检测漏电流的设备和存储器设备制造技术

技术编号:18428021 阅读:15 留言:0更新日期:2018-07-12 02:23
本申请涉及一种用于检测漏电流的设备和存储器设备。存储器设备包括用于多个存储单元的控制器和电源电路。电源电路检测在电源电路中产生的至少一个时钟信号的频率,并基于所述频率来产生比较数据。控制器基于比较数据检测电源电路中的漏电流。

【技术实现步骤摘要】
检测漏电流的设备和存储器设备相关申请的交叉引用通过引用将于2017年1月3日提交的题为“DeviceforDetectingLeakageCurrentandMemoryDevice”的韩国专利申请No.10-2017-0000632全部合并于此。
一个或多个实施例涉及用于检测漏电流的设备和存储器设备。
技术介绍
存储器设备包括用于存储数据的存储单元。存储单元控制用于基于在驱动线路上传输的控制信号来执行数据写入、数据删除和数据读取操作。可以使用各种电压来执行这些操作。当存储单元、驱动线或其他电线中发生漏电流时,存储的数据可能丢失或不精确地读取。
技术实现思路
根据一个或多个实施例,一种用于检测漏电流的设备包括:振荡器,用于输出第一频率的操作时钟信号;电荷泵,用于基于所述操作时钟信号操作并产生用于多个存储单元的驱动功率;以及计数器,用于检测操作时钟信号的频率,并产生比较数据以检测驱动功率中的漏电流。根据一个或多个其他实施例,一种用于检测漏电流的设备包括:电压发生器以输出直流(DC)功率;电流镜,用于复制所述直流DC功率的电流并输出第一电流和第二电流;振荡器,用于由第一电流和第二电流驱动,以产生基于第一电流和第二电流的频率的时钟信号;以及计数器,用于检测所述时钟信号的频率并产生比较数据,以检测所述直流DC功率的电流中的漏电流。根据一个或多个其他实施例,存储器设备包括:多个存储元件;控制器集成电路(IC),用于控制所述多个存储元件;以及电源电路,输出用于所述控制器IC和所述多个存储元件的驱动功率,其中所述电源电路检测在所述电源电路中产生的至少一个时钟信号的频率并产生比较数据,并且其中所述控制器IC将基于比较数据来检测驱动电流中的漏电流。根据一个或多个其他实施例,存储器设备包括多个存储单元;以及内置逻辑,检测用于控制多个存储单元的功率中的漏电流。附图说明通过参考附图详细描述示例性实施例,特征对于本领域技术人员将变得显而易见,在附图中:图1示出了存储器设备的实施例;图2示出了存储单元阵列的实施例;图3示出了可能在存储器设备中发生的缺陷的示例;图4A-4B示出了用于检测漏电流的设备的实施例;图5和图6示出了图4A和4B中的电荷泵的示例;图7示出了用于检测漏电流的设备的另一实施例;图8示出了用于检测漏电流的设备的另一实施例;图9示出了用于检测漏电流的设备的另一实施例;以及图10示出了电子设备的实施例。具体实施方式图1示出了存储器设备10的实施例可以包括存储单元阵列11、行解码器12、页缓冲器13、控制逻辑14和电源电路15。在示例实施例中,行解码器12、页缓冲器13、控制逻辑14和电源电路15可以实现在单个集成电路(IC)中。存储单元阵列11可以包括排列成行和列的多个存储单元。存储单元可以通过一个或多个字线WL、一个或多个公共源极线CSL、一个或多个串选择线SSL和一个或多个接地选择线GSL来连接到行解码器12。存储单元可以通过位线BL连接到页缓冲器13。存储单元阵列11中的存储单元可以形成多个存储器串。存储单元可以被分成多个存储器块。每一个存储器块可以连接到多个字线WL、多个串选择线SSL、多个接地选择线GSL、多个位线BL和至少一个公共源极线CSL。行解码器12可以接收来自外部源的地址信息,并且可以对接收到的地址信息进行解码,以确定供应给连接到存储单元阵列11的字线WL、公共源极线CSL、串选择线SSL和接地选择线GSL中的至少一部分的电压的幅值。页缓冲器13可以根据来自控制逻辑14的指令来选择连接到存储单元阵列11的位线BL的至少一部分。页缓冲器13可以读取与位线BL的所选择部分连接的存储单元中所存储的数据,或者可以向与位线BL的所选择部分连接的存储单元写入数据。控制逻辑14可以控制行解码器12和页缓冲器13。在示例实施例中,控制逻辑14可以包括连接到外部主机的接口,并且可以根据经由接口接收到的来自主机的指令来控制行解码器12和页缓冲器13。在读取存储在存储单元阵列11中的数据的情况下,控制逻辑14可以控制行解码器12向字线WL供应电压,以从存储数据的存储单元执行读取操作。当将用于数据读取操作的电压供应给某个字线WL时,控制逻辑14可以控制页缓冲器13读取在连接到某个字线WL的存储单元中存储的数据。当将数据写入存储单元阵列11时,控制逻辑14可以控制行解码器12向字线WL供应电压,以对存储单元进行数据写入操作。当将用于数据写入操作的电压供应给某个字线WL时,控制逻辑14可以控制页缓冲器13将数据写入连接到某个字线WL的存储单元。在示例实施例中,用于执行数据读取操作的电压和用于数据写入操作的电压可以具有不同的值。用于执行数据读取、数据写入和数据删除操作的电压可以例如由电源电路15产生。电源电路15可以包括用于产生各种幅值的电压的电荷泵、振荡器、电压调节器和电压-电流转换电路。可以由电源电路15输出各种幅值的电压以保持存储器设备10的稳定性能。然而,当由于存储器设备10的制造过程中的缺陷或存储器设备10的使用期间发生的渐进缺陷而发生漏电流时,漏电流可能会降低从电源电路15输出的电压。此外,当漏电流流入存储单元阵列11时,写入存储单元的数据可能丢失。为了解决这些问题,在示例实施例中,可以在存储器设备10中提供用于检测由制造工艺缺陷或在存储器设备10的使用期间发生的渐进缺陷引起的漏电流的设备。图2示出了例如可以在存储器设备10中的存储单元阵列11的实施例。包括存储单元阵列11的存储器设备可以是例如具有在垂直于半导体衬底的方向上延伸的沟道区的竖直型闪存设备。参考图2,存储单元阵列11可以包括:存储单元串S,每个存储单元串S包括彼此串联连接的n个存储单元MC1至MCn;以及接地选择晶体管GST和串选择晶体管SST,连接到串联的n个存储单元MC1至MCn的端部。n个存储单元MC1至MCn可以连接到n个字线WL1至WLn,用于选择各个存储单元MC1至MCn中的相应存储单元。此外,虚设单元可以位于接地选择晶体管GST与第一存储单元MC1之间和/或串选择晶体管SST与第n存储单元MCn之间。接地选择晶体管GST可以具有连接到接地选择线GSL的栅极端子和连接到公共源极线CSL的源极端子。串选择晶体管SST可以具有连接到串选择线SSL的栅极端子和连接到第n个存储单元MCn的漏极端子的源极端子。图2示出了将单个接地选择晶体管GST和单个串选择晶体管SST连接到彼此串联连接的n个存储单元MC1至MCn的结构。按照不同的方式,也可以将多个接地选择晶体管GST或多个串选择晶体管SST连接到n个存储单元MC1至MCn。串选择晶体管SST可以具有连接到多个位线BL1至BLm的漏极端子。当通过串选择线SSL将信号施加到串选择晶体管SST的栅极端子时,可以将通过位线BL1至BLm施加的信号发送到n个存储单元MC1至MCn,并且因此可以执行数据读/写操作。此外,可以通过在衬底中的阱区向n个存储单元MC1至MCn施加预定电平的擦除电压来执行擦除在n个存储单元MC1至MCn中存储的数据的数据擦除操作。参考图2,根据示例实施例的存储器设备可以包括至少一个虚设串DS。至少一个虚设串DS可以包括未连接到位线BL1至BLm的虚设沟道。至少一个虚设串DS本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测漏电流的设备,包括:振荡器,用于输出第一频率的操作时钟信号;电荷泵,用于基于所述操作时钟信号操作并产生用于多个存储单元的驱动功率;以及计数器,用于检测所述操作时钟信号的频率,并产生比较数据以检测所述驱动功率中的漏电流。

【技术特征摘要】
2017.01.03 KR 10-2017-00006321.一种用于检测漏电流的设备,包括:振荡器,用于输出第一频率的操作时钟信号;电荷泵,用于基于所述操作时钟信号操作并产生用于多个存储单元的驱动功率;以及计数器,用于检测所述操作时钟信号的频率,并产生比较数据以检测所述驱动功率中的漏电流。2.根据权利要求1所述的设备,其中:当所述驱动功率中的漏电流的幅值增加时,所述振荡器将增加所述操作时钟信号的第一频率。3.根据权利要求1所述的设备,还包括:调节器,连接到所述电荷泵的输出端子,其中所述调节器将所述驱动功率供应给所述多个存储单元。4.根据权利要求3所述的设备,其中所述调节器包括多个调节器以输出不同幅值的电压。5.根据权利要求1所述的设备,其中所述计数器包括:时钟计数器,用于在预定的检测时间内检测所述操作时钟信号的周期;以及定时器,用于设定所述预定的检测时间。6.根据权利要求1所述的设备,还包括:控制逻辑,用于基于所述比较数据确定所述漏电流的存在。7.根据权利要求1所述的设备,其中所述振荡器包括:时钟发生器,用于产生第二频率的参考时钟信号,以及时钟复用器,用于基于所述参考时钟信号产生所述操作时钟信号。8.根据权利要求7所述的设备,其中所述第一频率小于所述第二频率。9.一种用于检测漏电流的设备,包括:电压发生器,用于输出直流功率;电流镜,用于复制所述直流功率的电流并输出第一电流和第二电流;振荡器,用于由所述第一电流和所述第二电流驱动以产生基于所述第一电流和所述第二电流的频率的时钟信号;以及计数器,用于检测所述时钟信号的频率并产生比较数据,以检测所述直流功率的电流中的漏电流。10.根据权利要求9所述的设备,其中所述振荡器包括环形振荡器。11.根据权利要求9所述的设备,其中所述计数器包括:时钟计数器,用于在预定的检测时间内检测所述时钟信号的...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐圣鋎
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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