有源UHF RFID标签占用信道带宽的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种有源UHF RFID标签占用信道带宽的测试方法，包括，使待测试标签5处于就绪状态；使所述RFID标签读写器2向所述待测试标签5发送选择文件命令；接收所述待测试标签5的响应信号，于一预定带宽内测量并记录所述响应信号的一预定能量值占用的信道带宽。本发明专利技术获得了以下有益效果：可对有源UHF RFID标签发射时占用的信道带宽进行有效的测试。

Test method for occupying channel bandwidth of active UHF RFID Tags

The invention discloses a test method for occupying the channel bandwidth of an active UHF RFID tag, including making the test tag 5 in readiness; the RFID tag reader 2 sends the selection file command to the test tag 5, and receives the response signal of the test tag 5 to measure and record the specified bandwidth within a predetermined bandwidth. A predetermined energy value of the response signal occupies the channel bandwidth. The invention has the following beneficial effects: it can effectively test the channel bandwidth occupied when the active UHF tag RFID is launched.

【技术实现步骤摘要】
有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法
本专利技术涉及射频标签
，尤其涉及一种有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。现有的射频标签技术中，有源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对有源UHFRFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源UHFRFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：一种有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法，其中，提供一射频信号分析装置及一RFID标签读写器，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使待测试标签处于就绪状态；步骤5，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送选择文件命令；步骤6，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤7，接收所述待测试标签的响应信号，于一预定带宽内测量并记录所述响应信号的一预定能量值占用的信道带宽；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述预定带宽为10Mhz。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置测量所述响应信号的所述预定能量值占用的信道带宽时的频谱分辨率带宽为100KHz。本专利技术的另一方面，所述预定能量值为99％的能量。本专利技术的另一方面，还包括一环形器及一电波暗室，所述RFID标签读写器连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置连接所述环形器的第三端口，所述环形器的第二端口连接所述待测试标签，所述待测试标签设置于所述电波暗室内，所述射频信号分析装置，所述RFID标签读写器及所述环形器设置于所述电波暗室外。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述环形器的第三端口，所述环形器的第二端口通过馈线连接一待测试标签。本专利技术的另一方面，所述待测试标签提供一SMA接口，所述环形器的第二端口通过馈线连接所述待测试标签的SMA接口。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。本专利技术获得了以下有益效果：可对有源UHFRFID标签发射时占用的信道带宽进行有效的测试。附图说明图1为本专利技术有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试设备连接结构示意图；图2为本专利技术有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法的流程框图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。本专利技术提供一种有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法，如图1、图2所示，其中，提供一射频信号分析装置1及一RFID标签读写器2，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器2参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置1参数，使所述射频信号分析装置1工作于相应的信号分析模式；步骤4，使待测试标签5处于就绪状态；步骤5，使所述RFID标签读写器2向所述待测试标签5发送选择文件命令；步骤6，使所述射频信号分析装置1采集所述RFID标签读写器2与所述待测试标签5通信过程中的射频信号；步骤7，接收所述待测试标签5的响应信号，于一预定带宽内测量并记录所述响应信号的一预定能量值占用的信道带宽；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述预定带宽为10Mhz。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置1测量所述响应信号的所述预定能量值占用的信道带宽时的频谱分辨率带宽为100KHz。本专利技术的另一方面，所述预定能量值为99％的能量。本专利技术的另一方面，还包括一环形器3及一电波暗室4，所述RFID标签读写器2连接所述环形器3的第一端口，所述射频信号分析装置1连接所述环形器3的第三端口，所述环形器3的第二端口连接所述待测试标签5，所述待测试标签5设置于所述电波暗室4内，所述射频信号分析装置1，所述RFID标签读写器2及所述环形器3设置于所述电波暗室4外。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器2通过馈线连接所述环形器3的第一端口，所述射频信号分析装置1通过馈线连接所述环形器3的第三端口，所述环形器3的第二端口通过馈线连接一待测试标签5。本专利技术的另一方面，所述待测试标签5提供一SMA(Sub-Miniature-A)接口，所述环形器3的第二端口通过馈线连接所述待测试标签5的SMA接口。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器2的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置1为矢量信号分析仪。以下，以具体实施例来说明本专利技术的可行性。具体来说，在测试开始之前可对待测试标签进行初始化，以便选择文件命令可获得预期的响应内容。初始化待测试标签的具体内容，如表1所示。表1在步骤1中，测试用例见表2。信道序号中心工作频率信道序号中心工作频率02405.00MHz82445.00MHz12410.00MHz92450.00MHz22415.00MHz102455.00MHz32420.00MHz112460.00MHz42425.00MHz122465.00MHz52430.00MHz132470.00MHz62435.00MHz142475.00MHz72440.00MHz152480.00MHz表2上述测试用例为RFID标签读写器的工作信道，每个测试用例都选用其中一个信道作为测试时RFID标签读写器的工作信道。上述测试用例可按照信道编号顺序进行测试，也可随机抽取进行测试。步骤2中，RFID标签读写器参数设置见表3。工作频率信道0至信道15(根据当前测试用例)发射功率-20dBm调制方式O-QPSK表3步骤3中，射频信号分析装置可采用矢量信号分析仪。步骤5中，选择文件命令的格式见表4。表4步骤7中，通过矢量信号分析仪在1MHz带宽内测量并记录响应信号99％能量占用的信道带宽，该被占用的信道带宽值作为待测试标签发射时占用的信道带宽。矢量信号分析仪的频谱分辨率带宽可设置为100KHz。记录测试结果的格式见表5。表5如待测试标签发射时占用的信道带宽本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有源UHF RFID标签占用信道带宽的测试方法，其特征在于，提供一射频信号分析装置及一RFID标签读写器，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使待测试标签处于就绪状态；步骤5，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送选择文件命令；步骤6，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤7，接收所述待测试标签的响应信号，于一预定带宽内测量并记录所述响应信号的一预定能量值占用的信道带宽；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

【技术特征摘要】
1.一种有源UHFRFID标签占用信道带宽的测试方法，其特征在于，提供一射频信号分析装置及一RFID标签读写器，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使待测试标签处于就绪状态；步骤5，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送选择文件命令；步骤6，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤7，接收所述待测试标签的响应信号，于一预定带宽内测量并记录所述响应信号的一预定能量值占用的信道带宽；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预定带宽为10Mhz。3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置测量所述响应信号的所述预定能量值占用的信道带宽时的频谱分辨率带宽为100K...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀京秋，陈伯俊，邱落，
申请(专利权)人：中京复电上海电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31