测量装置以及测量方法制造方法及图纸

提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。

Measuring device and measuring method

A measuring device and a measuring method capable of measuring the optical properties of phosphors in a shorter time are provided. The measuring device (1) has: a light source (52), which is used to illuminate the light of the fluorophore; the light receiving unit (10) is used to receive the light through the fluorophore in the excited light and the fluorescence generated by the fluorant through the excitation light; and the detection unit (200) for detecting the light received by the light receiving. The light receiving section includes a shell (12) which has a prescribed length in the direction of the illuminating light; the light diffusing unit (14) is configured on the side of the fluorescent body of the shell; and the window (18), which is configured on the opposite side of the light diffusing part of the shell, and is used to guide the incident fluorescence to the detection unit.

【技术实现步骤摘要】
测量装置以及测量方法
本专利技术涉及一种用于测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。
技术介绍
以往，包含荧光物质的各种荧光体使用于各种用途。近年来，广泛应用于使用了LED(LightEmittingDiode：发光二极管)等的发光设备、液晶显示器或有机EL(ElectroLuminescence：电致发光)显示器等的显示设备等。这样的荧光体控制发光设备、显示设备的性能，因此需要适当地评价其光学性能。作为与这种荧光体的评价有关的结构，在日本特开2012-208024号公报中公开了对分散至密封材料中来使用于发光装置的荧光体的荧光光谱进行测量的结构。上述日本特开2012-208024号公报所公开的结构面向测量使荧光体分散至密封材料中所得到的式样(样品)的荧光体光谱，基本上被设想为要测量每个式样的荧光光谱。另一方面，在荧光体的制造生产线等中，存在想要在更短时间内测量作为检查对象的多个荧光体这种需求。例如，在整面为荧光体的薄片的状态下进行制造、检查。对于这样的整面为荧光体的薄片，需要尺寸的区域被切出而作为产品来使用。在日本特开2012-208024号公报所公开的结构中，需要使积分球与板状的式样接触来进行测量。因此，在对处于同一面内的多个测量点的荧光光谱进行测量的情况下，需要反复进行积分球的移动和与式样的接触，难以缩短测量所需的时间。
技术实现思路
本专利技术是为了解决这种问题而完成的，其目的在于提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置和测量方法。根据本专利技术的某一方面的用于测量荧光体的光学性能的测量装置包括：光源，其用于对荧光体照射激励光；受光部，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。优选从荧光体离开规定距离地配置受光部。优选光漫射部被配置在包含从窗起的视场的范围内。优选测量装置还具备移动机构，该移动机构用于变更来自光源的激励光入射到荧光体的位置。优选对于荧光体，按照规定规则配置有多个受光部，检测部并行测量由多个受光部分别接收到的荧光。根据本专利技术的另一个方面的用于测量荧光体的光学性能的测量方法具备以下步骤：从光源对荧光体照射激励光；由受光部接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及由检测部检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。根据本专利技术，能够在更短时间内测量荧光体的光学性能。根据与附图相关联地理解的、与本专利技术相关的以下详细说明可清楚本专利技术的上述和其它目的、特征、方面以及优点。附图说明图1是表示本实施方式的测量装置的整体结构的示意图。图2是表示本实施方式的检测部的结构例的示意图。图3是表示本实施方式的处理装置的结构例的示意图。图4是用于说明薄片状的样品中的荧光的产生的示意图。图5是表示用于使用积分球来测量薄片状的样品的光学性能的结构的示意图。图6是表示积分球的余弦特性的一例的图。图7是表示用于使用半球型积分球来测量薄片状的样品的光学性能的结构的示意图。图8是表示用于使用本实施方式的测量装置来测量薄片状的样品的光学性能的结构的示意图。图9是表示本实施方式的测量装置的受光部的余弦特性的一例的图。图10是表示使用了本实施方式的测量装置的受光部的色度的测量结果的一例的图。图11是表示将图10示出的测量结果与样品和受光部之间的距离相关地绘出的曲线图。图12是表示对于图10示出的测量结果、与样品和受光部之间的距离相关地绘出色度x和色度y的差的曲线图。图13是表示使用了本实施方式的测量装置的受光部的光谱的测量结果的一例的图。图14是用于说明本实施方式的受光部中的受光角的示意图。图15是表示在本实施方式的受光部中在维持受光径而改变投光径的情况下的受光角的变化的曲线图。图16是表示在本实施方式的受光部中在维持投光径而改变受光径的情况下的受光角的变化的曲线图。图17是表示包含本实施方式的测量装置的检查装置的一例的示意图。图18是表示使用图17示出的检查装置来测量样品的光学性能的过程的流程图。图19是表示包含本实施方式的测量装置的检查装置的一例的示意图。图20是表示包含本实施方式的测量装置的检查装置的另一例的示意图。附图标记说明1：测量装置；2：样品；10：受光部；12：壳体；14：光漫射部；16：内表面；18：窗；20、66：光纤；22：连接端；24：视场；50、60：照射部；52：光源；54：聚光透镜；56：电源装置；62：激励光源；64：波长选择部；80：半球型积分球；84、94：受光窗；86：式样窗；90：积分球；92：反射板；96：入射窗；200：检测部；202：衍射光栅；204：检测元件；206：快门；208：狭缝；220：多输入分光光度计；300：处理装置；302：CPU；304：RAM；306：硬盘；307：计测程序；308：光盘驱动器；309：光盘；310：输入部；312：显示部；314：输入输出接口；316：总线；400、402、500：检查装置；410：测量用暗箱；412：样品台；414：位置控制器；420：校正用暗箱；422：标准光源；424：标准光源用电源；440：样品保持件；450：盒；460：输送机械臂；462：臂；464：面传感器；470：支承部件；490：样品收纳部。具体实施方式参照附图详细说明本专利技术的实施方式。此外，在图中对相同或者相当部分附加相同的附图标记而不反复进行其说明。<A.测量装置的概要结构>首先，说明本实施方式的测量装置的概要结构。图1是表示本实施方式的测量装置1的整体结构的示意图。测量装置1测量荧光体的光学性能。以下，还将测量对象的荧光体称为“样品2”。参照图1，测量装置1对样品2照射激励光，对该激励光中的透过了荧光体的光以及通过该激励光而由样品2产生的荧光进行检测。典型地，测量装置1为透过型的荧光测量装置。图1示出的测量装置1包括：照射部50，其用于对样品2照射激励光；受光部10，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由样品2产生的荧光；检测部200，其用于检测由受光部10接收的光；以及处理装置300。照射部50包括：光源52，其用于产生激励光；聚光透镜54，其被配置在激励光的光轴上；以及电源装置56，其用于驱动光源52。光源52被设计成产生包含与样品2的特性相应的波长频带的激励光。更具体地说，采用蓝色LED等作为光源52。或者，作为光源52，也可以采用带分光器的卤素灯光源、氙气灯光源、水银灯等。通过采用这些光源，能够产生包含特定波长的激励光。聚光透镜54包含用于将来自光源52的激励光变换为平行光的光学系统。电源装置56提供与光源52的种类相应的电力。当来自照射部50的激励光入射到样品2时，与样品2的成分、组成相应的波长成分被吸收而产生荧光。激励光中的没被吸收且也没被反射的光成为透过光而被输出。受光部10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，用于测量荧光体的光学性能，具备：光源，其用于对上述荧光体照射激励光；受光部，其从上述荧光体离开规定距离地配置，并且用于接收上述激励光中的透过了上述荧光体的光以及通过上述激励光而由上述荧光体产生的荧光；以及检测部，其用于检测由上述受光部接收到的光，其中，上述受光部包括：壳体，其在上述激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部，其被配置在上述壳体的上述荧光体一侧；以及窗，其被配置在上述壳体的与上述光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。

【技术特征摘要】
2013.01.31 JP 2013-0172311.一种测量装置，用于测量荧光体的光学性能，具备：光源，其用于对上述荧光体照射激励光；受光部，其从上述荧光体离开规定距离地配置，并且用于接收上述激励光中的透过了上述荧光体的光以及通过上述激励光而由上述荧光体产生的荧光；以及检测部，其用于检测由上述受光部接收到的光，其中，上述受光部包括：壳体，其在上述激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部，其被配置在上述壳体的上述荧光体一侧；以及窗，其被配置在上述壳体的与上述光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，上述光漫射部被配置在包含从上述窗起的视场的范围内。3.根据权利要求1或者2所述的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：白岩久志，镰田刚史，三岛俊介，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP