对位装置和对位方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种对位装置和对位方法。上述对位装置包括一储存装置、一影像撷取装置以及一处理器。上述储存装置储存多组预设参考点信息。上述影像撷取装置撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板之不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组。上述处理器耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。

【技术实现步骤摘要】
对位装置和对位方法
本专利技术涉及一对位技术，特别涉及藉由一对位装置根据预设参考点信息找到待测的电路板每一区块对应的候选参考点的对位信息，并根据对位信息来进行检测的对位技术。
技术介绍
在印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)自动化光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)的检测过程中，首要先知道电路板上所有的元件的位置，才能够开始进行元件缺陷的检测。在检测前，会先找寻电路板的影像的参考点，然后逐一推算出所有在电路板上待检测的元件位置。然而，在电路板放在输送带输送的动态流线的情况之下，影像中的参考点不一定会是当初预设参考点位置。参考点的座标位置会因为取像时间的差异、输送带输送的速度、以及电路板在输送带的偏移或旋转角度等影响，而使得实际的参考点将会出现在不同于预设参考点的影像位置，因而造成无法成精准的影像对位。因此，如何解决电路板在输送带输送的过程中，电路板发生平移和旋转的情况时所造成无法准确地完成影像对位的问题，将是值得讨论的课题。
技术实现思路
有鉴于上述现有技术的问题，本专利技术的目的在于提供了藉由一对位装置根据预设参考点信息找到待测的电路板每一区块对应的候选参考点的对位信息，并根据对位信息来进行检测的对位方法。根据本专利技术的一实施例提供了一种对位装置。上述对位装置包括一储存装置、一影像撷取装置以及一处理器。上述储存装置储存多组预设参考点信息。上述影像撷取装置撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板的不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组。上述处理器耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。根据本专利技术的一实施例提供了一种对位方法。上述对位方法的步骤包括：撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板的不同区块；在每一上述影像中，选取一第一候选参考点；以及根据上述第一候选参考点以及预先储存的预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。在一些实施例中，上述对位方法的步骤更包括，根据一霍夫转换方法，在每一上述影像中找到多个参考点，且根据上述预设参考点信息，从上述多个参考点选取上述第一候选参考点。在一些实施例中，上述对位方法的步骤更包括，根据上述预设参考点信息，从上述多个参考点中选取包含在每一上述影像的一特定区域的一第一部分的多个参考点，以及从上述第一部分的多个参考点选取上述第一候选参考点，其中上述其他候选参考点不包括于上述第一部分的多个参考点中。在一些实施例中，上述对位方法的步骤更包括，当上述第一候选参考点与上述其他候选参考点的一者匹配失败时，从上述第一部分的多个参考点选取一新的第一候选参考点；以及找寻匹配上述新的第一候选参考点的其他候选参考点。在一些实施例中，上述种对位方法的步骤更包括，当上述第一候选参考点与全部上述其他候选参考点匹配成功时，根据上述预设参考点信息以及上述第一候选参考点和上述其它候选参考点，产生对应每一上述影像的上述对位信息；以及将上述对位信息储存在上述储存装置。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。附图说明图1显示根据本专利技术的实施例所述的对位装置100的方框图；图2显示根据本专利技术的一实施例所述的电路板200不同区块的示意图；图3A显示根据本专利技术的一实施例所述的对应电路板200的一区块的影像301的示意图；图3B显示根据本专利技术的一实施例所述的对应电路板200的一区块的影像302的示意图；图4根据本专利技术一实施例所述对位方法的流程图400。其中，附图标记100对位装置110储存装置120影像撷取装置130处理器200电路板200-1、200-2、200-3、200-4区块301、302影像400流程图A1、B1、C1、D1预设参考点A2、B2、C2、D2候选参考点P1特定区域具体实施方式本章节所叙述的是实施本专利技术的最佳方式，目的在于说明本专利技术的精神而非用以限定本专利技术的保护范围，本专利技术的保护范围当视后附的权利要求范围所界定者为准。图1显示根据本专利技术的实施例所述的对位装置100的方框图。对位装置100可应用于印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)的自动光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)。此外，根据本专利技术的实施例，对位装置100可应用于表面黏着技术(Surface-MountTechnology，SMT)所制作的电路板。表面黏着技术是目前常用的将电子元件焊接于电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)表面的技术。有别于使用插入式封装技术(ThroughHoleTechnology，THT)，将电子元件安置在电路板的一面，并将接脚焊在电路板的另一面，表面黏着技术可以大幅降低电子产品的体积。如图1所示，对位装置100中包括一储存装置110、一影像撷取装置120以及一处理器130，其中储存装置110和影像撷取装置120分别耦接至处理器130。注意地是，在图1中的方框图，仅为了方便说明本专利技术的实施例，但本专利技术并不以此为限。根据本专利技术的实施例，影像撷取装置120可指一或多个拍摄装置(例如：相机)，其可用以撷取电路板的不同区块的影像，并传送给处理器130。根据本专利技术的一实施例，当要对一电路板200放上输送带(conveyor)进行检测前，会预先针对电路板200撷取多个影像，且会在每一影像中分别选定多个预设参考点(至少两个)，并将每一影像中选定的多个预设参考点的相关座标信息，以及多个预设参考点彼此相对应的向量和角度关系储存在储存装置110中，以作为对应每一影像的一组预设参考点信息(亦可称作黄金取样(GoldenSample))。此外，特别说明地是，针对电路板200所撷取的每一影像会分别对应电路板200的不同区块。也就是说，在本专利技术的实施例中，会将电路板200分成多个区块(或部分)来进行检测。因此，每一区块都会对应到一截取的影像以及一组预设参考点信息。图2显示根据本专利技术的一实施例所述的电路板200不同区块的示意图。如图2所示，电路板200分成4个区块(200-1、200-2、200-3以及200-4)来进行检测。注意地是，在图2中的示意图，仅为了方便说明本专利技术的实施例，但本专利技术并不以此为限。在不同应用中，亦可将电路板分成不同数目的区块来进行检测。根据本专利技术的实施例，当要对电路板200放上输送带进行检测时，影像撷取装置120会针对在输送带输送的待测的电路板200撷取多个影像。根据本专利技术的实施例，影像撷取装置120所撷取的每一影像会分别对应此待测的电路板200的不同区块，且影像撷取装置120所撷取的每一影像亦会分别对应预先撷取的多个影像。以图2为例，若要将电路板200分成四个区块200-1、200-2、200-3以及200-4来进行检测，在对电路板200检测前，会预先撷取区块200-1、200-2、200-3以及200-4的影像，以产生四张预先撷取的影像以及四组预设参考点信息。当要对电路板200进行检测时，影像撷本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种对位装置，其特征在于，包括：一储存装置，储存多组预设参考点信息；一影像撷取装置，撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板的不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组；以及一处理器，耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。

【技术特征摘要】
1.一种对位装置，其特征在于，包括：一储存装置，储存多组预设参考点信息；一影像撷取装置，撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板的不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组；以及一处理器，耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。2.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，上述处理器根据一霍夫转换方法，在每一上述影像中找到多个参考点，且根据上述预设参考点信息，从上述多个参考点选取上述第一候选参考点。3.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，上述处理器根据上述预设参考点信息，从上述多个参考点中选取包含在每一上述影像的一特定区域的一第一部分的多个参考点，以及从上述第一部分的多个参考点选取上述第一候选参考点，其中上述其他候选参考点不包括于上述第一部分的多个参考点中。4.根据权利要求3所述的对位装置，其特征在于，当上述第一候选参考点与上述其他候选参考点的一者匹配失败时，上述处理器从上述第一部分的多个参考点选取一新的第一候选参考点，并找寻匹配上述新的第一候选参考点的其他候选参考点。5.根据权利要求3所述的对位装置，其特征在于，当上述第一候选参考点与全部上述其他候选参考点匹配成功，上述处理器根据上述预设参考点信息以及上述第一候选参考点和上述其他候选参考点，产生对应每一上述影像的上述对位信息，并将上述对位信息储存在上述储存装置。6.根据权利要求1-5任意一项所述的对位装置，其特征在于，上述预设参考点信息包含多个预设参考点的座标信息，以及上述多个预设参考点彼此的向量和角度关系，且其中上述多个预设参考点分别对应上述候选参考点，且其中上述处理器根据上述第一候选参考点以及上述向量和角度关系，找寻匹配上述第一候选参考点的上述其他候选参考点。7.根据权利要求1-5任意一项所述的对位装置，其特征在于，上述储存装置更储存一座标文件信息，其中上述...

【专利技术属性】
技术研发人员：范纲伦，孟宪明，孙武雄，廖祝湘，张基霖，
申请(专利权)人：技嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71