一种单丝单缝衍射实验仪制造技术

本发明专利技术提供一种单丝单缝衍射实验仪，包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱，所述基准导轨上设有滑座，所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架，所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏，所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器，所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝，所述激光器架上卡接有半导体激光器，所述基准导轨的一侧连接有控制箱，所述半导体激光器与控制箱电连接。本发明专利技术的有益效果是结构简单、操作简单、精准度高。

【技术实现步骤摘要】
一种单丝单缝衍射实验仪
本专利技术属于光学实验设备领域，尤其是涉及一种单丝单缝衍射实验仪。
技术介绍
单丝、单缝衍射实验时高校理工科基本光学实验之一。但大多数的单丝、单缝衍射实验是通过几件厚重的仪器放置在普通试验台上，组合移动后完成实验，因此实验过程操作很不便利，且很多学生发现由于操作困难会造成实验数据不准确，有的甚至得不到实验结果。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种结构简单、操作简单、精准度高的单丝单缝衍射实验仪，尤其适合高校教学使用。本专利技术的技术方案是：一种单丝单缝衍射实验仪，包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱，所述基准导轨上设有滑座，所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架，所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏，所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器，所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝，所述激光器架上卡接有半导体激光器，所述基准导轨的一侧连接有控制箱，所述半导体激光器与控制箱电连接；进一步的，所述滑座与第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架滑动连接，所述第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架可前后移动还可以左右微调；进一步的，所述基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。本专利技术具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，结构简单，操作简单，质量轻，方便操作，精确度高。附图说明图1是本专利技术的立体结构示意图。图中：基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11。具体实施方式下面结合附图对本专利技术做详细说明。如图1所示，本专利技术一种单丝单缝衍射实验仪，包括基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11，所述基准导轨1上设有滑座2，所述滑座2上设有第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6，所述其中第一横向移动测量架3的上方卡接有白屏9，所述第二横向移动测量架4的上方固定连接有光电流放大器8，所述第三横向移动测量架5的上方连接有可调狭缝7，所述激光器架6上卡接有半导体激光器10，所述基准导轨1的一侧连接有控制箱11，所述半导体激光器10与控制箱11电连接；进一步的，所述滑座2与第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动连接，所述第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6可前后移动还可以左右微调；进一步的，所述基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。本实例的工作过程：使用时先将第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动安装在滑座2上，然后分别再安装可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10，打开控制箱11，然后半导体激光器10发出光，通过可调夹缝7和光电流放大器8后照射在白屏9上，第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6还可尽心旋钮微调，直到白屏9上得到最佳效果。以上对本专利技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围。凡依本专利技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单丝单缝衍射实验仪，其特征在于：包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱，所述基准导轨上设有滑座，所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架，所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏，所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器，所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝，所述激光器架上卡接有半导体激光器，所述基准导轨的一侧连接有控制箱，所述半导体激光器与控制箱电连接。

【技术特征摘要】
1.一种单丝单缝衍射实验仪，其特征在于：包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱，所述基准导轨上设有滑座，所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架，所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏，所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器，所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝，所述激光器架上卡接有半导体激光器，所述基准...

【专利技术属性】
技术研发人员：付晋，
申请(专利权)人：天津良益科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12