载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间；一搬送步骤，载盘以间歇性旋转流路搬送载槽内的待测组件至一量测区域；一量测步骤，待测组件停留在量测区域时，探针组件向上碰触待测组件，并顶升待测组件，使待测组件受遮盖部挡抵。

Carrier plate and measuring method and device for electronic component using the carrier disk

The present invention provides an electronic component measuring method and a device for the use of the plate, including a number of carrying grooves which are arranged around the rim of the carrying plate. The upper part of the carrier groove is provided with an extension of the inner circumferential side of the carrying groove, and covers the cover section of the top part of the module to be measured, and the bottom of the carrying tank is set below. There is a setting space for the loading of the components to be measured; a transfer step is carried out by an intermittently rotating flow route to a measuring area. A measurement step, when the component stays in the measuring area, the probe assembly touches the module up and up, so that the test component is blocked by the cover part. It's worth it.

【技术实现步骤摘要】
载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置
本专利技术有关于一种载盘及使用该载盘的量测方法及装置，尤指一种用以搬送电子组件进行物理特性量测、分类或包装的载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置。
技术介绍
习知电子组件如发光二极管(LED)或被动组件等，在产出后通常会进行物理特性的量测，以进行分类与包装；专利号第I447060号「工件搬运装置」已揭露一种工件搬运装置，具备有平台底座，和旋转自如配置在平台底座上且于外围部设有数个的工件收纳孔的搬运平台，及经由分离供应部连结于搬运平台，可将工件供应至搬运平台的工件收纳孔内的线性进料器；其中，线性进料器、分离供应部、工件收纳孔的上面由平台罩盖覆盖着；此外，于搬运平台的外围部，沿着间歇旋转方向依下述顺序设有第1检查部、第2检查部、排出部；工件具有长方体形状于上面具有发光面的本体以及从本体朝长度方向的前方及后方突出作为电极的引线端子；搬运平台旋转搬运工件到达第1检查部，搬运平台就会停止，此时，于引线端子的正下方位置的平台底座内，设有垂直方向进退自如的探针，利用控制部的作用使探针朝引线端子前进，以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵接在第1检查部罩盖的下面的状态后就停止往上推，对工件的电性特性进行测定之后，探针就向下退出，并再继续使搬运平台间歇旋转搬运工件，当工件到达第2检查部时，对工件实施与第1检查部不同检查项目的检查，经第2检查部检查结束后的工件会到达排出部从工件收纳孔排出。
技术实现思路
现有技术在搬运平台间歇旋转搬运工件时，工件可能会在工件收纳孔内跳动而非平整贴附于平台底座的上面，又因工件收纳孔的上面被平台罩盖覆盖着，故工件的上面可能会碰触到平台罩盖的下面，在平台罩盖不动而搬运平台相对平台罩盖间歇旋转搬运工件的情形下，工件的上面可能会因相对位移的摩擦到平台罩盖造成损伤，以发光二极管(LED)工件为例，其上面的发光面为透明胶填充，在无外壳的保护下又更有损伤的疑虑；且工件到达检查部时，平台底座内的探针会以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵触在检查部平台罩盖的下面的状态，该抵触的摩擦亦会使工件的上面发生损伤的情形。因此，本专利技术的目的在于提供一种可减少电子组件在搬送过程中发生损伤的载盘。本专利技术的另一目的在于提供一种使用如所述载盘的电子组件量测方法。本专利技术的又一目的在于提供一种使用如所述电子组件量测方法的装置。依据本专利技术目的的载盘，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间。依据本专利技术另一目的的电子组件量测方法，使用如权利要求1至8中任一权利要求所述的载盘，包括：一搬送步骤，载盘以间歇性旋转流路搬送载槽内的待测组件至一量测区域；一量测步骤，待测组件停留在量测区域时，探针组件向上碰触待测组件，并顶升待测组件，使待测组件受遮盖部挡抵。依据本专利技术又一目的的电子组件量测装置，包括：使用如权利要求9至10中任一权利要求所述的电子组件量测方法的装置。本专利技术实施例的载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置，在载盘相对盖板进行旋转搬运待测组件时，位于载槽上方的遮盖部可保护待测组件的顶部，使待测组件不会在搬运过程中因跳动而导致其顶部直接与盖板产生摩擦而受损；而在载盘停止转动、探针顶升待测组件时，遮盖部会挡抵在待测组件顶部周边，使待测组件顶部不会整面直接碰触到透光片，可降低待测组件顶部的发光面因碰触而产生的受损，亦可防止待测组件顶部碰触到透光片，避免待测组件上的粉尘沾附到透光片而影响日后量测精度的问题。附图说明图1是本专利技术第一实施例中载盘位于量测装置中的配置立体示意图。图2是本专利技术第一实施例中载盘构造的立体示意图。图3是本专利技术第一实施例中载盘部分构造与电子组件的立体示意图。图4是本专利技术第一实施例中载盘的载槽构造的剖面示意图。图5是本专利技术第一实施例中遮盖部分布在载槽周缘的立体示意图。图6是本专利技术第一实施例中电子组件位于载槽置纳空间的示意图。图7是本专利技术第一实施例中电子组件受探针顶升碰触遮盖部的示意图。图8是本专利技术第二实施例中载盘位于量测装置中的配置立体示意图。图9是本专利技术第三实施例中载盘构造的部分立体示意图。图10是本专利技术第三实施例中遮盖构件与置纳构件的配置示意图。【符号说明】1载盘11载槽12置入口13遮盖部14镂空部15置纳空间151闪避区间152负压吸孔2限制片21区段2’限制片3盖板31环形内缘32区段4量测区域4’量测区域41透光片42光学量测组件5分选区域5’分选区域A工作台A’工作台A1探针B载盘B1遮盖构件B11镂槽B12遮盖部B13镂空部B2置纳构件B21置纳槽B211闪避区间B212负压吸孔B3载槽W电子组件W1电极片W2发光面具体实施方式请参阅图1，本专利技术第一实施例的载盘及使用该载盘的电子组件量测方法及装置可以图中所示的装置来说明，包括：一载盘1，为一圆形盘体，其可为陶瓷、金属、玻璃纤维…等材料所制成，载盘1设于一工作台A上，载盘1周缘环列布设等间距凹设的载槽11，可承接自震动送料机(图未示)的输送槽道输入的待测组件W，并以间歇性旋转流路搬送待测组件W；一限制片2，设于载盘1周缘并围挡于载槽11外，以防止待测组件W在搬送过程中被离心力抛甩出载槽11外，限制片2设有一缺空无围挡的区段21，该区段21用以接设震动送料机的输送槽道；一盖板3，呈一环形片状，其设于限制片2上方，其环形内缘31的内径小于载盘1外径，而使其环形内缘31部位有一部分盖覆于载盘1的各载槽11上方，该盖板3设有一段缺空的区段32，该区段32处与限制片2的区段21对应，以共同形成用以在该处接设震动送料机的输送槽道的部位，盖板3上设有可供设置量测工作站的量测区域4及供设置分选工作站的分选区域5，量测区域4设有一透光片41与一光学量测组件42，其中透光片41为蓝宝石玻璃片，光学量测组件42为积分球。请参阅图2、3、4，本专利技术第一实施例的载盘1的载槽11呈辐射状地以全圆周布设于载盘1周缘，每一载槽11自圆周外径的置入口12朝载盘1中心方向凹设，所述载槽11的上方设有一遮盖部13与一镂空部14，遮盖部13由载槽11的内周侧朝载槽11中央处延伸凸出，遮盖部13可遮盖待测组件W顶部周缘部分面积，镂空部14可显露未被遮盖部13遮盖的待测组件W顶部，载槽11的遮盖部13下方设有一可供电子组件W加载的置纳空间15；在本实施例中，遮盖部13是分别设于载槽11的左、右两侧，但亦可设于载槽11的内、外两侧或是分布在载槽11的周缘(如图5)，镂空部14位于两相对方向的遮盖部13之间；置纳空间15的左、右两侧底部各设有一由内向外凹设的闪避区间151，置纳空间15的内侧面底部设有一负压吸孔152。请参阅图1、3、6，所述待测组件W以发光二极管为例，其具有长方体形状，待测组件W底部设有两个电极片W1，该电极片W1可延伸至待测组件W侧边(图3)，待测组件W顶部设有一发光面W2，在进行检测时，电极片W1可受位于工作台A内的探针A1碰触而使发光面W2发光，使光线可经由镂空部14与透光片41透出，并利用位于遮盖部13与透光片41上方的光学量测组件42来量测光学特性，或是单纯使用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种载盘，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间。

【技术特征摘要】
2017.01.05 TW 1061003211.一种载盘，包括：数个载槽，环列布设于载盘的周缘，所述载槽的上方设有一由载槽的内周侧朝载槽中央处延伸凸出，并遮盖待测组件顶部部分面积的遮盖部，载槽的下方设有一可供待测组件加载的置纳空间。2.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该置纳空间左、右两侧的底部各设有一闪避区间。3.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该载槽的上方设有一镂空部，可显露未被遮盖部遮盖的电子组件顶部。4.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该遮盖部设于载槽的内、外两侧。5.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该遮盖部设于载槽的左、右两侧。6.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该遮盖部设于载槽的周缘。7.如权利要求1所述的载盘，其特征在于，该载槽由一遮盖构件的一镂槽与一置纳构件的一置纳槽所形成。8.如权利要求7所述的载盘，其特征在于，该...

【专利技术属性】
技术研发人员：林芳旭，陈荣宗，侯元薰，黄清泰，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71