The invention discloses a test device for determining the electromagnetic performance of the measured object. It aims to solve the problem that there is no over sampling technique in the near field test in the existing technology. The measuring process is tedious and the measurement precision is low. The main point of the technical scheme is to determine the electromagnetic performance of the measured object, including the box, the carrier table and the support. The bracket comprises a vertical frame and a sliding rod, and a plurality of probes are provided along the axis direction of the slipping rod, and a lateral driving device for driving the sliding rod to move along the stand and an axial driving device for driving a plurality of the probes to simultaneously move along the axis direction of the slip rod. The test device of the invention uses multiple probes to scan multiple points on a plane each time. Through two kinds of displacement devices, a rapid scanning method for building a plane field is provided. It can realize the over sampling, the sampling process is more simple and convenient, the sampling data point distribution is more dense and the result is more detected. The advantages of reliability and so on.
【技术实现步骤摘要】
一种确定被测物电磁性能的测试装置
本专利技术涉及天线测试
,更具体地说,它涉及一种确定被测物电磁性能的测试装置。
技术介绍
在对天线的电磁性能进行测试时,需要对被测物进行多个位点的检测,测试出多组数据从而可以更加全面的反映出被测物的电磁性能,为了提高检测结果的精确度,通常采用过采样的方式对被测物进行检测。众所周知,作为平面近场扫描,为了有效推导出一定范围内的远场,必须在整个平面内采样,并且必须满足采样点间距L<lambda/2,其中lambda为辐射信号的波长;而目前过采样的方法只在球面近场中普遍使用,在平面近场测试中还没有使用过采样技术。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足,本专利技术的目的在于提供一种确定被测物电磁性能的测试装置,具有能够实现数据过采样的优点。本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种确定被测物电磁性能的测试装置,包括载物台和支架,所述支架包括设置在所述载物台两侧的立架和滑移连接于所述立架且能够形成覆盖所述载物台的滑移面的滑移杆,沿所述滑移杆的轴线方向设有多个探头;还包括用于驱动所述滑移杆沿所述立架移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头同时沿所述滑移杆的轴线方向移动的轴向驱动装置。通过采用上述技术方案,测试时,先将被测物放置在载物台上,启动测试装置,通过探头对被测物进行探测,多个探头可以对被测物的多个位点进行探测,当滑移杆位于某一位置测得一组数据后,通过横向驱动装置驱动滑移杆移动一段距离,探头也随之移动一段距离,即可得出第二组数据,以此类推,将滑移杆由被测物的一侧移动至另一侧后,即可形成一组覆盖整个被 ...
【技术保护点】
一种确定被测物电磁性能的测试装置,包括载物台(2)和支架(3),其特征在于:所述支架(3)包括设置在所述载物台(2)两侧的立架(31)和滑移连接于所述立架(31)且能够形成覆盖所述载物台(2)的滑移面的滑移杆(32),沿所述滑移杆(32)的轴线方向设有多个探头(4);还包括用于驱动所述滑移杆(32)沿所述立架(31)移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头(4)同时沿所述滑移杆(32)的轴线方向移动的轴向驱动装置(6)。
【技术特征摘要】
1.一种确定被测物电磁性能的测试装置,包括载物台(2)和支架(3),其特征在于:所述支架(3)包括设置在所述载物台(2)两侧的立架(31)和滑移连接于所述立架(31)且能够形成覆盖所述载物台(2)的滑移面的滑移杆(32),沿所述滑移杆(32)的轴线方向设有多个探头(4);还包括用于驱动所述滑移杆(32)沿所述立架(31)移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头(4)同时沿所述滑移杆(32)的轴线方向移动的轴向驱动装置(6)。2.根据权利要求1所述的一种确定被测物电磁性能的测试装置,其特征在于:所述横向驱动装置包括固定于所述立架(31)的第一驱动电机(51)、固定在所述第一驱动电机(51)转轴上的主动轮(52)、转动连接在所述立架(31)上的从动轮(53)、以及套设于所述主动轮(52)和从动轮(53)且固定于所述滑移杆(32)的传送带(54)。3.根据权利要求1所述的一种确定被测物电磁性能的测试装置,其特征在于:所述滑移杆(32)包括外杆(321)、滑动套接在所述外杆(321)内用于固定多个所述探头(4)的内杆(322)、以及开设在所述外杆(321)上供所述探头(4)滑移的滑槽(323)。4.根据权利要求3所述的一种确定被测物电磁性能的测试装置,其特征在于:所述轴向驱动装置(6)包括固定于所述外杆(321)的第二驱动电机(61)、固定在所述第二驱动电机(61)的转轴上的驱动齿轮(62)、以及固定于所述内杆(322)且与所述驱动齿轮(62)相啮合的驱动齿条(63)。5.根据权利要求2所述的一种确定...
【专利技术属性】
技术研发人员:韩栋,
申请(专利权)人:深圳市新益技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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