用于电子元件平整度的检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电子检测领域，尤其涉及一种用于电子元件平整度的检测装置，包括行走单元和检测单元：行走单元包括第一行走架和第二行走架；检测单元设在第一行走架上，检测单元包括固定在第一行走架上的固定板，固定板上铰接有检测杆，检测杆的下端设有检测机构，检测杆的上端连接有注标机构，检测杆与固定板之间连接有复位元件；检测机构包括检测筒，检测筒内滑动连接有检测笔和标记笔，检测笔的端部连接在检测杆上，标记笔的一端与检测杆相对；注标机构包括注标筒，注标筒固定在固定板上，且注标筒上端密封连接有活塞板，活塞板与检测杆之间连接有活塞杆，注标筒底部设有注标孔。通过实施本方案以达到对电子元件边角的平整度进行检查的目的。

A testing device for the evenness of electronic components

The invention relates to the field of electronic detection, in particular to a detection device for the evenness of an electronic component, including a walking unit and a detection unit. The walking unit includes the first walking frame and second walking frames, and the detection unit is located on the first walking frame, and the detection unit includes a fixed plate fixed on the first walking frame and a fixed plate. The detection lever is connected with a detection lever on the lower end of the test bar. The upper end of the detection rod is connected with a marking mechanism. The detection lever is connected with the fixed plate with a reset element. The detection mechanism includes a detection cylinder, a detection pen and a marker pen are connected in the detection cylinder, and the end of the detection pen is connected to the detection bar and one end of the marker pen. Relative to the test rod; the marking mechanism includes the marking barrel, the marking barrel is fixed on the fixed plate, and the upper end of the injection cylinder is sealed with the piston plate. The piston plate is connected to the testing rod with a piston rod, and the bottom of the injection barrel is provided with a mark hole. The aim of checking the smoothness of the edges of electronic components is achieved through the implementation of this scheme.

【技术实现步骤摘要】
用于电子元件平整度的检测装置
本专利技术涉及电子检测领域，尤其涉及一种用于电子元件平整度的检测装置。
技术介绍
在一些精密电子设备中，不仅对电子元件内部性能的参数要求较高，同时对电子元件的物理参数也有很高要求，如电子元件的平整度，目前对于电子元件平面上的平整度检测方式较多，但现有技术中对于电子元件侧边检测平整度检测方式则很少，尤其是其厚度较薄，定位较困难因此不易检测。
技术实现思路
本专利技术意在提供一种用于电子元件平整度的检测装置，以达到对电子元件边角的平整度进行检查的目的。为达到上述目的，本专利技术的基础方案如下：用于电子元件平整度的检测装置，包括行走单元和检测单元：所述行走单元包括第一行走架和第二行走架，所述第二行走架滑动连接在第一行走架内；所述检测单元设在第一行走架上，所述检测单元包括固定在第一行走架上的固定板，固定板上铰接有检测杆，所述检测杆的下端设有用于检测电子元件侧边的检测机构，所述检测杆的上端连接有对电子元件注标的注标机构，所述检测杆与固定板之间连接有复位元件；所述检测机构包括水平连接在检测杆下端的检测筒，所述检测筒的内壁上开设有行程孔，所述行程孔内滑动连接有滑块，所述检测杆贯穿滑块并伸入到检测筒内，所述检测筒内滑动连接有检测笔和用于对电子元件进行涂标的标记笔，所述检测笔的一端连接在检测杆上，检测笔的另一端在复位元件的作用下与电子元件的侧面相抵，所述标记笔的一端连接在检测杆上；所述注标机构包括装有注标溶液的注标筒，所述注标筒固定在固定板上，且注标筒上端密封连接有活塞板，所述活塞板与检测杆之间连接有活塞杆，所述注标筒底部设有注标孔。本方案的原理及优点在于：1、本方案中的行走架通过第一行走架和滑动连接在第一行走架中的第二行走架，当第一行走架带动检测单元运动时，第二行走单元固定在电子元件上，以达到对本装置起到定位的作用；当第一行走架的行程不足时(即第一行走架的行程小于待检测的路线)；固定第一行走架，推动第二行走架，如此反复可保证检测机构的检测路径不会偏移并始终保持在一条直线上。2、本方案通过检测杆、检测笔、标记笔以及注标表和活塞板的配合运动，检测过程中通过检测杆的不同摆动方向便可检测出电子元件的凹凸点，并且还可在凸起和凹陷的地方分别进行标记，便于人工查看。3、通过实施本方案，不合格的地方可视性很强，电子元件端面上有标注的即为该处的侧边有凸起现象，若电子元件侧边上有标注的即为该处有凹陷问题。优选方案1：作为基础方案的改进，所述第一行走架和第二行走架上均设有滚轮和用于吸附电子元件的吸附盘，通过上述设置，当两个行走架交替运动时，可通过其中一行走架的吸附盘固定在电子元件上，另一行走架通过滚轮移动，如此可保证行走单元在向前运动过程中不会偏离路线。优选方案2：作为优选方案1的改进，所述注标筒下端呈锥形结构，通过减小注标筒下端的截面积，从而增大注标溶液喷出的压力。优选方案3：作为优选方案2的改进，所述注标筒下端为弹性材料，且注标孔为针孔，在无外力作用下该针孔处于封闭状态，通过上述设置，便可通过注标筒内部压力状态实现针孔的自动打开和关闭的效果。优选方案4：作为优选方案3的改进，所述检测筒底部设有滚动体，以减轻检测筒在工作过程中的磨损。附图说明图1为本专利技术实施例的结构示意图。图2为图1中A的放大示意图。图3为行走单元的俯视图。具体实施方式下面通过具体实施方式进一步详细的说明：说明书附图中的附图标记包括：第一行走架1、第二行走架2、连接杆3、滚轮4、吸附盘5、固定板6、检测杆7、检测筒8、行程孔9、滑块10、检测笔11、标记笔12、注标筒13、活塞板14、电子元件15。实施例基本如附图1所示：用于电子元件平整度的检测装置，包括行走单元和检测单元：如图3所示，行走单元包括第一行走架1和第二行走架2，第一行走架1和第二行走架2均包括连接杆3和两根支杆，连接杆3连接在两根支杆之间，第二行走架2的两根支杆分别沿第一行走架1的两根支杆的长度方向滑动连接，且第二行走架2位于第一行走架1内侧，第一行走架1和第二行走架2上均设有滚轮4和用于吸附电子元件15的吸附盘5。如图1、图2所示，检测单元固定安装在第一行走架1的支杆的右侧上，检测单元包括固定在第一行走架1上的固定板6，固定板6上竖直铰接有检测杆7，检测杆7与固定板6之间连接有拉簧。检测杆7的下端设有用于检测电子元件15侧边的检测机构，检测机构包括水平连接在检测杆7下端的检测筒8，检测筒8的上壁开设有行程孔9，行程孔9内滑动连接有滑块10，检测杆7贯穿滑块10并伸入到检测筒8内，检测筒8内滑动连接有用于对电子元件15注标的检测笔11，且检测笔11的右端固定连接在检测杆7上，使检测笔11沿检测筒8轴向方向水平滑动，检测过程中检测笔11在拉簧的作用下其左端始终与电子元件15右侧边相抵。检测筒8内还水平滑动连接有标记笔12，该标记笔12位于检测笔11的下方，且标记笔12的右端与检测杆7铰接。检测杆7的上端连接有对电子元件15注标的注标机构，注标机构包括装有注标溶液的注标筒13，注标筒13上连通有为注标筒13补充注标溶液的储液箱，使注标溶液一直充满注标筒13。注标筒13竖直固定在固定板6上，注标筒13的开口朝右，且注标筒13的开口处密封连接有活塞板14，活塞板14与检测杆7之间连接有活塞杆，注标筒13下端呈锥形结构，通过减小注标筒13下端的截面积，从而增大注标溶液喷出的压力。注标筒13下端为橡胶材料，并在该注标筒13的底部开设一注标孔，该注标孔在无外力时，通过橡胶的收缩性将该注标孔封闭。在实际检测过程中，行走单元放置在待检测的电子元件15上表面，使行走单元的行走路线与电子元件15待检测的侧边(以下简称待检侧边)保持平行，将检测筒8左端与待检侧边相抵，将第二行走架2上的吸附盘5固定在电子元件15上，推动第一行走架1带动检测单元沿待检侧边向前移动，当待检侧边有凸起时，检测筒8便在凸起的作用下向右推动检测杆7逆时针转动，检测杆7上端便推动活塞板14向检测筒8内部推动，此时注标筒13内部压力增大，从而使橡胶材料的注标孔打开，注标溶液便被挤到有凸起的相应位置上，以此作为标记。当待检侧边有凹陷时，检测笔11在拉簧的作用下向左往凹陷处移动，从而拉动检测杆7顺时针偏转，此时检测杆7下端便驱动标记笔12向左移动并在凹陷处做下标记。以上所述的仅是本专利技术的实施例，方案中公知的具体结构和/或特性等常识在此未作过多描述。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本专利技术的保护范围，这些都不会影响本专利技术实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准，说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于电子元件平整度的检测装置，其特征在于：包括行走单元和检测单元：所述行走单元包括第一行走架和第二行走架，所述第二行走架滑动连接在第一行走架内；所述检测单元设在第一行走架上，所述检测单元包括固定在第一行走架上的固定板，固定板上铰接有检测杆，所述检测杆的下端设有用于检测电子元件侧边的检测机构，所述检测杆的上端连接有对电子元件注标的注标机构，所述检测杆与固定板之间连接有复位元件；所述检测机构包括水平连接在检测杆下端的检测筒，所述检测筒的内壁上开设有行程孔，所述行程孔内滑动连接有滑块，所述检测杆贯穿滑块并伸入到检测筒内，所述检测筒内滑动连接有检测笔和用于对电子元件进行涂标的标记笔，所述检测笔的一端连接在检测杆上，检测笔的另一端在复位元件的作用下与电子元件的侧面相抵，所述标记笔的一端连接在检测杆上；所述注标机构包括装有注标溶液的注标筒，所述注标筒固定在固定板上，且注标筒上端密封连接有活塞板，所述活塞板与检测杆之间连接有活塞杆，所述注标筒底部设有注标孔。

【技术特征摘要】
1.用于电子元件平整度的检测装置，其特征在于：包括行走单元和检测单元：所述行走单元包括第一行走架和第二行走架，所述第二行走架滑动连接在第一行走架内；所述检测单元设在第一行走架上，所述检测单元包括固定在第一行走架上的固定板，固定板上铰接有检测杆，所述检测杆的下端设有用于检测电子元件侧边的检测机构，所述检测杆的上端连接有对电子元件注标的注标机构，所述检测杆与固定板之间连接有复位元件；所述检测机构包括水平连接在检测杆下端的检测筒，所述检测筒的内壁上开设有行程孔，所述行程孔内滑动连接有滑块，所述检测杆贯穿滑块并伸入到检测筒内，所述检测筒内滑动连接有检测笔和用于对电子元件进行涂标的标记笔，所述检测笔的一端连接在检测杆上，检测笔的另一端在复位元件的作用下与电子元...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈洁，
申请(专利权)人：重庆市长寿区声赫电子商务有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50