显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法。上述的偏光片的接地阻抗的测试方法包括：提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；于偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，第一电极带和第二电极带均用于释放静电；固化第一电极带、测试电极带和第二电极带；以及测试测试电极带与触控显示屏的接地点之间的阻抗；上述的显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法，由于接地阻抗的测试过程仅需一次测试即可，相对于传统的接地阻抗的测试方法，上述的接地阻抗的测试方法的步骤较为简单，容易实现批量偏光片的接地阻抗的测试，具备量产要求，从而可满足关键工序的全检要求。

【技术实现步骤摘要】
显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法
本专利技术涉及显示装置的制造的
，特别是涉及一种显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法。
技术介绍
内嵌式触控显示屏在贴附高阻抗偏光片之后需进行偏光片接地阻抗的检测，再进行后续的模组组装。由于传统的偏光片的两个静电排出系统共用一根接地线，若根据现有接地阻抗的测试方法测试接地电阻，则会直接形成短路，这就使得偏光片的接地阻抗的测试过程中需撕掉内嵌式触控显示屏的软线板，再进行触点测试，亦即是在接地阻抗的测试步骤中必须包括撕掉软线板的步骤，使这种接地阻抗的测试方法的步骤较为复杂。而且实际生产过程中，为了提高产品(贴附高阻抗的偏光片之后的内嵌式触控显示屏)的生产效率，仅能抽取部分产品进行接地阻抗的测试，以判定整批产品的接地阻抗是否符合要求并抽出接地阻抗检测不合格的产品，即上述的接地阻抗的测试方法不具备量产的要求，且不能满足关键工序的全检要求，从而使上述的测试方法不能较好地监控产品的质量。
技术实现思路
基于此，有必要针对接地阻抗的测试方法的步骤较为复杂、不具备量产的要求以及不能满足关键工序的全检要求的问题，提供一种显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法。一种偏光片的接地阻抗的测试方法，包括：提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电，所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置；固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带；以及测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗，以测试偏光片的接地阻抗。在其中一个实施例中，于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆的步骤具体为：通过喷嘴于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂所述银浆，其中所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带的排列方向与所述喷嘴喷涂所述银浆的方向相同。在其中一个实施例中，所述喷嘴喷涂所述银浆的方向与所述偏光片的下边缘的延伸方向相同，使银浆顺序喷涂于偏光片的过程简单快捷，可以更好地实现批量偏光片的接地阻抗的测试。在其中一个实施例中，所述第一电极带与所述测试电极带之间的距离等于所述第二电极带与所述测试电极带之间的距离，便于银浆的顺序喷涂。在其中一个实施例中，所述第一电极带的形状为L型。在其中一个实施例中，所述第二电极带的形状为L型。在其中一个实施例中，固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带的步骤具体为：通过恒温加热炉加热所述贴附有高阻抗偏光片的触控显示屏，以固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带。在其中一个实施例中，测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗的步骤具体为：通过高阻测试器测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗。一种触控显示屏，包括接地点，所述触控显示屏还包括：偏光片，所述偏光片包括高阻抗膜；第一电极带，成型于所述偏光片的下边缘上，所述第一电极带用于释放静电；测试电极带，成型于所述偏光片的下边缘上，所述测试电极带用于与所述接地点搭配以测试偏光片的接地阻抗；第二电极带，成型于所述偏光片的下边缘上，所述第二电极带用于释放静电，所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置。一种显示装置，包括上述的触控显示屏。上述的显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法，首先提供一贴附有高阻抗偏光片的触控显示屏；然后于偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，第一电极带和第二电极带均用于释放静电，第一电极带和第二电极带的长度影响偏光片的静电的释放效果；由于所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置，使银浆顺序喷涂于偏光片的下边缘的过程较为简单，容易实现批量偏光片的接地阻抗的测试；然后固化第一电极带、测试电极带和第二电极带，使第一电极带、测试电极带和第二电极带成型于偏光片的下边缘上，以保证偏光片的接地阻抗的测试精度；最后测试测试电极带与触控显示屏软线板的接地点之间的阻抗；上述的接地阻抗的测试方法无需撕掉触控显示屏的软线板，即无需在破坏触控显示屏与软线板的连接之后再进行触点测试，由于接地阻抗的测试过程仅需一次测试即可，相对于传统的接地阻抗的测试方法，上述的接地阻抗的测试方法的步骤较为简单，容易实现批量偏光片的接地阻抗的测试，具备触控显示屏的量产要求，从而可满足关键工序的全检要求，因此，上述的测试方法能够较好地监控触控显示屏产品的质量。附图说明图1为一实施例的偏光片的接地阻抗的测试方法的流程图；图2为偏光片的接地阻抗的测试示意图；图3为另一实施例的偏光片的接地阻抗的测试方法的流程图；图4为一实施例的触控显示屏的示意图；图5为图4所示触控显示屏的局部放大图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法进行更全面的描述。附图中给出了显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法的首选实施例。但是，显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法可以采用许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。例如，一种偏光片的接地阻抗的测试方法包括：例如，提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；例如，于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带；例如，所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电；所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置；例如，固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带；例如，测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗，以测试偏光片的接地阻抗。例如，一种偏光片的接地阻抗的测试方法包括：提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电；所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置；固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带；以及测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗，以测试偏光片的接地阻抗。如图1所示，一实施例的偏光片的接地阻抗的测试方法用于测试偏光片的接地阻抗。测试方法包括：S101，提供一贴附有高阻抗偏光片的触控显示屏，所述触控显示屏是内嵌式触控显示屏，内嵌式触控显示屏已经贴附有高本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，包括：提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电，所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置；固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带；以及测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗，以测试偏光片的接地阻抗。

【技术特征摘要】
1.一种偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，包括：提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏；于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆，以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带，所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电，所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置；固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带；以及测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗，以测试偏光片的接地阻抗。2.根据权利要求1所述的偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆的步骤具体为：通过喷嘴于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂所述银浆，其中所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带的排列方向与所述喷嘴喷涂所述银浆的方向相同。3.根据权利要求1或2所述的偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，所述喷嘴喷涂所述银浆的方向与所述偏光片的下边缘的延伸方向相同。4.根据权利要求1所述的偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，所述第一电极带与所述测试电极带之间的距离等于所述第二电极带与所述测试电极带之间的距离。5.根据权利要求1或4所述的偏光片的接地阻抗的测试方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘德健，杨小华，钟志强，粟恺，刘志伟，梁宪宇，
申请(专利权)人：华显光电技术惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44