The invention provides a correction method for image capturing equipment and its phase focusing. The methods described include the following steps. The contrast focusing program is executed, and the lens is moved to multiple lens positions, and the statistical distribution of multiple focusing values is obtained based on the contrast focusing program. According to the statistical distribution of these focal values, we determine whether to correct the phase linear relationship for the phase focusing program. If you get the first phase difference detected when the lens is located in one of the lens positions, and obtain the second phase difference detected when the lens is located in another one in the lens position. The phase linear relation of the phase focus program is corrected according to the one in the lens position, the first phase difference, the other in the lens position, and the second phase difference. The correction method of the invention is based on the phase detection data detected by the actual operating environment to adjust the phase linear relationship for the phase detection auto focus, and can improve the focus accuracy of the camera.
【技术实现步骤摘要】
影像捕获设备与其相位对焦的校正方法
本专利技术涉及一种影像捕获设备,且特别涉及一种影像捕获设备与其相位对焦的校正方法。
技术介绍
为方便用户快速拍摄清晰影像,可携式电子装置上的相机一般均配备有自动对焦(AutoFocus,AF)功能,其可在用户启用相机的同时,即主动检测相机视野范围内的对象并自动移动镜头以对焦于对象。目前的相机为节省对焦时间,一般在计算出被摄主体的对焦位置后,即直接将镜头一次性地推动至上述对焦位置。举例而言,若相机采用相位检测自动对焦(PhaseDetectionAuto-Focus,PDAF)进行对焦,相机将利用影像传感器取得影像的相位检测数据,并依据相位检测数据与镜头位置之间的线性关系估测出对焦位置。如此,相机可基于相位检测自动对焦把镜头一次性地移动到对焦位置,从而快速完成对焦动作。以图1为例,图1显示一种相位差与镜头偏移量之间的线性关系,其中横轴表示镜头偏移量,纵轴表示相位差。因此,以图1的线性关系10来说,若于进行相位检测对焦程序时检测到相位差Pd1,相机须将镜头推动镜头偏移量offs1来完成自动对焦。可知的,上述相位检测数据与镜头位置之间的线性关系可直接影响相位检测自动对焦的准确度,而上述线性关系一般系于相机的制造过程中经由实验或测试而取得。然而,上述用于相位检测自动对焦的线性关系将随环境温度、湿度或工作电压而有所偏移。因此,于使用者实际操作相机时,可能因为操作环境变动或电路操作条件改变而导致工厂默认的上述线性关系将不适用,从而发生对焦不准确的问题。于是,相机可能需要花更多时间来进行准确的对焦,或针对不同的应用环境实验出不同的线性 ...
【技术保护点】
1.一种相位对焦的校正方法,适用于具有一镜头的一影像捕获设备,其特征在于,所述方法包括:执行一对比对焦程序,而将所述镜头移动至多个镜头位置,并获取多个对焦值的一统计分布与一最佳对焦位置;依据所述对焦值的所述统计分布,判断是否校正用于一相位对焦程序的一相位线性关系;若判定校正用于所述相位对焦程序的所述相位线性关系,取得当所述镜头位于所述镜头位置中的一个时所检测到的一第一相位差,并取得当所述镜头位于所述镜头位置的中的另一个时所检测到的一第二相位差;以及依据所述镜头位置中的一个、对应所述镜头位置中的一个的所述第一相位差、所述镜头位置中的另一个,以及对应所述镜头位置中的另一个的所述第二相位差,校正所述相位对焦程序的所述相位线性关系。
【技术特征摘要】
1.一种相位对焦的校正方法,适用于具有一镜头的一影像捕获设备,其特征在于,所述方法包括:执行一对比对焦程序,而将所述镜头移动至多个镜头位置,并获取多个对焦值的一统计分布与一最佳对焦位置;依据所述对焦值的所述统计分布,判断是否校正用于一相位对焦程序的一相位线性关系;若判定校正用于所述相位对焦程序的所述相位线性关系,取得当所述镜头位于所述镜头位置中的一个时所检测到的一第一相位差,并取得当所述镜头位于所述镜头位置的中的另一个时所检测到的一第二相位差;以及依据所述镜头位置中的一个、对应所述镜头位置中的一个的所述第一相位差、所述镜头位置中的另一个,以及对应所述镜头位置中的另一个的所述第二相位差,校正所述相位对焦程序的所述相位线性关系。2.根据权利要求1所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,在执行所述对比对焦程序的步骤之前,所述方法还包括:依据所述相位线性关系执行所述相位对焦程序,以依据所述相位对焦程序将所述镜头移动至一暂时对焦位置,其中执行所述对比对焦程序的步骤包括:响应于所述镜头移动至所述暂时对焦位置,开始执行所述对比对焦程序,以获取所述对焦值的所述统计分布与所述最佳对焦位置。3.根据权利要求2所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,所述镜头位置中的一个为基于所述对比对焦程序而获取的所述最佳对焦位置,所述最佳对焦位置对应至所述对焦值中的最大值。4.据权利要求1所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,依据所述对焦值的所述统计分布,判断是否校正用于所述相位对焦程序的所述相位线性关系的步骤包括:取得所述统计分布的一统计特性,并判断所述统计特性是否符合一预设条件;若所述统计特性符合所述预设条件,决定校正用于所述相位对焦程序的所述相位线性关系;以及若所述统计特性不符合所述预设条件,决定不校正用于所述相位对焦程序的所述相位线性关系。5.根据权利要求4所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,所述统计特性包括一统计变异量,所述预设条件包括是否大于一门槛值。6.根据权利要求1所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,依据所述镜头位置中的一个、对应所述镜头位置中的一个的所述第一相位差、所述镜头位置中的另一个,以及对应所述镜头位置中的另一个的所述第二相位差,校正所述相位对焦程序的所述相位线性关系的步骤包括:依据所述镜头位置中的一个与所述最佳对焦位置之间的第一镜头偏移量、对应所述镜头位置中的一个的所述第一相位差、所述镜头位置中的另一个与所述最佳对焦位置之间的第二镜头偏移量,以及对应所述镜头位置中的另一个的所述第二相位差,计算一第一修正斜率;以及依据所述第一修正斜率修正多个镜头偏移量与多个相位差之间所述相位线性关系。7.根据权利要求6所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,依据所述第一修正斜率修正所述相位线性关系的步骤包括:获取一参考基准斜率;依据所述第一修正斜率与所述参考基准斜率的差值,调整所述参考基准斜率而获取一第二修正斜率;以及利用所述第二修斜率修正所述相位线性关系。8.根据权利要求7所述的相位对焦的校正方法,其特征在于,所述参考基准斜率包括一工厂预设斜率,或不同时间点的多个历史相位线性关系的多个历史工作斜率的统计值。9....
【专利技术属性】
技术研发人员:李运锦,曾家俊,张文彦,
申请(专利权)人:聚晶半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾,71
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