一种用于制备金相试样的夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于制备金相试样的夹具，包括上夹块、下夹块以及穿设所述上夹块和下夹块之间的螺栓，所述螺栓分布于所述上夹块和下夹块左右两端，所述上夹块的底面中间位置设置有一凸起，所述下夹块的顶面中间位置设置有一凹槽，所述凸起伸入所述凹槽内，以实现将试样固定在所述凹槽底部；本实用新型专利技术将试样放置于凹槽底部，并通过凸起固定试样，能够有效防止试样在手动磨抛光过程中由于外力受力不均匀，造成试样被磨抛表面平整度不够。同时可防止磨抛机磨抛过程中由于抛磨机的外力作用导致试样发生转动或者移动，能够确保试样抛磨面的平整。

A fixture for the preparation of metallographic samples

The utility model relates to a fixture for the preparation of a metallographic specimen, including an upper clamp block, a lower clamp block, and a bolt worn between the upper clamp block and the lower clamp block. The bolt is distributed to the upper and right ends of the upper clamp block and the lower clamp block, and the middle position of the upper bottom of the upper clip is provided with a convex center and the middle of the lower clip. The position is provided with a groove and the protrusion is inserted into the groove to fix the specimen at the bottom of the groove. The utility model places the specimen at the bottom of the grooves, and is able to effectively prevent the specimen to be polished and polished in the process of manual grinding and polishing. The evenness is not enough. At the same time, it can prevent the sample from rotating or moving due to the external force of the polishing mill in the process of grinding and polishing.

【技术实现步骤摘要】
一种用于制备金相试样的夹具
本技术专利属于夹固装置，具体涉及一种用于制备金相试样的夹具。
技术介绍
金相检验是一种经典的观测金属材料显微组织的方法，至今仍是检验材料的常用手段，它对试样中的夹杂物，相的结构进行分析。为对材料进行金相检验，需对样品进行预先的样品制备，而金属的样品制备要求较高。金属擦料进行剪切后，由于剪切过程中会产生加工影响区域，因此金相试样制备的第一步就是要通过冷切割，切除剪切过程中所产生的加工影响区域；然后要对金相截面进行研磨抛光，避免由于粗糙的抛光产生凹痕和划伤，以保证被检测面尽量能够如镜面般光滑。在试样研磨抛光过程中，传统的方法是通过手持试样进行抛光，但是，这样在抛光研磨过程中，试样受力不均匀，不能完全保证整个抛磨面与砂纸和抛光布完全接触，而且抛光磨样过程中，试样发热发烫会直接传递到操作人员手上，对操作人员造成伤害，所以，在现有技术中，出现了一些金相试样用的专用夹具。例如，专利申请号为“200820083620.6”，专利名称为“一种用于制备金相试样夹具”的中国技术专利，该方案包括上夹板、下夹板以及穿设在上夹板和下夹板两端头的螺栓和螺母，所述的上夹板的上表面上对应于螺栓头的位置开设有容置螺栓头的凹槽，所述的螺栓头不凸出上夹具的上表面。该方案通过上夹板和下夹板平行放置，并通过螺栓固定，夹紧试样，然后对试样进行抛光研磨，但是，该固定方式不能防止试样在上夹板和下夹板之间、沿平行于上夹板和下夹板的方向移动或转动，在金相试样磨抛光过程中，试样会受到侧向外力作用，一旦试样移动或者转动，就会导致抛磨面与砂纸之间形成一定夹角，这样就不能保证被抛磨面的平整，影响后续金相试样分析效果。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的试样固定不牢固、导致磨抛试样效率低，以及试样在磨样过程中因为局部受力，造成被磨抛表面不能保证绝对的平整的技术问题，本技术提供了以下技术方案：一种用于制备金相试样的夹具，包括上夹块、下夹块以及穿设所述上夹块和下夹块之间的螺栓，所述螺栓分布于所述上夹块和下夹块左右两端，所述上夹块的底面上设置有一凸起，所述下夹块的顶面上设置有一凹槽，所述凸起伸入所述凹槽内，以实现将试样固定在所述凹槽底部。作为本技术的进一步说明，所述凸起底部设置为平面。作为本技术的进一步说明，所述凹槽为倒三角形结构。作为本技术的进一步说明，所述凹槽为半圆形结构。与现有技术相比，本技术取得的有益效果为：本技术的夹具，将试样放置于凹槽底部，并通过凸起固定试样，能够有效防止试样在磨抛光过程中由于手动用力不均匀或者抛磨机的外力作用导致试样发生转动或者移动，能够确保试样抛磨面的平整。以下将结合附图及实施例对本技术做进一步详细说明。附图说明图1是本夹具的主视图。图2是本夹具的左视图。图3是本夹具的凹槽为三角形结构主视图。图4是本夹具夹持板条状试样结构图。图5是本夹具夹持圆柱状试样结构图。图中：1、上夹块；2、下夹块；3、螺栓；4、凸起；5、凹槽；6、平面。具体实施方式为进一步阐述本技术达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及实施例对本技术的具体实施方式、结构特征及其功效，详细说明如下。在本专利技术创造的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术创造和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术创造的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术创造的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术创造中的具体含义。一种用于制备金相试样的夹具，如图1、图2所示，包括上夹块1、下夹块2以及穿设上夹块1和下夹块2之间的螺栓3，螺栓3分布于上夹块1和下夹块2左右两端，上夹块1的底面上设置有一凸起4，下夹块2的顶面上设置有一凹槽5，凸起4伸入凹槽5内，以实现将试样固定在凹槽5底部。进一步地，凸起4底部设置为平面6，该平面6优选与上夹块1和下夹块2相对的两个面均保持平行，而且该平面6的宽度可根据需夹持的试样的尺寸来确定，选择更加灵活。进一步地，凹槽5为倒三角形结构，如图1所示，也可以设置为半圆形结构，如图3所示。本实施例提供的这种夹具，不论夹持圆柱状的试样，或者夹持板条状的试样均能够确保磨抛面保持水平，保证抛光面的平整，该夹具的具体使用过程如下：在试样为圆柱状时，应选用凹槽5为倒三角形结构的夹具，如图4所示，将圆柱状试样放置在凹槽5内，此时试样与下夹块2保持相互垂直，将上夹块1通过螺栓3与下夹块2进行锁紧，凸起4伸入凹槽5内，凸起4当凸起4底部的平面6与试样横截面顶点接触时，此时完成夹具的锁紧，由于试样截面为圆形，且圆周上有三个点分别与倒三角形结构的凹槽5的两个内壁以及凸起4底部平面6相接触，所以，此时试样被完全固定，并且试样与上夹块1和下夹块2保持垂直状态，即试样端面（待抛磨面）与夹具保持平行，然后将夹具安装在抛磨机上，当夹具与抛磨机的抛磨平面6保持平行时，即试样端面（待抛磨片）与抛磨机的抛磨面保持平行，所以，在抛磨过程中试样不会发生转动或者左右移动的情况。在试样为板条状时，应选用凹槽5为半圆形结构的夹具，使用过程同上，如图5所示，当凸起4伸入凹槽5内时，凸起4底部平面6与板条状试样上表面完全基础，此时夹具锁紧，试样下表面两条棱边分别抵触在半圆形凹槽5内壁上，由于试样上表面与凸起4底壁平面6为面面接触，试样下表面两棱边分别抵触在曲面上，所以能够将试样完全固定，不会发生转动或者左右移动，此时试样与夹具保持垂直，试样端面与夹具平行，所以将夹具固定在抛磨机上时，只需调整夹具与抛磨机的抛磨面平行，即试样端面（待抛磨面）与抛磨机的抛磨面平行，在抛磨过程中试样不会发生转动挥着左右移动的情况。需要指出的是，上夹板上凸起4底面平面6的宽度（即图1中宽度a），该宽度是根据试样尺寸确定，例如，圆柱状试样，当平面6宽度远大与试样横截面直径时，凸起4伸入凹槽5内，由于平面6宽度大，所以，凸起4底面会卡在凹槽5之间，但该平面6还未与试样接触，所以，通过选择不同平面6宽度的夹具，使本夹具能够夹持多种尺寸的试样，即使试样较小，本实施例提供的夹具同样能够适用。综上所述，本实施例提供的金相试样夹具结构简单，容易生产，适用范围广，便于操作，极大的提高了抛磨金相试样的效率。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于制备金相试样的夹具，包括上夹块（1）、下夹块（2）以及穿设所述上夹块（1）和下夹块（2）之间的螺栓（3），所述螺栓（3）分布于所述上夹块（1）和下夹块（2）左右两端，其特征在于：所述上夹块（1）的底面上设置有一凸起（4），所述下夹块（2）的顶面上设置有一凹槽（5），所述凸起（4）伸入所述凹槽（5）内，以实现将试样固定在所述凹槽（5）底部。

【技术特征摘要】
1.一种用于制备金相试样的夹具，包括上夹块（1）、下夹块（2）以及穿设所述上夹块（1）和下夹块（2）之间的螺栓（3），所述螺栓（3）分布于所述上夹块（1）和下夹块（2）左右两端，其特征在于：所述上夹块（1）的底面上设置有一凸起（4），所述下夹块（2）的顶面上设置有一凹槽（5），所述凸起...

【专利技术属性】
技术研发人员：高中堂，
申请(专利权)人：西安科技大学，
类型：新型
国别省市：陕西,61