一种多功能光子暗化效应测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种多功能光子暗化效应测试装置，其包括：半导体激光器、氦氖激光器、第一波分复用器、高反光栅、加热装置、低反光栅、第二波分复用器、第一功率探测器及第二功率探测器，半导体激光器及氦氖激光器与第一波分复用器的输入端连接，高反光栅的一端与第一波分复用器的输出端连接，高反光栅的另一端伸入加热装置内并形成一高反光栅熔接端，低反光栅的一端与第二波分复用器的输入端连接，低反光栅的另一端伸入加热装置内并形成一低反光栅熔接端，第一功率探测器及第二功率探测器与第二波分复用器的输出端连接。该多功能光子暗化效应测试装置可以同时观测到信号光和输出激光功率在光子暗化诱发过程中的变化。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能光子暗化效应测试装置
本技术涉及光纤测试
，具体涉及一种多功能光子暗化效应测试装置。
技术介绍
光纤激光器具有散热性能好、高斜率效率、高输出功率、高激光亮度及高集成度等优点，在材料处理、切割、焊接、打孔、全息照相、医疗检测、医学手术、军用陀螺、军事对抗等领域展现出极其广阔的应用前景和巨大的应用价值随着中国制造2025规划的提出和我国智能制造技术产业的急剧发展和需求增长，对光纤激光器也提出了更高的要求。同时光纤激光器应用领域的不断拓展也对其提出了在高光束质量、大输出功率情况长时间稳定运行的要求。随着光纤激光器的应用领域的不断扩展，要求光纤激光器连续稳定的运行，而随着长时间的运行光纤激光器会出现由于光纤损耗增大导致的输出功率减小的现象，即光子暗化现象(Photodarkening，PD)，导致激光阈值增加，效率下降，系统稳定性降低，工作寿命变短，限制了掺镱光纤激光器的进一步发展和应用。所以需要一种能测试光子暗化效应的实验装置。目前测试光子暗化效应的实验装置大致分为两种，一种方法以633nm为信号光，915nm/976nm为泵浦光，在诱发光子暗化的过程中通过观测633nm的透过率来判定光子暗化程度；第二种方法是搭建光纤激光谐振腔，长时间观测输出激光的功率下降情况；或者测试泵浦过程中，透过光纤的谱型变化。上述几种测试光纤仅仅只能得到一种数据结果，无法多角度分析光子暗化进程。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述现状，提供一种多功能光子暗化效应测试装置，以解决上述问题。本技术采用的技术方案为：一种多功能光子暗化效应测试装置，包括半导体激光器、氦氖激光器、第一波分复用器、高反光栅、加热装置、低反光栅、第二波分复用器、第一功率探测器及第二功率探测器，所述半导体激光器及所述氦氖激光器与所述第一波分复用器的输入端连接，所述高反光栅的一端与所述第一波分复用器的输出端连接，所述高反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一高反光栅熔接端，所述低反光栅的一端与所述第二波分复用器的输入端连接，所述低反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一低反光栅熔接端，所述高反光栅熔接端及所述低反光栅熔接端用于熔接待测光纤，所述第一功率探测器及所述第二功率探测器与所述第二波分复用器的输出端连接。本技术的效果是：该多功能光子暗化效应测试装置可以同时观测到信号光和输出激光功率在光子暗化诱发过程中的变化，而无需采用两种实验装置分别测试，减少了工作量，且可以方便加热掺镱光纤，观察温度对光子暗化效应的影响。附图说明图1所示为本技术提供的多功能光子暗化效应测试装置的结构示意图；图2所示为使用多功能光子暗化效应测试装置时的结构示意图；图中：1—半导体激光器，2—氦氖激光器，3—第一波分复用器，4—高反光栅，41—高反光栅熔接端，5—加热装置，6—低反光栅，61—低反光栅熔接端，7—第二波分复用器，8—第一功率探测器，9—第二功率探测器，10—待测掺镱光纤。具体实施方式下面结合附图介绍本技术的多功能光子暗化效应测试装置：如图1所示，为本技术提供的一种多功能光子暗化效应测试装置，其包括半导体激光器1、氦氖激光器2、第一波分复用器3、高反光栅4、加热装置5、低反光栅6、第二波分复用器7、第一功率探测器8及第二功率探测器9。所述半导体激光器1及所述氦氖激光器2与所述第一波分复用器3的输入端连接，所述高反光栅4的一端与所述第一波分复用器3的输出端连接，所述高反光栅4的另一端伸入所述加热装置5内并形成一高反光栅熔接端41，所述低反光栅6的一端与所述第二波分复用器7的输入端连接，所述低反光栅6的另一端伸入所述加热装置5内并形成一低反光栅熔接端61，所述高反光栅熔接端41及所述低反光栅熔接端61用于熔接待测光纤，所述第一功率探测器8及所述第二功率探测器9与所述第二波分复用器7的输出端连接。所述半导体激光器1作为泵浦光源且所述半导体激光器1产生波长为915nm的激光。所述氦氖激光器2作为信号光源且所述氦氖激光器2产生波长为633nm的激光。所述高反光栅4的反射率为99.9％。所述加热装置5的加热温度可控。所述低反光栅6的反射率为43％。所述第二波分复用器7分离产生波长633nm的第二信号光及波长1080nm的输出激光。所述第一功率探测器8接收并检测波长633nm的第二信号光的功率。所述第二功率探测器9接收并检测波长1080nm的输出激光的功率。如图2所示，该多功能光子暗化效应测试装置在具体工作时，将待测掺镱光纤10置于所述加热装置5内且待测掺镱光纤的两端分别与所述高反光栅熔接端及所述低反光栅熔接端熔接，调整所述加热装置5的加热温度，所述半导体激光器1及所述氦氖激光器2发出光，经过所述待测掺镱光纤10，所述第二波分复用器7分离产生波长633nm的信号光及波长1080nm的输出激光，最终在所述第一功率探测器8及所述第二功率探测器9得到激光功率。该多功能光子暗化效应测试装置可以同时观测到信号光和输出激光功率在光子暗化诱发过程中的变化，而无需采用两种实验装置分别测试，减少了工作量，且可以方便加热掺镱光纤，观察温度对光子暗化效应的影响。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多功能光子暗化效应测试装置，其特征在于，其包括：半导体激光器、氦氖激光器、第一波分复用器、高反光栅、加热装置、低反光栅、第二波分复用器、第一功率探测器及第二功率探测器，所述半导体激光器及所述氦氖激光器与所述第一波分复用器的输入端连接，所述高反光栅的一端与所述第一波分复用器的输出端连接，所述高反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一高反光栅熔接端，所述低反光栅的一端与所述第二波分复用器的输入端连接，所述低反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一低反光栅熔接端，所述高反光栅熔接端及所述低反光栅熔接端用于熔接待测光纤，所述第一功率探测器及所述第二功率探测器与所述第二波分复用器的输出端连接。

【技术特征摘要】
1.一种多功能光子暗化效应测试装置，其特征在于，其包括：半导体激光器、氦氖激光器、第一波分复用器、高反光栅、加热装置、低反光栅、第二波分复用器、第一功率探测器及第二功率探测器，所述半导体激光器及所述氦氖激光器与所述第一波分复用器的输入端连接，所述高反光栅的一端与所述第一波分复用器的输出端连接，所述高反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一高反光栅熔接端，所述低反光栅的一端与所述第二波分复用器的输入端连接，所述低反光栅的另一端伸入所述加热装置内并形成一低反光栅熔接端，所述高反光栅熔接端及所述低反光栅熔接端用于熔接待测光纤，所述第一功率探测器及所述第二功率探测器与所述第二波分复用器的输出端连接。2.根据权利要求1所述的多功能光子暗化效应测试装置，其特征在于，所述加热装置的加热温度可控。3.根据权利要求2所述的多功能光子暗化效应测试装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：李海清，刘长波，李进延，
申请(专利权)人：武汉长进激光技术有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北,42