一种北斗芯片测试装置制造方法及图纸

技术编号:18110952 阅读:45 留言:0更新日期:2018-06-03 06:31
本实用新型专利技术公开了一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体和与机箱壳体相配装的机箱上盖板,所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板,芯片测试主板上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座;所述机箱上盖板上对应芯片测试座的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板上设置有通过固定在机箱上盖板下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板。本实用新型专利技术结构简单、操作方便,通过设置的测试窗口滑盖板,防止异物落入测试箱,保证了测试的可靠性,提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种北斗芯片测试装置
本技术涉及芯片测试
,特别是一种用于测试北斗芯片的装置。
技术介绍
近年来,随着我国卫星导航定位技术的快速发展和应用,北斗芯片作为卫星导航定位技术的基础和核心,需求量越来越大,为了保证北斗芯片的功能和性能,北斗芯片出厂前的测试必不可少,所以一种既安全又操作方便的北斗芯片测试装置显得尤为重要。目前,北斗芯片测试装置设置在一个密闭的箱体内,测试时需要用工具拧下箱体盖板的紧固螺钉,拆开箱体盖板后才能进行测试,并且在测试过程中容易掉入异物,影响北斗芯片的测试性能,当掉落的异物落在芯片测试主板上,还有可能造成芯片测试主板短路等故障出现,影响北斗芯片的测试。
技术实现思路
本技术需要解决的技术问题是提供一种结构简单、操作方便的北斗芯片测试装置,防止异物落在芯片测试主板上造成测试失效,提高工作效率。为解决上述技术问题,本技术所采取的技术方案如下。一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体和与机箱壳体相配装的机箱上盖板,所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板,芯片测试主板上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座;所述机箱上盖板上对应芯片测试座的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板上设置有通过固定在机箱上盖板下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板。上述一种北斗芯片测试装置,所述芯片测试主板上方通过六角铜柱固定有用于防止异物落入芯片测试主板的遮盖板。上述一种北斗芯片测试装置,位于测试窗口右侧的机箱上盖板下端面上设置有用于吸附测试窗口滑盖板的磁铁,所述磁铁通过磁铁安装架固定在机箱上盖板的下端面上。上述一种北斗芯片测试装置,所述测试窗口滑盖板为普通碳钢滑盖板。由于采用了以上技术方案,本技术所取得技术进步如下。本技术结构简单、操作方便,在测试芯片时,只需要轻轻推开测试窗口滑盖板,放入芯片便可以进行测试,测试完成后,拉合测试窗口滑盖板,防止异物落入测试箱,保证了测试环境的清洁,芯片测试主板上方的遮盖板,更进一步防止异物掉入芯片测试主板上,保证了测试的可靠性,提高了工作效率。附图说明图1为本技术的结构示意图;图2为本技术的整机剖视图;其中:1.机箱壳体、2.机箱上盖板、3.测试窗口滑盖板、4.磁铁、5.磁铁安装架、6.滑盖导轨、7.芯片测试主板、8.芯片测试座、9.六角铜柱、10.遮盖板。具体实施方式下面将结合具体实施例对本技术进行进一步详细说明。一种北斗芯片测试装置,其结构如图1-2所示,包括机箱壳体1和机箱上盖板2,机箱壳体1为盒体状机箱壳体,机箱壳体1内的底板上设置有芯片测试主板7,芯片测试主板7通过螺栓固定安装,用来测试北斗芯片的性能,芯片测试主板7上设置有芯片测试座8,芯片测试座8与芯片测试主板7相连,用来放置待测试的北斗芯片;机箱上盖板2开设有一个测试窗口,测试窗口的位置对应于机箱壳体1内芯片测试座8的位置,用来放入芯片进行测试。为了防止测试装置在不使用时异物落入测试机箱内,影响测试环境的清洁,机箱上盖板2上测试窗口的内部设置有测试窗口滑盖板3,测试窗口滑盖板3通过固定在机箱上盖板2下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨6设置在机箱上,测试窗口滑盖板3可以左右滑动,用来开启和关闭测试窗口。测试窗口滑盖板3采用碳钢材料机加工而成,为保证测试窗口滑盖板在关闭的过程中因碰撞或颠簸造成测试窗口滑盖板开启,在机箱上盖板的下端面上测试窗口的右侧设置有磁铁4,磁铁4通过安装在机箱上盖板的下端面上的磁铁安装架5固定,用来吸附碳钢材料的测试窗口滑盖板。在测试过程中,测试窗口为开启的状态,异物容易落入测试机箱内,为了防止异物落在芯片测试主板上,芯片测试主板7上方设置有遮盖板10,遮盖板10通过六角铜柱9固定在芯片测试主板7上,避免了芯片测试主板因异物造成的主板短路,影响芯片的测试。本技术在安装时,先将芯片测试主板安装在机箱壳体内的底板上的螺柱上,通过螺栓固定,再把遮盖板通过六角铜柱固定在芯片测试主板上,然后安装盖板组件,先把一侧的盖板导轨固定在机箱上盖板下端面测试窗口的前测,把测试窗口滑盖板放入滑盖板导轨的导轨槽内,再固定另一侧的滑盖板导轨,把磁铁安装架固定在机箱上盖板的下端面测试窗口的右侧,再把磁铁4通过AB胶固定在磁铁安装架上,便可完成该测试装置的安装工作,可进行芯片测试。本技术在测试时,推开测试窗口滑盖板,将芯片放入芯片测试座内,打开机箱电源进行测试,测试完成后,取出芯片,推合测试窗口滑盖板至磁铁处吸附好,完成此次芯片测试的工作。本文档来自技高网...
一种北斗芯片测试装置

【技术保护点】
一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体(1)和与机箱壳体(1)相配装的机箱上盖板(2),其特征在于:所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板(7),芯片测试主板(7)上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座(8);所述机箱上盖板(2)上对应芯片测试座(8)的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板(2)上设置有通过固定在机箱上盖板(2)下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨(6)进行左右滑动、用于开启和关闭测试窗口的测试窗口滑盖板(3)。

【技术特征摘要】
1.一种北斗芯片测试装置,包括用于测试北斗芯片的盒体状机箱壳体(1)和与机箱壳体(1)相配装的机箱上盖板(2),其特征在于:所述机箱壳体内的底板上通过螺栓固定有用于测试北斗芯片性能的芯片测试主板(7),芯片测试主板(7)上固定设置有与芯片测试主板连接用于放置待测试北斗芯片的芯片测试座(8);所述机箱上盖板(2)上对应芯片测试座(8)的位置开设有用于放入芯片进行测试的测试窗口,机箱上盖板(2)上设置有通过固定在机箱上盖板(2)下端面测试窗口前后两侧的滑盖板导轨(6)进行左右滑动、用于开启和关闭...

【专利技术属性】
技术研发人员:王森林金国文黄维闵雁
申请(专利权)人:长沙海格北斗信息技术有限公司
类型:新型
国别省市:湖南,43

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