一种基于标准探头的电场探头自动校准方法技术

本发明专利技术提出了一种基于标准探头的电场探头自动校准方法，将标准探头放置到三脚架上，标准探头与天线中心对齐；主控计算机上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值；将待校准探头放置到三脚架上，待校准探头与天线中心对齐；主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值；主控计算机内的上位机程序建立待校准探头的检测电压值与标准探头测试的电场值的对应关系并形成校准数据曲线，通过光纤写入待校准探头的EEPROM中完成校准过程。

An automatic calibration method for electric field probe based on standard probe

This invention puts forward an automatic calibration method of electric field probe based on standard probe. The standard probe is placed on the three foot frame and the standard probe is aligned with the antenna center. The master computer program adjusts the frequency value of the signal source and the power value of the amplifier through the network line programmed signal source and amplifier, and the main control calculation is calculated at the same time. The host computer program records the electric field value of the standard probe, and puts the calibrated probe into the three foot frame to align the calibrated probe with the antenna center; the host computer program adjusts the frequency value of the signal source and the power value of the amplifier through the network line programmed signal source and amplifier, and the main computer is controlled. The host computer program records the test voltage of the calibrated probe; the host computer program sets up the corresponding relation between the detection voltage value of the calibrated probe and the electric field value tested by the standard probe and forms the calibration data curve, and completes the calibration process by writing the optical fiber to the EEPROM of the calibrated probe.

【技术实现步骤摘要】
一种基于标准探头的电场探头自动校准方法
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种基于标准探头的电场探头自动校准方法。
技术介绍
目前电场探头的校准，采用的是手动校准的方法，手动设置信号源输出信号的频率及放大器的输出功率，在每个功率点及频率点下，分别记录标准探头的测量值和待校准探头的检测电压值，最后汇总建立待校准电场探头的检测电压值与标准电场值的对应关系并形成校准数据曲线写入待校准探头的EEPROM中。现有技术需要手动设置信号源输出信号的频率及放大器的输出功率，手动记录标准探头的测量值和待校准探头的检测电压值，效率低，耗时长，同时因人为因素的介入影响电场探头的校准精度，进一步影响电场辐射值在大动态范围内的线性度及频率响应指标的准确度。
技术实现思路
为解决现有技术中采用手动校准电场探头、效率低、精度低的问题，本专利技术提出了一种基于标准探头的电场探头自动校准方法。本专利技术的技术方案是这样实现的：一种基于标准探头的电场探头自动校准方法，校准测试系统包括：主控计算机、信号源、放大器、天线、标准探头、待校准探头、三角架、射频电缆、网线以及光纤；自动校准过程包括以下步骤：步骤(1)，将校准系统各部分连接，并保证各个连接紧固，主控计算机通过网线程控信号源和放大器，通过光纤控制标准探头和待校准探头，将信号源、放大器、标准探头、待校准探头开机后预热30分钟；步骤(2)，将标准探头放置到三脚架上，标准探头与天线中心对齐；步骤(3)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值；步骤(4)，将待校准探头放置到三脚架上，待校准探头与天线中心对齐；步骤(5)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值；步骤(6)，主控计算机内的上位机程序建立待校准探头的检测电压值与标准探头测试的电场值的对应关系，并形成校准数据的拟合多项式方程，通过光纤写入待校准探头的EEPROM中可完成校准过程；在测试过程中，待校准探头根据检测电压值代入到EEPROM中的校准数据拟合多项式方程，得到测试的电场值。可选地，所述步骤(3)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，具体为：设置信号源的频率值f1，调整放大器的功率值P11～P1m，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值E11～E1m；设置信号源的频率值fn，调整放大器的功率值Pn1～Pnm，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值En1～Enm。可选地，所述步骤(5)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，具体为：设置信号源的频率值f1，调整放大器的功率值P11～P1m，同时主控计算机内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值V11～V1m；设置信号源的频率值fn，调整放大器的功率值Pn1～Pnm，同时主控计算机1内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值Vn1～Vnm。本专利技术的有益效果是：(1)除了用待校准探头替换标准探头的步骤，全部通过计算机程序控制，无需人工参与；(2)校准周期时间短，效率高，一个探头定标时间约30分钟；(3)校准准确度高，相对于标准探头，误差小于0.4％，具有很好的生产性；(4)在大动态范围内线性度及频响指标最高可达±1dB。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术电场探头自动校准系统放置标准探头的原理示意图；图2为本专利技术电场探头自动校准系统放置待校准探头的原理示意图；图3为本专利技术电场探头自动校准方法的拟合多项式方程曲线。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1和图2所示，本专利技术的电场探头自动校准测试系统包括：主控计算机1、信号源2、放大器3、天线4、标准探头5、待校准探头10、三角架6、射频电缆7、网线8以及光纤9。本专利技术的电场探头自动校准过程如下：步骤(1)，将校准系统各部分连接，并保证各个连接紧固，主控计算机1通过网线8程控信号源2和放大器3，通过光纤9控制标准探头5和待校准探头，将信号源2、放大器3、标准探头5、待校准探头开机后预热30分钟；步骤(2)，将标准探头5放置到三脚架6上，标准探头5与天线4中心对齐；步骤(3)，主控计算机1内的上位机程序通过网线8程控信号源2和放大器3，具体为：设置信号源2的频率值f1，调整放大器3的功率值P11～P1m，同时主控计算机1内的上位机程序记录标准探头5测试的电场值E11～E1m；设置信号源2的频率值fn，调整放大器3的功率值Pn1～Pnm，同时主控计算机1内的上位机程序记录标准探头5测试的电场值En1～Enm；步骤(4)，将待校准探头10放置到三脚架6上，待校准探头与天线4中心对齐；步骤(5)，主控计算机1内的上位机程序通过网线8程控信号源2和放大器3，具体为：设置信号源2的频率值f1，调整放大器3的功率值P11～P1m，同时主控计算机1内的上位机程序记录待校准探头10测试的检测电压值V11～V1m；设置信号源2的频率值fn，调整放大器3的功率值Pn1～Pnm，同时主控计算机1内的上位机程序记录待校准探头10测试的检测电压值Vn1～Vnm；步骤(6)，主控计算机1内的上位机程序自动建立待校准探头10的检测电压值V与标准探头5测试的电场值E的对应关系，如表1所示，并形成校准数据的拟合多项式方程，如图3所示为指定频点(例如f1、……fn)的拟合多项式方程曲线，通过光纤9写入待校准探头10的EEPROM中即可完成校准过程。表1在测试过程中，待校准探头10根据检测电压值V代入到EEPROM中的校准数据拟合多项式方程，即可得到测试的电场值E。本专利技术的上述校准过程，除了用待校准探头替换标准探头的步骤，全部通过计算机程序控制，无需人工参与。本专利技术的校准方法，校准周期时间短，效率高，一个探头定标时间约30分钟；校准准确度高，相对于标准探头，误差小于0.4％，具有很好的生产性；在大动态范围内线性度及频响指标最高可达±1dB。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于标准探头的电场探头自动校准方法，其特征在于，校准测试系统包括：主控计算机、信号源、放大器、天线、标准探头、待校准探头、三角架、射频电缆、网线以及光纤；自动校准过程包括以下步骤：步骤(1)，将校准系统各部分连接，并保证各个连接紧固，主控计算机通过网线程控信号源和放大器，通过光纤控制标准探头和待校准探头，将信号源、放大器、标准探头、待校准探头开机后预热30分钟；步骤(2)，将标准探头放置到三脚架上，标准探头与天线中心对齐；步骤(3)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值；步骤(4)，将待校准探头放置到三脚架上，待校准探头与天线中心对齐；步骤(5)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值；步骤(6)，主控计算机内的上位机程序建立待校准探头的检测电压值与标准探头测试的电场值的对应关系，并形成校准数据的拟合多项式方程，通过光纤写入待校准探头的EEPROM中可完成校准过程；在测试过程中，待校准探头根据检测电压值代入到EEPROM中的校准数据拟合多项式方程，得到测试的电场值。...

【技术特征摘要】
1.一种基于标准探头的电场探头自动校准方法，其特征在于，校准测试系统包括：主控计算机、信号源、放大器、天线、标准探头、待校准探头、三角架、射频电缆、网线以及光纤；自动校准过程包括以下步骤：步骤(1)，将校准系统各部分连接，并保证各个连接紧固，主控计算机通过网线程控信号源和放大器，通过光纤控制标准探头和待校准探头，将信号源、放大器、标准探头、待校准探头开机后预热30分钟；步骤(2)，将标准探头放置到三脚架上，标准探头与天线中心对齐；步骤(3)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录标准探头测试的电场值；步骤(4)，将待校准探头放置到三脚架上，待校准探头与天线中心对齐；步骤(5)，主控计算机内的上位机程序通过网线程控信号源和放大器，调整信号源的频率值及放大器的功率值，同时主控计算机内的上位机程序记录待校准探头测试的检测电压值；步骤(6)，主控计算机内的上位机程序建立待校准探头的检测电压值与标准探头测试的电场值的对应关系，并形成校准数据的拟合多项式方程，通过光纤写入待校...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙佳文，王泳，韩俊辉，张峰，高朋，刘金现，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37