天线柱面近场测量系统技术方案

技术编号:18078314 阅读:146 留言:0更新日期:2018-05-31 07:40
本实用新型专利技术公开了一种天线柱面近场测量系统,包括:承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置、测量装置以及控制系统,所述测量装置包括:满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组,所述探头组包括:若干沿平行于所述轴线方向布设的探头;以及,控制所述探头组中部分所述探头依次逐步开启工作以实现该部分所述探头进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关,所述控制系统分别与所述转动装置、所述测量装置相连以控制所述转动装置及所述测量装置工作进行所述待测天线的柱面近场测量。通过增加探头的数量,并增加切换速度较快的电子开关以快速控制探头开启,达到提高测量效率的目的。

【技术实现步骤摘要】
天线柱面近场测量系统
本技术涉及天线测试
,特别涉及一种天线柱面近场测量系统。
技术介绍
天线特性参数的测量有多种方法,目前主要的方法包括三大类:天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量;其中,天线近场测量主要分为三个大类:平面近场、柱面近场和球面近场。现有的天线柱面近场测量系统中均采用单探头结构进行测量,其测量过程为:将待测天线置于可绕一轴线转动的转台上,上述单探头平行于轴线的路径上往复移动,并且在单次单向移动过程中,单探头对待测天线进行扫描;使转台和待测天线转动一定角度后,该位置扫描完成后,单探头继续移动到下一位置,重复上述扫描过程,从而完成柱面扫描以得到相应的采样数据;根据采样数据即可通过计算机分析得到检测结果,实现天线柱面近场测量的目的。但是,上述天线柱面近场测量系统的测量过程需要结合以下两个动作才能完成,动作一:上述探头沿平行于上述轴线的路径间隔性移动,动作二:转台绕上述轴线转动。由于单探头测试技术需要两个机构动作配合才能完成整个柱面近场测量。这样,不仅需要增加能实现探头运动的机构等,导致结构复杂,而且单探头需要在测量所指定的不同位置之间移动或停留,测试连贯性不好,整体测试效率不高。
技术实现思路
本技术实施例的目的是提供一种天线柱面近场测量系统,具有结构简单、测试效率较高的优点。本技术第一方面提供一种天线柱面近场测量系统,包括:承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置、测量装置以及控制系统,所述测量装置包括:满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组,所述探头组包括:若干沿平行于所述轴线方向布设的探头;以及,控制所述探头组中部分所述探头沿预设直线方向逐步开启工作以实现该部分所述探头进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关,所述控制系统分别与所述转动装置、所述测量装置相连以控制所述转动装置及所述测量装置工作进行所述待测天线的柱面近场测量。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,其测量过程为:将待测天线固定于转动装置上,电子开关控制探头逐个快速开启,由于多个探头沿平行于转轴方向布设,进而可以得到待测天线一条直线上的多个采样数据,转动装置带动待测天线转动一定角度,进而电子开关再次控制探头逐个快速开启,以得到待测天线另一条直线上的多个采样数据,如此反复测得柱面采样数据即可实现对待测天线进行柱面近场测量的目的,上述预设直线方向即为多个探头布设的方向。上述测量过程与常见测量系统的测量过程相比,通过增加探头的数量,并增加电子开关以快速控制探头开启,从而测得直线采样数据,替代了原有需要单探头需要在测量所指定的不同位置之间移动或停留的测量方式,测试连贯性更好,同时减少了控制原有单探头移动或停留的机构,使其结构简单、控制过程简单,从而大大提高了测量效率。结合第一方面,在第一方面的第一种可能的实现方式中,所述转动装置包括:与所述探头对立布置的、供所述待测天线固定的、绕所述轴线自由转动的转台,以及,受所述控制系统控制的、驱使所述转台绕所述轴线转动的驱动机构。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,驱动机构受控制系统控制而动作,从而产生作用力于转台上,以驱使转台绕上述转轴转动,在待测天线固定于转台的情况下,即可实现待测天线的稳定转动,以提高该系统的测量精度。结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第一方面的第二种可能的实现方式中,所述天线柱面近场测量系统还包括:机架,所述测量装置滑动式装配于所述机架的第一内壁,所述测量装置的滑动方向与所述轴线平行,所述转动装置固定于所述机架的第二内壁,所述第一内壁和第二内壁相对立或者相交;以及,动力机构,所述动力机构受所述控制系统控制并驱使所述测量装置相对于所述待测天线沿所述滑动方向滑动。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,机架对测量装置和转动装置具有一定的防护作用,在动力机构驱使测量装置相对于待测天线滑动的基础上,在获取一组待测天线的柱面采样数据之后,可以驱使测量装置移动一定的距离,进而获取另一组柱面采样数据,进而得到的采样数据更加密集,从而综合多组柱面采样数据所得的检测结果更加精确。结合第一方面的第二种可能的实现方式,在第一方面的第三种可能的实现方式中,所述天线柱面近场测量系统还包括:两组设于所述第一内壁的、相互平行布置的滑轨;以及,设于所述测量装置上的、与所述滑轨相装配的滑块,所述动力机构包括:转动式装配于所述第一内壁的、位于两组所述滑轨之间的丝杆;固定于所述测量装置上的、与所述丝杆螺纹装配的滑套;以及,驱使所述丝杆转动以带动所述测量装置相对于所述待测天线滑动的伺服电机。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,通过滑轨和滑块的配合作用,以使测量装置在滑动过程中更加稳定,有利于确保采样数据的精确性;伺服电机动作以带动丝杆转动,进而带动滑套和测量装置沿着滑轨方向移动,伺服电机有利于控制其输出轴转动的圈数,继而有利于精确控制测量装置移动的距离。结合第一方面的第二种可能的实现方式,在第一方面的第四种可能的实现方式中,所述转动装置还包括:供所述转台的两端转动式装配的、固定装配于所述第二内壁的、供所述驱动机构固定安装的、由铝型材和板件拼接成“凹”形状的支撑架。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,“凹”形状的支撑架不仅预留有较大的转动空间以供转台转动,而且增加转台转动过程中的稳定性,以利于确保采样数据的精确性;同时铝型材取材方便、价格实惠、重量轻、结构强度高。结合第一方面的第四种可能的实现方式,在第一方面的第五种可能的实现方式中,所述驱动机构包括:设于所述转台的端部的、与所述支撑架转动式装配的转轴;与所述转轴固定装配的蜗轮;与所述蜗轮相装配的蜗杆;以及,驱使所述蜗杆转动以带动所述转台绕所述轴线转动的减速电机。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,减速电机的输出轴具有较低的转速,进而其带动蜗杆转动的过程中,可以驱使蜗轮、转轴以及转台绕转轴的轴线转动,这种结构易于通过控制减速电机的输出轴转动圈数实现控制转台转动的角度,进而使得到的柱面采样数据更加精确。结合第一方面的第一种可能的实现方式,在第一方面的第六种可能的实现方式中,所述转台包括:供所述待测天线安装的、预留有与所述待测天线相适配的定位孔的、与多个所述探头所形成的直线之间平行布置的安装板;以及,两块设于所述安装板两侧的、与所述安装板形成“凹”形状以使所述待测天线临近所述轴线布置的侧板。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,安装板与两块侧板形成的“凹”形状结构,使得待测天线固定于安装板后,待测天线靠近转台转动的轴线布置,从而待测天线转动的角度和转台转动的角度更加接近,更有利于确保采样数据的精确性;定位孔与待测天线相装配后,待测天线不易相对于安装板滑动,以使得测量结果更加精确。结合第一方面的第四种可能的实现方式,在第一方面的第七种可能的实现方式中,所述天线柱面近场测量系统还包括:设于所述机架和/或所述支撑架上的、围绕所述待测天线布置的吸波材料。实现上述方案的天线柱面近场测量系统,吸波材料吸收或者大幅减弱投射到待测天线表面的电磁波能量,从而减少电磁波的干扰,以使获得的采样数据更加精确。综上所述,本技术实施例具有以下有益效果:其一,增加探头的数量,并增加电子开关以快速控制探头开启,以提高测得直本文档来自技高网...
天线柱面近场测量系统

【技术保护点】
一种天线柱面近场测量系统,其特征在于,包括:承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置(3)、测量装置(2)以及控制系统,所述测量装置(2)包括:满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组,所述探头组包括:若干沿平行于所述轴线方向布设的探头(22);以及,控制所述探头(22)组中部分所述探头(22)依次逐步开启工作以实现该部分所述探头(22)进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关,所述控制系统分别与所述转动装置(3)、所述测量装置(2)相连以控制所述转动装置(3)及所述测量装置(2)工作进行所述待测天线的柱面近场测量。

【技术特征摘要】
1.一种天线柱面近场测量系统,其特征在于,包括:承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置(3)、测量装置(2)以及控制系统,所述测量装置(2)包括:满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组,所述探头组包括:若干沿平行于所述轴线方向布设的探头(22);以及,控制所述探头(22)组中部分所述探头(22)依次逐步开启工作以实现该部分所述探头(22)进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关,所述控制系统分别与所述转动装置(3)、所述测量装置(2)相连以控制所述转动装置(3)及所述测量装置(2)工作进行所述待测天线的柱面近场测量。2.根据权利要求1所述的天线柱面近场测量系统,其特征在于,所述转动装置(3)包括:与所述探头(22)对立布置的、供所述待测天线固定的、绕所述轴线自由转动的转台(31),以及,受所述控制系统控制的、驱使所述转台(31)绕所述轴线转动的驱动机构(32)。3.根据权利要求2所述的天线柱面近场测量系统,其特征在于,所述天线柱面近场测量系统还包括:机架(1),所述测量装置(2)滑动式装配于所述机架(1)的第一内壁,所述测量装置(2)的滑动方向与所述轴线平行,所述转动装置(3)固定于所述机架(1)的第二内壁,所述第一内壁和第二内壁相对立或者相交;以及,动力机构(4),所述动力机构(4)受所述控制系统控制并驱使所述测量装置(2)相对于所述待测天线沿所述滑动方向滑动。4.根据权利要求3所述的天线柱面近场测量系统,其特征在于,所述天线柱面近场测量系统还包括:两组设于所述第一内壁的、相互平行布置的滑轨(5);以及,设于所述测量装置(2)上的、...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈林斌谭广林蒋宇王道翊文佳维
申请(专利权)人:深圳市新益技术有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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