定位指纹识别测试卡的标尺及指纹采集设备的测试系统技术方案

本实用新型专利技术实施例提供了一种定位指纹识别测试卡的标尺及指纹采集设备的测试系统，该定位指纹识别测试卡的标尺包括：面板，面板上设置有两条互相垂直的刻度尺，以两条刻度尺的交叉点为中心点在面板上设置有窗口，窗口的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，两条互相垂直的刻度尺用于测量指纹传感器的采集窗的几何中心，测量的指纹传感器的采集窗的几何中心与窗口的几何中心重合，窗口用于放置指纹识别测试卡，使得指纹识别测试卡的外边界卡接于窗口内，指纹识别测试卡的几何中心与窗口的几何中心和指纹传感器的采集窗的几何中心重合。该方案有利于降低制作成本、降低偏差、提高效率。

Positioning fingerprint identification test card scale and fingerprint acquisition device testing system

The utility model provides a ruler and a test system for a fingerprint identification test card. The ruler of the fingerprint identification test card comprises a panel, a panel is provided with two vertical scale scales on the panel, and a window is set on the panel at the center of the cross point of the two scale scale. The geometric shape of the mouth is combined with the geometric shape of the fingerprint identification test card. Two vertical scale scales are used to measure the geometric center of the acquisition window of the fingerprint sensor. The geometric center of the acquisition window of the measured fingerprint sensor coincides with the geometric center of the window. The window is used to place the fingerprint identification test card to make the fingerprint. The outer boundary card of the identification test card is connected to the window, and the geometric center of the fingerprint identification test card coincides with the geometric center of the window and the geometric center of the fingerprint sensor's acquisition window. The scheme is helpful to reduce production cost, reduce deviation and increase efficiency.

【技术实现步骤摘要】
定位指纹识别测试卡的标尺及指纹采集设备的测试系统
本技术涉及生物特征图像识别
，特别涉及一种定位指纹识别测试卡的标尺及指纹采集设备的测试系统。
技术介绍
指纹采集设备的图像中心偏差是指：成像的采集窗的几何中心相对于采集窗的成像中心偏离的水平和垂直像素数，在测试指纹采集设备的图像中心偏差的过程中，将标准测试卡放在指纹传感器的采集窗上，使得标准测试卡的几何中心与指纹传感器的采集窗的几何中心重合，采集一幅采集窗的背景图像，该背景图像的中心就是采集窗的成像中心，该背景图像中标准测试卡的中心位置就是指纹传感器的采集窗的几何中心位置，进而根据背景图像计算指纹采集设备的图像中心偏差。在现有技术中，为了使得标准测试卡的几何中心与指纹传感器的采集窗的几何中心重合，一般有两种方案。第一是针对指纹传感器的采集窗的大小，定制同样尺寸的指纹识别标准测试卡，测试卡的几何中心相当于指纹传感器的采集窗的几何中心。但是，这样需要针对每种指纹传感器都要制作相应的标准测试卡，由于成像原理不同，导致测试卡的选材不同，制作工艺也不同，且需要制作成本。第二就是利用普通直尺测量指纹传感器的采集窗几何中心，再将标准测试卡中心放置的与采集窗几何中心尽可能重合。但是，采用普通直尺测量采集窗的几何中心或进行中心之间的对齐，存在偏差，效率较低，需要反复操作。
技术实现思路
本技术实施例提供了一种定位指纹识别测试卡的标尺，以解决现有技术中由于需要针对每种指纹传感器制作相应的标准测试卡导致的制作成本高、由于利用普通直尺测量指纹传感器的采集窗几何中心导致的存在偏差且效率较低的技术问题。该定位指纹识别测试卡的标尺包括：面板，所述面板上设置有两条互相垂直的刻度尺，以两条所述刻度尺的交叉点为中心点在所述面板上设置有窗口，所述窗口的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，其中，两条互相垂直的刻度尺用于测量指纹传感器的采集窗的几何中心，测量的指纹传感器的采集窗的几何中心与所述窗口的几何中心重合，所述窗口用于放置所述指纹识别测试卡，使得所述指纹识别测试卡的外边界卡接于所述窗口内，所述指纹识别测试卡的几何中心与所述窗口的几何中心和指纹传感器的采集窗的几何中心重合。在一个实施例中，所述面板的尺寸大于所述指纹传感器的采集窗的尺寸。在一个实施例中，所述面板的形状为正方形或矩形。在一个实施例中，所述面板是边长范围为50毫米至80毫米的正方形。在一个实施例中，所述面板是短边边长范围为50毫米至80毫米的矩形。在一个实施例中，所述窗口的几何形状为正方形或圆形。在一个实施例中，所述窗口是边长范围为10毫米至20毫米的正方形。在一个实施例中，所述刻度的最小单位是0.1毫米。在一个实施例中，所述面板的材质为塑料、玻璃或亚克力。本技术实施例还提供了一种指纹采集设备的测试系统，以解决现有技术中由于需要针对每种指纹传感器制作相应的标准测试卡导致的制作成本高、由于利用普通直尺测量指纹传感器的采集窗几何中心导致的存在偏差且效率较低的技术问题。该指纹采集设备的测试系统包括：待测试的指纹采集设备、指纹识别测试卡以及上述任意的定位指纹识别测试卡的标尺，其中，所述定位指纹识别测试卡的标尺放置在待测试的指纹采集设备中指纹传感器的采集窗上，待测试的指纹采集设备采集获取采集窗图像和指纹识别测试卡的图像，所述采集窗图像和所述指纹识别测试卡的图像用于计算所述待测试的指纹采集设备的图像中心偏差。在本技术实施例中，通过在面板上设置两条互相垂直的刻度尺，并设置窗口，使得通过两条互相垂直的刻度尺测量出指纹传感器的采集窗的几何中心后，定位指纹识别测试卡的标尺放置在采集窗上时，采集窗的几何中心与窗口的几何中心重合，将指纹识别测试卡放入窗口后，实现指纹识别测试卡的几何中心与指纹传感器的采集窗的几何中心重合，即通过使用上述定位指纹识别测试卡的标尺，可以迅速、便捷地找到采集窗的几何中心位置，进而将标准测试卡放入采集窗的中心区域，使测试卡的几何中心与采集窗的几何中心重合，有利于提高工作效率和准确度；同时，该定位指纹识别测试卡的标尺避免了针对每种指纹传感器都要制作标准测试卡，有利于降低制作成本；该定位指纹识别测试卡的标尺还避免了使用普通直尺测量采集窗的几何中心，有利于降低偏差、提高效率。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本技术的限定。在附图中：图1是本技术实施例提供的一种定位指纹识别测试卡的标尺的结构示意图；图2是本技术实施例提供的一种圆形窗口的定位指纹识别测试卡的标尺的结构示意图；图3是本技术实施例提供的一种标尺窗口为正方形的测试示意图；图4是本技术实施例提供的一种标尺窗口为圆形的测试示意图；图5是本技术实施例提供的一种定位指纹识别测试卡的标尺的尺寸示意图；图6是本技术实施例提供的一种指纹识别测试卡的示意图；图7是本技术实施例提供的一种指纹采集设备的结构示意图；图8是本技术实施例提供的一种图像中心偏差成像画面的示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本技术做进一步详细说明。在此，本技术的示意性实施方式及其说明用于解释本技术，但并不作为对本技术的限定。在本技术实施例中，提供了一种定位指纹识别测试卡的标尺，如图1所示，该定位指纹识别测试卡的标尺包括：面板101，所述面板101上设置有两条互相垂直的刻度尺102，以两条所述刻度尺102的交叉点为中心点在所述面板101上设置有窗口103，所述窗口103的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，其中，两条互相垂直的刻度尺用于测量指纹传感器的采集窗的几何中心，测量的指纹传感器的采集窗的几何中心与所述窗口的几何中心重合，所述窗口用于放置所述指纹识别测试卡，使得所述指纹识别测试卡的外边界卡接于所述窗口内，所述指纹识别测试卡的几何中心与所述窗口的几何中心和指纹传感器的采集窗的几何中心重合。由图1所示可知，在本技术实施例中，通过在面板上设置两条互相垂直的刻度尺，并设置窗口，使得通过两条互相垂直的刻度测量出指纹传感器的采集窗的几何中心后，定位指纹识别测试卡的标尺放置在采集窗上时，采集窗的几何中心与窗口的几何中心重合，由于窗口的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，将指纹识别测试卡放入窗口后，实现指纹识别测试卡的几何中心与指纹传感器的采集窗的几何中心重合，即通过使用上述定位指纹识别测试卡的标尺，可以迅速、便捷地找到采集窗的几何中心位置，进而将标准测试卡放入采集窗的中心区域，使测试卡的几何中心与采集窗的几何中心重合，有利于提高工作效率和准确度；同时，该定位指纹识别测试卡的标尺避免了针对每种指纹传感器都要制作标准测试卡，有利于降低制作成本；该定位指纹识别测试卡的标尺还避免了使用普通直尺测量采集窗的几何中心，有利于降低偏差、提高效率。具体实施时，上述两条刻度尺102的交叉点可以与上述面板101的几何中心重合。具体实施时，在本实施例中，如图1、2所示，所述窗口103的几何形状可以为正方形或圆形。具体的，所述窗口103为镂空的，即窗口103是面板上空出来的区域。具体的，在使用上述定位指纹识别测试卡的标尺的场景本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位指纹识别测试卡的标尺，其特征在于，包括：面板，所述面板上设置有两条互相垂直的刻度尺，以两条所述刻度尺的交叉点为中心点在所述面板上设置有窗口，所述窗口的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，其中，两条互相垂直的刻度尺用于测量指纹传感器的采集窗的几何中心，测量的指纹传感器的采集窗的几何中心与所述窗口的几何中心重合，所述窗口用于放置所述指纹识别测试卡，使得所述指纹识别测试卡的外边界卡接于所述窗口内，所述指纹识别测试卡的几何中心与所述窗口的几何中心和指纹传感器的采集窗的几何中心重合。

【技术特征摘要】
1.一种定位指纹识别测试卡的标尺，其特征在于，包括：面板，所述面板上设置有两条互相垂直的刻度尺，以两条所述刻度尺的交叉点为中心点在所述面板上设置有窗口，所述窗口的几何形状与指纹识别测试卡的几何形状互相卡合，其中，两条互相垂直的刻度尺用于测量指纹传感器的采集窗的几何中心，测量的指纹传感器的采集窗的几何中心与所述窗口的几何中心重合，所述窗口用于放置所述指纹识别测试卡，使得所述指纹识别测试卡的外边界卡接于所述窗口内，所述指纹识别测试卡的几何中心与所述窗口的几何中心和指纹传感器的采集窗的几何中心重合。2.如权利要求1所述的定位指纹识别测试卡的标尺，其特征在于，所述面板的尺寸大于所述指纹传感器的采集窗的尺寸。3.如权利要求1所述的定位指纹识别测试卡的标尺，其特征在于，所述面板的形状为正方形或矩形。4.如权利要求3所述的定位指纹识别测试卡的标尺，其特征在于，所述面板是边长范围为50毫米至80毫米的正方形。5.如权利要求3所述的定位指纹识别测试卡的标尺，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹国顺，杨春林，胡静宜，宋继伟，霍红文，高健，王文峰，夏娣娜，秦日臻，
申请(专利权)人：中国电子技术标准化研究院，北京天诚盛业科技有限公司，北京赛西科技发展有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京,11