电子部件分选系统技术方案

本发明专利技术涉及一种电子部件分选系统。根据本发明专利技术的电子部件分选系统包括：第一分选机，执行针对电子部件的第一处理；第二分选机，针对已通过所述第一分选机执行第一处理的电子部件执行第二处理；中间处理机，配备于所述第一分选机和所述第二分选机之间，执行将通过位于前端的所述第一分选机完成第一处理的电子部件接收的接收器功能，以及将需要进行第二处理的电子部件提供给位于后端的所述第二分选机的供应器功能；以及控制器，控制所述第一分选机、所述第二分选机以及所述中间处理机。根据本发明专利技术，具有随着分选机的运行率的提高，提高处理容量，并提高应用性的效果。

Electronic component sorting system

The present invention relates to an electronic component sorting system. The electronic component sorting system according to the invention includes the first sorting machine, executing the first processing for the electronic component; the second separator performs second processing for the electronic component that has carried out the first processing by the first sorting machine, and the intermediate processor is equipped between the first sorting machine and the second sorting machine. The execution will be performed by the receiver function received by the electronic component of the first processing by the first sorting machine at the front end, and the electronic component that requires second processing to supply the supply function of the second sorting machine at the back end, and the controller, control the first sorting machine, and the second sorting machine. And the intermediate processor. According to the invention, with the increase of the running rate of the sorting machine, the processing capacity is improved, and the application effect is improved.

【技术实现步骤摘要】
电子部件分选系统
本专利技术涉及一种在执行彼此不同的处理的分选机之间供应电子部件或回收电子部件的技术。
技术介绍
所生产的中间阶段的电子部件通过多样的处理过程而完成为最终产品之后被交货。将为了执行上述的预定处理作业而处理电子部件的装置统称为分选机。在此，所谓的预定处理作业是不管其作业类型如何而对电子部件执行的工序，可以包括：高温测试、低温测试、常温测试、DC测试、打蜡(waxing)处理、洗涤(washing)处理、锯切(sawing)处理、涂膜处理、吹塑(blowing)处理等。本法明与所有的分选机相关，但是为了避免说明的不顺畅并且有助于更为明确的理解，以下，对多样的分选机种类中的在所生产的半导体元件的测试作业中使用的分选机作为一例而进行说明。半导体元件测试用分选机如同韩国公开专利第10-2007-0021357号，在使被收容于供应用堆叠机(stacker)的半导体元件移动到测试托盘之后，为使其以装载于测试托盘的状态被测试机测试而进行支持，并且将完成测试的半导体元件重新收容到回收用堆叠机。在此，半导体元件在以装载于作为搬运用托盘的客户托盘的状态下被供应用堆叠机或回收用堆叠机收容。另外，半导体元件的测试作业可以以温度环境为基准而包括常温测试作业、高温测试作业、低温测试作业，并且还可以包括针对彼此不同的电特性的多种测试作业。因此，根据半导体元件的使用环境，还存在只有经过多种测试才能进行交货的情形。大多数情况下，被封装的半导体元件在经过高温测试和低温测试之后被交货。在这种情况下，需要对完成高温测试的半导体元件重新进行低温测试。为此，分选机如同韩国公开专利第10-2015-0103512号(以下，称之为“现有技术”)那样将高温测试模式和低温测试模式全部具有，因此根据模式的转换而支持针对电子部件的高温测试或低温测试。然而，高温测试模式和低温测试模式之间的模式转换消耗相当多的时间，因此分选机的运行率显著降低，并且由于在高温和低温之间来回的环境，内部构成部件的耐久性也会降低。即便如此，也不能像韩国公开专利第10-2016-0034148号(以下，称之为“现有技术”)那样为了执行两种以上的测试而具备用于支持第一测试(例如，高温测试)的第一支持部和用于支持第二测试(例如，低温测试)的第二支持部。其原因在于，如果如同现有技术那样某一侧支持部的规模小则无妨，但是如果两侧的支持部的规模类似且为较大的尺寸，则设备变得庞大而难以搬运并设置。而且，将不需要进行第一测试或第二测试中的任意一侧的测试、或者已经通过其他装备进行某一侧的测试的半导体元件作为对象而难以只进行另一侧的测试。即，对根据现有技术的分选机而言，相比于其大小，由于只可以对在经过第一测试后必须再经过第二测试才可以的半导体元件应用，所以可用性也非常低。因此，现有技术是无法应用到必须经过多种测试或处理过程才可以的半导体元件的技术。当然，这种关于半导体元件测试用分选机的技术背景同样适用于所有的电子部件。
技术实现思路
本专利技术为了解决上述问题而提出，其具有如下的目的。第一，提供一种能够将各个处理过程之间的等待时间最小化而提高分选机的运行率的技术。第二，提供一种关于能够将彼此不同的种类的多种处理过程选择性地组合而处理的分选机的技术。第三，提供一种在将彼此不同的种类的多种处理过程一连串地处理的过程中，即使其中的某一特定的处理作业被中断，也能够执行其余的处理作业，因此能够进一步提高分选机的运行率的技术。用于实现上述目的的根据本专利技术的电子部件分选系统包括：第一分选机，执行针对电子部件的第一处理；第二分选机，针对已通过所述第一分选机执行第一处理的电子部件执行与第一处理不同的第二处理；中间处理机，配备于所述第一分选机和所述第二分选机之间，执行将通过位于前端的所述第一分选机完成第一处理的电子部件接收的接收器(Receiver)功能以及将需要进行第二处理的电子部件提供给位于后端的所述第二分选机的供应器(Offer)功能；以及控制器，控制所述第一分选机、所述第二分选机以及所述中间处理机。电子部件分选系统还包括：传送机，将在所述第一分选机执行完第一处理的电子部件传递至所述第二分选机，所述控制器根据所述第一分选机或所述第二分选机的运行状态而使所述中间处理机保持休眠状态或保持运行状态，从而控制通过所述传送机进行的电子部件的正常移动和通过所述中间处理机进行的电子部件的不规则移动。所述第一分选机包括：第一处理部，针对要求进行第一处理的电子部件执行第一处理；以及装载部，将需要进行第一处理的电子部件装载到所述第一处理部，所述第二分选机包括：第二处理部，针对通过所述传送机或所述中间处理机传来的电子部件执行第二处理；以及卸载部，从所述第二处理部卸载已通过所述第二处理部完成第二处理的电子部件。所述控制器控制所述中间处理机，以使所述中间处理机通过供应器功能向所述第二分选机提供通过接收器功能而接收到的电子部件。所述控制器控制所述中间处理机，以使所述中间处理机选择性地执行接收器功能和供应器功能中的任意一种功能。所述控制器以如下方式控制所述中间处理机：如果在所述第二分选机发生运行不良，则使所述中间处理机执行接收从所述第一分选机传来的已完成第一处理的电子部件的接收器功能；如果在所述第一分选机发生运行不良，则使所述中间处理机执行向位于后端的所述第二分选机提供需要进行第二处理的电子部件的供应器功能。所述中间处理机包括：拾取模块，将完成第一处理的电子部件抓持或解除抓持，从而使所述电子部件移动到所要求的位置；以及收容模块，收容从所述第一分选机传来的电子部件，或者收容需要向所述第二分选机提供的电子部件。被收容于所述收容模块的电子部件以装载于搬运用托盘的状态被收容。根据本专利技术，具有如下的效果。第一，由于能够将各个分选机分离而进行搬运和设置，所以易搬运性和易设置性良好。第二，由于能够将多种处理过程一连串地连续地实现，因此能够最小化等待时间，并且即使某一特定作业被中断，也能够进行其余的处理作业，所以最终能够提高分选机的运行率。第三，既可以只使用一个分选机，也可以将多个分选机组合而使用，因此其应用性出色。第四，在利用多台分选机构成的整体的分选机系统上，能够从多台分选机分别所负责的多个处理过程中省略针对电子部件的任意一个以上的处理作业。附图说明图1是针对根据本专利技术的一实施例的电子部件分选系统的示意性的平面图。图2是针对应用于图1的中间处理机的卸载器的示意性的侧面图。图3至图5是用于说明图2的卸载器的操作的参照图。图6示出根据应用图1的中间处理机的另一例的电子部件分选系统。图7是针对根据另一例的中间处理机的示意性的平面图。图8是针对根据本专利技术的第二实施例的电子部件分选系统的示意性的平面图。图9是针对采用到图8的分选系统的中间处理机的放大平面图。符号说明100、200：电子部件分选系统110、210：第一分选机120、220：第二分选机240：传送机150、250：中间处理机160、260：控制器具体实施方式以下，对根据如上所述的本专利技术的优选实施例进行说明作为参考，为了说明的简洁性，尽量省略或压缩已公知或重复的说明。<第一实施例>图1是针对根据本专利技术的一实施例的电子部件分选系统100(以下，简称为“分选系统”)的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子部件分选系统，其中，包括：第一分选机，执行针对电子部件的第一处理；第二分选机，针对已通过所述第一分选机执行第一处理的电子部件执行与第一处理不同的第二处理；中间处理机，配备于所述第一分选机和所述第二分选机之间，执行将通过位于前端的所述第一分选机完成第一处理的电子部件接收的接收器功能，以及将需要进行第二处理的电子部件提供给位于后端的所述第二分选机的供应器功能；以及控制器，控制所述第一分选机、所述第二分选机以及所述中间处理机。

【技术特征摘要】
2017.01.05 KR 10-2017-00017581.一种电子部件分选系统，其中，包括：第一分选机，执行针对电子部件的第一处理；第二分选机，针对已通过所述第一分选机执行第一处理的电子部件执行与第一处理不同的第二处理；中间处理机，配备于所述第一分选机和所述第二分选机之间，执行将通过位于前端的所述第一分选机完成第一处理的电子部件接收的接收器功能，以及将需要进行第二处理的电子部件提供给位于后端的所述第二分选机的供应器功能；以及控制器，控制所述第一分选机、所述第二分选机以及所述中间处理机。2.根据权利要求1所述的电子部件分选系统，其中，还包括：传送机，将在所述第一分选机执行完第一处理的电子部件传递至所述第二分选机，所述控制器根据所述第一分选机或所述第二分选机的运行状态而使所述中间处理机保持休眠状态或保持运行状态，从而控制通过所述传送机进行的电子部件的正常移动和通过所述中间处理机进行的电子部件的不规则移动。3.根据权利要求2所述的电子部件分选系统，其中，所述第一分选机包括：第一处理部，针对要求进行第一处理的电子部件执行第一处理；以及装载部，将需要进行第一处理的电子部件装载到所述第一处理部，所述第二分选机包括：第二处理部，针对通过所述传送机或所述中...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗闰成，李泳录，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR