屏幕划痕的检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:18446331 阅读:48 留言:0更新日期:2018-07-14 10:57
本发明专利技术公开了一种屏幕划痕的检测方法及装置,该方法包括:对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。根据本发明专利技术的一个实施例,实现了屏幕划痕的自动化检测。

Detection method and device for screen scratch

The present invention discloses a method and device for detecting screen scratches. The method includes: processing the screen image and obtaining a defect point of the screen, in which the screen image is captured using a grayscale camera for a glowing screen; the first slope of the straight line formed by the two defect points is determined, and each two is included. An image area of a straight line of a defect point; from the area of the image, the pixel points of the maximum gray value in each row or each column are obtained; the pixel points with maximum gray values in each row or each column are fitted, the fitting line is obtained, and the second slope of the fitted line is determined; if the second slope is described, the rate of the fitting line is determined. The difference between the first slope is within the preset slope difference threshold value, and a scratch defect is determined in the image area. According to one embodiment of the invention, automatic detection of screen scratches is realized.

【技术实现步骤摘要】
屏幕划痕的检测方法及装置
本专利技术涉及屏幕缺陷检测
,更具体地,涉及一种屏幕划痕的检测方法及装置。
技术介绍
显示屏作为终端设备(例如,台式电脑、平板电脑、智能手机等)的输入输出设备,可将电子文件显示到屏幕上。目前,显示屏多为LED(发光二极管,LightEmittingDiode)屏或者OLED(有机发光二极管,OrganicLight-EmittingDiode)屏。用户通过显示屏观看电子文件时,为了保证用户的体验度,显示屏必须具有较好的分辨率,且不能存在缺陷。目前,在显示屏的生产过程中,通常采用以下两种方式对屏幕的缺陷进行检测:第一种方式:人工检测,该方式具体为,将显示屏用不同颜色打亮,测试人员通过lens(透镜)观看打亮后的显示屏,确定显示屏是否有缺陷,该缺陷可表现为例如,绿屏暗点,绿屏亮点,红屏亮点,红屏暗点,黑屏亮点,白屏暗点,划痕等。但是,该种检测方式漏检率较高,使得检测结果准确度较低;第二种方式:基于halcon软件,对拍摄得到的屏幕图像进行检测。该种检测方式仅能检测出显示屏上的缺陷点,对于划痕类缺陷,目前还不能检测出来。因此,需要提供一种新的技术方法,针对上述现有技术中的至少一个技术问题进行改进。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种用于屏幕划痕的检测方法的新技术方案。根据本专利技术的第一方面,提供了一种屏幕划痕的检测方法,其特征在于,包括:对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。可选地,对屏幕图像进行处理,得到屏幕图像的缺陷点,包括:基于halcon算法,对所述屏幕图像进行傅里叶变换,得到傅里叶变换后的图像;对所述傅里叶变换后的图像进行卷积运算,得到卷积运算后的图像;对所述卷积运算后的图像进行反傅里叶变换,得到反傅里叶变换后的图像;将所述反傅里叶变换后的图像中各像素点的灰度值与预设的第一灰度阈值进行比较,确定灰度值大于所述第一灰度阈值的像素点为缺陷点。可选地,从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点,包括:在所述第一斜率的绝对值大于1的情况下,从所述图像区域中,获取每一行中灰度值最大的像素点;在所述第一斜率的绝对值不大于1的情况下,从所述图像区域中,获取每一列中灰度值最大的像素点。可选地,在对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点之前,所述方法还包括:从所述屏幕图像中提取有效图像区域,其中,所述有效图像区域为仅包含有屏幕部分对应的图像。可选地,从所述屏幕图像中提取有效图像区域,包括:从上到下依次计算所述屏幕图像中每一行像素点的第一灰度平均值,确定出第一个、大于预设的第二灰度阈值的第一灰度平均值,并将第一个第一灰度平均值对应的行像素点作为所述有效图像区域的上边界;从下到上依次计算所述屏幕图像中每一行像素点的第二灰度平均值,确定出第一个、大于所述第二灰度阈值的第二灰度平均值,并将所述第一个第二灰度平均值对应的行像素点作为所述有效图像区域的下边界;从左到右依次计算所述屏幕图像中每一列像素点的第三灰度平均值,确定出第一个、大于所述第二灰度阈值的第三灰度平均值,并将所述第一个第三灰度平均值对应的行像素点作为所述有效图像区域的左边界;从右到左依次计算所述屏幕图像中每一列像素点的第四灰度平均值,确定出第一个、大于所述第二灰度阈值的第四灰度平均值,并将所述第一个第四灰度平均值对应的行像素点作为所述有效图像区域的右边界。可选地,在确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率之前,所述方法还包括:计算任两个缺陷点之间的距离;如果所述两个缺陷点之间的距离位于预设距离阈值范围内,确定至少一对缺陷点各自所成直线的第一斜率。根据本专利技术的第二方面,提供了一种屏幕划痕的检测装置,包括:缺陷点确定模块,用于对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;第一斜率确定模块,用于确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;获取模块,用于从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;第二斜率确定模块,用于对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;划痕缺陷确定模块,用于如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。可选地,所述装置还包括:提取模块,用于从所述屏幕图像中提取有效图像区域,其中,所述有效图像区域为仅包含有屏幕部分对应的图像。可选地,所述装置还包括:距离计算模块,用于计算任两个缺陷点之间的距离;所述第一斜率确定模块还用于如果所述两个缺陷点之间的距离位于预设距离阈值范围内,确定至少一对缺陷点各自所成直线的第一斜率。根据本专利技术的第三方面,提供了一种屏幕划痕的检测装置,包括:存储器和处理器,其中,所述存储器存储可执行指令,所述可执行指令控制所述处理器进行操作以执行上述任何一项所述的屏幕划痕的检测方法。根据本公开的一个实施例,实现了屏幕划痕的自动化检测,并且,采用本专利技术一个实施例提供的屏幕划痕的检测方法及装置,提高了屏幕划痕检测结果的准确度。通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述,本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例,并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。图1示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测方法的处理流程图。图2示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测方法的另一种处理流程图。图3示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测装置的结构示意图。图4示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测装置的另一种结构示意图。图5示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测装置的硬件性结构框图。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。本专利技术的一个实施例提供了一种屏幕划痕的检测方法。图1示出了根据本专利技术一个实施例的屏幕划痕的检测方法的处理流程图。参见图1,该方法至少包括以下步骤S101至步骤S105。步骤S101,对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,屏幕图像是利本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏幕划痕的检测方法,其特征在于,包括:对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种屏幕划痕的检测方法,其特征在于,包括:对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对屏幕图像进行处理,得到屏幕图像的缺陷点,包括:基于halcon算法,对所述屏幕图像进行傅里叶变换,得到傅里叶变换后的图像;对所述傅里叶变换后的图像进行卷积运算,得到卷积运算后的图像;对所述卷积运算后的图像进行反傅里叶变换,得到反傅里叶变换后的图像;将所述反傅里叶变换后的图像中各像素点的灰度值与预设的第一灰度阈值进行比较,确定灰度值大于所述第一灰度阈值的像素点为缺陷点。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点,包括:在所述第一斜率的绝对值大于1的情况下,从所述图像区域中,获取每一行中灰度值最大的像素点;在所述第一斜率的绝对值不大于1的情况下,从所述图像区域中,获取每一列中灰度值最大的像素点。4.根据权利要求1-3中任一所述的方法,其特征在于,在对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点之前,所述方法还包括:从所述屏幕图像中提取有效图像区域,其中,所述有效图像区域为仅包含有屏幕部分对应的图像。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,从所述屏幕图像中提取有效图像区域,包括:从上到下依次计算所述屏幕图像中每一行像素点的第一灰度平均值,确定出第一个、大于预设的第二灰度阈值的第一灰度平均值,并将第一个第一灰度平均值对应的行像素点作为所述有效图像区域的上边界;从下到上依次计算所述屏幕图像中每一行像素点的第二灰度平均值,确定出第一个、大于所述第二灰度阈值的第二灰度平均值,并将所述第一个第二灰度平均值对应的行...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋秀峰
申请(专利权)人:歌尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

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