一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法技术

本发明专利技术公开了一种FOX‑7晶体表面缺陷的修饰方法，包括：步骤A：配制键合剂溶液；步骤B：将FOX‑7晶体颗粒加入键合剂溶液中对FOX‑7预处理，并搅拌干燥；步骤C：配制氟橡胶溶液；步骤D：FOX‑7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX‑7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，搅拌后旋转蒸发仪中真空蒸发。步骤F：FOX‑7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX‑7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成乙酸丁酯悬浮液，搅拌，过滤，烘干。得到表面修饰完成后的FOX‑7晶体颗粒。本发明专利技术通过采用键合剂HX‑878和氟橡胶F2311对FOX‑7晶体表面进行修饰能够有效降低FOX‑7表面的粗燥度，提高FOX‑7基PBX的工艺性能。

A modification method for surface defect of FOX-7 crystal

The invention discloses a modification method for the surface defect of FOX 7 crystal, including step A: preparing the bond mixture solution; step B: adding the 7 crystal particles into the bond mixture solution in the bond solution to pretreat the FOX 7, and stir drying; step C: preparing the fluoro rubber solution; step the surface filling of the D:FOX 7 particles: step B obtained from B The particles of FOX - 7 crystals were added into fluorine rubber filling liquid, and then evaporated in a rotary evaporator. Step F:FOX 7 particle surface cleaning: add FOX 7 particles obtained by step D to butyl acetate to form butyl acetate suspension, stirring, filtering and drying. The crystal FOX particles 7 after surface modification were obtained. This invention can effectively reduce the dryness of the FOX 7 surface by modifying the bonding agent HX 878 and the fluoro rubber F2311 on the surface of the FOX 7 crystal, and improve the technological performance of the FOX 7 base PBX.

【技术实现步骤摘要】
一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法
本专利技术属于含能材料
，具体涉及一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法。
技术介绍
1,1-二氨基-2,2-二硝基乙烷(FOX-7)是一种新型的高能低感单质炸药，其能量与常用炸药黑索今(RDX)相当，但机械感度远低于RDX。以FOX-7为基的高聚物粘结炸药(PBX)同样具有高能量低感度的特点，其在侵彻、舰载武器系统中有较好的应用前景。在FOX-7晶体中FOX-7分子曾层状波浪形排列，不同层分子之间主要靠氢键作用，因此FOX-7的晶体表面通常粗糙度较大并存在凹坑等缺陷，这些表明缺陷的存在使得FOX-7基PBX物料的粘度大幅增加，降低了其工艺成型性能。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法，获得表面粗燥度较低的FOX-7晶体颗粒。为了达到上述的技术效果，本专利技术采取以下技术方案：一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法，包括以下步骤：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂溶于乙醇中配制成质量分数为5～8％的键合剂溶液；步骤B：FOX-7的预处理：将FOX-7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX-7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30～40min,搅拌完成后，过滤得到FOX-7颗粒，并在50～60℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6～10％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX-7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX-7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1～1.5h然后将FOX-7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发20～25min。通过蒸发，将氟橡胶溶液中的乙酸乙酯溶液全部蒸发掉。采用旋蒸的目的是提高氟橡胶在FOX-7颗粒表面包覆效果。步骤F：FOX-7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX-7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为10～15％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX-7晶体颗粒，然后将颗粒在60～70℃下将颗粒烘干2～3h。即得到表面修饰完成后的FOX-7晶体颗粒。进一步的技术方案是，所述的键合剂为HX-878。进一步的技术方案是，所述的氟橡胶为F2311。本专利技术中，采用键合剂HX-878对FOX-7进行预处理，一方面HX-878能够与FOX-7分子中的硝基形成弱分子键相互作用，使得HX-878与FOX-7晶体形成较强的界面结合力；另一方面氟橡胶在HX-878表面具有较好的侵润性能，采用HX-878处理后氟橡胶能够更加充分的进入FOX-7晶体表面的孔隙。采用氟橡胶F2311对FOX-7晶体颗粒进行修饰，一方面F2311具有较高的力学强度和密度，其对FOX-7晶体颗粒修饰后能够在提高晶体颗粒表面光滑度的同时增加颗粒的密度，另一方面，F2311与PBX炸药配方中的其它组分相容性较好，引入F2311能提高以FOX-7为基PBX的物理和化学安定性能。采用乙酸丁酯对处理后的FOX-7颗粒的表面清理，其对F2311的溶解性能弱于氟橡胶填充液中乙酸乙酯对F2311的溶解性，采用乙酸丁酯做清理液体能够防止已进入FOX-7晶体颗粒表面缺陷处的F2311被溶解掉。本专利技术与现有技术相比，具有以下的有益效果：本专利技术通过采用键合剂HX-878和氟橡胶F2311对FOX-7晶体表面进行修饰能够有效降低FOX-7表面的粗燥度，提高FOX-7基PBX的工艺性能。具体实施方式下面结合本专利技术的实施例对本专利技术作进一步的阐述和说明。实施例1：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂HX-878溶于乙醇中配制成质量分数为6％的键合剂溶液；步骤B：FOX-7的预处理：将FOX-7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX-7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30min,搅拌完成后，过滤得到FOX-7颗粒，并在55℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX-7颗粒的表面填充：将FOX-7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1.5h然后将FOX-7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发25min。步骤F：FOX-7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX-7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为10％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX-7晶体颗粒，然后将颗粒在60℃下将颗粒烘干2h。即得到表面修饰完成后的FOX-7晶体颗粒。所得表面修饰后的FOX-7晶体颗粒的各项质量指标如下：(1)密度1.873g/cm3；(2)比表面积1.23m2/g；(3)初始割线模量(ISM)(压缩刚度法)50MPa。未经过表面修饰的FOX-7晶体颗粒的各项质量指标如下：(1)密度1.875g/cm3；(2)比表面积1.63m2/g；(3)初始割线模量(ISM)(压缩刚度法)42MPa。修饰后的FOX-7晶体表面粗糙度降低，凹坑等缺陷减小，因此比表面积降低。修饰后，由于FOX-7表面的缺陷被氟橡胶填充，更不易破碎，因此初始割线模量(ISM)(压缩刚度法)升高。实施例2：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂HX-878溶于乙醇中配制成质量分数为8％的键合剂溶液；步骤B：FOX-7的预处理：将FOX-7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX-7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间40min,搅拌完成后，过滤得到FOX-7颗粒，并在58℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为9％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX-7颗粒的表面填充：将FOX-7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1h然后将FOX-7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发25min。步骤F：FOX-7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX-7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为15％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX-7晶体颗粒，然后将颗粒在70℃下将颗粒烘干3h。即得到表面修饰完成后的FOX-7晶体颗粒。所得表面修饰后的FOX-7晶体颗粒的各项质量指标如下：(1)密度1.875g/cm3；(2)比表面积1.38m2/g；(3)初始割线模量(ISM)(压缩刚度法)54MPa尽管这里参照本专利技术的解释性实施例对本专利技术进行了描述，上述实施例仅为本专利技术较佳的实施方式，本专利技术的实施方式并不受上述实施例的限制，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种FOX‑7晶体表面缺陷的修饰方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂溶于乙醇中配制成质量分数为5～8％的键合剂溶液；步骤B：FOX‑7的预处理：将FOX‑7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX‑7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30～40min,搅拌完成后，过滤得到FOX‑7颗粒，并在50～60℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6～10％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX‑7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX‑7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1～1.5h然后将FOX‑7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发20～25min；步骤F：FOX‑7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX‑7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为10～15％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX‑7晶体颗粒，然后将颗粒在60～70℃下将颗粒烘干2～3h。即得到表面修饰完成后的FOX‑7晶体颗粒。

【技术特征摘要】
1.一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂溶于乙醇中配制成质量分数为5～8％的键合剂溶液；步骤B：FOX-7的预处理：将FOX-7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX-7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30～40min,搅拌完成后，过滤得到FOX-7颗粒，并在50～60℃下将颗粒烘干2h；步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6～10％的氟橡胶溶液；步骤D：FOX-7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX-7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡贾林，谢虓，王德海，祝青，郑保辉，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院化工材料研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51