The invention discloses a high temperature test method for a chip capacitor, which includes the following steps: S1: the high temperature test fixture is required for the preparation of a good chip capacitor. The high temperature test fixture includes the insulation substrate, the bottom electrode, the top electrode, the temperature detection device and the driving device, and the bottom electrode is installed in the insulating base through the connection bolts of the bottom electrode. On board, the top electrode is mounted on the insulating substrate by the driving device. The temperature detection device is electrically connected with an alarm. S2: the chip capacitor is placed between the top electrode and the bottom electrode described in the S1. Then the temperature detection device in the S1 is in close contact with the flake capacitor, and the bottom electrode and the top electricity are finally given respectively. The power supply is extremely strong, and the current between the bottom electrode and the top electrode is passed through the sheet capacitor. The invention can automatically break off the top electrode and the bottom electrode when the temperature temperature of the flake capacitor reaches the setting value of the temperature detection device, thus effectively avoiding the damage of the flake capacitor.
【技术实现步骤摘要】
一种片式电容器的高温测试方法
本专利技术涉及片式电容器的高温测试
,尤其涉及一种片式电容器的高温测试方法。
技术介绍
随着电子设备向小型化、集成化、智能化、高频化和高密度组装方向的发展,市场对电容器也提出了贴片安装、耐大纹波电流和纹波电压冲击、高稳定可靠性等方面的要求,因此片式电容器应运而生,片式电容器在生产完成后还需要进行高温测试,现有的片式电容器的高温测试方法在片状电容器内部的结温温度到达所需要的测试温度时,顶电极和底电极无法自动进行断开,使得片状电容器内部的结温温度继续升高,进而容易造成片状电容器发生不必要的损坏。
技术实现思路
基于
技术介绍
存在的技术问题,本专利技术提出了一种片式电容器的高温测试方法。本专利技术提出的一种片式电容器的高温测试方法,包括以下步骤:S1:准备好片式电容器所需要的高温测试夹具,高温测试夹具包括绝缘基板、底电极、顶电极、温度检测装置和驱动装置,底电极通过底电极接线螺栓安装在绝缘基板上,顶电极通过驱动装置安装在绝缘基板上,温度检测装置电性连接有报警器;S2:将片式电容器放置在S1中所述的顶电极和底电极之间,然后将S1中所述的温度检测装置与片状电容器进行紧密接触,最后分别给底电极和顶电极进行供电,底电极和顶电极之间的电流通过片状电容器;S3:S2中所述的片状电容器随着时间的增长,片状电容器内部的结温温度逐渐的进行升高,直到S2中所述的温度检测装置检测到片状电容器内部的结温温度达到自身的设定值时,温度检测装置控制驱动装置进行启动,同时温度检测装置还控制报警器进行报警;S4:S3中所述的驱动装置带动顶电极进行45°旋转,顶电极与片 ...
【技术保护点】
一种片式电容器的高温测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:准备好片式电容器所需要的高温测试夹具,高温测试夹具包括绝缘基板、底电极、顶电极、温度检测装置和驱动装置,底电极通过底电极接线螺栓安装在绝缘基板上,顶电极通过驱动装置安装在绝缘基板上,温度检测装置电性连接有报警器;S2:将片式电容器放置在S1中所述的顶电极和底电极之间,然后将S1中所述的温度检测装置与片状电容器进行紧密接触,最后分别给底电极和顶电极进行供电,底电极和顶电极之间的电流通过片状电容器;S3:S2中所述的片状电容器随着时间的增长,片状电容器内部的结温温度逐渐的进行升高,直到S2中所述的温度检测装置检测到片状电容器内部的结温温度达到自身的设定值时,温度检测装置控制驱动装置进行启动,同时温度检测装置还控制报警器进行报警;S4:S3中所述的驱动装置带动顶电极进行45°旋转,顶电极与片状电容器进行分离,得到经过高温测试的片状电容器。
【技术特征摘要】
1.一种片式电容器的高温测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:准备好片式电容器所需要的高温测试夹具,高温测试夹具包括绝缘基板、底电极、顶电极、温度检测装置和驱动装置,底电极通过底电极接线螺栓安装在绝缘基板上,顶电极通过驱动装置安装在绝缘基板上,温度检测装置电性连接有报警器;S2:将片式电容器放置在S1中所述的顶电极和底电极之间,然后将S1中所述的温度检测装置与片状电容器进行紧密接触,最后分别给底电极和顶电极进行供电,底电极和顶电极之间的电流通过片状电容器;S3:S2中所述的片状电容器随着时间的增长,片状电容器内部的结温温度逐渐的进行升高,直到S2中所述的温度检测装置检测到片状电容器内部的结温温度达到自身的设定值时,温度检测装置控制驱动装置进行启动,同时温度检测装置还控制报警器进行报警;S4:S3中所述的驱动装置带动顶电极进行45°旋转,顶电极与片状电容器进...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:南通星晨电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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