术特征摘要】
2017.11.24 TW 1061410651.一种缺陷检查方法，其特征在于，包括：一影像撷取步骤，包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像；及一转换步骤，包括将该二维影像转换成一灰阶值曲线，该灰阶值曲线包括对应该光学薄膜的一凹凸缺陷部分的缺陷灰阶值曲线。2.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其特征在于，该转换步骤包括将该影像撷取步骤所得该二维影像根据像素灰阶转换成该灰阶值曲线。3.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其特征在于，该二维影像包括分别对应该光学薄膜的该凹凸缺陷部分与一平坦部分的缺陷影像与平面影像，该缺陷影像的像素灰阶系异于该平面影像的像素灰阶。4.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其特征在于，更包括一数据显示步骤，包括将该灰阶值曲线显示在一显示单元中，其中显示的数据报括该二维影像的缺陷影像的剖面位置与对应灰阶值的关系曲线。5.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其特征在于，更包括一判断步骤，包括根据该缺陷灰阶值曲线判断该光学薄膜的该凹凸缺陷部分的形变情况。6.一种缺陷检查方法，其特征在于，包括：一影像撷取步骤，包括对一光学薄膜的一表面进行拍摄动作以产生一二维影像；一转换步骤，包括将根据该二维影像的数据转换成一三维数据，该三维数据报括该光学薄膜的一凹凸缺陷部...

【专利技术属性】
技术研发人员：林宽宏，吴柏徵，洪嘉嬬，
申请(专利权)人：住华科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71