The present invention discloses a multitask electronic xenon lamp test device, which includes a test tube, a test electronic device fixed on a tension device, a top cover and a base, a xenon lamp assembly, a xenon lamp assembly in a test tube, a xenon lamp assembly including a connecting rod and a xenon lamp light source, and the upper end of the connecting rod fixed to the upper end face of the upper cover. The xenon lamp light source is located on the bottom end of the connecting rod. The xenon lamp light source is located above the measured electrical and electrical components. The connecting rod can extend or shrink relative up. The control system includes the temperature control unit and the temperature sensing unit. The temperature sensing unit is located in the test tube and is located at the measured electrical and electrical components, and is used to detect the electrical measurement. The temperature information is transmitted to the temperature control unit. The temperature control unit controls the temperature of the xenon lamp light source according to the temperature information sent by the temperature sensing unit. The invention is a low cost, accurate adjustment of test temperature, multi task electronic xenon lamp test device.
【技术实现步骤摘要】
多任务电子电器氙灯测试装置
本专利技术涉及汽车电子元器件可靠性测试领域,尤其涉及一种成本低廉、精确调整测试温度的多任务电子电器氙灯测试装置。
技术介绍
汽车电子元器件的可靠性测试是指对电子元器件成品、半成品或模拟样片,通过各种可靠性评价方法,如可靠性试验、加速寿命试验和快速评价技术等,并运用数理统计工具和有关模拟仿真软件来评定其寿命、失效率或可靠性质量等级。同时,利用可靠性筛选技术来评价产品是否合格,剔除早期失效的不合格品。随着汽车工业的不断发展,对汽车电子元器件可靠性的要求不断提高,汽车电子元器件向智能化、高集成化、多功能化方向更加迅猛的发展,对器件的可靠性要求越来越高。以集成电路为例,如果沿用传统的可靠性试验方法来评价产品可靠性,对于集成度高、生产数量少、试验费用昂贵的器件产品,普遍感到有很大的困难。对于工作环境要求比较严格的电子元器件,在对其可靠性测试时,希望对测试的温度进行精确控制,现有的测试设备,要么对于温度的控制不理想,要么成本太高,不利于降低测试成本。亟需一种成本低廉、精确调整测试温度的多任务电子电器氙灯测试装置。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种成本低廉、精确调整测试温度的多任务电子电器氙灯测试装置。为了实现上述目的,本专利技术提供的技术方案为:提供一多任务电子电器氙灯测试装置,包括:若干测试筒,所述测试筒为下端封闭而上端开口的中空结构,所述测试筒内设置有拉力装置,被测电子电器元件固定在所述拉力装置上进行测试;上盖和底座,每个所述测试筒的上端均盖设有所述上盖,而每个所述测试圆筒的下端固定于所述底座上,所述底座上还设有用于与被测电子元器件 ...
【技术保护点】
一种多任务电子电器氙灯测试装置,其特征在于,包括:若干测试筒,所述测试筒为下端封闭而上端开口的中空结构,所述测试筒内设置有拉力装置,被测电子电器元件固定在所述拉力装置上进行测试;上盖和底座,每个所述测试筒的上端均盖设有所述上盖,而每个所述测试圆筒的下端固定于所述底座上,所述底座上还设有用于与被测电子元器件电性连接的接线端子;氙灯组件,所述氙灯组件设于所述测试筒内,所述氙灯组件包括连杆及氙灯光源,所述连杆上端固定于所述上盖下端面,所述氙灯光源设于所述连杆下端端面上,所述氙灯光源位于被测电子电器元件上方处,所述连杆可相对所述上盖伸长或者收缩,所述氙灯光源除了对被测电子电器元件做老化测试外,还可对所述测试筒内温度进行控制;控制系统,所述控制系统包括温度控制单元和温度传感单元,所述温度传感单元设于所述测试筒内并位于被测电子电器元件处,并用于检测被测电子电器元件所处的温度环境,并将所检测到的温度信息传递给所述温度控制单元,所述温度控制单元根据所述温度传感单元发送而来的所述温度信息控制所述氙灯光源调节温度。
【技术特征摘要】
1.一种多任务电子电器氙灯测试装置,其特征在于,包括:若干测试筒,所述测试筒为下端封闭而上端开口的中空结构,所述测试筒内设置有拉力装置,被测电子电器元件固定在所述拉力装置上进行测试;上盖和底座,每个所述测试筒的上端均盖设有所述上盖,而每个所述测试圆筒的下端固定于所述底座上,所述底座上还设有用于与被测电子元器件电性连接的接线端子;氙灯组件,所述氙灯组件设于所述测试筒内,所述氙灯组件包括连杆及氙灯光源,所述连杆上端固定于所述上盖下端面,所述氙灯光源设于所述连杆下端端面上,所述氙灯光源位于被测电子电器元件上方处,所述连杆可相对所述上盖伸长或者收缩,所述氙灯光源除了对被测电子电器元件做老化测试外,还可对所述测试筒内温度进行控制;控制系统,所述控制系统包括温度控制单元和温度传感单元,所述温度传感单元设于所述测试筒内并位于被测电子电器元件处,并用于检测被测电子电器元件所处的温度环境,并将所检测到的温度信息传递给所述温度控制单元,所述温度控制单元根据所述温度传感单元发送而来的所述温度信息控制所述氙灯光源调节温度。2.如权利要求1所述的多任务电子电器氙灯测试装置,其特征在于,所述氙灯光源中央处具有一圆孔的环形结构,且固定于所述连杆下端端面,贯穿所述连杆的上端面及下端面沿所述连杆的长度方向设有通槽,所述桶槽内设有喷淋...
【专利技术属性】
技术研发人员:董宁,陈益思,黄庆,
申请(专利权)人:华测检测认证集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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