一种暗角校正系统及方法技术方案

本发明专利技术属于图像处理技术领域，公开了一种暗角校正系统及方法，方法包括：根据多张图像获得暗角校正系数；获得测试图像并解析得到图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据并封装输出。系统包括：第一PC端、相机、FPGA平台；相机用于拍摄获得测试图像；FPGA平台用于对测试图像进行解析获得图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据，并封装输出；第一PC端用于根据多张图像获得暗角校正系数，对暗角校正图像数据进行显示和/或检测。本发明专利技术解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。

A dark angle correction system and method

The invention belongs to the field of image processing technology, and discloses a dark angle correction system and method. The method includes: obtaining the correction coefficient of dark angle according to the multiple images, obtaining the test image and analyzing the image pixel data, correcting the dark angle of the image pixel data according to the correction coefficient of the dark angle, and obtaining the correction image data of the dark angle. And encapsulate the output. The system includes the first PC end, the camera and the FPGA platform; the camera is used to capture the test images; the FPGA platform is used to parse the image to obtain the image pixel data; the dark angle correction is performed on the image pixel data based on the correction coefficient of the dark angle, and the data of the dark angle correction image are obtained and the output is encapsulated; the first PC end is used for the root. The dark angle correction coefficients are obtained from multiple images to display and / or detect dark angle corrected image data. The invention solves the problem that the dark corner is misjudged as a defect in the automatic optical inspection technology or the defect detection algorithm is avoided to avoid misjudgement and adjustment algorithm.

【技术实现步骤摘要】
一种暗角校正系统及方法
本专利技术涉及图形处理
，尤其涉及一种暗角校正系统及方法。
技术介绍
自动光学检测(AOI,AutomatedOpticalInspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。以LCD/TFT为例,当自动检测时，机器通过摄像头扫描LCD/TFT，采集图像，经过图像处理，检查出LCD/TFT上的缺陷。随着AOI检测性能和效率的要求越来越高,对采集图像的质量要求也越来越高。采集的图像中，由于镜头原因，会存在“暗角”的现象。即对着亮度均匀景物拍摄，画面四角都有变暗的现象。暗角对于任何镜头都不可避免。暗角的存在，对AOI有一定的影响，暗角可能会被误判为缺陷。而为了避免这种误判，往往需要调整检测算法参数，这样又容易导致对真实缺陷的漏检。
技术实现思路
本申请实施例通过提供一种暗角校正系统及方法，解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。本申请实施例提供一种暗角校正方法，包括以下步骤：获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。优选的，所述根据N张所述图像得到第N+1张图像包括以下步骤：获得N张所述图像的像素值；对N张所述图像的像素值进行求平均处理，得到所述第N+1张图像。优选的，所述根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数包括以下步骤：获得所述第N+1张图像的像素值；取所述第N+1张图像中有效区域内每个像素点的像素值，计算得到像素平均值；将所述第N+1张图像中每个像素点的像素值除以所述像素平均值，得到除系数矩阵；将所述除系数矩阵中的每个元素取倒数，得到乘系数矩阵，所述暗角校正系数包括所述乘系数矩阵。优选的，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵；所述图像像素数据与所述乘系数矩阵进行乘法运算。优选的，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵以及加系数矩阵；所述图像像素数据先与所述乘系数矩阵进行乘法运算，然后与所述加系数矩阵进行加法运算。本申请实施例提供一种暗角校正系统，包括：第一PC端、相机、FPGA平台；所述FPGA平台分别与所述第一PC端、所述相机连接；所述相机用于拍摄获得测试图像；所述FPGA平台用于对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；以及根据暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行封装并输出至所述第一PC端；所述第一PC端用于获得暗角校正系数的步骤，以及对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测。优选的，所述第一PC端包括：系数输入模块、图像显示检测模块；所述系数输入模块用于根据多张图像获得所述暗角校正系数，并将所述暗角校正系数输入至所述FPGA平台；所述图像显示检测模块用于接收所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测。优选的，所述FPGA平台包括：校正模块；所述校正模块包括数据接口、有效数据提取模块、暗角校正系数读取模块、暗角校正计算模块、图像数据写DDR模块；所述数据接口、所述有效数据提取模块、所述暗角校正计算模块、所述图像数据写DDR模块依次连接；所述暗角校正系数读取模块与所述暗角校正计算模块连接；所述有效数据提取模块用于对所述测试图像进行解析，获得所述图像像素数据；所述暗角校正系数读取模块用于读取所述暗角校正系数，并将所述暗角校正系数输入至所述暗角校正计算模块；所述暗角校正计算模块用于根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据；所述图像数据写DDR模块用于写入所述暗角校正图像数据。优选的，所述FPGA平台还包括：存储模块、暗角校正系数写入模块、图形数据读DDR模块、GTP数据封包模块、光纤口；所述存储模块分别与所述暗角校正系数写入模块、所述暗角校正系数读取模块、所述图像数据写DDR模块、所述图形数据读DDR模块连接；所述GTP数据封包模块分别与所述图形数据读DDR模块、所述光纤口连接；所述暗角校正系数写入模块用于将所述暗角校正系数写入所述存储模块中予以储存；所述图形数据读DDR模块用于读取所述暗角校正图像数据；所述存储模块用于存储所述暗角校正系数、所述暗角校正图像数据；所述GTP数据封包模块用于对所述暗角校正图像数据进行GTP格式封装；所述光纤口用于连接所述FPGA平台和所述第一PC端。优选的，所述相机为多个，所述FPGA平台包括多个所述校正模块，每个所述相机对应一个所述校正模块。本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：在本申请实施例中，通过相机在均匀光照条件下拍摄得到N张图像，然后根据N张图像得到第N+1张图像，并根据第N+1张图像获得该相机的暗角校正系数。本专利技术针对自动光学检测中，相机和屏相对位置固定，光照条件基本不变的场景，暗角矫正效果良好。本专利技术基于PC端和FPGA平台获得相机的暗角校正系数，并根据获得的相机的暗角校正系数实现暗角校正功能。由于FPGA流水线机制，单个相机的一张图像在进行有效数据提取的同时，就可以进行暗角校正运算及运算结果存储操作。使用FPGA而非检测电脑来实现，可以有效减小电脑的CPU和内存的负荷；使用FPGA进行流水线处理，不占用取像和检测时间。附图说明为了更清楚地说明本实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种暗角校正系统的示意图。具体实施方式本申请实施例通过提供一种暗角校正系统及方法，解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：一种暗角校正方法，包括以下步骤：获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。一种暗角校正系统，包括：第一PC端、相机、FPGA平台；所述FPGA平台分别与所述第一PC端、所述相机连接；所述相机用于拍摄获得测试图像；所述FPGA平台用于对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；以及根据暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行封装并输出至所述第一PC端；所述第一PC端用于根据多张图像获得暗角校正系数，以及对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测。本专利技术通过相机在均匀光照条件下拍摄得到N张图像，然后根据N张图像得到第N+1张图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种暗角校正方法，其特征在于，包括以下步骤：获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。

【技术特征摘要】
1.一种暗角校正方法，其特征在于，包括以下步骤：获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。2.根据权利要求1所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据N张所述图像得到第N+1张图像包括以下步骤：获得N张所述图像的像素值；对N张所述图像的像素值进行求平均处理，得到所述第N+1张图像。3.根据权利要求1或2所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数包括以下步骤：获得所述第N+1张图像的像素值；取所述第N+1张图像中有效区域内每个像素点的像素值，计算得到像素平均值；将所述第N+1张图像中每个像素点的像素值除以所述像素平均值，得到除系数矩阵；将所述除系数矩阵中的每个元素取倒数，得到乘系数矩阵，所述暗角校正系数包括所述乘系数矩阵。4.根据权利要求3所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵；所述图像像素数据与所述乘系数矩阵进行乘法运算。5.根据权利要求3所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵以及加系数矩阵；所述图像像素数据先与所述乘系数矩阵进行乘法运算，然后与所述加系数矩阵进行加法运算。6.一种暗角校正系统，其特征在于，包括：第一PC端、相机、FPGA平台；所述FPGA平台分别与所述第一PC端、所述相机连接；所述相机用于拍摄获得测试图像；所述FPGA平台用于对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；以及根据暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行封装并输出至所述第一PC端；所述第一PC端用于实现如权利要求1-3任一所述方法中获得暗角校正系数的步骤，以及对所述暗角校正图像数...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪舟，邓标华，欧昌东，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42