本实用新型专利技术提出的全息图衍射效率测量装置，属于全息图特性测量技术领域，包括激光器、第一傅里叶透镜、半透半反波片、平面反射镜、聚光装置、第一光电探测器和第二光电探测器，所述激光器发出的光经过所述第一傅里叶透镜和半透半反波片后，反射光被所述第一光电探测器接收记录光强，透射光经过所述平面反射镜反射后垂直照射在全息图上，零级衍射光被所述平面反射镜挡住，正负一级衍射光经过所述聚光装置后被所述第二光电探测器接收记录光强。本实用新型专利技术得到了全息图的衍射效率，减小了系统对光源功率稳定度的依赖，实现了对全息图负一级衍射光功率的精确测量。
【技术实现步骤摘要】
全息图衍射效率测量装置
本技术属于全息图特性测量
，尤其是一种全息图衍射效率测量装置。
技术介绍
全息防伪是应用激光全息技术发展起来的一种新型防伪技术。我国在20世纪80年代引入模压全息技术并将它与全息制版技术结合起来用于产品防伪标识的制作，由于这样的防伪标识性能稳定，与产品包装结合较好，适应性强，防伪和装饰统一，因此在防伪行业中占据着越来越重要的位置。由于制作激光全息防伪标识生产设备产量高、占地面积小、用人少、利润高，人们争相进入这个行业，很多质量参差不齐的全息防伪标识被制作出来，严重影响了全息防伪标识的防伪功能。因此为了充分发挥全息防伪标识的防伪能力，需要对防伪产品的制作质量进行检测和把关。由于全息防伪标识的本质是一种具有光栅状结构的全息图，当再现光照射在全息图上时会发生衍射，衍射光构成物体的再现像，再现像的质量可以在一定程度上反映标识的制作质量好坏，因此可以将标识的衍射效率作为衡量其制作质量好坏的一个重要指标。尽管依据防伪全息产品的国家标准已研制出一种检测仪，但由于其对于激光器输出功率稳定度要求很高，并且只能应用于彩虹全息图衍射效率的测量，不仅提高了检测成本，还使得测量精度的提高以及检测方法的应用与普及受到了很大的限制。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，解决好现有技术的问题，弥补现有市场的产品不足。本技术提供了一种全息图衍射效率测量装置，包括激光器、第一傅里叶透镜、半透半反波片、平面反射镜、聚光装置、第一光电探测器和第二光电探测器，所述激光器发出的光经过所述第一傅里叶透镜和半透半反波片后，反射光被所述第一光电探测器接收记录光强，透射光经过所述平面反射镜反射后垂直照射在全息图上，零级衍射光被所述平面反射镜挡住，正负一级衍射光经过所述聚光装置后被所述第二光电探测器接收记录光强。作为优选，所述激光器为He-Ne激光器，波长为632.8nm。作为优选，所述第一傅里叶透镜的焦距为400mm。作为优选，所述聚光装置由两个平行设置的第二傅里叶透镜构成，所述第二傅里叶透镜的焦距为450mm。作为优选，所述第一光电探测器和第二光电探测器均选用LX1010B照度计。本技术提供的全息图衍射效率测量装置，其有益效果在于，通过平面反射镜挡掉零级衍射光，将正负一级衍射光与其他级次的衍射光分离，通过对入射光强和衍射光强的实时测量，得到正负一级衍射光的衍射效率，通过在激光器后面添加半透半反波片，避免了激光功率不稳定造成的测量误差。得到了全息图的衍射效率，减小了系统对光源功率稳定度的依赖，实现了对全息图负一级衍射光功率的精确测量。附图说明图1是全息图衍射效率测量装置的光路示意图；图2是正入射时得到的衍射光分布示意图。具体实施方式为进一步说明各实施例，本技术提供有附图。这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。现结合附图和具体实施方式对本技术进一步说明。本实施例提供的一种全息图衍射效率测量装置，包括激光器1、第一傅里叶透镜2、半透半反波片3、平面反射镜4、聚光装置、第一光电探测器5和第二光电探测器6，激光器1发出的光经过第一傅里叶透镜2和半透半反波片3后，反射光被第一光电探测器5接收记录光强，透射光经过平面反射镜4反射后垂直照射在全息图7上，零级衍射光被平面反射镜4挡住，正负一级衍射光经过聚光装置后被第二光电探测器6接收记录光强。本实施例选用的激光器1为He-Ne激光器，波长为632.8nm，第一傅里叶透镜2的焦距为400mm，聚光装置由两个平行设置的第二傅里叶透镜8构成，其中第二傅里叶透镜8的焦距为450mm，第一光电探测器5和第二光电探测器6均选用LX1010B照度计。如图2所示，在激光照射区域有三种不同周期、不同空间转角的微光栅，但当入射光以0°角入射即正入射时正负各级衍射光分别在光栅平面法线的两侧，且正负一级光与正负二级光之间有一定的夹角，如果在衍射光进入聚光装置之前设法挡住零级光并选择合适口径的聚光装置，则可以只记录正负一级衍射光的功率，然后将所得功率除以2便可得到负一级衍射光的功率。根据上述原理，本实施例的全息图衍射效率测量装置工作原理如下：第一光电探测器5和第二光电探测器6接收的光强分别为I1和I2，激光经过半透半反波片3后的透射光强为I0，半透半反波片3的透反比为G，若不考虑透射光经过平面反射镜以及衍射光经过聚光系统的光能量损失则由衍射效率为：η＝I2/I0＝I2/GI1在工作时，由于温度的变化，激光器1腔长发生微小变化，这将引起纵模漂移，导致输出功率起伏变化很大，即使采用稳压电源或稳流装置，也不能输出稳定功率，因此传统的先测定入射光的功率，然后测量衍射原始像的功率，两次测量的时间不同，He-Ne激光器功率的漂移将给测量结果造成很大的误差。若选用温控稳频激光器系统成本又太高，因此本实施选用加入一个半透半反波片3，由于激光通过半透半反波片3后反射光和透射光的功率比值一定，因此通过第一光电探测器5和第二光电探测器6可以实时的记录反射光和衍射原始像的功率。透射光功率可以通过反射光功率计算得到，这样就可以消除激光器1功率漂移带来的测量误差。在测量全息图衍射效率之前，使用第一光电探测器5和第二光电探测器6测量半透半反波片的反射光及透射光的强度，即可求出半透半反波片的透反比G。尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本技术，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本技术的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本技术做出各种变化，均为本技术的保护范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种全息图衍射效率测量装置，其特征在于，包括激光器、第一傅里叶透镜、半透半反波片、平面反射镜、聚光装置、第一光电探测器和第二光电探测器，所述激光器发出的光经过所述第一傅里叶透镜和半透半反波片后，反射光被所述第一光电探测器接收记录光强，透射光经过所述平面反射镜反射后垂直照射在全息图上，零级衍射光被所述平面反射镜挡住，正负一级衍射光经过所述聚光装置后被所述第二光电探测器接收记录光强。
【技术特征摘要】
1.一种全息图衍射效率测量装置，其特征在于，包括激光器、第一傅里叶透镜、半透半反波片、平面反射镜、聚光装置、第一光电探测器和第二光电探测器，所述激光器发出的光经过所述第一傅里叶透镜和半透半反波片后，反射光被所述第一光电探测器接收记录光强，透射光经过所述平面反射镜反射后垂直照射在全息图上，零级衍射光被所述平面反射镜挡住，正负一级衍射光经过所述聚光装置后被所述第二光电探测器接收记录光强。2.根据权利要求1所述的全息图衍射效率测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：柯朋，
申请(专利权)人：上海盟云移软网络科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31
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