X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法技术

技术编号:18087505 阅读:55 留言:0更新日期:2018-05-31 17:01
本发明专利技术提供了一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,包括预先设定灯丝电流上下限值、进行曝光并读取管电流、比较电流返回值和设定值、获取新的灯丝电流上下限值等。本发明专利技术的校准方法能够让X射线管输出电流更准确,且提高了工作效率,以前用半小时,现在用1‑2分钟就可以完成;以前校准需使用示波器,对操作人员的操作技能要求高,现在比较操作简单,普通人员均可完成。

【技术实现步骤摘要】
X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法
本专利技术涉及一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,属于X射线机设备

技术介绍
X射线管透视灯丝的电流范围在0.3~5mA之间,要想电流准确并且稳定的输出,电流闭环控制尤为重要,使管电流经过一定方式返回到CPU,CPU将读取到的返回值与设定的需求电流值比较,通过控制输出灯丝电流值来最终控制管电流始终稳定输出。因为管电流太小,无法像摄片模式那样所有的MA档位都使用相同的灯丝电流上下限值来校正,透视的每个档位都需要不同的上下限值来调校,否则大的管电流的调校值用在小的管电流上,极有可能会造成管电流无法闭环,反之亦然。目前,X射线管透视灯丝电流上下限值调节的方式有两种,分别为:手动逐项调节或加载已有X射线管数据表调节,这两种方式均存在一定的缺陷,具体如下:1)手动逐项调节方式:a)曝光时间长、曝光次数多、加速新X射线管的老化;b)需要用示波器检测管电流值,若电流长达1s都未闭环,查看电流是过流还是欠流,过流则为灯丝下限值过大,欠流则为上限过小。调整后按“存储键”存储,重新曝光确认。校准点多,需重复多次,易遗漏;c)对操作人员要求很高,需具备一定的X射线机专业知识。2)加载已有X射线管数据表方式:存在同一系列X射线管因制造工艺而不一致的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有技术存在的不足,提供了一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法。本专利技术实现在自动化的基础上,进行X射线机X射线管的单个校准。为了实现上述目的,本专利技术采用了以下技术方案:一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,包括以下步骤:步骤一,预先对每一个透视档位的灯丝电流上限值、下限值进行设定;步骤二,进入透视灯丝电流上下限值校正功能系统,选择初始校正透视档位;步骤三,踩下脚闸进行曝光并获取当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值;每一个透视档位校正曝光时长为1s;所述的初始校正透视档位设为0.5mA;步骤四,系统每隔1ms读取X射线管电流一次,获得电流返回值,并将该电流返回值与当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值进行比较;当电流返回值大于或等于上限设定值时,进行步骤五;当电流返回值小于下限设定值时,进行步骤六;步骤五,欠流时间记数值清零,过流时间记数值+1,然后判断过流时间记数值是否大于或等于40ms;当过流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值减去电流返回值与上限设定值的差值后得到新的下限值并送出临时存储;当过流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值作为新的下限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤六,过流时间记数值清零,欠流时间记数值+1,然后判断欠流时间记数值是否大于或等于40ms;当欠流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值加上电流返回值与下限设定值的差值后得到新的上限值并送出临时存储;当欠流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值作为新的上限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤七,判断曝光时间是否到达1s,当曝光时间已经达到1s时,将步骤五和步骤六获得的新的上限值、下限值作为校准得到的上限值、下限值并存储入相应的存储空间;当曝光时间未达到1s时,返回步骤四;步骤八,判断当前透视档位是否为最大透视档位,如果是,则X射线管透视灯丝电流上下限值校准完成;如果不是,系统获取下一透视档位,返回步骤三继续校准。与现有技术相比较,本专利技术的优点:1.采用本专利技术的校准方法后,X射线管输出电流更准确。2.提高工作效率,以前用半小时,现在用1-2分钟就可以完成。3.以前校准需使用示波器,对操作人员的操作技能要求高,现在比较操作简单,普通人员均可完成。附图说明图1是本专利技术一实施例流程图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。实施例:如图1所示,一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,包括以下步骤:步骤一,预先对每一个透视档位的灯丝电流上限值、下限值进行设定;步骤二,进入透视灯丝电流上下限值校正功能系统,选择初始校正透视档位;步骤三,踩下脚闸进行曝光并获取当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值;每一个透视档位校正曝光时长为1s;所述的初始校正透视档位设为0.5mA;步骤四,系统每隔1ms读取X射线管电流一次,获得电流返回值,并将该电流返回值与当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值进行比较;当电流返回值大于或等于上限设定值时,进行步骤五;当电流返回值小于下限设定值时,进行步骤六;步骤五,欠流时间记数值清零,过流时间记数值+1,然后判断过流时间记数值是否大于或等于40ms;当过流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值减去电流返回值与上限设定值的差值后得到新的下限值并送出临时存储;当过流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值作为新的下限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤六,过流时间记数值清零,欠流时间记数值+1,然后判断欠流时间记数值是否大于或等于40ms;当欠流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值加上电流返回值与下限设定值的差值后得到新的上限值并送出临时存储;当欠流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值作为新的上限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤七,判断曝光时间是否到达1s,当曝光时间已经达到1s时,将步骤五和步骤六获得的新的上限值、下限值作为校准得到的上限值、下限值并存储入相应的存储空间;当曝光时间未达到1s时,返回步骤四;步骤八,判断当前透视档位是否为最大透视档位,如果是,则X射线管透视灯丝电流上下限值校准完成;如果不是,系统获取下一透视档位,返回步骤三继续校准。本文档来自技高网...
X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法

【技术保护点】
一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,预先对每一个透视档位的灯丝电流上限值、下限值进行设定;步骤二,进入透视灯丝电流上下限值校正功能系统,选择初始校正透视档位;步骤三,踩下脚闸进行曝光并获取当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值;每一个透视档位校正曝光时长为1s;所述的初始校正透视档位设为0.5mA;步骤四,系统每隔1ms读取X射线管电流一次,获得电流返回值,并将该电流返回值与当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值进行比较;当电流返回值大于或等于上限设定值时,进行步骤五;当电流返回值小于下限设定值时,进行步骤六;步骤五,欠流时间记数值清零,过流时间记数值+1,然后判断过流时间记数值是否大于或等于40ms;当过流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值减去电流返回值与上限设定值的差值后得到新的下限值并送出临时存储;当过流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值作为新的下限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤六,过流时间记数值清零,欠流时间记数值+1,然后判断欠流时间记数值是否大于或等于40ms;当欠流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值加上电流返回值与下限设定值的差值后得到新的上限值并送出临时存储;当欠流时间记数值小于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流上限设定值作为新的上限值并送出临时存储;进行步骤七;步骤七,判断曝光时间是否到达1s,当曝光时间已经达到1s时,将步骤五和步骤六获得的新的上限值、下限值作为校准得到的上限值、下限值并存储入相应的存储空间;当曝光时间未达到1s时,返回步骤四;步骤八,判断当前透视档位是否为最大透视档位,如果是,则X射线管透视灯丝电流上下限值校准完成;如果不是,系统获取下一透视档位,返回步骤三继续校准。...

【技术特征摘要】
1.一种X射线管透视灯丝电流上下限值自校准方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,预先对每一个透视档位的灯丝电流上限值、下限值进行设定;步骤二,进入透视灯丝电流上下限值校正功能系统,选择初始校正透视档位;步骤三,踩下脚闸进行曝光并获取当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值;每一个透视档位校正曝光时长为1s;所述的初始校正透视档位设为0.5mA;步骤四,系统每隔1ms读取X射线管电流一次,获得电流返回值,并将该电流返回值与当前透视档位的灯丝电流上限设定值、下限设定值进行比较;当电流返回值大于或等于上限设定值时,进行步骤五;当电流返回值小于下限设定值时,进行步骤六;步骤五,欠流时间记数值清零,过流时间记数值+1,然后判断过流时间记数值是否大于或等于40ms;当过流时间记数值大于或等于40ms时,将当前透视档位的灯丝电流下限设定值减去电流返回值与上限设定值的差值后得到新的下限值并...

【专利技术属性】
技术研发人员:林燕霞马培威潘英昂
申请(专利权)人:南宁一举医疗电子设备股份有限公司
类型:发明
国别省市:广西,45

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