一种集成电路板的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种集成电路板的测试装置。该集成电路板的测试装置包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板；可拆卸安装在所述滑动载板上的待测品载板；第一驱动组件，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板移动至测试位置；第二驱动组件，连接在所述第二驱动组件上的连接件；可拆卸安装在所述连接件上的测试板，在所述测试板上设有测试探针，所述第二驱动组件被配置为在所述滑动载板移动至所述测试位置后能带动所述连接件向待测品载板的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。本发明专利技术要解决的一个技术问题是对不同电子产品集成电路板进行测试的测试装置不能通用。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路板的测试装置
本专利技术涉及产品测试
，更具体地，本专利技术涉及一种集成电路板的测试装置。
技术介绍
随着消费类电子产品的种类越来越多，更新速度越来越快，诸如手机、游戏机、VR(虚拟现实)等产品，为电子产品定制开发的测试治具等设备也会出现因产品换代无法再利用的现象。在不同种类电子产品中，其集成电路板的结构大致相近，甚至于集成电路板的尺寸也相近。现有技术中，对不同电子产品集成电路板进行测试的测试装置分别设计加工，还不能通用，增加了测试治具的设计加工周期。而在对集成电路板的测试中，虽测试项目较多，测试项目不同。但是，在测试过程中一般都需要利用测试探针与产品测试点接触导通。在连接各种测试设备后，即能对电路板进行测试。考虑到集成电路板测试的共性，为降低因产品更新换代导致的测试治具无法利用的问题，同时也为缩短测试治具设计加工周期，有必要设计一种用于测试集成电路板的装置。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种集成电路板的测试装置的新技术方案。根据本专利技术的一个方面，提供了一种集成电路板的测试装置。该测试装置包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板；可拆卸安装在所述滑动载板上的待测品载板；第一驱动组件，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板移动至测试位置；第二驱动组件，连接在所述第二驱动组件上的连接件；可拆卸安装在所述连接件上的测试板，在所述测试板上设有测试探针，所述第二驱动组件被配置为在所述滑动载板移动至所述测试位置后能带动所述连接件向待测品载板的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。可选地，还包括可拆卸安装在所述连接件上的测试电路板，所述测试电路板被配置为能通过所述测试探针与待测电路板连接。可选地，所述连接件为中空结构的框形，所述测试板和所述测试电路板分别安装在所述连接件的两侧表面。可选地，还包括可拆卸地安装在所述第一支撑件上的外接板，在所述外接板上设有与所述测试电路板电连接的接口。可选地，在所述待测品载板上设有定位待测电路板位置的的定位结构。可选地，在所述第一支撑件上设有导轨，所述第一驱动组件被配置为能带动所述滑动载板沿所述导轨滑动。可选地，还包括止挡机构，所述止挡机构被配置为能对所述滑动载板进行止挡以使所述滑动载板止停在所述测试位置。可选地，在所述滑动载板上设有用于承载所述待测品载板的第二支撑件。可选地，在所述滑动载板和所述待测品载板上分别设有相配合的定位柱和定位孔。可选地，所述第一支撑件包括盒体和安装在所述盒体上的盖板，所述滑动载板滑动连接在所述盖板上。根据本公开的一个实施例，该测试装置包括通用部分和专用部分。专用部分主要包括待测品载板、测试板。待测品载板可拆卸安装在滑动载板上，能实现待测品载板的组装、更换。测试板可拆卸安装在所述连接件上，能实现测试板的组装、更换。在需要对不同待测电路板进行检测时，测试装置的通用部分能共用，不需重新设计加工。工程师只需要设计待测品载板、测试板等专用部分。缩短了测试装置的开发周期。节省了工程师设计、采购时间。提高了量产大批量测试装置的效率。通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。图1是本专利技术一种实施例提供的测试装置的结构示意图；图2是本专利技术一种实施例提供的测试装置的结构示意图。其中，10：盒体；11：盖板；12：导轨；13：滑动载板；14：待测品载板；140：定位结构；141：定位孔；15：测试板；16：连接件；17：测试电路板；18：扫描组件；19：第二驱动组件；20：外接板；21：第一驱动组件；22：定位柱；23：第二支撑件；24：定位块。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。根据本专利技术的一个实施例，提供了一种集成电路板的测试装置。参考图1、图2，该测试装置包括第一支撑件、滑动载板13、待测品载板14、第一驱动组件21、连接件16、测试板15和第二驱动组件19。所述滑动载板13滑动连接在所述第一支撑件上。所述待测品载板14用于承载待测电路板。所述待测品载板14可拆卸安装在所述滑动载板13上。所述第一驱动组件21能带动所述滑动载板13在所述第一支撑件上滑动，以带动所述滑动载板13移动至测试位置。所述第一驱动组件21可安装在所述第一支撑件上。例如，所述第一驱动组件21可包括第一气缸。当所述第一驱动组件21带动所述滑动载板13滑动时，所述待测品载板14和其上的待测电路板随之移动。例如，当所述滑动载板13移动至测试位置时，所述待测品载板14上的待测电路板可位于所述测试板15的下方。所述连接件16连接在所述第二驱动组件19上。所述测试板15可拆卸安装在所述连接件16上。在所述测试板15上设有测试探针。所述测试板15与待测电路板相匹配。具体地，所述测试板15上的测试探针与待测电路板上的触点相对应。在所述滑动载板13滑动至所述测试位置后，所述第二驱动组件19能带动所述连接件16向所述待测品载板14的方向移动，并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。例如，所述测试探针可与待测电路板弹性接触。所述第二驱动组件19可安装在所述第一支撑件上。例如，所述第二驱动组件19可包括第二气缸。一个具体实施方式中，首先，将待测电路板放置在待测品载板14上。然后，第一驱动组件21带动滑动载板13移动至测试位置。之后，第二驱动组件19带动连接件16向待测品载板14的方向移动，并且使测试探针与待测电路板上的触点接触，以对待测电路板进行测试。测试完成后，第二驱动组件19带动连接件16复位，测试探针与待测电路板上的触点分离。之后，第一驱动组件21带动滑动载板13复位，以将待测电路板取出。本公开中，所述测试装置包括通用部分和专用部分。专用部分主要包括待测品载板14、测试板15等。所述待测品载板14可拆卸安装在滑动载板13上，能实现所述待测品载板14的组装、更换。根据待测电路板的具体结构，可在所述滑动载板13上安装与待测电路板相匹配的待测品载板14，实现对不同待测电路板的测试。所述测试板15可拆卸安装在所述连接件16上，能实现所述测试板15的组装、更换。根据待测电路板的具体结构，可在所述连接件16上安装与待测电路板相匹配的测试板15，实现对不同待测电路板的测试。在对不同待测电路板进行检测时，所述测试装置的通用部分能共用，不需重新设计加工。工程师只需要设计待测品载板14、测试板15等专用部分。缩短了测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路板的测试装置，其特征在于，包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板(13)；可拆卸安装在所述滑动载板(13)上的待测品载板(14)；第一驱动组件(21)，所述第一驱动组件(21)被配置为能带动所述滑动载板(13)移动至测试位置；第二驱动组件(19)，连接在所述第二驱动组件(19)上的连接件(16)；可拆卸安装在所述连接件(16)上的测试板(15)，在所述测试板(15)上设有测试探针，所述第二驱动组件(19)被配置为在所述滑动载板(13)移动至所述测试位置后能带动所述连接件(16)向待测品载板(14)的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路板的测试装置，其特征在于，包括：第一支撑件；滑动连接在所述第一支撑件上的滑动载板(13)；可拆卸安装在所述滑动载板(13)上的待测品载板(14)；第一驱动组件(21)，所述第一驱动组件(21)被配置为能带动所述滑动载板(13)移动至测试位置；第二驱动组件(19)，连接在所述第二驱动组件(19)上的连接件(16)；可拆卸安装在所述连接件(16)上的测试板(15)，在所述测试板(15)上设有测试探针，所述第二驱动组件(19)被配置为在所述滑动载板(13)移动至所述测试位置后能带动所述连接件(16)向待测品载板(14)的方向移动并且使所述测试探针与待测电路板上的触点接触。2.根据权利要求1所述的集成电路板的测试装置，其特征在于，还包括可拆卸安装在所述连接件(16)上的测试电路板(17)，所述测试电路板(17)被配置为能通过所述测试探针与待测电路板连接。3.根据权利要求2所述的集成电路板的测试装置，其特征在于，所述连接件(16)为中空结构的框形，所述测试板(15)和所述测试电路板(17)分别安装在所述连接件(16)的两侧表面。4.根据权利要求2所述的集成电路板的测试装置，其特征在于，还包括可拆卸地安装在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张刚，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37